京东方CellTest流程介绍

Cell Test Cell Test 工艺介绍工艺介绍制造制造TESTTEST何宝何宝2007.92007.9月月1.Cell Test入门2.Cell Test不良分析3.VISUAL INSPECTION SPEC.1.1.制定良否的标准制定良否的标准 由工程师来制定良品还是不良品之间的标准，这一标准一丁点的偏差都可能造成对众多panel定级上的错误，这是test工作最重要的地方。2.2.提高成品率：修理任务提高成品率：修理任务 量产过程中，成品率中有大约10的比例通过repair工序，可见repair工作的重要性3.及时反馈不良信息及时反馈不良信息 Test在制定了优劣的标准后重要的是及时将不良发生情况向制造技术以及研发等相关部门沟通1.Cell Test入门Cell TestCell Test任务任务Cell Test 任务流程Cell TestCell RepairCell SorterCell TestCuttingModuleCELL TEST1st CT1st CTTest 设备点灯 Test 时所有不良检出：电器性，目视性不良；确定 L/R Address 并传送Panel Grade 区分:P,S,T,Q,Repair,NGSorterSorter根据目的对混合的Panel进行分类：L/R,Q级,E-NG,V-NG etc.Laser RepairLaser Repair在 Laser 设备实施 Repair，输入不良类型Data 2nd CT2nd CT判定L/R或Rework 成功与否，区分可再次 Repair 的Panel，同时检出新不良Bubble ReworkBubble ReworkV-NGV-NGE-NGE-NG对小型Bubble进行加热以消除之 CT INShippingCuttingScrap Cell Test Flow:Cell Test Flow:CELL SHIPPING15100CELL TESTAP/S/T Grade1510415102CELL REPAIR1NGScrap15105CELL ReworkPixel Repair(P)No Repair(H)Y-ReworkP/S/T/Q Grade15109X-ReworkRELIABILITY14110VISUAL INSPECTIONManual Sampling(?)Laser Repair()15106Other Repair(P)CELL REPAIR215103NG BANKR,SQ/N GradePNL SORTER电算系统流程图CELL TEST设备中所示，中所示，”Contact”Button 控制设备控制设备contact/align position;“Align”realign 设备设备重新重新contact中所示，中所示，”Button shift move AP的的W/T,使使contact 状态达到最好状态达到最好,shift 单位分别单位分别为为5m,10m；”Start”控制设备控制设备Running/Pause中所示，中所示，”Uncontact”Button 控制设备控制设备contact/align position;“Realign”设备重新设备重新contact中所示，中所示，”Button shift move AP的的W/T,使使contact 状态达到最好状态达到最好,shift 单位分别单位分别为为5m,10m；”Start”控制设备控制设备online/offline中中”Reset”为设备发生为设备发生Error时，处理之后，时，处理之后，点击使设备恢复到正常量产状态；进入其他点击使设备恢复到正常量产状态；进入其他Mode时，点击时，点击”Pause”Button设备操作软件Align Error时，进入时，进入Unit Mode，Adjust 中的中的”根据中间的数值，进行调整；根据中间的数值，进行调整；左右旋转按钮即按照中间数值移动左右旋转按钮即按照中间数值移动W/T V/W两两个轴，旋转个轴，旋转W/T进行调整。进行调整。*点击点击”Contact”时，一定先点时，一定先点”Realign”*注意使注意使W/T旋转时单位不要设的太大旋转时单位不要设的太大*OD Value值不能太大值不能太大70umAlign Error时，进入时，进入Unit Mode，Adjust 中的中的”根据中间的数值，进行调整；根据中间的数值，进行调整；左右旋转按钮即按照中间数值移动左右旋转按钮即按照中间数值移动W/T V/W两两个轴，旋转个轴，旋转W/T进行调整。进行调整。*点击点击”Contact”时，一定先点时，一定先点”Alignment”“EMO”作用：设备发生异常时，应及时按下作用：设备发生异常时，应及时按下EMO，按下后可使设备断电，停止所有马达的，按下后可使设备断电，停止所有马达的运转，起到保护设备和操作人员免受伤害的作运转，起到保护设备和操作人员免受伤害的作用。用。