Cpk基础培训教材课件

,按一下以編輯母片標題樣式,按一下以編輯母片,第二層,第三層,第四層,第五層,*,CPK,培訓教材,Quality,jankywolf,教材編號,:,QC-009,版 本,: 1.0,【,电子工程,培訓教材,】,SPC(Statistical Process Control),統計制程管制,統計過程控制,是應用統計的方法對過程中的各個環節進行監控與診斷,從而達到改進與保證產品品質的目的,.,SPC,的發展進程,a. 1924,年由美國的休哈特,(,W.A.Shewhart,),提出,.,b.,第二次世界大戰后期, 1940,年美國開始將,SPC,導入武器製造商的製程中,取得了良好的效果,但世界大戰結束后由于美國內商業缺乏競爭,SPC,在,19501980,有有逐漸從美國工業消失,.,c.,戰敗的日本為了復興經濟,1950,年從美國邀請休哈特的同事戴明,(W.Edwards Deming),博士到日本輔導,SPC,的應用,經過,30,年努力,取得了輝煌的成就,.,從而日本濟入世界工業強國之列,.,d.,在日本的強大競爭之下, 80,年代美國在,SPC,作為一種高科技技術來推廣, SPC,在美國得到全面的復興,經過,15,年的努力到,1995,年左右美國與日本在產品質量方面的差距才基本保持平,.,何謂,統計,？,統計的基本原料是？,有,數據就是統計嗎,？,經過計算后得什麼,？,數 據,計算,有意義的情報,統計基礎,何謂,統計,？,統計,-,收集的數據經過計算從而得到有意義的情報的活動,何謂,有意義的情報,？,至少應包括：,集中趨勢,+,離中趨勢,+,含蓋在特定範圍內的機率,集中趨勢,平均值,中位数,平均值,概念:,表示数据集中位置，,數據算術平均數，,常用符号 表示,。,N:,表示樣本數,例,:,有统计数据2,3,4,5,6五个数据,，,则其平均数据为：,2+3+4+5+6,X,= ,=4,_,x,5,_,X =,x,N,中位數,概念:,把收集到的統計資料按大小順序重新排列，排在正中間的那個數就叫作中位數，,常用符号 表示,。,例:,试找出3、5、6、7、11五个样本数据和3、5、6、8、 9、11六个样本数据的中 位数。,解：3、5、6、7、11的中位数为6；,3、5、6、8、9、11的中位数为,x,當,n,爲奇數時,-,正中間的數只有一個，,當,n,爲偶數時,-,正中位置有兩個數，此時，爲 正中間兩個數的算術平均值。,6+8,2,=,7,離中趨勢,全距,&,极差,R,標準差,全距（極差）,概念,:,將樣本資料按大小順序排列，數列中最大值,X,max,與最小資料,X,min,之差 稱爲樣本的極差。常用符號,R,表示，其計算公式爲：,式中,X,max,一組數據中的最大值，,X,min,一組數據中的最小值,例如：有,3,，,6,，,7,，,8,，,10,五個資料組成一組，則極差,R=10-3=7,R=X,max ,X,min,(7),(1),(3),(5),A,槍手,b,槍手,什么是,標準差,?,7,5,3,1,10,7,5,3,1,C,槍手,流程之聲,飛標圖解,A,槍手,A,B,槍手,A,B,C,槍手,A,B,C,A,槍手,M,x,LCL,UCL,B,槍手,M,x,LCL,UCL,C,槍手,M,x,LCL,UCL,9,11,10,Sigma (,标准偏差),由此可見,Sigma (,),即是-,變,異,學術名詞叫,标准偏差,Sigma (,),表示數據的,离散程度,( X - X ),i-1,=,n,1,2,n,依照射擊擊中環次的頻率進行排列,可得以下的圖表:,X,母 體,樣本,( X - X ),S=,樣本標準差,S =,n-1,1,2,n,i-1,因為標準差是用數據整體計算，所以當數據量大太時，就不便以操作,而且不符合現場需要。所以一般情況下,會用樣本標準差,S,來代替,S,樣本標準差,S,樣本,:,從總體中隨機抽取的若干個個體的總和稱爲樣本。 組成樣本的每個個體稱爲樣品。,品質,品質,3,品質與,6,品質的差距,Su,S,L,M,6,品質,減少變異,數據分析,Cp,、,Ca,、,Cpk,A:,每件産品的尺寸與別的都不同,數據的分布,B:,但它們形成一個模型，若穩定，可以描述爲一個分佈,C:,數據會有不同的分布型態，正態分布為,鐘型,CP Capability of Precision,精確度,：,是衡量工序能力對産品規格要求滿足程度的數量值，記爲,Cp,。,通常以規格範圍,T,與工序能力,6*,的比,值來表示。即：,不,精密,精密,精密度表示什麼,1.,製程精密度，其值越高表示製程實際值間的離散程度越小，亦即表示製程穩定而變異小（離中趨勢，與,有關）。,2.,當公差範圍內能納入愈多的,個數，則此製程表現愈好，其本身是一種製程固有的（已決定的）特性值，代表一種潛在的能力,Cp=T/6=,規格公差,/6*,標準差,規格公差,=UCL-LCL=,規格上線,-,規格下線,精密度評價,Cp 值,製程等級,圖 例,說 明,Cp 1.67,較佳,表示,:,工序能力過分充裕，有很大的貯備,不合格品率,p,0.00006%,1.67 Cp 1.33,A(,合格,),對精密加工而言，工序能力適宜；對一般加來說工序能力仍比較充裕，有一定貯備,不合格品率,0.00006%,p,0.006%,1.33 Cp 1.00,B(,警告,),對一般加工而言，工序能力適宜,不合格品率,0.006%,p,0.27%,1.00 Cp 0.67,C(,不足,),工序能力不足，不合格品率較高,不合格品率,0.27%,p,4.55%,CaCapability of Accuracy,準確度,:,代表製程平均值偏離規格中心值之程度。