资源描述
*,*,*,6-Sigma BB Project,项目名称:,提高极片直通率,实施单位：Tcl金能电池有限公司制造中心,实施日期：2005年4月2005年8月,1,6-Sigma BB Project项目名称:,公司名称,TCL金能电池有限公司,项目编号,项目名称,提高制片直通率,项目负责人,麦敬辉,项目类型, DMAIC BB, DMADV GB,牵头部门,制造中心,涉及流程,工艺、制造、设备、标准,涉及产品,正负极片,项目成员,安栋梁(GB) 、袁安景（GB）、付晓红（GB）、 周定红、吴小亮、何建伟,6,项目立项注册表,区 分,姓 名,意 见,倡 导 者,吴永刚,主 黑 带,吴久发,财务确认,何雄军,发 起 人,麦敬辉,黑 带,麦敬辉,2. 基线与目标,1. 基本信息,CTQ/Y,单位,现水平,目标水平,先进水平,正极片直通率,任务单,95.27%,98%,9899%,负极片直通率,95.60%,98%,9899%,3.效果预算,项目,投入,项目,效益,设备改造,30万,112万,4.日程计划,D,4月15日4月30日,M,4月30日5月25日,A,5月25日6月15日,I,6月15日7月25日,C,7月25日8月10日,5,.现状描述:,生产一课制片过程正极片合格率在95.27%，负极95.60%，损耗都在4%以上,6,.项目范围:,项目研究叠片类电芯制片过程的输入输出，研究极片制作过程的混料、涂布、段切、切压工序，重点聚焦涂布工序,7,.效果及影响:,项目完成后可以降低正负极片材料损耗2%，,项目收益=项目节约费用项目投入费用=112(万元) 30万元=82（万元）,2,公司名称TCL金能电池有限公司项目编号项目名称提高制片直通,DEFINE,步骤一项目定义,A,M,I,C,D,3,DEFINE步骤一项目定义AMICD3,项目背景,提高极片直通率项目,VOB,降低内部失败成本,A,M,I,C,D,焦点流程：,涂布工序,4,项目背景提高极片直通率项目VOB降低内部失败成本AMICD焦,卷状极片,生产记录,流程,供应商,客户,合格浆料,铜铝箔,标准文件,设备供应商,原料供应商,技术部/PE/QA,切压工序,加装物料,设备调试,试涂布（单面）,正常运行,首件检验,（双面涂布）,涂 布,涂布机,输入,输出,操作员/QC,焦点流程,A,M,I,C,D,5,卷状极片生产记录流程供应商客户合格浆料铜铝箔标准文件设备供应,项目缺陷定义：,涂布直通率,=,一次合格极片折算电芯数,投入浆料折算电芯数,项目CTQ及缺陷定义,A,M,I,C,D,切压工序voc,面密度合格,宽度合格,外观合格,提高涂布直通率,项目CTQ分析：,缺陷类型,定义,标准,面密度不合格,指面密度超出规格线,各型号的面密度工艺要求,宽度不合格,指宽度不符合工艺,具体工艺要求及刀模宽度,外观不合格,极片外观不良,PQC外观不良样板,6,项目缺陷定义：涂布直通率=一次合格极片折算电芯数投入浆料折算,1.44（元）*3000（万只)*（98%- 95.4%） =112（万元/年）,项目最终成果,30万元,材料节约,设备投资,112万元-30万元,82万元,项目收益,A,M,I,C,D,7,1.44（元）*3000（万只)*（98%- 95.4%,Champion:吴永刚,袁安景（GB）、吴小亮 /,(数据收集、操作改良、技能培训),安栋梁/GB,（工艺改善与标准制定）,周定红,(工程设备改善),付晓红（GB） 何建伟/,(品质检验),Leader：,麦敬辉/BB,MBB,吴久发,项目成员,A,M,I,C,D,数据收集,因子分析,项目分析,试验设计,MSA分析,抽样检验,改善制定,实施计划,8,Champion:吴永刚袁安景（GB）、吴小亮 /安栋梁/G,MEASURE,步骤二项目测量阶段,9,MEASURE步骤二项目测量阶段9,A,M,I,C,D,涂布工序详细流程图,输入,类型,流程,输出,上箔,设定纠偏,调节刀口间隙,安装料槽,安装宽度限位档条,调节涂布辊与背辊间隙,张力设置,试涂布,初检,调试,输入,类型,流程,输出,设定温度、线速度,启动加热、排风系统,连续涂布,涂层干燥,收卷,合格铜/铝箔,气胀轴,纠偏感应器,手/自动切换开关,操作指引,工艺标准,张力调节器,塞尺千分表,调节螺杆涂布辊,涂布刮刀,操作员技能,料架海绵档块,操作员安装技能,胶带纸,操作员技能,PET/铜箔,铝箔胶纸钢尺,宽度工艺要求,涂布机输送系统,输送启动开关,宽度数值,面密度数值,厚度数值,千分表/调节螺杆,定位块/操作员技能,宽度限位档条,工艺标准要求,工艺参数标准,温控