《半导体存储器》PPT幻灯片课件

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顺序存取存储器(SAM),(,Sequential Access Memory),7.2.1动态CMOS反相器,7.2.2动态CMOS移存单元,7.2.3动态移存器和顺序存取存储器,7.2 顺序存取存储器(SAM)(Sequ,7.2.1 动态CMOS反相器,由传输门和CMOS反相器组成。电路中T,1,、T,2,栅极的寄生电容,C,是存储信息的主要“元件”。,MOS管栅电容,C,的暂存作用,栅电容,C,充电迅速,放电缓慢,因此可以暂存输入信息。若每隔一定时间对,C,补充一次电荷,使信号得到“再生”,可长期保持,C,上的1信号,这一操作过程通常称为“刷新”。,CP,的周期不能太长,一般应小于ms。,电路结构,图,7,-,2,-,1,动态,CMOS,反相器,v,I,+,TG,1,CP,C,R,V,DD,T,2,T,1,v,O,CP,+,7.2.1 动态CMOS反相器由传输门和CMOS反相器组,7.2.2 动态CMOS移存单元,动态CMOS移存单元由两个动态CMOS反相器串接而成。,当,CP,=1时,主动态反相器接收信息,从动态反相器保持原存信息;,CP,=0时,主动态反相器保持原存信息,从动态反相器随主动态反相器变化。每经过一个,CP,,数据向右移动一位。,主,从,1位,I,TG,1,CP,C,1,V,DD,T,2,T,1,O,CP,TG,2,CP,C,2,V,DD,T,4,T,3,CP,图,7,-,2,-,2,动态,CMOS,移存单元,7.2.2 动态CMOS移存单元动态CMOS移存单元由两个,7.2.3 动态移存器和顺序存取存储器,动态移存器,动态移存器可用动态CMOS移存单元串接而成,主要用来组成顺序存取存储器(SAM)。,由于需要读出的数据必须在,CP,的推动下,逐位移动到输出端才可读出,所以存取时间较长,位数越多,最大存取时间越长。,0,1,2,1023,串入,串出,CP,CP,1,位动态移存单元,图,7,-,2,-,3,1024,位动态移存器示意图,7.2.3 动态移存器和顺序存取存储器动态移存器,(1)循环刷新,片选端为0。只要不断电,信息可在动态中长期保存。,(2)边写边读,片选端为,1,,写/循环为,1,,且读控制端也为,1,。,(3)只读不写,数据刷新,片选端为,1,,写/循环为,0,,读控制端为,1,。,先入先出(FIFO)型SAM,特点:,每次对外读(或写)一个并行的位数据,即一个,字,。,SAM中的数据字只能按“先入先出”的原则顺序读出。,逻辑图,动画示意,(1)循环刷新(2)边写边读(3)只读不写,图,7,-,2,-,5,m,4,位,FILO,型,SAM,I/O,控制电路,1,EN,Q,0,Q,m,-1,m,位,双向,移存器,SL/SR,CP,G,2,G,1,I/O,0,R/W,CP,EN,EN,I/O,3,EN,1,1,1,Q,0,Q,m,-1,m,位,双向,移存器,SL/SR,CP,先入后出(FILO)型SAM,写操作:,移存器执行右移操作,由,I,/,O,端最先送入的数据存于各移存器的最右端。,读操作:,移存器执行左移操作,存于各移存器最左端的数据最先由,I,/,O,端读出。,图7-2-5 m4位FILO型SAMI/O控制电路1ENQ,&,1,&,G,20,G,30,1024位动态移存器,CP,CP,&,O,0,G,40,I,0,&,1,&,G,21,G,31,1024位动态移存器,CP,CP,&,O,1,G,41,I,1,&,1,&,G,27,G,37,1024位动态移存器,CP,CP,&,O,7,G,47,I,7,&,写/,循环,片选,读,图,7,-,2,-,4,1024,8,位,FIFO,型,SAM,返回,G,1,&1&G20G301024位动态移存器CPCP&O0G40,7.3 随机存取存储器(RAM),Random Access Memory,7.3.1 RAM结构,7.3.2 RAM存储单元,7.3.3 RAM集成片HM6264简介,7.3.4 RAM存储容量的扩展,7.3 随机存取存储器(RAM)Rand,7.3.1 RAM结构,存储矩阵,将存储单元按阵列形式排列,形成存储矩阵。,地址译码器,为了区别不同的,字,,将存放在同一个字的存储单元编为一组,并赋予一个号码,称为,地址,。地址的选择是借助于,地址译码器,来完成的。,地址码的位数,n,与可寻址数,N,之间的关系为:,N,=2,n,。,片选与读/写控制电路(,I,/,O,电路),RAM主要由,存储矩阵,、,地址译码器,和,读/写控制电路(,I,/,O,电路),三部分组成。