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单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,*,*,第三单元 层次存储器系统,第二讲 动态存储器和教学计算机存储器设计,刘卫东,1,内容提要,有关大实验的说明,动态存储器,教学计算机存储器设计,2,关于大实验检查,请各组抓紧时间,完成大实验设计和调试。,15周(12月15日至19日)进行并完成最终检查。请同学们按组准备好以下材料:,调试完成的教学计算机,检查方案:供检查设计的汇编语言程序以及预期结果(包含扩展指令),设计文档,最终检查时间、地点请各班科代表在14周与我们确定。,16周,请各班选出一组,在课堂上和大家交流,3,大实验提交文档列表,指令系统设计文档,指令系统列表,设计说明;,运算器设计文档,线路逻辑图,设计说明,有关GAL芯片的逻辑表达式,控制器设计文档(包括组合逻辑和微程序),线路逻辑图,指令执行流程图,指令执行流程表,有关GAL、MACH芯片的逻辑表达式,内存储器、总线、接口等部分设计文档,线路逻辑图,设计说明,软件设计文档,对监控程序、交叉汇编程序修改的文档和源程序,组装、调试过程中遇到的问题和相应的解决办法,项目完成后的心得体会、有关建议和意见,4,大实验评分标准,完成基本要求,起评分数为80分,视情况酌情增减。,监控程序运行正确(微程序和组合逻辑),扩展指令能正常运行,提供的实验报告完整,规范,有创新和特色,可有加分因素。,修改了监控,能完成对扩展指令的汇编,修改交叉汇编,其他,你们认为有特点的地方,可以陈述,总评成绩=40%*考试成绩+50%*大实验成绩+10%*作业成绩,若考试成绩低于特定值,则无论实验成绩如何,均为不及格,5,层次存储器系统,选用生产与运行,成本不同,的、存储,容量不同,的、读写,速度不同,的多种存储介质,组成一个统一的存储器系统,使每种介质都处于不同的地位,发挥不同的作用,充分发挥各自在,速度,容量,成本,方面的优势,从而达到最优性能价格比,以满足使用要求。,例如,用容量更小但速度最快的 SRAM芯片组成 CACHE,容量较大速度适中的 DRAM芯片组成 MAIN MEMORY,用容量特大但速度极慢的磁盘设备构成 VIRTUAL MEMORY。,6,程序的局部性原理,程序在一定的时间段内通常只访问较小的地址空间,两种局部性:,时间局部性,空间局部性,地址空间,访问概率,7,现代计算机的层次存储器系统,利用程序的局部性原理:,以最低廉的价格提供尽可能大的存储空间,以最快速的技术实现高速存储访问,Control,Datapath,Secondary,Storage,(Disk),Processor,Registers,Main,Memory,(DRAM),Second,Level,Cache,(SRAM),On-Chip,Cache,1ns,Milliseconds,GB,Speed(ns):,10ns,50-100ns,MB-GB,100s,Size(bytes):,KB-MB,Tertiary,Storage,(Disk),Seconds,Terabytes,8,SRAM典型时序,写时序,:,D,读时序,:,WE_L,A,写保持时间,写建立时间,A,D,OE_L,2,N,words,x M bit,SRAM,N,M,WE_L,写入数据,写入地址,OE_L,High Z,读地址,Junk,读访问时间,读出数据,读访问时间,读出数据,读地址,9,动态存储器的存储原理,动态存储器,是用金属氧化物半导体(MOS)的单个MOS管来存储一个二进制位(bit)信息的。信息被存储在MOS管T的源极的寄生电容C,S,中,例如,用C,S,中存储有电荷表示1,无电荷表示0。,10,+,-,V,DD,C,S,字线,位,线,T,写 1:使位线为低电平,,高,T 导通,,低,T 截止。,低,若C,S,上无电荷,则 V,DD,向 C,S,充电;,把 1 信号写入了电容 C,S,中。