注意：注意：由于由于S/T Tilting Up/Down 由气缸驱动，如该配由气缸驱动，如该配件发生件发生Error，“EMO”不起作用，请一定注意！不起作用，请一定注意！EMO Switch EMO位置位置Safety SensorSub Table侧侧 2eaWork Table侧侧 2ea为了保证设备运行状态下操作人员的安全，为了保证设备运行状态下操作人员的安全，C/T设备上都设置了设备上都设置了Safety Sensor。当设备运行状态下，操作人员的任何部位或是任何物品进入感知区域就会触发报警，设当设备运行状态下，操作人员的任何部位或是任何物品进入感知区域就会触发报警，设备停止运行，起到保证安全的作用。由于设备的突然停止会对硬件部件造成损伤，所以备停止运行，起到保证安全的作用。由于设备的突然停止会对硬件部件造成损伤，所以应避免频繁触发应避免频繁触发Safety Sensor。Winforsys UI主界面1234567Panel Judge界面注意注意:不要点不要点错错Grade，以，以及漏点、误点及漏点、误点Defect CodeCell Test所有的不良判定都是在这个画面下进行的所有的不良判定都是在这个画面下进行的.判级顺序为：判断判级顺序为：判断Panel级别级别点击对应的点击对应的Reasoncode，Mura Level，如许，如许Repair的上传地的上传地址，址，把把code点在触摸屏点在触摸屏panel模拟区的相应位置上模拟区的相应位置上最后点击最后点击RESULT测试测试next Panel。Back LightPattern GeneratorData sourcing Gate scanningAppearance InspectionLighting InspectionEnvironment-.Ambient Temperature:25 3,-.Humidity:65 20%RH-.Viewing Distance:30Cm from the surface of the module-.Viewing Angle:40 In Horizontal Direction,25 In Vertical Direction-.Ambient Illumination:1,000 200 lux(Appearance),200 50 lux(Lighting)，300 50 lux(Gray)MethodDefectPolarize,Broken,Burr etc.Pixel,Line,Mura,Pol etc.1000 200 luxVisual Insp.Visual Insp.InspectorInspectorCell Test检查环境30cmCell Test测试范围:检查用PatternNo.PatternDescription1 1Checker Sub2：Pattern flicker检查2 2Raster L0:电学性不良:亮点,DO,GO,DDS,DGS,GGS,ESD Line Defect,Slight Line异物性不良Zaratsuki类不良：Align,P/T,DomainL0 MuraC/F类不良：PXL盲失，BM盲失，C/F P/TNo.PatternDescription3 3Raster L60:电学性不良Mura类不良检查异物性不良，黑白点，黑白Gap4 4Raster L125:Mura类不良检查异物性不良，黑白点，黑白GapNo.PatternDescription5 5Raster L188:Mura类不良检查异物性不良，黑白点，黑白Gap6 6Raster L255:Red,Green,Blue 灭点Mura类不良检查No.PatternDescription7 7Red L127:Red 灭点，连续Red 色MuraC/F类不良8 8Red L255:Red 灭点，连续，Red像素盲失Red 色MuraC/F类不良No.PatternDescription9 9Green L127:Green 灭点，连续Green 色MuraC/F类不良1010Green L255:Green 灭点，连续,Green像素盲失Green 色MuraC/F类不良No.PatternDescription1111Blue L127:Blue 灭点，连续Blue 色MuraC/F类不良1212Blue L255:Blue 灭点，连续，Blue像素盲失Blue 色MuraC/F类不良No.PatternDescription1313Address:定位不良位置Panel需要Repair时，传输坐标1414Area:不良Map点击时，确定不良发生区域根据不同尺寸Panel会有区别No.PatternDescription1515Windows:Cross Talk检查Zaratsuki Align确认Remark.Remark.