中职 电子线路(第3版)第16章电子课件()

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CMOS,反相器,CMOS,反相器,CMOS,反相器的电压传输特性,2.,其他类型的,CMOS,门电路,CMOS,与非门,CMOS,或非门,3. CMOS,传输门和模拟开关,CMOS,传输门,CMOS,模拟开关,16.3.2 CMOS,门电路的使用规则,1.,对电源的要求,(,1,),CMOS,电路可以在很宽的电源电压范围内正常工作,但电源电压不能超过最大极限电压。,(,2,),CMOS,门电路的电源极性不能接反,否则会造成器件损坏。,2.,对输入端的要求,(,1,)输入信号的电压必须在,V,SS,V,DD,之间。,(,2,)每个输入端的电流应不超过,1mA,,必要时应在输入端串接限流电阻。,(,3,)多余的输入端不允许悬空,与门及与非门的多余端应接至,V,DD,或高电平,或门和或非门的多余端应接至,V,SS,或低电平。,3.,对输出端的要求,(,1,),CMOS,集成电路的输出端不允许直接接,V,DD,或,V,SS,,否则将导致器件损坏。,(,2,),CMOS,集成电路的输出端接容量较大的容性负载时,必须在输出端与负载电容间串接一个限流电阻,将瞬态冲击电流限制在,10mA,以下。,(,3,)为增加,CMOS,门电路的驱动能力,同一芯体上的几个电路可以并联使用,不在同一芯体上的不可以这样使用。,4.,操作规则,静电击穿是,CMOS,电路失效的主要原因,在实际使用时应遵守以下保护原则:,(,1,)在防静电材料中储存或运输。,(,2,)组装、调试时,应使电烙铁和其他工具、仪表、工作台台面等良好接地。操作人员的服装和手套等应选用无静电的原料制作。,(,3,)电源接通期间不应把器件在测试座上插入或拔出。,(,4,)调试电路时,应先接通线路板电源,后接通信号源;断电时应先断开信号源,后断开线路板电源,16.3.3 TTL,与,CMOS,门电路之间的接口技术,1. TTL,门电路驱动,CMOS,门电路,接入上接电阻提高,TTL,门电路输出高电平,OC,门电路作为驱动门,带电平偏移的,CMOS,接口电路,2. CMOS,门电路驱动,TTL,门电路,CMOS,门电路并联提高带负载能力,CMOS,驱动器驱动,TTL,门电路,电流放大器驱动,TTL,门电路,16.4,门电路的应用与实验,16.4.1,常见的集成电路,表,16-8,TTL,系列产品及特性对照,系列,特点,t,pd,/ns,P/mW,74 系列,最早产品,中速器件,目前仍在使用,10,10,74H系列,74系列改进型,功耗较大,目前不大使用,6,22.5,74S 系列,速度较高,品种不是很多,4,20,74LS系列,低功耗,品种生产厂家多,价格低,目前为主要产品系列,10,2,74AS系列,74S 系列的后继产品,速度功耗有改进,1.5,20,74ALS系列,74LS 后继产品,速度功能有较大改进,,但价格较7 74LS 系列贵,4,1,2.,常见的,CMOS,集成电路,常用的,CMOS,集成电路有标准,CMOS4000B,系列、,4500B,系列、高速,CMOS40H,系列、新型高速,COMS74HC,系列等,主要由美国的,RCA,公司,(4000,系列,),和,Motorola,公司开发,(4500,系列,),。,4000/4500,系列集成电路分,A,、,B,两类。采用塑封双列直插形式,引脚编号同,TTL,集成电路。,注意:,4000/4500,系列中同编号的器件并不表示具有相同逻辑功能。如,4000B,与,4500B,,,4000B,是双,3,输入或非门加反相器,而,4500B,是,1,位微处理器。这与,54/74,族集成电路不同。,16.4.2,门电路应用实例,1.,用与门控制的报警器,图,16.24,与门控制的报警器示意图,2.,用门电路直接驱动显示器,图,16.25,CMOS,反相器,74HC04,驱动,LED,的电路,16.4.3,集成门电路参数测试实验,一、实验目的,(,1,)了解集成门电路的主要参数及物理意义。,(,2,)熟悉对集成门电路主要参数的测试方法。