,若C,S,上有电荷,则 C,S,的电荷不变,,保持原记忆的 1 信号不变。,11,+,-,V,DD,C,S,字线,位,线,T,写 1:使位线为低电平,,高,T 导通,,低,T 截止。,低,若C,S,上无电荷,则 V,DD,向 C,S,充电;,把 1 信号写入了电容 C,S,中。,若C,S,上有电荷,则 C,S,的电荷不变,,保持原有的内容 1 不变;,12,+,-,V,DD,C,S,字线,位,线,T,高,T 导通,,低,T 截止。,高,写 0:使位线为高电平,,若C,S,上有电荷,则 C,S,通过 T 放电;,若C,S,上无电荷,则 C,S,无充放电动作,,保持原记忆的 0 信号不变。,把 0 信号写入了电容 C,S,中。,13,V,DD,C,S,字线,位,线,T,高,T 导通,,低,T 截止。,高,写 0:使位线为高电平,,若C,S,上有电荷,则 C,S,通过 T 放电;,若C,S,上无电荷,则 C,S,无充放电动作,,保持原记忆的 0 信号不变。,把 0 信号写入了电容 C,S,中。,14,+,-,V,DD,C,S,字线,位,线,T,接在位线上的读出放大器会感知这种变化,读出为 1。,高,T 导通,,高,读操作:首先使位线充电至高电平,当字线来高电平后,T导通,,低,1.,若 C,S,上无电荷,则位线上无电位变化,读出为 0;,2.,若 C,S,上有电荷,,并使位线电位由高变低,,则会放电,,15,位线127,位线 0,C,S,V,DD,C,S,V,DD,C,S,/2,V,DD,C,S,/2,V,DD,V,SS,V,SS,V,DD,V,DD,C,S,/2,C,S,/2,V,DD,V,DD,参考单元,参考单元,预充电,放大器,另一侧 64 行,本侧 64 行,D,D,字线 0,字线127,读出电路,16,破坏性读出,:读操作后,被读单元的内容一定被清为零,,必须把刚读出的内容立即写回去,通常称其为预充电延迟,,它影响存储器的工作频率,在结束预充电前不能开始下一次读。,要定期刷新,:在不进行读写操作时,DRAM 存储器的各单元,处于断路状态,由于漏电的存在,保存在电容C,S,上的电荷会,慢慢地漏掉,为此必须定时予以补充,通常称其为刷新操作。,刷新不是按字处理,而是每次刷新一行,即为连接在同一行上,所有存储单元的电容补充一次能量。刷新有,两种常用方式,:,集中刷新,,停止内存读写操作,逐行将所有各行刷新一遍;,分散刷新,,每一次内存读写后,刷新一行,各行轮流进行。,或在规定的期间内,如 2 ms,能轮流把所有各行刷新一遍。,快速分页组织的存储器:,行、列地址要分两次给出,但连续地读写用到相同的行地址时,,也可以在前一次将行地址锁存,之后仅送列地址,以节省送地,址的时间,支持这种运行方式的被称为快速分页组织的存储器。,17,动态存储器读写过程,动态存储器芯片,行地址和列地址,数据总线DB,片选信号/CS,读写信号/WE,动态存储器集成度高,存储容量大,为节约管脚数,地址分为行地址和列地址,18,DRAM 写时序,A,D,OE_L,256K x 8,DRAM,9,8,WE_L,CAS_L,RAS_L,WE_L,A,行地址,OE_L,Junk,写访问时间,写访问时间,CAS_L,RAS_L,列地址,行地址,Junk,列地址,D,Junk,Junk,写入数据,写入数据,Junk,DRAM 写周期时间,WE_L在CAS_L信号之前有效,WE_L 在CAS_L信号之后有效,DRAM 写访问开始于:,RAS_L信号有效,两种写方式:WE_L,信号早和晚于 CAS_L信号有效,19,DRAM 读时序,A,D,OE_L,256K x 8,DRAM,9,8,WE_L,CAS_L,RAS_L,OE_L,A,行地址,WE_L,Junk,读访问时间,输出使能延迟,CAS_L,RAS_L,列地址,行地址,Junk,列地址,D,High Z,读出数据,读周期时间,OE_L在 CAS_L有效之前有效,OE_L 在CAS_L有效之后有效,DRAM 读访问开始于:,RAS_L信号有效,两种读方式:OE-L早于或晚于 CAS_L,有效,Junk,读出数据,High Z,20,静态和动态存储器芯片特性,SRAM,DRAM,存储信息,触发器,电容,破坏性读出,非,是,需要刷新,不要,需要,送行列地址,同时送,分两次送,运行速度,快,慢,集成度,低,高,发热量,大,小,存储成本,高,低,21,主存储器的多体结构,为了提高计算机系统的工作效率,需,要提高主存储器的读写速度。