BGA虚焊分析报告

上传人:ha****u 文档编号:245227995 上传时间:2024-10-08 格式:PPT 页数:14 大小:1.01MB
返回 下载 相关 举报
BGA虚焊分析报告_第1页
第1页 / 共14页
BGA虚焊分析报告_第2页
第2页 / 共14页
BGA虚焊分析报告_第3页
第3页 / 共14页
点击查看更多>>
资源描述
Click to edit Master title style,Click to edit Master text styles,Second level,NPC Confidential and Proprietary,*,首页,BGA,虚焊分析报告,制作:,XXX,审核:,XXX,批准:,XXX,日期:,M/D/Y,NPC Confidential and Proprietary,概述,工位,中试测试线,现象,PCBA,板卡导致基站无法启动问题,问题描述,7,月,29,日中试测试线发现的,PCBA,板卡导致基站无法启动问题,经初步定位为,U2,等位置虚焊,物料编码为:,XXXXXXX,,物料,MPN:MPNXXXX,,,BGA,锡球:,11*,11,=121;,该物料在,PCBA,上有四个用量,位号分别为,U1,U2,U3,U4;,测试过程中,发现,U1,U2,易发生虚焊,NPC Confidential and Proprietary,分析,针对,U2,等位置虚焊问题,进行了相关的分析,确认其可能的原因,分析结论如下所示:,1,、,PCB,变形、应力增加,导致虚焊。,uCCT,板卡装配,8541,导热衬垫和散热片螺钉后,,D41,导热衬垫已到压缩极限,强行用螺丝固定,会造成,PCB,局部变形,从而对,BGA,焊点造成应力破坏。,U1,和,U2,位置,D41,位置最远,此处,PCB,变形最大,故,U1,和,U2,位置的,5482,易虚焊。,分析,2,、,5482S,器件批次质量问题,导致虚焊。,BGA,来料异常,,BGA,锡球破损、氧化等等,导致,BGA,虚焊。,3,、无铅器件和有铅焊锡工艺,导致虚焊。,生产过程中,工艺参数设定不当,如回流焊设定、印刷机参数设定等等,导致虚焊。,针对上述原因,在即将进行的,20,套,BBBC,生产过程中,相关的工艺、质量人员将对,BGA,来料以及工艺参数进行严格管控,以消除物料及生产方面的原因而造成的虚焊,具体措施请见下文所示,措施,措施一 物料管控,生产时,来料无真空包装而无,D/C,上线前,进行烘烤,烘烤条件,125,8H;,烘烤结束后,检查,BGA,外观,在,10,倍放大镜观测,,BGA,锡球良好,未发现氧化等异常现象,如下图所示,BGA,锡球良好,未发现不良,措施,措施二 生产工艺管控,1,、印刷参数管控,印刷机参数及印刷效果如下所示,印刷参数,印刷效果,无锡少,坍塌,锡桥等不良现象,锡高为,6.3mil,左右,措施,措施二 生产工艺管控,2,、回流焊炉参数设定,参数设定以及回流焊后,BGA,焊接效果图如下所示,,回流焊参数设定,X-Ray,下观察,BGA,焊接效果,无短路,焊接的锡球形状良好,无不规则形状,实验,为进一步确认,BGA,焊接效果,,随机抽取两块板卡,,委托中国赛宝华东实验做切片实验,实验过程如下所示:,1,、两块板卡,编号为,0009,0011;,切片观察,U1,U2,U4,所有,BGA,锡球,实验,11,号板卡,U1,位置有一,BGA,锡球空洞大于,25%,其余,BGA,锡球均可接受,实验,3,、金相切片结果如下图所示,实验,9,号板卡,U2,锡球空洞小于,25%,可接受,9,号板卡,U1,锡球空洞小于,25%,可接受,9,号板卡,U4,锡球空洞小于,25%,可接受,11,号板卡,U1,锡球空洞大于,25%,不可接受,实验,4,、,IMC,层厚度量测及,IMC,层成分分析,分析结果如下图所示,实验,成分分析结果:,Sn/Cu,无其它成分,实验,5,、,IMC,层厚度量测及,IMC,层成分分析,分析结果如下图所示,实验,9,号板卡,U1,球与元器件焊盘之间厚度,9,号板卡,U1,球与,PCB,焊盘之间厚度,,14um,之间,焊接良好,11,号板卡,U1,球与元器件焊盘之间厚度,11,号板卡,U1,球与,PCB,焊盘之间厚度,,14um,之间,焊接良好,实验,实验,6,、切片实验结论如下所示,A,、,BGA,整体存在汽泡,共检测,2*3*11*,11,,均可接受,只有一个,BGA,锡球空洞超标,B,、,BGA,焊接质量良好,生产工艺参数设定较合理,C,、,IMC,层成分为,Sn,/Cu,未发现异常,详情请参考附件所示的切片分析报告,如下所示,结论,结论,通过上述分析及相关实验,结论如下:,1,、工艺参数设定较为合理,符合生产要求,消除工艺参数设定而造成,BGA,虚焊,但因,BGA,整体上均存在或多或少汽泡,需要与古德进行相关讨论,优化工艺参数,减少汽泡的产生;,2,、生产过程中,物料符合生产要求,消除物料因质量问题而造成,BGA,虚焊,3,、,BGA,虚焊由,PCB,变形,,应力增加而造成,BGA,虚焊,预防,预防,根据相关实验数据,提出以下预防措施,1,、为减小,U1U2,处的,PCB,变形,将在,U2,附近的安装孔处增加塑料垫片,2,、装配散热片螺钉时,应对角装配,消除装配工艺对,BGA,产生应力。,3,、生产前确认物料状况,如无真空包装,上线前一律进行烘烤,并检验,BGA,外观,4,、优化工艺参数,确保,BGA,焊接质量,(,为优化工艺参数,需要申请一块成品实物板,uCCT,量测回流焊曲线,),尾页,谢谢,!,
展开阅读全文
相关资源
正为您匹配相似的精品文档
相关搜索

最新文档


当前位置:首页 > 图纸专区 > 课件教案


copyright@ 2023-2025  zhuangpeitu.com 装配图网版权所有   联系电话:18123376007

备案号:ICP2024067431-1 川公网安备51140202000466号


本站为文档C2C交易模式,即用户上传的文档直接被用户下载,本站只是中间服务平台,本站所有文档下载所得的收益归上传人(含作者)所有。装配图网仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对上载内容本身不做任何修改或编辑。若文档所含内容侵犯了您的版权或隐私,请立即通知装配图网,我们立即给予删除!