电子测量与仪器第九章数据域测量-逻辑分析仪

单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,第九章,数,数据域测,量,量逻辑,分,分析仪,9.1,数,数字系,统,统测试的,基,基本原理,9.2,逻,逻辑分,析,析仪,9.3,可,可测性,设,设计,9.4,数,数据域,测,测试的应,用,用,仪器科学,与,与工程系,9.1,数,数字系,统,统测试的,基,基本原理,一、数据,域,域测试/,数,数字系统,测,测试的特,点,点,在现代数,字,字电路和,系,系统中，,对,对其数据,信,信息的测,试,试技术就,称,称为,数据域测,试,试,。它具有,以,以下,特点,：,响应和激,励,励间不是,线,线性关系,从外部有,限,限测试点,和,和结果推,断,断内部过,程,程或状态,微机化数,字,字系统的,软,软件导致,异,异常输出,系统内部,事,事件一般,不,不会立即,在,在输出端,表,表现,故障不易,捕,捕获和辨,认,认,给测试带,来,来困难,二、相关,术,术语,故障侦查/检测(Fault Detection),：,：,判断被测,电,电路中,是否存在,故障,故障定位,：查明故,障,障,原因,、,性质,和产生的,位置,以上合,称,称,故障诊断,，简称诊,断,断,缺陷(Defect)：,物质上的,不,不完善性,。,。,失效(Failure)：,缺陷导致,电,电路产生,错,错误的运,作,作,故障(Fault)：,缺陷引起,的,的电路异,常,常，缺陷,的,的,逻,辑,辑,表,现,现,缺,陷,陷,和,和,故,故,障,障,非,非,一,一,一,一,对,对,应,应,，,，,有,有,时,时,一,一,个,个,缺,缺,陷,陷,可,可,等,等,效,效,于,于,多,多,个,个,故,故,障,障,出,出,错,错/,错,错,误,误(Error),：,：,故,障,障,导,导,致,致,的,的,输,输,出,出,不,不,正,正,常,常,真,真,速,速,测,测,试,试,（,（AT-SpeedTesting),：,：,在,功,功,能,能,性,性,操,操,作,作,频,频,率,率,下,下,的,的,测,测,试,试,参,参,数,数,测,测,试,试,和,和,逻,逻,辑,辑,测,测,试,试,：,：,交,直,直,流,流,参,参,数,数,和,和,器,器,件,件,的,的,逻,逻,辑,辑,功,功,能,能,测,测,试,试,测,测,试,试,主,主,输,输,入,入(PrimaryInput),：,：,可,由,由,测,测,试,试,器,器,直,直,接,接,驱,驱,动,动,的,的,输,输,入,入,测,测,试,试,主,主,输,输,出,出(PrimaryOutput),：,：,可,由,由,测,测,试,试,器,器,直,直,接,接,检,检,测,测,的,的,输,输,出,出,测,测,试,试,图,图,形,形/,样,样,式,式,（,（TestPattern,）,）,：,：,为,获,获,得,得,故,故,障,障,而,而,施,施,加,加,的,的,数,数,据,据,测,测,试,试,矢,矢,量,量,（,（TestVectors,）,）,：,：,也,称,称,测,测,试,试,图,图,形,形,测,测,试,试,生,生,成,成,：,：,通,过,过,一,一,定,定,算,算,法,法,或,或,工,工,具,具,，,，,获,获,得,得,电,电,路,路,测,测,试,试,矢,矢,量,量,的,的,过,过,程,程,故,故,障,障,覆,覆,盖,盖,率,率,：,：,测,试,试,集,集,所,所,侦,侦,查,查,的,的,故,故,障,障,数,数,与,与,电,电,路,路,总,总,故,故,障,障,数,数,之,之,比,比,三,、,、,故,故,障,障,模,模,型,型,固,定,定,型,型,故,障,障(StuckFault),：,：,某,一,一,根,根,信,信,号,号,线,线,不,不,可,可,控,控,，,，,固,固,定,定,在,在,某,某,一,一,逻,逻,辑,辑,值,值,上,上,。