为此可以实,现多个能够独立地执行读写的主存储器体,,以便提高多个存储体之间并行读写的能力。,多体结构同时适用于静态和动态的存储器。,考虑到程序运行的局部性原理,多个存储,体应按低位地址交叉编址的方式加以组织,。,类似的也可按一体多字的方式设计存储器。,22,地址寄存器,主存储器存储体,W W W W,数据总线,一体多字结构,23,地址寄存器,数据总线,0字,1字,2字,3字,单字多体结构,24,小结,:,程序的局部性原理:,时间局部性:,最近被访问过的程序和数据很可能再次被访问,空间局部性:,CPU很可能访问最近被访问过的地址单元附近的地址单元。,利用程序的局部性原理:,使用尽可能大容量的廉价、低速存储器存放程序和数据。,使用高速存储器来满足CPU对速度的要求。,DRAM 速度慢,但容量大,价格低,可用于实现大容量的主存储器系统。,SRAM 速度快,但容量小,价格高,用于实现高速缓冲存储器Cache。,25,小结,设计主存储器,确定最大寻址空间,确定字长,确定读写时序,得到控制信号,26,教学计算机TEC-2000存储器设计,设计要求,需要ROM来存放监控程序,需要RAM供用户和监控程序使用,能够让用户进行扩展,设计原则,尽量简单,能体现出原理课教学要求,不追求高速度,27,控制总线设计,时钟信号,与CPU时钟同步(降低了CPU主频),读写信号,/MIOREQ/WE,0 0 0内存写/MWR,接/WE,0 0 1内存读/MRD 接/OE,0 1 0I/O写/WR,0 1 1I/O读/RD,1 X X 不用,用DC3实现,28,TEC-2000内存控制信号获取,1B 1A 1G,DC3 139,2B 2A 2G,1Y0 1Y1 1Y2 1Y3,2Y0 2Y1,REQ WE GND,MIO,MWR MRD WR RD,MMREQ IOREQ,74LS139:双2-4译码器,29,地址总线设计,片选信号,A15、A14,和A13最高位地址译码产生,/MMREQ作为使能信号,地址信号,A10A0:11位地址,1个地址单元对应4个地址,来自地址寄存器,用DC5实现,30,TEC-2000片选信号,DC5,138,A15,A14,A13,GND,MMREQ,VCC,C,B,A,G2A,G2B,G1,Y0,Y1,Y2,Y3,Y4,Y5,Y6,Y7,00001FFF,20003FFF,40005FFF,60007FFF,80009FFF,A000BFFF,C000DFFF,E000FFFF,DC5 74LS138:3-8译码器,31,TEC-2000地址信号,RAML 6116,ROML 28C64,RAMH 6116,ROMH 28C64,MWR,WE,WE,A10A0,D15D8,D7D0,D15D0,A12A0,A12A0,A10A0,A10A0,OE,CS,CS,OE,OE,OE,CS,CS,Y1,Y1,Y0,Y0,MRD,MRD,D15D8,D7D0,地址总线,数据总线,WE,WE,MRD,MRD,32,内存储器和串行接口,存储器由 2 组 8 位区组成,可运行于8 位或16位方式;,每组由 1 片 2716 RAM 和 2 片 28C64 ROM芯片组成,亦可选用2764 ROM芯片。,对16位地址的最高3位译码,产生 8 个存储器片选信号,各自对应8192 的存储容量。,2 路串行接口,其中一路正常运行,另一路经扩展后方可使用。,对 8 位 IO 端口
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