手机射频性能测试报告

技 术 文 件 技术文献名称：ZTEA300GSM双频数字移动电话机射频性能测试报告 技术文献编号： 版 本： 共 11 页(涉及封面) 拟 制 张惠德/11/12 审 核 会 签 原则化 批 准 深圳市中兴通讯股份有限公司目 录1测试任务名称及内容21.1任务名称21.2测试任务版本状况21.2.1主板版本和测试状态21.2.2上次测试任务版本及遗留问题21.3测试目的21.4测试根据31.5测试内容和规定32测试环境与测试样机42.1测试环境42.2测试样机概况42.3测试样机版本验证53测试仪表和连接框图54测试成果及分析64.1测试成果64.1.1常温射频测试成果64.1.2高温+电源拉高射频测试成果64.1.3高温+电源拉低射频测试成果74.1.4低温+电源拉高射频测试成果84.1.5低温+电源拉低射频测试成果84.1.6天线耦合测试成果94.1.7人体感应测试成果104.1.8校准数据分布测试104.2成果分析104.2.1测试问题汇总104.2.2与上次测试对比115测试结论115.1测试对象评价115.2测试结论115.3测试结论评审11附录A131 测试任务名称及内容1.1 任务名称ZTEA300GSM双频数字移动电话机射频性能测试。1.2 测试任务版本状况1.2.1 主板版本和测试状态本次测试用主板属表1中第 2 项版本。表 1版本号1234567主板状态主板版主板版主板版研发样机预中试样机中试样机批生产升级本次射频测试属表2中第 2 项测试。表 2版本号测试状态1主板版本升级测试2研发样机初测3预中试样机测试4研发样机硬件定版测试5研发样机中试鉴定测试6批生产抽样测试7物料确认测试1.2.2 上次测试任务版本及遗留问题无。1.3 测试目的本次测试的目的是：a) 根据产品的研制规范和有关射频技术原则，对样机的射频性能进行测试，以验证样机的射频性能与否达到了预期的设计规定，与否满足GSM规范和有关原则的规定。b) 验证经改善的升级版样机（主板）存在的问题与否解决。c) 验证样机在实验室条件下天线耦合性能。d) 检查人体感应对样机射频性能的影响。1.4 测试根据GB 4943- 信息技术设备的安全GB/T 18287- 蜂窝电话用锂离子电池总规范YDN 055-1997 900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网移动台设备技术规范(暂行规定) YD/T 884-1996 900MHz TDMA数字蜂窝移动通信网移动台设备技术指标及测试措施YD/T 998.1-1999 移动通信手持机用锂离子电源及充电器 第一部分：电源YD/T 998.2-1999 移动通信手持机用锂离子电源及充电器 第二部分：充电器YD 1032- 900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信系统电磁兼容性限值和测量措施第一部分：移动台及其辅助设备Q/SZX 026- GSM数字移动电话机Q/ZX 23.018.1- 可靠性实验规定-总则Q/ZX D 23.001- GSM手机可靠性实验规范Q/ZX D 23.002-移动台电磁兼容性实验规范ZX670.03.1001FA.AZTEA300研制规范ZX670.03.1001CA.AZTEA300系统测试方案ETSI EN 300 607-1 Version 8.1.1数字蜂窝通信系统（第2+阶段）；移动台一致性规范；第1部分：一致性规范GSM数字移动电话机进网检查实行细则(信息产业部)鉴于所有原则都也许被修订，在测试过程中必须尽量使用以上原则的最新版本。1.5 测试内容和规定根据测试任务不同，测试内容会有相应变动。