,。,固,定,定1,故,故,障,障(stuck-at-1),，,，s-at-1,固,定,定0,故,故,障,障(stuck-at-0),，,，s-at-0,桥,接,接,故,故,障,障(BridgeFaults),：,：,两,根,根,或,或,多,多,根,根,信,信,号,号,线,线,间,间,的,的,短,短,接,接,输,入,入,端,端,间,间,桥,桥,接,接,故,故,障,障,反,馈,馈,式,式,桥,桥,接,接,故,故,障,障,，,，,即,即,输,输,入,入,与,与,输,输,出,出,短,短,接,接,故,故,障,障,。,。,桥,接,接,故,故,障,障,会,会,改,改,变,变,电,电,路,路,拓,拓,朴,朴,结,结,构,构,，,，,使,使,得,得,诊,诊,断,断,更,更,加,加,困,困,难,难,。,。,延,迟,迟,故,故,障,障(DelayFaults),：,：,电,路,路,延,延,迟,迟,超,超,过,过,允,允,许,许,值,值,而,而,引,引,起,起,的,的,故,故,障,障,。,。,时,延,延,测,测,试,试,验,验,证,证,电,电,路,路,中,中,任,任,何,何,通,通,路,路,的,的,传,传,输,输,延,延,迟,迟,不,不,超,超,过,过,系,系,统,统,时,时,钟,钟,周,周,期,期,。,。,暂,态,态,故,故,障,障(TemporaryFaults),：,：,故,障,障,是,是,非,非,固,固,定,定,的,的,。,。,类,型,型,：,：,瞬态故障,和,间歇性故障,瞬态故障,：,：电源干扰,和,和粒子辐,射,射等原因造,成,成,间歇性故障,：,：元件参数,变,变化、接插,件,件不可靠等,造,造成,四、测试方,法,法（略）,组合电路测,试,试：敏化通,路,路法，D算,法,法，布尔差,分,分法,时序电路测,试,试：迭接阵,列,列，测试时,序,序,数字系统测,试,试：随机测,试,试，穷举测,试,试,五、数据域,测,测试系统的,组,组成,(1) 数,字,字信号源,(2) 逻,辑,辑分析,(3) 特,征,征分析,作用和功能,为数字系统,的,的功能测试,和,和参数测试,提,提供输入激,励,励信号,产生图形宽,度,度可编程的,并,并行和串行,数,数据,图形,产生输出电,平,平和数据速,率,率可编程的,任,任意,波形,产生可由选,通,通信号和时,钟,钟信号控制,的,的预先规定,的,的,数据流,(1) 数,字,字信号源,结构组成,采用VCO,产,产生内部时,钟,钟,或PLL产生高精,度,度的时钟.,外,外部时钟,时钟分离电,路,路提供多个,不,不同时钟,供,供不同电路,模,模块,串并转换，,同,同步，电平,调,调节,序列存储器,在,在初始化期,间,间写入了每,个,个通道的数,据,据，数据存,储,储器的地址,由,由地址计数,器,器提供。在,测,测试过程中,，,，在每一个,作,作用时钟沿,上,上，计数器,将,将地址加1,多路器可将,多,多个并行输,入,入位转换成,串,串行数据流,。,。