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Click to edit Master title style,Click to edit Master text styles,Second level,Third level,Fourth level,Fifth level,*,*,按一下以編輯母片標題樣式,按一下以編輯母片,第二層,第三層,第四層,第五層,*,正負片流程區別簡介,制作者,:,Leo,_,Qiu,1,簡介,大綱,名詞解釋,正片流程簡介,負片流程簡介,正,負片流程區別,正負片流程優缺點,2,正片流程,又稱,tenting,流程,所用底片為負片底片。,負片底片,“,所見非所得,”,,底片,透明,部份是要保留圖形。,名詞解釋,透明部分是要保留的圖形,3,負片流程,又稱,pattern,流程,所,用底片為正片,底片。,正片底片,“,所見即所得,”,,底片黑色部份是要保留的圖形。,名詞解釋,黑色部份是要保留的圖形,4,正負片基本流程對照,一銅,外層,二銅,蝕刻,鑽孔,外層,AOI,負片流程,全板電鍍,外層,鑽孔,外層,AOI,正片流程,5,正片流程詳細介紹,全板電鍍,利用整板電鍍的方法,使孔銅和面銅達到,RD,要求。,清潔板面,去除鑽孔後的,burr,。,利用,KMnO4,的強氧化性,除去孔內膠渣,增加孔內表面積,提高孔銅與孔壁結合力。,利用化學沉積方法,使,Desmear,後之非導體區覆蓋良好導電薄膜即,化學銅,,讓之後的電鍍銅能順利鍍上。,Deburr,Desmear,PTH,整板電鍍,鑽孔,6,正片流程詳細介紹,外層,前處理,壓膜,曝光,顯影,經過,刷磨,+,微蝕,清潔並,粗化表面,,增加,乾膜,附著力。,將,乾膜,貼附在基板表面,,,為影像轉移做準備,。,所用,乾膜,貼附力好,,tenting,能力強。,使用,負片底片,以,UV,光透過黑白底片,照射,乾膜,乾膜光阻中的自由基在,UV,光的照射下發生聚合反應,從而使底片上的圖形轉移到,乾膜,上。,利用碳酸,钠,溶液將曝光,過程,中未聚合,乾膜,溶解,,,留下,已曝光的,乾膜,。,曝光,負片底片,顯影,7,正片流程詳細介紹,外層,利用蝕刻液將顯影後未被乾膜,覆蓋之銅咬蝕乾淨。,酸性蝕刻液成份:,H,2,O,2,/HCl,系列或,NaClO,3,/HCl,系列,利用去膜液(,NaOH,)將蝕刻後線路表面乾膜,去除,使線路顯現出來。,酸性蝕刻,去膜,外層,AOI,蝕刻,去膜,8,負片流程詳細介紹,一銅,目的:在孔壁上電鍍一層基銅,以便二銅電鍍。,Deburr,Desmear,PTH,一銅,清潔板面,去除鑽孔後的,burr,。,利用化學沉積方法,使,Desmear,後,之非導體區覆蓋良好導電薄膜即,化學銅,,讓之後的電鍍銅能順利鍍上。,一銅,一銅,利用,KMnO4,的強氧化性,除去孔內膠渣,增加孔內表面積,提高孔銅與孔壁結合力。,9,負片流程詳細介紹,外層,前處理,壓膜,曝光,顯影,使用,正片底片,以,UV,光透過黑白底片照射乾膜,乾膜光阻中的自由基在,UV,光的照射下發生聚合反應,從而使底片上的圖形轉移到,乾膜,上。,經過,刷磨,+,微蝕,清潔並,粗化表面,,增加乾膜附著力。,將,乾膜,貼附在基板表面,,,為影像轉移做準備,。,所用,乾膜,抗鍍性較好。,利用碳酸,钠,溶液將曝光,過程,中未聚合,乾膜,溶解,,,留下,已曝光的乾膜,。