根据根据TestTest要求要求PatternPattern会有变化会有变化2.Cell Test点灯不良不良的种类不良的种类目视性不良目视性不良(VISUAL DEFECT)(VISUAL DEFECT)电学性不良电学性不良(ELECTRICAL DEFECT)(ELECTRICAL DEFECT)外观性不良外观性不良(APPEARANCE DEFECT)(APPEARANCE DEFECT)2.1 目视性不良u各种各种Mura(Mura(周边，垂直周边，垂直/水平线，水平线，RubbingRubbing，BlockBlock，ObliqueOblique，未确认，未确认)u黑黑/白白GapGapu黑黑/白点白点uParticle(Particle(线性线性,圆形圆形,其他）其他）uScratch(TFT,CF,CellScratch(TFT,CF,Cell内，内，Touch)Touch)uC/FC/F不良不良(BM(BM盲失，盲失，PixelPixel盲失，色盲失，色MuraMura，C/F P/T)C/F P/T)uZaratsuki(Align,P/T,DomainZaratsuki(Align,P/T,Domain，etc)etc)uBubble(Large,Small,Bubble(Large,Small,不定形不定形)uSeal leakSeal leakuETC(BNU,Contact Miss,Cell Bent,ETC(BNU,Contact Miss,Cell Bent,过充进，未充进过充进，未充进)Mura Mura 类不良类不良_Gap_Gap性性现象：现象：Panel Panel 边缘泛白，边缘泛白，L60 L60 下视认性强下视认性强.PATTERNPATTERN：L60L60，L125L125VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：Q Q级级 or NGor NG产生原因：周边部产生原因：周边部GapGap异常异常.周边周边MuraMuraMura Mura 类不良类不良_ _GapGap性性现象现象:Panel:Panel 边缘泛白，边缘泛白，L0L0下视下视认性强；指压后产生水波纹现象认性强；指压后产生水波纹现象.PATTERNPATTERN：L0L0，L60L60VIEW ANGLEVIEW ANGLE：上视角：上视角GRADEGRADE：Q Q级级 or NGor NG产生原因产生原因:Seal:Seal内或周边异物造内或周边异物造成成GapGap异常异常.周边白周边白GapGapMura Mura 类不良类不良_ _非非GapGap性性现象：现象：Data3Data3和和4 4、Data6Data6和和7 7之间白之间白色带状色带状.PATTERNPATTERN：L60L60VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：Q Q级级 or NGor NG产生原因：属于产生原因：属于Array MuraArray Mura，Array Array Pattern non-uniformityPattern non-uniformity造成造成.V-BLOCK MuraV-BLOCK MuraMura Mura 类不良类不良_ _非非GapGap性性现象：短的平行斜线组现象：短的平行斜线组PATTERNPATTERN：L60L60VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：Q Q级级 or NGor NG产生原因：产生原因：Rubbing Rubbing 工程参数确认工程参数确认.ObliqueObliqueMura Mura 类不良类不良_ _非非GapGap性性现象：现象：RubbingRubbing角方向的短线组，角方向的短线组，以一定间隔发生以一定间隔发生.PATTERNPATTERN：L60L60VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：Q Q级级 or NGor NG产生原因：产生原因：Rubbing clothRubbing cloth上有上有P/T.P/T.Rubbing Mura(A Mode)Rubbing Mura(A Mode)Mura Mura 类不良类不良_ _非非GapGap性性现象：以一定间隔排列的长斜线现象：以一定间隔排列的长斜线组组.PATTERNPATTERN：L60L60VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：Q Q级级 or NGor NG产生原因：产生原因：Rubbing clothRubbing cloth接合接合处的处的GapGap或设备震动等原因造成或设备震动等原因造成.Rubbing Mura(B Mode)Rubbing Mura(B Mode)Mura Mura 类不良类不良_ _非非GapGap性性现象：现象：GateGate侧的横向弱线组侧的横向弱线组.PATTERNPATTERN：L60L60，L125L125VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：Q Q级级 or NGor NG产生原因：解决中产生原因：解决中.