光学实验基础知识课件

,*,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,光学实验基础知识,杨 鹏,物理与电子工程学院,光学实验基础知识 杨 鹏,主要内容,一、光学实验的内容,二、光学实验特点,三、光学实验遵循的原则,四、光学实验的观测方法,五、光学实验基本光路,六、光学实验常用仪器,七、实验数据处理,主要内容一、光学实验的内容,课程背景,光学：物理学经典学科，发展迅速。,经典光学理论和实验方法：促进科技进步。,新的研究成果和实验技术：促进光学学科及其他科技领域发展，如天文、化学、生物、医学等。,光学实验技术：观察基本光学现象，学习和掌握光学实验的基本知识和基本方法，培养基本的光学实验技能。,光学实验：仪器精密，调节复杂，只有在了解仪器结构性能基础上建立清晰的物理图像，才能选择有效而准确的调节方法，判断仪器是否处于正常的工作状态。,理论联系实际：在光学实验过程中，仪器的调节和检验，实验现象的观察、分析等都离不开理论的指导。,课程背景光学：物理学经典学科，发展迅速。,光学实验课， 学习的重点是学习和掌握光学实验的基本知识、基本方法以及培养基本实验技能，研究一些基本的光学现象，加强对经典光学理论的理解，提高对实验方法和技术的认识。,（一）基本物理量的测量方法,基本物理量：,透镜的焦距、基点、曲率半径，介质折射率、溶液浓度、光波波长、光栅常量等。,一、光学实验的主要内容,光学实验课， 学习的重点是学习和掌握光学实验的基本知识,测量方法：,焦距测量：,物距像距法、二次成像法、自准直法、辅助透镜法,折射率测量：,最小偏向角法、掠入射法,光波波长测量：,双棱镜干涉法、迈克尔逊干涉法、透射光栅法,溶液浓度测量：,旋光法,偏振光分析、单色仪定标,加深理论,掌握方法,观察现象,分析现象,测量方法：,（二）常用光学仪器的使用,常用仪器,:,光具座、测微目镜、望远镜、分光计、干涉仪、摄谱仪等。,了解仪器的构造原理及正常使用状态，调节到正常使用状态的方法，操作要求，注意事项，并具有较好的操作技能。,（二）常用光学仪器的使用,（三）学习分析光学实验中的基本光路,自准直光路、分光光路、助视放大光路、恒偏向光路。,（四）继续学习分析误差的方法和提高对实验数据的处理能力,提高对实验数据的处理能力和实验结果误差原因的分析水平，正确表达和评价实验结果，分析误差产生的原因以及减小实验误差。,（三）学习分析光学实验中的基本光路,二、光学实验的特点,与理论密切结合,频率极高的电磁波，,10,14,数量级，光学现象不直观，只能观察一定时间内的平均效果。靠理论的支撑才能把握住实验现象。,仪器调节要求高,仪器精密，必须严格调节，才能保证精度。迈克尔逊干涉仪精度可达,10,-4,mm,。,实验能力要求高,实验技能、理论基础、判断能力。,另外取得较好的实验效果，有光学实验须在低照度环境下进行， 因此，要小心谨慎， 安全操作，防止事故， 要避免光学元件跌落损坏，仪器读数失误，并注意保护视力。,二、光学实验的特点与理论密切结合,三、光学实验遵循的原则,1,、必须在熟悉仪器的性能与使用方法之后才能进行使用与操作；,2,、轻拿轻放，勿使仪器或光学元器件受到冲击、碰撞和震动，特别注意不能从手中滑落；,3,、不使用时要及时将光学元件放回包装盒内，长期闲置不用应该将其放入干燥皿中保存；,三、光学实验遵循的原则1、必须在熟悉仪器的性能与使用方法之后,4,、 手拿光学元器件时切忌用手触摸“工作面”，如果必须拿光学元器件时只能拿它的非工作的“磨砂面”，例如透镜的外圆磨砂面，棱镜的上下底面，柱面镜的上下磨砂面，否则因人手的“汗迹”会腐蚀光学面造成永久的损坏；,5,、 