,曝光,正片底片,顯影,10,負片流程詳細介紹,二銅,電鍍二銅,電鍍錫,將孔銅,&,面銅鍍到,RD,要求,鍍錫,保護蝕刻時圖形不被蝕刻掉。,二銅,鍍二銅,並鍍錫,11,負片流程詳細介紹,蝕刻,去掉,乾膜,,將不需要的銅顯露出來,以便藥水咬蝕。,利用,蝕刻液,將,顯影後未被,乾膜,覆盖之銅咬蝕乾淨,需要保留的圖形由錫保護,完成圖形。,鹼性蝕刻液成份:氯化銨(,NH,4,Cl,)和氨水(,NH,3,H,2,O,),錫已完成使命,將錫去除。,去膜,鹼性蝕刻,剝錫,外層,AOI,去膜,蝕刻,剝錫,12,正負片流程區別,項目,正片流程,負片流程,底片,負片底片,正片底片,曝光髒點影響,底片上曝光髒點會形成線路缺口,/,斷路,底片上曝光髒點會形成殘銅,PTH/NPTH,PTH,需乾膜,tenting,保護,,NPTH,不需要。,NPTH,需乾膜覆蓋保護,,PTH,不需要。,蝕刻液性質,酸性蝕刻,鹼性蝕刻,蝕刻液主要成份,H,2,O,2,/HCl,系列或,NaClO,3,/HCl,系列,氯化銨(,NH,4,Cl,),和氨水(,NH,3,H,2,O,),阻蝕劑,乾膜或液態感光油墨,耐酸不耐鹼。,錫,Sn,,耐鹼不耐酸。,蝕刻咬蝕部位,蝕刻咬蝕全銅厚,虛影大。,蝕刻咬蝕底銅,+,一銅,虛影小。,乾膜要求,所用乾膜貼附力好,,tenting,能力強。,所用乾膜抗鍍性較好。,13,正片流程,優點:,能夠製作無,Ring,NPTH,孔及較大的,NPTH,孔。(,NPTH,孔無需,tenting,保護),能夠製作外層兩面殘銅率較大的,PCB,。(整板电镀不受殘銅率影響),流程短,成本相對低。,缺點:,無法製作較大的,PTH,孔。(,Tenting,能力限制),不宜製作高孔銅,&,厚面銅的,PCB,。(面銅太厚,不易蝕刻),負片流程,優點:,能夠製作無,Ring PTH,孔及較大的,PTH,孔。(,PTH,孔無需,tenting,保護),能夠製作高縱橫比,&,厚孔銅,&,厚面銅的,PCB,。(蝕刻只需要咬蝕底銅,+,一銅),缺點:,無法製作較大的,NPTH,孔。(乾膜能力限制),無法製作兩面殘銅率較大的,PCB,。(二銅電鍍時因電流分部不均,容易發生夾膜),流程長,成本相對高。,正負片流程優缺點,14,15,Thank You,内容总结,正負片流程區別簡介。制作者:Leo _ Qiu。又稱pattern流程,所用底片為正片底片。利用KMnO4的強氧化性,除去孔內膠渣,增加孔內表面積,提高孔銅與孔壁結合力。利用化學沉積方法,使Desmear後之非導體區覆蓋良好導電薄膜即化學銅,讓之後的電鍍銅能順利鍍上。經過刷磨+微蝕,清潔並粗化表面,增加乾膜附著力。經過刷磨+微蝕,清潔並粗化表面,增加乾膜附著力。利用碳酸钠溶液將曝光過程中未聚合乾膜溶解,留下已曝光的乾膜。酸性蝕刻液成份:H2O2/HCl系列或NaClO3/HCl系列。目的:在孔壁上電鍍一層基銅,以便二銅電鍍。去掉乾膜,將不需要的銅顯露出來,以便藥水咬蝕。利用蝕刻液將顯影後未被乾膜覆盖之銅咬蝕乾淨,需要保留的圖形由錫保護,完成圖形。鹼性蝕刻液成份:氯化銨(NH4Cl)和氨水(NH3H2O)。H2O2/HCl系列或NaClO3/HCl系列。氯化銨(NH4Cl)和氨水(NH3H2O)。Thank You,
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