器/速控器,走带速度恒定,合适的安装位置,箔/轴间套装牢固,走带不偏移,温度达到设定要求,位置合适,宽度合适,不漏料,档条间距符合工艺要求,档条牢固,连续涂层,合适的刀口间隙,间隙等距,面密度合格,宽度合格,厚度合格,符合工艺要求的参数,1530cm长涂层,塞尺百分表,调节杆定位斜块,操作员技能,完好的涂布辊背辊,合适的间隙,间隙均衡一致,加浆料,合格浆料,浆料液面高度标准,液面高度合适,电热风筒,钢尺/千分尺,打孔器/分析天平,加热系统/排风系统,启动开关/温控系统,加料系统,操作员技能,合格浆料/铜/铝箔,走带系统启动装置,加热控制系统,排风循环系统,涂布机烘箱,涂层干燥标准,涂层粘结力标准,湿含量合格的涂层,粘结力合格的涂层,气胀轴,张力控制器,纠偏器/纸筒,张力操作标准,极片卷,C,C,C,C,C,C,C,C,U,U,C,C,C,C,C,C,U,C,C,C,C,U,C,U,C,C,C,C,C,C,C,C,C,C,C,C,C,C,C,C,C,C,C,C,C,C,C,C,C,10,AMICD涂布工序详细流程图输入类型流程输出上箔设定纠偏调节,涂布项目PFMEA,A,M,I,C,D,导出20个主要因子,11,涂布项目PFMEAAMICD导出20个主要因子11,A,M,I,C,D,数据收集计划,数据内容,数据类型,抽样频率,测量条件,承担者,输出,批次直通率,连续型,每批次,要求统计每批次各工序直通率,生产一课,批次合格率统计表,不良柏拉图,离散型,每日,区分工序产生不良,生产一课,工序不良柏拉图,涂布辊精度数据,连续型,每周一次,统计每台机辊轴精度,工程部,涂布辊精度检查表,QC巡检记录,连续型,每小时一次,面密度厚度对应数据,QC,巡检记录表,铝箔面密度,连续型,每卷一次,铝箔面密度,QC,抽检记录表,设备状况检验,离散型,每天一次,设备运行检查,工程部,设备点检表,12,AMICD数据收集计划数据内容数据类型抽样频率测量条件承担者,A,M,I,C,D,面密度Gage R&R,Study Var %Study Var %Tolerance,Source StdDev (SD) (5.15 * SD) (%SV) (SV/Toler),Total Gage R&R 0.0002702 0.0013914 14.75 6.96,Repeatability 0.0000940 0.0004840 5.13 2.42,Reproducibility 0.0002533 0.0013045 13.83 6.52 OPERATOR 0.0000000 0.0000000 0.00 0.00,OPERATOR*PART0.0002533 0.0013045 13.83 6.52,Part-To-Part 0.0018118 0.0093307 98.91 46.65,Total Variation 0.0018318 0.0094339 100.00 47.17,分析天平的R&R值14.75%,说明面密度测量系统可靠,13,AMICD面密度Gage R&R Study Var %S,宽度Gage R&R,Study Var %Study Var %Tolerance,Source StdDev (SD) (5.15 * SD) (%SV) (SV/Toler),Total Gage R&R 0.258199 1.32972 61.28 132.97,Repeatability 0.182574 0.94026 43.33 94.03,Reproducibility 0.182574 0.94026 43.33 94.03,operator 0.158844 0.81805 37.70 81.80,operator*unit number 0.090010 0.46355 21.36 46.36,Part-To-Part 0.332986 1.71488 79.03 171.49,Total Variation 0.421362 2.17002 100.00 217.00,钢尺检测宽度的R&R值61.28%,说明宽度测量系统不可靠，需改善，已在PFMEA中讨论初步改善方案,A,M,I,C,D,14,宽度Gage R&R Study Var %Study V,A,M,I,C,D,外观不良Gage R&R(属性数据),Fleiss Kappa Statistics,Appraiser Response Kappa SE Kappa Z P(vs 0),司玲玲 fail 0.89770 0.223607 4.01463 