,二、实验原理,基本门电路是逻辑集成电路的基本组成单元,掌握其测试方法,理解其参数的意义,对正确使用门电路具有十分重要的意义。门电路种类繁多,本实验仅对典型的,74LS00,和,CC4011,四,2,输入与非门进行主要参数的测定,从中学习对其测试的基本方法。,TTL,与非门参数测试,(,1,)导通电源电流,I,CC,:测试条件是输入端悬空,输出端空载。,I,CC,是衡量门电路的导通功耗大小(,P,ON,=,V,CC,I,CC,)的参数,其测试电路如图,16.26,所示。,(,2,)输入短路电流,I,IL,:测试条件是被测输入端通过电流表接地,其余输入端悬空,输出空载,测试电路如图,16.27,所示。,(,3,)输入漏电流,I,IH,:测试条件是被测输入端通过电流表接电源,V,CC,,其余输入端接地,输出空载。测试电路如图,16.28,所示。,(,4,)电压传输特性:测试电路图如图,16.29,所示,调节电位器,RP,的值,从而改变输入电压,U,I,,测出相对应的输出电压,U,O,,得到门电路的传输特性曲线,根据传输特性曲线可得到开门电平,U,ON,、关门电压,U,OFF,、输出高电平,U,OH,、输出低电平,U,OL,等参数。,图,16.26,I,CC,的测试电路,图,16.27,I,IL,的测试电路,图,16.28,I,IH,的测试电路,图,16.29,电压传输特性的测试电路,2. CMOS,与非门参数测试,(,1,)静态电流,I,D,:是指静态情况下电源提供的电流,其测试电路如图,16.30,所示。,(,2,)输出高电平和低电平,U,OH,和,U,OL,:测试电路如图,16.31,和图,16.32,所示。注意:,CMOS,与非门的多余输入端不得悬空。,图,16.30,I,D,的测试电路,图,16.31,U,OH,的测试电路,图,16.32,U,OL,的测试电路,三、实验仪器和器件,数字实验系统:一台;直流稳压电源:一台;万用表:一块;直流电流表:一块;直流电压表:二块;实验用元件:若干。,四、实验内容与步骤,1.,判别门电路好坏,使用数字电路实验器,采用逻辑功能判断法,判别被测门电路的好坏。,2. TTL,与非门主要参数的测试,(,1,)按如图,16.26,所示的连接线路,测量,I,CC,,计算,P,ON,。,(,2,)按如图,16.27,所示的连接线路,测量,I,IL,。,(,3,)按如图,16.28,所示的连接线路,测量,I,IH,。,(,4,)按如图,16.29,所示的连接线路,调节电位器,RP,的值使输入端电压改变,测出相对应的输出电压,将测试结果填入表,16-9,中。,表,16-9,与非门电压传输特性,U,I,(,V),0,0.4,1.0,1.1,1.2,1.35,1.4,1.5,2.0,2.4,3.0,U,O,(,V),3. CMOS,门电路参数测试,(,1,)按如图,16.30,所示的连接线路,测出,I,D,。,(,2,)按如图,16.31,所示的连接线路,测出,U,OH,。,(,3,)按如图,16.32,所示的连接线路,测出,U,OL,。,五、实验分析和总结,(,1,)整理实验数据,在坐标纸上绘出,TTL,与非门传输特性曲线,并根据传输特性曲线求出,U,ON,U,OFF,U,OH,U,OL,。,(,2,)讨论对,TTL,与非门和,CMOS,或非门闲置输入端的处理方法。,本章小结,(,1,)逻辑门电路是构成各种数字电路的基本逻辑单元,只有掌握它们的逻辑功能和电气特性,才能做到合理使用。,(,2,)数字集成电路的品种很多,目前采用最广泛的是,TTL,和,CMOS,两种。,TTL,门电路的基本形式是与非门,它的工作速度快,带负载能力和抗干扰能力强,输出幅度也比较大。,CMOS,集成电路具有工艺简单、集成度高、抗干扰能力强、功耗低等优点,应用非常广泛。,(,3,)对于,TTL,与,CMOS,门电路,应重点掌握其电气特性,这对于掌握、应用,TTL,与,CMOS,门电路是十分重要的。,(,4,),TTL,、,CMOS,门电路在使用时,要遵循一定的规则。,TTL,门与,CMOS,门之间连接时,需要适当的接口电路。,
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