水平线水平线 Mura(Type 1)Mura(Type 1)Mura Mura 类不良类不良_ _非非GapGap性性现象现象:Gate:Gate 侧的弱线构成三角侧的弱线构成三角形形.PATTERNPATTERN：L60L60VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：Q Q级级 or NGor NG产生原因：解决中产生原因：解决中.水平线水平线 Mura(Type 2)Mura(Type 2)Mura Mura 类不良类不良_ _非非GapGap性性现象：现象：PanelPanel右侧黑色的条状不右侧黑色的条状不良，通常伴有白条状的周边良，通常伴有白条状的周边MuraMura发生发生.PATTERNPATTERN：L60L60VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：Q Q级级 or NGor NG产生原因：产生原因：RubbingRubbing工程时，工程时，TBATBA（预倾角（预倾角)在在GlassGlass的边缘比内部的边缘比内部低，所以造成低，所以造成L/CL/C分子旋转不完分子旋转不完全全.垂直黑线垂直黑线 MuraMura现象：在中间灰度现象：在中间灰度L60L60下，下，GapGap部部分的颜色与其他位置处相比较黑分的颜色与其他位置处相比较黑或较白；指压后产生水波纹现象或较白；指压后产生水波纹现象.PATTERNPATTERN：L60L60VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：Q Q级级 or NGor NG产生原因：产生原因：PanelPanel受到挤压后受到挤压后Cell GapCell Gap异常异常(eg.PS CRACK).(eg.PS CRACK).Gap Gap变厚产生白变厚产生白GapGap，变窄产生黑，变窄产生黑GapGap；也有部分；也有部分GapGap由异物引起，由异物引起，GapGap中心可见异物性亮点中心可见异物性亮点.黑黑/白白GapGap黑黑/白白GapGap黑黑GapGap白白GapGap黑黑/白点白点现象：黑色或白色的小斑点，多现象：黑色或白色的小斑点，多为圆形；形似为圆形；形似GapGap但是指压后没但是指压后没有水波纹出现有水波纹出现.PATTERNPATTERN：L60L60，L125L125，L188L188VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：Q Q级级 or NGor NG产生原因：黑点产生原因：黑点主要为主要为PIPI膜膜DimpleDimple性性PinholePinhole或或PIPI膜划伤膜划伤引引起；白点主要为起；白点主要为CellCell内异物、内异物、Spacer ClusterSpacer Cluster、PIPI损害和污染、损害和污染、PI CoatingPI Coating的不完全等因素导致的不完全等因素导致.黑黑/白点白点现象：一般情况下造成亮点或连现象：一般情况下造成亮点或连续，并且不良部分明显可见异物续，并且不良部分明显可见异物.PATTERNPATTERN：L0L0，L60L60VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：Q Q级级 or NGor NG产生原因：产生原因：CellCell工程中的工程中的Hard Hard P/TP/T、LintLint和和OrganicOrganic造成造成.CellCell异物异物Cell Cell 异物异物现象：分为现象：分为TFTTFT表面表面Scratch Scratch、CFCF表面表面ScratchScratch和和CellCell内内ScratchScratch三三种类型种类型.三者均具有明显的方向性，三者均具有明显的方向性，两端呈尖状两端呈尖状.PATTERNPATTERN：L0L0，L60L60VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：Q Q级级 or NGor NG产生原因：可以通过观察产生原因：可以通过观察ScratchScratch处的处的BMBM是否完好来判断是否完好来判断ScratchScratch是是发生在发生在TFTTFT还是还是CF.CF.