如发现光学元器件的工作面有灰尘，要用专用的干燥脱脂棉轻轻擦拭或用橡皮球吹去，绝对不能用嘴去吹；,4、 手拿光学元器件时切忌用手触摸“工作面”，如果必须拿光学,6,、若发现光学表面上已被轻微污染或有较轻的印记，可以用清洁的镜头纸轻轻拂去，擦试时不能加太大的压力以免光学表面被划伤，更不能用普通纸、手帕、毛巾或衣物等进行擦拭；,7,、 进行光学实验时尽量避免说话，防止口水、唾液或其它液体溅落到光学面，造成光学面的化学损伤；,8,、在对光学仪器或光学系统进行调整时，要耐心细致，边调整，边观察，动作要轻、柔、慢，切忌粗鲁与盲目操作；,6 、若发现光学表面上已被轻微污染或有较轻的印记，可以用清洁,9,、 千万要注意在做实验的过程中观察与分析实验过程与现象，尤其是出现与预期现象反常的特殊现象，应及时将现象记录或存储下来，向指导教师请教或分析；,10,、 使用完仪器设备后应当及时整理，放回原处或加罩防护，防止灰尘污染。,9、 千万要注意在做实验的过程中观察与分析实验过程与现象，尤,四、光学实验的观测方法,主观观察法,和,客观测量法,1,、眼睛直接观察的方法，称为主观观察方法,2,、用光电探测器来进行客观测量，常用光电管、光敏电阻和光电池等,视差,:,人们观察远近不同的物体,A,和物体,B,时，常会发生视觉差异的现象。利用视差进行如下判断,:,(1),被观察的物与像，或像与像是否重合,(2),如果未重合，那么哪个离观测者近一些， 这 对于指导仪器的调节，确定像的位置很有帮助。,四、光学实验的观测方法主观观察法和客观测量法,五、基本光路,（一）自准直光路,1.,f,O,O,O,分划板,透镜,平面镜,在物体自身的平面上产生物体的实像，所以称为自准直光路。,五、基本光路（一）自准直光路f OO 分划板透镜平面镜在物,2.,f,O,O,分划板,透镜,平面镜,O,y,y,2.f O分划板透镜平面镜Oyy,3.,f,O,O,分划板,透镜,平面镜,O,y,y,2,2,物平面与反射镜平面相对位置影响实像的位置，例如：分光计的调节就是利用自准直光路实现光轴与主轴的垂直。,应用：自准直目镜。,阿贝目镜,高斯目镜,3.f O分划板透镜平面镜Oyy 2 2,（二）三棱镜分光光路,复色光棱镜 单色光,同一棱镜对不同波长的光具有不同的折射率。（针对钠光波长,589.3nm,而言）,偏向角：出射光与入射光的夹角。,最小偏向角：光路对称时，出射光与入射光的夹角。,i,1,i,1,i,2,i,2,（二）三棱镜分光光路复色光棱镜 单色光 i1i1i2,（三）光栅分光光路,分光原理：光栅方程,dsin=k,各级谱线分布于零级像两侧。,零级像：,k=0, =0,的位置，所有波长的光重叠在一起。,（三）光栅分光光路分光原理：光栅方程 dsin=k,六、基本光学仪器的使用,（一）光具座,双杆式和平直导轨式,长度为,1-2m,，刻有毫米标尺。,滑块支架。,六、基本光学仪器的使用（一）光具座,将各种光学元件（透镜、面镜等等）组合成特定的光学系统，运用这些光学系统成像时，要想获得优良的像，必须保持光束的同心结构，即要求该光学系统符合或接近理想光学系统的条件，这样，物方空间的任一物点，经过该系统成像时，在像方空间必有唯一的共轭像点存在，而且符合各种理论计算公式。为此，在光具座上调节光学系统，必须满足以下几点。,1.,光具座水平,调节光具座底角的水平调节螺钉,(,借助水平尺,),，使光具座水平。,2.,共轴,调节光学系统中各光学元件的光轴,使之共轴。并让物体发出的成像光束满足近轴光线的要求。