本次测试内容涉及表4中如下项目： a) 常温常压射频指标测试；b) 常温高压射频指标测试；c) 常温低压射频指标测试；d) 天线耦合测试；e) 人体感应测试；f) 长时间大功率通话温升测试；g) 校准参数分布测试。测试内容和指标如表3所示：表 3编号测试项目编号具体测试项目指标规定相应测试任务（见1.1节）备注1射频指标测试1.1发射功率用于主板版本升级测试、研发样机初测、预中试样机测试、研发样机硬件定版测试、研发样机中试鉴定测试、批生产抽样测试、物料确认测试涉及常温测试、高温+电源拉偏测试、低温+电源拉偏测试1.2频率误差1.3多径条件下的频率误差1.4峰值相位误差1.5均方相位误差1.6脉冲包络时间1.7调制谱1.8切换瞬态谱1.9坏帧批示性能1.10参照敏捷度1.11极限敏捷度1.12RSSI报告值1.13接受机合用的输入电平1.14共信道克制1.14邻信道克制1.16互调克制1.17阻塞与杂散响应1.18接受失真1.19杂散辐射1.20接受频率响应和强度等2天线耦合测试2.1发射功率同上2.2频率误差2.3峰值相位误差2.4均方相位误差2.5脉冲包络时间2.6调制谱2.7切换瞬态谱2.8参照敏捷度2.9RSSI报告值2.10接受机合用的输入电平2 测试环境与测试样机2.1 测试环境射频指标需在屏蔽环境中进行测试；样机测试前需通过校准和终测。测试过程基本状况如表4所示。表 4编号测试项目测试人员测试地点开始日期结束日期备注1常温测试张惠德实验室/10/28/11/052高温+电源拉高测试同上同上同上同上3高温+电源拉低测试同上同上同上同上4低温+电源拉高测试同上同上同上同上5低温+电源拉低测试同上同上同上同上6天线耦合测试同上同上同上同上7人体感应测试同上同上同上同上2.2 测试样机概况测试样机（品）状况如表5所示。表 5提交日期/10/28样机数量10主板生产厂/主板生产批号/样机生产厂/测试属性样机测试样机编号28#、29#、30#、68#、 78#硬件版本A300MB020901软件版本A300V1.00.00说 明a) 测试中每个样品只有一种代号，表格中带#代号即样品代号；b) 样机测试前需通过校准；c) 测试属性是指表2内容。2.3 测试样机版本验证样机版本验证状况如表6所示。表 6序号样机号样机概况实际硬件版本实际软件版本128#50部样机A300MB020901A300V1.00.00229#同上同上同上330#同上同上同上468#同上同上同上578#同上同上同上3 测试仪表和连接框图测试需要的仪器和设备如表7所示：表 7仪器设备名称型号数量综测仪CMU200或CMD551数字电源HP66322或Agilient1PC机1GPIB卡1RS232数据线1平板天线1频谱仪1信号发生器1耦合器1高下温箱1数字表1假电池1综测仪PC机GPIB 测试夹具 MSRF连接线系统连接器射频指标的测试连接框图如图1所示。图1 射频测试连接框图4 测试成果及分析4.1 测试成果4.1.1 常温射频测试成果测试成果如表8所示。测试样机编号：59、78线损设立：0.5dB,0.7dB 电压：4.0V表 8测试项目测试成果测试结论备注28#29#30#68#78#1.1发射功率OKOKOKOKOKP1.2频率误差OKOKOKOKOKP1.3多径条件下的频率误差/不具有测试条件1.4峰值相位误差OKOKOKOKOKP1.5均方相位误差OKOKOKOKOKP1.6脉冲包络时间OKOKOKOKOKP1.7调制谱OKOKOKOKOKP1.8切换瞬态谱OKOKOKOKOKP1.9坏帧批示性能/不具有测试条件1.10参照敏捷度OKOKOKOKOKP1.11极限敏捷度OKOKOKOKOKP1.12RSSI报告值OKOKOKOKOKP1.13接受机合用的输入电平OKOKOKOKOKP1.14共信道克制/不具有测试条件1.14邻信道克制/同上1.16互调克制/同上1.17阻塞与杂散响应/同上1.18接受失真/同上1.19杂散辐射/同上1.20接受频率响应和强度等/同上说 明结论：常温下的射频指标符合规定。 