若其值越小，表示製程平均值越接近規格中心值，亦即品質越接近規格要求之水準（集中趨勢，與有關），值越大，表示製程平均值愈偏離規格中心值，所造成的不良率將愈大）,_,x,準確度好,準確度差,S,L,S,u,M,S,L,S,u,M,Su=,規格上限,SL=,規格下限,=,規格中心,CaCapability of Accuracy,準確度,Su=,規格上限,SL=,規格下限,T=,規格允差,.,，,T =Su -,Sl,制程平均值,-,規格中心值,規格允差之半,=,Ca,=,*,100,%,X - M,T/2,*,100,%,即偏移系數,( k ) =,Ca,偏移係數,Su=,規格上限,SL=,規格下限,T=,規格允差,.,，,T =S,u,- S,L,Su,S,L,T,=S,u, S,L,=,T,u,-T,L,K,偏移量,=,_,x,M,=,T/2,M -,_,x,偏移係數,K,M -,_,x,Ca,等級評定后處理原則,:,A:,作業員依作業標準,.,繼續維持,.,B:,有必要時,.,盡可能改為,A,級,C:,作業員可能看錯規格或未照作業標準操作,應加強訓練,檢討規格及作業標準,.,D:,應采取緊急措施,.,全面檢討可能影響因素,.,必要時停產,.,（,实绩）,（,实绩）,（,实绩）,X,X,X,A,级,B,级,C,级,D,级,规格中心值,规格上限（下限）,12.5%,25%,50%,100%,等级之解说,讓我們回憶下,Cp,與,Ca,的,關係,不精密,精密,準確,不準確,CPK,製程能力指數,一種用以量度某一特性的變化趨勢及概率的統計指標,.,CPK=CP*(1- Ca ),=T/6,*【,1- 2(M-X)/T 】,:,標準差,M,:,規格中心,公式一,公式二,Cpk,=min(,，,),即取兩者最小值，但不管采用那種方式，結果都是一樣的。,僅給出規格上限,S,u,各種規格型態下的,Cpk,f（x）,S,L,x,-,S,L,f（x）,S,U,x,僅給出規格下限,S,L,S,u,-,單邊公差時：由於沒有規格中心值，故,Ca =N/A,，,故定義,Cpk,=Cp,Cpk,制程能力指数,等级评定后,處,置原则（,Cpk,等级之处置）,级：制程能力足够,级：制程能力尚可，应再努力,级：制程应加以改善,等级,Cpk,值,1.33,Cpk,1.00,Cpk,1.33,Cpk,1.00,Meanings of,C,pk,Measures,C,pk,量測之意義,C,pk,= negative number,C,pk,= zero,C,pk,= between 0 and 1,C,pk,= 1,C,pk, 1,Cp,与,Cpk,所代表的合格品率,Cp,0.33,0.67,1.00,1.33,1.67,2.00,0.33,66.368%,84.000%,84.134%,84.134%,84.13447%,84.13447%,0.67,95.450%,97.722%,97.725%,97.72499%,97.72499%,1.00,99.730%,99.865%,99.86501%,99.86501%,1.33,99.994%,99.99683%,99.99683%,1.67,99.99994%,99.99997%,2.00,99.9999998%,Cpk,CPK,形象比喻,Cpk,如同開車過小橋,1.,車身的太小如同,Cp,好壞,(,固有的品質特性,),2.,橋如同工程規格大小,2.,開車的技術如同,Ca,好壞,TIME,公差上限,公差下限,公差上限,公差下限,公差上限,公差下限,公差上限,公差下限,生产过程的几种状态,图,a,穩定可預計的,图,b,不穩定不可預計的,图,c,不穩定不可預計的,图,d,趨向穩定,TIME,Cpk,的改善的方向,Ca,準確度差,Cp,精確度差,Statistical Process Control Identify and Reduce Process Variability,統計製程管制,-,確認並降低製程變異,Lower specification limit,Upper specification limit,(a) Acceptance sampling,(b) Statistical process control,(c),c,pk,1,Cpk,的應用,工程,製程,Cpk,在工廠應用,Cpk,迷思,1.,如何將,cpk,活用於工廠,2.,如何將,cpk,在品質活動中發生作用。,3.,有了,cpk,就等於有了,spc,嗎,?,Spc,的焦點,:,制程,(process),著火,啦,工程,:,材料,:,承認作業要求,Cpk,達到,B,級,1.00,Cpk,1.33,才承認。,從源頭進行品質管理，承認時就確保材料的制程能力，改變過去有了問題再來分析的扑火做法，從預防入手。,新機種導入亦然。,Spc,的焦點,:,制程,(process),Cpk,在,工程工作中的應用,工程先期了解制程能力對品質的意義,預先了解材料及產品的制程能力，可確保產品的良率，持續改進產品品質。,時間,大小,預 測,?,制程,應用,Cpk,制,程,應用,Cpk,，,監控及預測製程能力的發展趨勢，及時修正異常，控制產品品質的變化。,可預測的未來,關注 制程,(process),Cpk,範例,謝謝大家光臨本次課程,祝,:,大家工作愉快,