,将各种光学元件（透镜、面镜等等）组合成,3.,等高,因为成像公式中的各段距离,都是指光学系统光轴上的距离,所以要从光具座轨道上的读数求出符合实际的距离,必须做到光学系统的光轴和光具座道轨的基线平行,简称等高。,调节光学系统各元件的共轴等高，是光学实验中的一项基本要求，必须很好掌握，一般的调节可分粗调和细调两步进行。,3.等高,（,1,） 粗调,先把物、透镜、像屏等元件放置于光具座上，如图依次检查并调整物、透镜及屏的中心（图中物体,P,经透镜,L,成像于,P,），使各元件的中心大致在与导轨平行的同一条直线上，并使物平面、像屏平面和透镜面相互平行且垂直于光具座导轨。,（1） 粗调 先把物、透镜、像屏等元件放置于,（,2,） 细调,二次成像法,成小像时，调节光屏位置，使,P,与屏中心重合；,成大像时，则调节透镜的高低或左右，使,P,位于光屏中心。依次反复调节，便可调好。,（2） 细调二次成像法,（二）分光计,精密测角仪：测量棱镜角，偏向角,分光仪器：借助分光元件可观察光谱，测量波长。,（二）分光计精密测角仪：测量棱镜角，偏向角,1.,分光计的构造,简单结构,1.分光计的构造简单结构,1,，狭缝装置,2,，狭缝装置锁紧螺丝,3,，准直管,4,，制动架,5,，载物台,6,，载物台调平螺丝,7,，载物台锁紧螺丝,8,，望远镜,9,，望远镜锁紧螺丝,具体结构,1，狭缝装置具体结构,10,，阿贝式自准直目镜,11,，目镜视度调节手轮,12,，望远镜光轴高低调节螺丝,13,，望远镜光轴水平调节,螺丝,14,，支臂,15,，望远镜微调螺丝,16,，望远镜止动螺丝,17,，转轴与度盘止动螺丝,18,，制动架,10，阿贝式自准直目镜,19,，底座,20,，转座,21,，度盘,22,，游标盘,23,，支柱,24,，游标盘微调 螺丝,25,，游标盘止动螺丝,26,，准直管光轴水平调节螺丝,27,，准直管光轴高低调节螺丝,28,，狭缝宽度调节手轮,19，底座 20，转座,光学实验基础知识课件,2.,分光计的调节,测量前应调节分光计，达到：,望远镜聚焦到无穷远，望远镜的光轴对准仪器的中心转轴并与中心转轴垂直。,待测光学元件的表面与中心转轴平行。,平行光管出射平行光，且光轴与望远镜的光轴共轴。,2.分光计的调节测量前应调节分光计，达到：,1),目视粗调,调节望远镜俯仰调节螺钉,平行光管俯仰调节螺钉,望远镜支架,平行光管水平调节螺钉,望远镜水平调节螺钉,松开望远镜锁紧螺钉,松开,游标盘锁紧螺钉,锁紧,载物台升降锁紧螺钉,调节,载物盘水平调节螺钉,移动底座,1) 目视粗调 调节望远镜俯仰调节螺钉望远镜支架平行光管,2),用自准直法将望远镜调焦到无穷远,叉丝像,分划板视场,透光窗,反射像,旋转目镜调节鼓轮,伸缩目镜筒,2) 用自准直法将望远镜调焦到无穷远 叉丝像分划板视场透光,载物盘水平、望远镜俯仰调节的特例,平面镜两侧面的反射像分别位于,和,时，只需调节望远镜的俯仰调节螺钉,d,d,平面镜两侧面的反射像同时位于,或,时，只需调节载物盘的水平调节螺钉,d,d,载物盘水平、望远镜俯仰调节的特例 平面镜两侧面的反射像分别位,观察不到反射像的原因,目镜中观察到的叉丝和透光窗中黑色十字的像模糊。（转动目镜调节鼓轮）,望远镜没有聚焦于无穷远。（松开目镜筒锁紧螺钉，前后移动目镜筒 ）,平面反射镜的镜面与望远镜的光轴不垂直。