4.1.2 常温高压射频测试成果测试成果如表9所示。测试样机编号：59、78线损设立：0.5dB,0.7dB 电压：4.2V表 9测试项目测试成果测试结论备注59#78#1.1发射功率OKOK/P1.2频率误差OKOK/P1.3多径条件下的频率误差/不具有测试条件1.4峰值相位误差OKOK/P1.5均方相位误差OKOK/P1.6脉冲包络时间OKOK/P1.7调制谱OKOK/P1.8切换瞬态谱OKOK/P1.9坏帧批示性能/不具有测试条件1.10参照敏捷度OKOK/P1.11极限敏捷度OKOK/P1.12RSSI报告值OKOK/P1.13接受机合用的输入电平OKOK/P1.14共信道克制/不具有测试条件1.14邻信道克制/同上1.16互调克制/同上1.17阻塞与杂散响应/同上1.18接受失真/同上1.19杂散辐射/同上1.20接受频率响应和强度等/同上说 明a) 结论：常温高压下的射频指标符合规定。4.1.3 常温低压低射频测试成果测试成果如表10所示。测试样机编号：59、78线损设立：0.5dB，0.7dB 电源电压： 3.4 V表 10测试项目测试成果测试结论备注#/1.1发射功率OKOK/P1.2频率误差OKOK/P1.3多径条件下的频率误差/不具有测试条件1.4峰值相位误差OKOK/P1.5均方相位误差OKOK/P1.6脉冲包络时间OKOK/P1.7调制谱OKOK/P1.8切换瞬态谱OKOK/1.9坏帧批示性能/不具有测试条件1.10参照敏捷度OKOK/P1.11极限敏捷度OKOK/P1.12RSSI报告值OKOK/P1.13接受机合用的输入电平OKOK/P1.14共信道克制/不具有测试条件1.14邻信道克制/同上1.16互调克制/同上1.17阻塞与杂散响应/同上1.18接受失真/同上1.19杂散辐射/同上1.20接受频率响应和强度等/同上说 明结论：常温低压下的射频指标符合规定 4.1.4 天线耦合测试成果测试成果如表11所示。测试样机编号：30#线损设立：5dB，15dB 表 11测试项目测试成果测试结论备注30#2.1发射功率GSM：功率正常，DCS：功率较低F2.2频率误差OKP2.3峰值相位误差OKP2.4均方相位误差OKP2.5脉冲包络时间OKP2.6调制谱OKP2.7切换瞬态谱超差F2.8参照敏捷度GSM:-98dBm DCS:-103dBmF说 明结论：a) GSM频段的参照敏捷度只有98dBmb) DCS频段的发射功率偏低 c) GSM和DCS频段的开关谱超差 以上重要因素是由于LCD由于屏蔽不好，对射频导致干扰导致。 4.2 成果分析4.2.1 测试问题汇总表 3序号测试项目问题描述严重性评价因素分析解决方案建议1天线耦合测试耦合测试中，接受敏捷度、开关谱、功率超差严重LCD的屏蔽性能不好，对射频由干扰FPC增长上屏蔽层4.2.2 与上次测试对比表 4序号测试内容本次状况上次状况评价备注5 测试结论5.1 测试对象评价从测试成果看，A300在常温下和高下温下的射频指标基本正常，但通过天线耦合后，敏捷度有严重下降，影响接受和通话效果。此外开关谱比较临界，容易超差。5.2 测试结论射频性能没有通过测试。 测试主持人（签名）：张惠德 日期：/11/125.3 测试结论评审表 5产品名称型号硬件版本软件版本测试任务名称故障类型故障数故障现象简要描述解决时限ABCD故障记录和结论建议 签名：测试部门审核建议 签名：项目经理意见下工序（质控人员）评审意见 签名：附录A本附录表20中所列文献为各项射频性能测试过程中测试PC机所记录的数据文献。表 6序号测试项目文献名文献粘结点击处备注1常温射频性能测试2常温高压射频性能测试3常温低压射频性能测试4天线耦合测试