数字集成电路第6章 CMOS静态逻辑电路11

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,*,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,第六章 静态,CMOS,逻辑电路,CMOS,与非门和或非门,静态,CMOS,逻辑门的构成特点及设计方法,类,NMOS,逻辑电路,MOS,传输门,静态,CMOS,逻辑门是在,CMOS,反相器的基础上扩展而成的。,把反相器中单个的,PMOS,管用多个,PMOS,管构成的,上拉网络代替,;,把反相器中单个的,NMOS,管用多个,NMOS,管构成的,下拉网络代替,。,这样可以实现,任意的与或非逻辑,(,AOI,),也可以实现,任意的或与非逻辑,(,OAI,),对,NMOS,下拉网络的构成规律:,NMOS,管串联实现与操作;,NMOS,管并联实现或操作。,对,PMOS,上拉网络的构成规律:,PMOS,管串联实现或操作;,PMOS,管并联实现与操作。,电路最终输出还要对上述操作求反,最终实现带非的逻辑功能。, 上述规律不仅适用于单个管子的串、并联,还可以推广到子电路块的串并联。,从反相器到逻辑门的构成,静态,CMOS,逻辑电路,上拉开关网络,下拉开关网络,CMOS,与非门,直流电压传输特性两个输入信号同步,两输入同步情况下逻辑阈值电平,若宽长比相同,,K,Neff,=K,N,/2,,,K,Peff,=2K,P,通常,V,TN,0.5V,DD,直流电压传输特性,两个输入信号不同步,分析,n,输入与非门的直流特性,输出上升时间,tr,:决定于,PMOS,管对负载电容充电时间;,输出下降时间,tf,:决定于,NMOS,管对负载电容放电时间,与非门瞬态特性的深入分析,C,DBN,是接到输出结点的,NMOS,管的漏区结电容;,C,DBP,是单个,PMOS,管的漏区结电容;,C,in,是下一级电路的输入电容;,C,1,是连线的寄生电容。,与非门设计考虑,与非门版图实例,与非门设计范例,采用等效反相器方法,CMOS,或非门,或非门的直流电压传输特性曲线,若,V,TN,=-V,TP,,,K,N,=K,P,,,Vit,=,(,V,DD,+V,TN,),/30.5V,DD,传输特性不对称,向左偏。,若要使得,Vit,=0.5V,DD,,,K,P,/K,N,=4,n,输入或非门直流特性,若要直流特性好,n,输入或非门瞬态特性,或非门设计考虑,或非门设计范例,采用等效反相器方法,CMOS,与非门和或非门的设计考虑,1,、最小面积设计,2,、,KN=KP,的设计,3,、串联管子增大,n,倍,4,、全对称设计,总结,与非门、或非门版图实例,第六章 静态,CMOS,逻辑电路,CMOS,与非门和或非门,静态,CMOS,逻辑门的构成特点,类,NMOS,逻辑电路,MOS,传输门,静态,CMOS,逻辑门的构成特点,静态,CMOS,逻辑门是在,CMOS,反相器的基础上扩展而成的。,把反相器中单个的,PMOS,管用多个,PMOS,管构成的,上拉网络代替,;,把反相器中单个的,NMOS,管用多个,NMOS,管构成的,下拉网络代替,。,这样可以实现,任意的与或非逻辑,(,AOI,),也可以实现,任意的或与非逻辑,(,OAI,),对,NMOS,下拉网络的构成规律:,NMOS,管串联实现与操作;,NMOS,管并联实现或操作。,对,PMOS,上拉网络的构成规律:,PMOS,管串联实现或操作;,PMOS,管并联实现与操作。,电路最终输出还要对上述操作求反,最终实现带非的逻辑功能。, 上述规律不仅适用于单个管子的串、并联,还可以推广到子电路块的串并联。,静态,CMOS,逻辑门的构成特点,复杂逻辑门的分析和设计,Example,与或非(,AOI,)门的设计,或与非门(,OAI,)的设计,实现不带“非”的逻辑,实现任意的组合逻辑电路,Y=ABCDEFGH,三种方案的比较,逻辑门的延迟时间与它的扇入系数和扇出系数有关:,扇出系数使负载电容增大,对延迟时间是线性关系;, 扇入系数的增大一方面是等效导电因子下降,驱动能力减小,也使得串联的,MOS,管数目增加,对串联支路中间节点电容的充放电将增加延迟时间。