工艺中工艺中TFTTFT基板基板或或CFCF基板受到划伤基板受到划伤.ASSY.ASSY工程前工程前多为多为PIPI膜膜ScratchScratch；成盒后多为；成盒后多为CuttingCutting工程造成的表面工程造成的表面Scratch.Scratch.ScratchScratchScratchScratch类类CellCell内内表面表面现象：类似被手抹过的痕迹，甚现象：类似被手抹过的痕迹，甚至是手印或指印至是手印或指印.PATTERNPATTERN：L60L60VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：Q Q级级 or NGor NG产生原因：产生原因：PI CoatingPI Coating后被手或后被手或其他物品接触过其他物品接触过.ScratchScratch类类TouchTouch现象：现象：BMBM盲失在黑色画面下显示盲失在黑色画面下显示为白色的小亮点；为白色的小亮点；PixelPixel盲失部盲失部分在相应的色分在相应的色PatternPattern下也显示下也显示为白色为白色.PATTERNPATTERN：LOLO，R R，G G，B BVIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：一般情况下可根据异物：一般情况下可根据异物标准进行判断，标准进行判断，GOODGOOD、Q Q级级 or or NG.NG.产生原因：大部分为产生原因：大部分为C/FC/F原材料原材料不良不良.但但BMBM和和PixelPixel盲失同时出现盲失同时出现时，时，CFCF被被ScratchScratch的可能性很大的可能性很大.C/FC/F类类BM BM 盲失盲失Pixel Pixel 盲失盲失现象：色现象：色PatternPattern下，不良区域下，不良区域的颜色明显与其它区域不同的颜色明显与其它区域不同.PATTERNPATTERN：R R，G G，B BVIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：Q Q级级 or NGor NG产生原因：产生原因：C/FC/F原材料不良原材料不良.色色Mura(Red)Mura(Red)C/FC/F类类现象：现象：R R，G G，B B的小亮点，多发生的小亮点，多发生于于PanelPanel的边角和中心位置的边角和中心位置.PATTERNPATTERN：L60L60VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：Q Q级级 发生原因：在发生原因：在Rubbing Rubbing 工艺进行工艺进行时由于时由于 Rubbing ClothRubbing Cloth的摩擦产的摩擦产生的较小的生的较小的PIPI膜碎屑导致膜碎屑导致.ZaratsukiZaratsuki类类Zaratsuki P/TZaratsuki P/T现象：满屏绿色毛绒状，正视几乎现象：满屏绿色毛绒状，正视几乎不可见不可见.PATTERNPATTERN：L60L60VIEW ANGLEVIEW ANGLE：侧视角可视性强：侧视角可视性强GRADEGRADE：Q Q级级 or NGor NG产生原因产生原因:Rubbing:Rubbing深度过浅致使此深度过浅致使此处处PIPI层的取向力减弱导致不良发生层的取向力减弱导致不良发生.由于由于C/FC/F上绿色的亚像素高度最高，上绿色的亚像素高度最高，且多发生于且多发生于Green PXLGreen PXL的边角处的边角处.ZaratsukiZaratsuki类类Zaratsuki DomainZaratsuki Domain现象：现象：L0L0处漏光现象，处漏光现象，部分位置发部分位置发白白PixelPixel周边部存在漏光现象，有周边部存在漏光现象，有视角依赖性视角依赖性.PATTERNPATTERN：L0L0VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：Q Q级级 or NGor NG产生原因：产生原因：TFTTFT和和CFCF在在ASSY ASSY AlignAlign时发生时发生MissMiss；Array ITO CDArray ITO CD大或大或CF BMCF BM过窄过窄.ZaratsukiZaratsuki类类Zaratsuki AlignZaratsuki Align现象：不点灯即可见，变换画面现象：不点灯即可见，变换画面始终为黑色始终为黑色.PATTERNPATTERN：全部：全部VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：NGNG产生原因：产生原因：ASSY AlignASSY Align工程中工程中基板间存在基板间存在AirAir或或N N2 2气泡气泡.BubbleBubble类类LC BubbleLC Bubble（L L）现象：不点灯即可见，变换画面始现象：不点灯即可见，变换画面始终为黑色终为黑色.PATTERNPATTERN：全部：全部VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：NG(8mmNG(8mm可进行可进行ReworkRework）产生原因：产生原因：ASSY AlignASSY Align工程中基工程中基板间存在板间存在Vac.Vac.BubbleBubble类类LC