,俯视,侧视,转动载物台或望远镜,调节望远镜俯仰或载物盘水平调节螺钉,观察不到反射像的原因目镜中观察到的叉丝和透光窗中黑色十字的像,用光路图表示为,（,1,），若望远镜向下偏，由图：,若偏斜严重将得不到像,用光路图表示为（1），若望远镜向下偏，由图：若偏斜严重将得不,若偏斜不严重，由图,像点,P,将会在物,S,的下方，现象为十字叉丝将向下偏,若偏斜不严重，由图像点P将会在物S的下方，现象为十字叉丝将向,（,2,）若望远镜上偏：,现象为：,叉丝上偏,（2）若望远镜上偏：现象为：叉丝上偏,棱镜下偏：,现象为：,叉丝下偏,棱镜下偏：现象为：叉丝下偏,若棱镜上偏：,现象为,：,叉丝上偏,若棱镜上偏：现象为：叉丝上偏,3),调节望远镜光轴与中心转轴垂直,放置平面镜,拨动,游标盘,调节载物盘水平调节螺钉或望远镜俯仰调节螺钉,3) 调节望远镜光轴与中心转轴垂直 放置平面镜 拨动调,载物盘水平、望远镜俯仰的各半调节,d,调节望远镜俯仰调节螺钉,调节载物盘水平调节螺钉,d,/2,载物盘水平、望远镜俯仰的各半调节d调节望远镜俯仰调节螺钉 调,4),调节平行光管,平行光管由狭缝和准直透镜组成。,4) 调节平行光管平行光管由狭缝和准直透镜组成。,狭缝 锁紧螺钉,俯仰调节螺钉,松开狭缝锁紧螺钉,前后移动狭缝,转动狭缝,调节平行光管俯仰调节螺钉,转动狭缝,锁住狭缝锁紧螺钉,狭缝 锁紧螺钉俯仰调节螺钉松开狭缝锁紧螺钉 转动狭,3.,分光计的测量原理,(,2,-,1,+,2,-,1,)/2,平行光管,2,2,望远镜,平行光管,1,1,望远镜,3.分光计的测量原理 (2-1+2-1),读数方法,主刻度盘,游标盘,游标窗口,233,13,读数方法主刻度盘游标盘游标窗口233 13,偏心差,偏心差,测三棱镜顶角,平行光管出射的平行光射向三棱镜的两个光学表面，用望远镜分别接收两表面的反射光，就可计算出两束光的夹角,。由几何关系可以证明,与三棱镜顶角,A,的关系为：,= 2,A,测三棱镜顶角平行光管出射的平行光射向三棱镜的两个光学表面，用,A,（,2,-,1,+,2,-,1,）,/4,平行光管,望远镜,A（2-1+2-1）/4 平行光管望远镜,(,三,),测微目镜,（,1,）要确定目镜的准确度及鼓轮转动读数增大的方向，并选取合适的初始点；,（,2,）一次测量中鼓轮只能单向移动，不能中途倒转；,（,3,）干涉条纹应与竖直双线,平行无视差；,（,4,）到达刻度线零点后，应立,即返回，以免损坏测微目镜。,(三) 测微目镜,（四）测移显微镜,（,1,）测量时， 要先调好目镜和物镜。,（,2,）测量时应使一根十字叉丝与显微镜的目镜移动方向垂直。,（,3,）为减小回程误差， 应单方向测量。,（,4,）测量结束后， 应用保护套罩好仪器。,（四）测移显微镜,（五）,单色仪,（六）摄谱仪,（五） 单色仪,（七）光源,1.,热辐射光源,基于热辐射原理，白炽灯，灯丝加热到白炽状态而发光。,连续光谱，功率较低，碘钨灯，溴钨灯。,2.,气体放电光源,电流,气体介质,放电发光。,低压汞灯：小于,1,个大气压工作，在可见光区产生,4,条明亮的特征曲线。工作电压,20V,，工作电流,1300mA.,低压钠灯：金属蒸汽弧光放电。,在可见光区发成两条极强黄色谱线：,589.0nm,589.6nm.,工作电压,20V,，工作电流,1.3A,。,（七）光源,3.,激光光源,受激辐射发光，极强的方向性，发散角小。,极好的单色性和相干性，能量高度集中。,He-Ne,激光器：可见光区输出波长,632.8nm,，单色红光。管端工作电压,2,3kv,直流工作电流,3,6mA,。,3.激光光源,七、实验数据处理,1,、直接测量的最佳值,（,1,）算术平均值,（,2,）标准差,（,3,）测量值的取舍,格罗布斯判据,七、实验数据处理1、直接测量的最佳值,2,、间接测量的最佳值,:,先平均法,3,、最小二乘法直线拟合,4,、测量不确定度,(1),标准不确定度的,A,类评定,(2),标准不确定度的,B,类评定,(3),合成标准不确定度,直接测量 间接测量,2 、间接测量的最佳值: 先平均法,