,因此,扇入系数对延迟时间的影响更大。,总结:,电路的总延迟时间不完全决定于所经过的逻辑门的级,数多少,而是与每个逻辑门的具体结构和器件参数密,切有关。减少每个逻辑门的输入端数有利于减小面积,和改善速度。,第六章 静态,CMOS,逻辑电路,CMOS,与非门和或非门,静态,CMOS,逻辑门的构成特点,类,NMOS,逻辑电路,MOS,传输门,类,NMOS,电路,静态,CMOS,逻辑门利用,NMOS,管和,PMOS,管的互补特性,使上拉通路和下拉通路轮流导通,从而获得很好的电路性能。,缺点:每个输入都包含,NMOS,和,PMOS,管,不利于减小芯片面积和提高集成度。,因此,对某些性能要求不太高,但希望面积尽可能小的电路,可以采用,类,NMOS,电路,形式。,45,有比逻辑,(,Ratioed,Logic),主要目标,减少实现一个给定逻辑功能所需的晶体管数目,减小面积;,逻辑结构,由一个实现逻辑功能的,NMOS,下拉网络和一,负载器件,构成。,类,NMOS,电路只用,NMOS,管串并联构成逻辑功能块,上拉通路用一个常导通的,PMOS,管代替复杂的,PMOS,逻辑功能块。,因此,对于,n,输入逻辑门,类,NMOS,电路只需要,n+1,个,MOS,管。比静态,CMOS,逻辑门节省了近一半器件。,47,类,NMOS,逻辑门,In,Out,inverter,OUT,Pulldown,Network,I,dn,Pseudo-NMOS AOI,48,类,NMOS,反相器的工作分析,PMOS,管:,常通,,,:,NMOS,管:,:工作在,饱和区,;,:工作在,线性区,;,:工作在,饱和区,;,工作在,线性区,;,In,Out,49,类,NMOS,反相器的,VTC,分析,1,输入为低电平时,,类,NMOS,反相器的下拉网络关断,电流为,0,;而上拉,PMOS,管导通,,输出高电平,;,:,NMOS,管工作在截止区;,:,PMOS,管工作在线性区;,50,输入为高电平,时,类,NMOS,反相器的下拉网络导通,将输出下拉,,输出低电平,;,:,NMOS,管工作线性区,;,PMOS,管工作在饱和区,;,此时电流相等,即:,类,NMOS,反相器的,VTC,分析,2,51,结论,输出低电平的值不为,0,,取决于比例因子 ;,增大可使 尽可能小,且电路功耗也会减小;,但 太小将使电路的上升时间增加;,比例因子 过大会导致上升时间的增加;,输出低电平时存在静态功耗,;,类,NMOS,电路优缺点,第六章 静态,CMOS,逻辑电路,CMOS,与非门和或非门,静态,CMOS,逻辑门的构成特点,类,NMOS,逻辑电路,MOS,传输门,MOS,传输门,(一),NMOS,传输门特点,NMOS,单管开关电路如图所示,,1.,当 (接地)时,,NMOS,管截止(开关断开),,输出 。,2.,当 ( )时,,NMOS,管导通(开关合上),,此时视 的大小分成两种情况:,NMOS,传输门传输高电平特性,1.,输入端是漏极,输出端是源极;,2. Vc,是高电平,因此,NMOS,管工作在饱和区,直到,Vout=V,DD,-V,TN,时,NMOS,管截止;,3.,输出高电平只能达到,V,DD,-V,TN,,传输高电平有阈值损失;,4.,减小阈值电压,或提高控制信号电压,可提高输出电平。,NMOS,传输门传输低电平特性,1.,输入端是源极,输出端是漏极;,2. Vc,是高电平,因此,NMOS,管工作在,V,GS,=VDD,,随着输出电平的降低,,NMOS,管先饱和再线性,直到,V,DS,=0,3.,传输低电平没有损耗。,(一),NMOS,传输门特点,(,1,) ,输入端呈开启状态,设 初始值为,零,则 刚加上时,输出端也呈开启状态,,NMOS,管导,通,沟道电流对负载电容充电,直至 。此时开,关无损地传输信号,若 ,则 。,(,2,) ,输入端沟道被夹断,此时若 初始,值小于 ,则输出端沟道存在,,NMOS,管导通,,沟道电流对负载电容充电, 上升。