,逻辑图,动画示意,7.3.1 RAM结构存储矩阵地址译码器,基本,R,-,S,触发器,7.3.2 RAM存储单元,MOS静态存储单元,存储单元,图,7,-,3,-,2,六管,CMOS,静态存储单元,V,DD,D,D,T,j,T,j,Y,j,T,1,T,3,Q,Q,T,5,T,2,T,4,T,6,X,i,位 线,位 线,当地址码使得,X,i,和,Y,j,均为高电平时,表示选中该单元,即可以对它进行读写操作。,由于数据由触发器记忆,只要不断电,信息就可以永久保存。,采用CMOS管,所以静态功耗极小。,基本R-S触发器7.3.2 RAM存储单元MOS静,MOS动态存储单元,T,1,G,2,&,&,T,2,T,3,T,4,T,4,T,5,T,6,T,j,Y,j,C,0,C,0,C,G,1,X,i,W,R,V,DD,V,DD,预充脉冲,读行线,写位线,写行线,读位线,D,图,7,-,3,-,3,三管动态,NMOS,存储单元,(1)三管NMOS动态存储单元,NMOS,管,T,2,的栅电容,C,用来暂存数据。,预充电:,读出操作:,写入操作:,刷新操作:,通过内部的读、写操作,使,C,中的信息得以长期保持。,MOS动态存储单元T1G2&T2T3T4T4T5,(2)单管NMOS动态存储单元,图,7,-,3,-,4,单管,NMOS,动态存储单元,x,i,T,C,S,C,0,D,位,线,由一个门控管T和一个存储信息的电容,C,S,组成。,由于分布电容,C,0,C,S,,所以位线上的读出电压信号很小,需用,高灵敏度读出放大器,进行放大;且每次读出后必须立即对该单元进行,刷新,,以保留原存信息。,动态存储单元的结构比静态存储单元简单,可达到更高的集成度;但DRAM不如SRAM使用方便,且存取时间较长。,(2)单管NMOS动态存储单元图7-3-4 单管NMOS,8条数据线,每字长度为8位,13条地址线,存储字数为:2,13,8,7.3.3 RAM集成片HM6264简介,图,7,-,3,-,5,HM6264,外引线排列图,R/W,NC,GND,15,14,16,13,17,12,18,11,19,10,20,9,21,8,22,7,23,6,24,5,25,4,26,3,27,2,28,1,A,12,A,7,A,6,A,5,A,4,A,3,A,2,A,1,A,0,I/O,0,I/O,1,I/O,2,V,DD,CS,2,A,8,A,9,A,11,OE,A,10,CS,1,I/O,7,I/O,6,I/O,5,I/O,4,I/O,3,HM,6264,8条数据线,每字长度为8位 13条地址线,存储字数为:21,表,7,-,3,-,2,HM6264,工作状态,工作状态,CS,1,CS,2,OE,R/W,I/O,读(选中),0,1,0,1,输出数据,写(选中),0,1,0,输入数据,维持(未选中),1,高阻浮置,维持(未选中),0,高阻浮置,输出禁止,0,1,1,1,高阻浮置,表7-3-2 HM6264工作状态工作状态CS1CS2OER,5V,7.3.4 RAM存储容量的扩展,位扩展,D,15,D,9,D,8,D,7,D,1,D,0,1,1,R,/,W,CS,1,A,0,A,12,图,7,-,3,-,6,RAM,的位扩展,适用于字数够用,但每字的位数(字长)不够的情况。,如:,8K8 8K16,I/O,7,I/O,1,I/O,0,V,DD,OE,GND,R/W,A,12,A,0,CS,1,CS,2,I/O,7,I/O,1,I/O,0,V,DD,OE,GND,R/W,A,12,A,0,CS,1,CS,2,6264 ,6264 ,5V7.3.4 RAM存储容量的扩展位,R/W,字扩展,适用于位数(字长)够用,但字数不够的情况。,如:,8K8 32K8,1,1,1,1,Y,0,Y,1,Y,2,Y,3,D,0,D,7,A,0,A,12,A,13,A,14,A,1,A,0,1,2,T4139,S,R,4,10k,4,5V,D,1,D,2,4.5V锂电池,增加地址线。,I/O,7,I/O,0,V,DD,OE,GND,R/W,A,12,A,0,CS,1,CS,2,6264,I/O,7,I/O,0,V,DD,OE,GND,R/W,A,12,A,0,CS,1,CS,2,6264,I/O,7,I/O,0,V,DD,OE,GND,R/W,A,12,A,0,CS,1,CS,2,6264,I/O,7,I/O,0,V,DD,OE,GND,R/W,A,12,A,0,CS,1,CS,2,6264,图,7,-,3,-,7,RAM,的字扩展,断电保护,R/W字扩展适用于位数(字长)够用,但字数不够的,地址范围,CS,1,有效的片子,A,14,A,13,A,12,A,11,A,0,十六进制地址码,00,0 0000 0000 00001 1111 1111 1111,0000H1FFFH,01,0 0000 0000 00001 1111 1111 1111,2
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