BubbleLC Bubble（S S）现象：不点灯即可见，变换画面现象：不点灯即可见，变换画面始终为黑色始终为黑色.PATTERNPATTERN：全部：全部VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：NG(8mmNG(8mm可进行可进行ReworkRework）产生原因：产生原因：ASSY AlignASSY Align工程中工程中基板间存在基板间存在Vac.Vac.BubbleBubble类类LC BubbleLC Bubble（不定型）（不定型）现象：现象：PanelPanel四周不规则树支状，四周不规则树支状，多呈深绿色或黑色；不点灯也可见多呈深绿色或黑色；不点灯也可见.PATTERNPATTERN：全部：全部VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：NGNG产生原因：由于产生原因：由于Sealant Sealant DispenseDispense后到后到UV CUREUV CURE间隔过长造间隔过长造成成L/CL/C与与SealantSealant接触或是接触或是SealantSealant的宽窄不均导致部分断开，空气冲的宽窄不均导致部分断开，空气冲入也会造成入也会造成Seal leak.Seal leak.Seal LeakSeal LeakuPixel(Pixel(亮点、灭点、连续亮点、灭点、连续)uLine Defect(Y-Line Defect(Y-向，向，X-X-向向)uDODOuGOGOuDDSDDSuGGSGGSuDGSDGSuSlight Line(Y-Slight Line(Y-向，向，X-X-向向)uESDESDuArray Array 其他其他2.22.2电学性不良电学性不良现象：现象：L0L0，6060下以像素为单位的下以像素为单位的亮点；亮点；L255L255下下R R，G G，B B下对应的下对应的像素暗点像素暗点.分为个数、连续和间分为个数、连续和间距三种类型距三种类型.PATTERNPATTERN：L0L0，L60L60；R R，G G，B BVIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：S S，T T，Q Q级级 or NGor NG产生原因：产生原因：ArrayArray不良（不良（GateGate、S/DS/D、ActiveActive、ITOITO等）和等）和CellCell内内异物、异物、ScratchScratch等造成等造成.PixelPixel类类暗点暗点暗点暗点3 3连续连续亮点亮点亮点亮点4 4连续连续现象：现象：X X向或向或Y Y向亮线向亮线.PATTERNPATTERN：L0L0VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：NGNG产生原因：产生原因：PadPad部部LineLine间间OpenOpen或或ShortShort；Array Metal RemainArray Metal Remain，CellCell内金属异物、内金属异物、C/FC/F突起引起突起引起上下间上下间shortshort、Common Short.Common Short.Line DefectLine DefectY Y向向L/DL/D X X向向L/DL/D 现象：现象：DataData线从中间断开线从中间断开.PATTERNPATTERN：L0L0VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：NGNG产生原因：产生原因：Chemical AttackChemical Attack、Array PhotoArray Photo工程的工程的PRPR原形原形OpenOpen，其他其他P/TP/T及及ScratchScratch等造成；在等造成；在Array CVD RepairArray CVD Repair如果如果DGSDGS没有维没有维修成功也可能会造成修成功也可能会造成DO.DO.DODO现象：现象：GateGate线从中间断开线从中间断开.PATTERNPATTERN：L0L0VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：NGNG产生原因：产生原因：Chemical AttackChemical Attack、Array PhotoArray Photo工程的工程的PRPR原形原形OpenOpen，其他其他P/TP/T及及ScratchScratch等造成等造成.GOGO现象：现象：DataData和和Gate crossGate cross状亮状亮.