但随着 上升,,沟道电流逐渐减小,当 升至 时,输出端沟道,也被夹断,导致,NMOS,管截止,从而使输出电压 维持,在 不变。若此时 ,则输出电压,为,可见,输出电压 比 小一个阈值电压,此时的开关是不理想的,传输信号存在阈值损失。,(二),PMOS,传输门特点,PMOS,单管开关电路如图所示,,1.,当 ( )时,,PMOS,管截止(开关断开),,输出 。,2.,当 (接地)时,,PMOS,管导通(开关合上),,此时视 的大小分成两种情况:,PMOS,传输门传输特性,PMOS,管可以无损耗的传输高电平,但是传输低电平会有阈值损失。,(二),PMOS,传输门特点,(,1,) ,输入沟道开启导通,电流对负载电容,充电, 上升,输出端沟道也开启,开关整个接通,有,(,2,) ,输入端沟道被夹断,此时要维持沟道导,通,则输出端沟道开启,输出电压 必须比 高一个,PMOS,管的阈值电压 。因此,当传输输入为,0,的信号,时,输出同样存在所谓的“阈值损失,”,。,结论是:当开关控制电压( )使,MOS,管导通时,,NMOS,、,PMOS,传输信号均存在阈值损失,只不过,NMOS,发生在传输高电平,而,PMOS,发生在传输低电平时。,(三),CMOS,传输门,1.CMOS,传输门电路,NMOS,管和,PMOS,管的源极、漏极接在一起,,NMOS,衬底,接地,,PMOS,衬底接 (保证了沟道与衬底之间有反偏,的,PN,结隔离),二者的栅极控制电压反相,即,CMOS,传输门传输高电平特性,CMOS,传输门在传输高电平时,,NMOS,管始终工作在饱和区,而,PMOS,管是在恒定的栅源电压下,先工作在饱和区,然后进入线性区。,尽管第三个阶段时,NMOS,截止,但传输高电平还没有结束,,PMOS,还导通,可以继续对负载充电,此时,PMOS,管工作在线性区,直到,|V,DSP,|=Vin-Vout=0,时,传输才结束。,可以无损耗传输高电平。,CMOS,传输门传输低电平特性,CMOS,传输门在传输低电平时,,PMOS,管始终工作在饱和区,而,NMOS,管是在恒定的栅源电压下,先工作在饱和区,然后进入线性区。,尽管第三个阶段时,PMOS,截止,,NMOS,仍然线性区导通,直到,|V,DSN,|=Vin-Vout=0,时,即,Vout=0,时传输才结束。,可以无损耗传输低电平。,CMOS,传输门导通电流的变化,传输高电平和传输低电平过程中,,NMOS,传输管、,PMOS,传输管以及,CMOS,传输门导通电流的变化。,NMOS,管和,PMOS,管的电流都是非线性变化,而,CMOS,传输门的总电流近似线性变化。,(三),CMOS,传输门,2.CMOS,传输门的直流传输特性,(,1,)当 时,,N,管、,P,管均截止,,(,2,)当 时, 由“,0”,升高到“,1”,的过程分为以下,三个阶段:, 较小 ,,N,管导通区:,N,管导通,P,管截止,N,管接近理想开关,,N,管沟道电流向负载电容充电,使, 升高,双管导通区:,N,管导通,P,管导通,N,管、,P,管共同向负载电容充电,仍使,再升高,接近“,1”,时,有,P,管导通区:,N,管截止,P,管导通,P,管接近理想开关,,P,管继续向负载电容充电,仍维持,(四),CMOS,传输门的设计,为保证导电沟道与衬底的隔离(,PN,结反偏),,N,管的衬,底必须接地,,P,管的衬底必须接电源。,沟道电流与管子的宽长比(,W/L,)成正比,为使传,输速度快,要求 大些,沟道长度,L,取决于硅栅多晶硅,条的宽度,视工艺而定,一般,L,取工艺最小宽度( ),,那么,要使 大,就要将沟道宽度,W,设计的大一些。,CMOS,传输门导通电阻的变化,传输门总结,NMOS,传输管传输低电平性能好,传输高电平有阈值损失;,PMOS,传输管传输高电平性能好,传输低电平有阈值损失;,CMOS,传输门利用,NMOS,和,PMOS,管的互补性能获得了比单个传输管更优越的性能,性能更接近理想开关。,
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