0.0000,pass 0.89770 0.223607 4.01463 0.0000,王颖颖 fail 1.00000 0.223607 4.47214 0.0000,pass 1.00000 0.223607 4.47214 0.0000,朱红丽 fail 1.00000 0.223607 4.47214 0.0000,pass 1.00000 0.223607 4.47214 0.0000,三名检查员的kappa值都在0.891.0测量系统可靠,15,AMICD外观不良Gage R&R(属性数据) Fleis,A,M,I,C,D,生产一课4月份直通率流程能力分析,控制线按照3个标准差生成，4月份负极不良率平均40513ppm,正极不良率平均39195ppm,16,AMICD生产一课4月份直通率流程能力分析 控制线按照3个标,A,M,I,C,D,涂布工序流程能力分析,控制线按照3个标准差生成，4月份涂布正极不良率平均27729ppm,负极不良率平均25513ppm,17,AMICD涂布工序流程能力分析 控制线按照3个标准差生成，4,A,M,I,C,D,测量阶段总结,即时改善一：负极三永涂布机加装纠偏装置：,改善前料带无纠偏装置直接出烤箱,改善后增加一套纠偏系统,改善效果：通过增加纠偏装置，可以提高双面极片对应性,刀头部位员工在极片极耳位置扎孔频率（,如右图,）减少由原来的（3次/分钟） 减少到（0.2次/分钟）,18,AMICD测量阶段总结 即时改善一：负极三永涂布机加装纠偏装,即时改善二：正极涂布机加装涂布辊擦拭装置：,改善前,改善后,改善前涂布辊下无擦拭装置,改善后涂布辊下增加擦拭装置,A,M,I,C,D,19,即时改善二：正极涂布机加装涂布辊擦拭装置：改善前改善后改善前,即时改善二：正极涂布机加装涂布辊擦拭装置：,改善后有效减少涂布划痕的产生,坑点,划痕,A,M,I,C,D,状态,型号,不良率,效果,改善前,PL-383455,0.66%,0.2%,改善后,0.46%,20,即时改善二：正极涂布机加装涂布辊擦拭装置：改善后有效减少涂布,焦点问题陈述,A,M,I,C,D,从正负极涂布工序缺陷类型可以看出，,涂膜不均、划痕、杠痕等外观不良为改善重点；,同时面密度检测时,挖孔,造成的浪费也是项目关注的焦点！,21,焦点问题陈述AMICD从正负极涂布工序缺陷类型可以看出，涂膜,A,M,I,C,D,数据门 /流程门分析,概要性描述!,22,AMICD数据门 /流程门分析概要性描述!22,A,M,I,C,D,潜在X or原因(列表or鱼骨图),概要性描述!,23,AMICD潜在X or原因(列表or鱼骨图) 概要性描述!,A,M,I,C,D,根本原因分析,概要性描述!,散点图or,假设检验or,回归分析or,DOE or,其他,24,AMICD根本原因分析概要性描述!散点图or24,A,M,I,C,D,分析阶段总结,概要性描述!,根本原因列表,25,AMICD分析阶段总结概要性描述!根本原因列表25,A,M,I,C,D,针对根本原因的潜在解决方案及优选,概要性描述!,26,AMICD针对根本原因的潜在解决方案及优选概要性描述!26,A,M,I,C,D,解决方案的风险分析,概要性描述!,27,AMICD解决方案的风险分析概要性描述!27,A,M,I,C,D,改进方案的实施计划,概要性描述!,28,AMICD改进方案的实施计划概要性描述!28,A,M,I,C,D,试运行及效果验证,概要性描述!,29,AMICD试运行及效果验证概要性描述!29,A,M,I,C,D,控制计划,概要性描述!,-文件列表,-响应计划(见下2页表),-等等,30,AMICD控制计划 概要性描述!-文件列表30,A,M,I,C,D,响应计划(用于产品改进),31,AMICD响应计划(用于产品改进) 31,A,M,I,C,D,响应计划(用于流程改进),“应当是”过程图,指 标,规格和目标,数据收集,控制方法,过程改进,32,AMICD响应计划(用于流程改进)“应当是”过程图指 标,A,M,I,C,D,对 CTQs or 关键 Xs 的控制图,概要性描述!,33,AMICD对 CTQs or 关键 Xs 的控制图 概要,A,M,I,C,D,流程能力改进前后的对比,概要性描述!,34,AMICD流程能力改进前后的对比概要性描述!34,A,M,I,C,D,总结,概要性描述!,-项目收益或效果,-交流与推广,35,AMICD总结概要性描述!-项目收益或效果35,
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