线，交叉部分可见异物线，交叉部分可见异物PATTERNPATTERN：L0L0VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：NGNG产生原因：产生原因：ShortShort处的金属处的金属RemainRemain或导电或导电P/TP/T造成造成.DGSDGS现象：一般为现象：一般为GateGate向相邻的一条向相邻的一条亮线和一条暗线亮线和一条暗线.PATTERNPATTERN：L0L0VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：NGNG产生原因：产生原因：PadPad部或部或Fan-OutFan-Out部部ScratchScratch、P/TP/T及及Array RemainArray Remain引引起起PadPad间间Short.Short.GGSGGS现象：一般为现象：一般为DataData向相邻的一条向相邻的一条亮线和一条暗线亮线和一条暗线.PATTERNPATTERN：L0L0VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：NGNG产生原因：产生原因：PadPad部或部或Fan-OutFan-Out部部ScratchScratch、P/TP/T及及Array RemainArray Remain引引起起PadPad间间Short.Short.DDSDDS现象：浅灰色亮或暗线，灰度不现象：浅灰色亮或暗线，灰度不均，有的部分很不明显均，有的部分很不明显.PATTERNPATTERN：L0L0，L60L60VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：NGNG产生原因：产生原因：ESDESD造成造成DataData和和Repair Repair LineLine短接或者在短接或者在RepairRepair工序对工序对DODO没有维修成功也可能造成弱线没有维修成功也可能造成弱线.Slight LineSlight LineY Y向向X X向向现象：主要为现象：主要为GateGate或或Data PadData Pad处发处发生白色或黑色楔形连续亮点，部分生白色或黑色楔形连续亮点，部分ESDESD也可能会造成也可能会造成Line DefectLine Defect；对；对VghVgh和和VglVgl调定敏感调定敏感.PATTERNPATTERN：L0L0，L60L60VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：发生即：发生即NGNG产生原因：工程中的产生原因：工程中的TFTTFT器件发生器件发生静电击穿，多发于静电击穿，多发于PadPad部部.合理设置合理设置IONIZERIONIZER及设备接地，减少人手触及设备接地，减少人手触摸摸PadPad部可减小部可减小ESDESD的发生机率的发生机率.ESDESDESDESDuPad Pad 部破损部破损(Gate Pad&Data Pad)(Gate Pad&Data Pad)uAlign Mark Align Mark 破损破损(#1,#2,#3)(#1,#2,#3)uOLB OLB 破损破损uCF CF 破损破损uBURRBURRuCRACK(TFT&CF)CRACK(TFT&CF)u外观其他外观其他(Pad(Pad变色、变色、ID ID 破损、破损、OVER GRINDING,E/G MissOVER GRINDING,E/G Miss等等)2.32.3目视性不良目视性不良现象：现象：Pad Pad 部发生破损部发生破损PATTERNPATTERN：无：无VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：GOODGOOD or NGor NG产生原因：在产生原因：在CuttingCutting或是或是Cell Cell TestTest工程中被磕碰；人为因素也工程中被磕碰；人为因素也可能造成可能造成Broken.Broken.Pad Pad 部破损部破损GateGate部部DataData部部破损1/2NG现象：现象：Align Align 十字十字MarkMark破损，破损，Cell TestCell Test设备无法设备无法ContactContact点灯点灯.PATTERNPATTERN：无：无VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：GOODGOOD or NGor NG产生原因：一般为人为因素造成产生原因：一般为人为因素造成.Align#1Align#1Align#2Align#2Align#3Align#3Align Mark Align Mark 破损破损破损破损 1/2-NG 1/2-NG现象：现象：OLBOLB部分破损，超过部分破损，超过1/21/2即即NGNG，无法完成，无法完成Bonding.Bonding.PATTERNPATTERN：无：无VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：GOODGOOD or NGor NG产生原因：在产生原因：在CuttingCutting或是或是Cell Cell TestTest工程中被磕碰；人为因素也工程中被磕碰；人为因素也可能造成可能造成Broken.Broken.OLB OLB 破损破损破损破损 1/2-NG 1/2-NG现象：现象：C/FC/F部分部分brokenbrokenPATTERNPATTERN：无：无 VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：GOODGOOD or NGor NG 产生原因：在产生原因：在CuttingCutting或是或是Cell Cell TestTest工程中被磕碰；人为因素也工程中被磕碰；人为因素也可能造成可能造成Broken.Broken.CF CF 破损破损TFTTFT侧破损侧破损1AAC570236 CH1AAC570236 CH现象：现象：PadPad、PLGPLG或是显示区均有或是显示区均有可能发生可能发生CrackCrack；CrackCrack发生在发生在TFTTFT侧会造成一组亮线侧会造成一组亮线.PATTERN.PATTERN：无无VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：发现即：发现即NGNG产生原因：前工序中被硬物磕碰，产生原因：前工序中被硬物磕碰，或严重的或严重的Scratch.Scratch.CRACKCRACKTFTTFT侧侧 CrackCrack现象：现象：PadPad部在部在CuttingCutting后残留有毛边后残留有毛边.PATTERNPATTERN：无：无VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：NGNG（可进行（可进行Cutting ReworkCutting Rework）产生原因：产生原因：CuttingCutting工程参数确认工程参数确认.BURRBURR现象：现象：PadPad部部IDID被磨掉，无法读出被磨掉，无法读出Panel ID.Panel ID.PATTERNPATTERN：无：无VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：NGNG产生原因：产生原因：CuttingCutting工程参数确认工程参数确认.OVER GRINDINGOVER GRINDINGPanel ID Panel ID 被磨掉被磨掉现象：无法点灯，或点灯后很多亮线现象：无法点灯，或点灯后很多亮线.PATTERNPATTERN：无：无VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：NGNG（可进行（可进行Cutting ReworkCutting Rework）产生原因：产生原因：CuttingCutting工程参数确认工程参数确认.E/G MISSE/G MISSPadPad部短路环没有切除完全部短路环没有切除完全现象：无法读出现象：无法读出Panel ID.Panel ID.PATTERNPATTERN：无：无VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：NGNG产生原因：在产生原因：在CuttingCutting或是或是Cell Cell TestTest工程中被磕碰；人为因素也工程中被磕碰；人为因素也可能造成可能造成Broken.Broken.VCR ID VCR ID 破损破损Align#1Align#1PanelPanel左下部左下部Panel IDPanel ID现象：很多现象：很多X X向薄的浅的灰色向薄的浅的灰色lineline或亮线或亮线PATTERNPATTERN：L0L0，L60L60VIEW ANGLEVIEW ANGLE：正视：正视GRADEGRADE：Q Q级级 or NGor NG产生原因：产生原因：Pad Pad 部异物造成部异物造成PinPin的的contactcontact不良；不良；ArrayArray工艺中成工艺中成膜问题膜问题.Pad Pad 变色变色3.VISUAL INSPECTION SPEC.3.1 17inch Panel 判级3.2 19inch Panel 判级(没有P Grade)3.3 20.1inch Panel 判级(没有T Grade,判定距离:50cm70cm)3.4 19W Panel 判级(比19Normal增加P Grade)3.5 15inch Panel 判级3.6 26inch Panel 判级(测试距离:90cm-1m)3.7 15.4inch Panel 判级(目前未量产，无P,S Grade）TQNGGrade()L1TL2TL3TL4QL5QL6NGLevel 1Level 2Level 3Level 4Level 5Level 6Mura LevelingCell Test判级的依据 -.Limit Sample-.Limit Sample