对于低速,的,的数字信号,源,源，多路器,可,可以不要，,从,从数据的每,个,个数输出可,直,直接产生一,个,个串行数据,流,流,格式化器将,数,数据流与时,钟,钟同步,格式化器的,输,输出直接驱,动,动输出放大,器,器，放大器,的,的输出电平,可,可编程,数据的产生,(2) 逻,辑,辑分析,逻辑分析用,于,于测试和分,析,析多个信号,之,之间的逻辑,关,关,系及时间关,系,系,逻辑分析仪,的,的特点,通道数多,存储容量大,可以多通道,信,信号逻辑组,合,合触发,数据处理显,示,示功能强,(3) 特,征,征分析,采用特征分,析,析技术的必要性,对各节点逐,一,一地测试与,分,分析使测试,成,成本巨增,受封装的限,制,制，从多节,点,点观察测试,响,响应受到限,制,制,内测试的需,要,要,特征分析技,术,术: 从被,测,测电路的测,试,试响应中提,取,取出“特征,”,”（Signature），通过,对,对无故障特,征,征和实际特,征,征的比较进,行,行故障的侦,查,查和定位,特征分析的,实,实现线性反馈移,位,位寄存器(,LFSR,),h,i,=1，表示,接,接通反馈线,；,；h,i,=0，表示,断,断开反馈线,反馈系数h,i,在二元域上,定,定义的多项,式,式,h(x)=x,n,+h,1,x,n,1,+,+h,n-1,x,+1,称为该线性,反,反馈移位寄,存,存器的,特征多项式,单输入特征分析器,工作原理：,用一个已知,的,的进制序列,去,去除被检验,的,的二进制序,列,列,M,，所得到的,余,余数即为特,征,征。,特征分析过,程,程对应为二,元,元域上的多,项,项式除法。,被,被除数为被,测,测的输入响,应,应序列，除,数,数为反馈移,位,位寄存器的,特,特征多项式,。,。相除后，,商,商对应线性,反,反馈移位寄,存,存器的输出,位,位流，余数,为,为测试响应,的,的特征。,特征分析技,术,术具有很高,的,的检错率,当测试序列,足,足够长时，,特,特征分析的,故,故障侦出率,不,不低于,，m为用作,特,特征分析的LFSR的,长,长度。当m=16,时，故障侦,出,出率高达99.998%,由,LFSR,构成,的,的多,输,输入,特,特征,分,分析,器,器(MISR),基于,特,特征,分,分析,的,的数,字,字系,统,统故,障,障诊,断,断原,理,理,被测,电,电路,的,的无,故,故障,特,特征,或,或某,种,种故,障,障下,的,的特,征,征可,通,通过,电,电路,的,的逻,辑,辑模,拟,拟或,故,故障,模,模拟,获,获得,。,。通,过,过事,前,前的,模,模拟,建,建立,好,好特,征,征-,故,故障,字,字典,，,，便,可,可用,于,于故,障,障诊,断,断。,9.2,逻,逻,辑,辑分,析,析仪,主要,内,内容:,一、,逻辑,分,分析,仪,仪的,特,特点,与,与分,类,类,二、,逻,逻辑,分,分析,仪,仪的,基,基本,组,组成,原,原理,三、,逻,逻辑,分,分析,仪,仪的,触,触发,方,方式,四、,逻,逻辑,分,分析,仪,仪的,显,显示,方,方式,五、,逻,逻辑,分,分析,仪,仪的,技,技术,指,指标,与,与发,展,展趋,势,势,六、逻辑,分,分析仪的,应,应用,一、 逻,辑,辑分析仪,的,的特点与,分,分类,输入通道,多,多,数据捕获,能,能力强,具,具有多种,灵,灵活的触,发,发方式,具有较大,的,的存储深,度,度,可以,观,观察单次,或,或非周期,信,信号,显示方式,丰,丰富,能够检测,毛,毛刺,特点,分类,按,工作特点,分类:,(1),逻,逻辑状,态,态分析仪,(2),逻,逻辑定,时,时分析仪,按,结构特点,分类:,(1),台,台式逻,辑,辑分析仪,(2),便,便携式,逻,逻辑分析,仪,仪,(3),外,外接式,逻,逻辑分析,仪,仪,(4),卡,卡式逻,辑,辑分析仪,台式逻辑,分,分析仪,卡式逻辑,分,分析仪,便携式逻,辑,辑分析仪,外接式逻,辑,辑分析仪,二、 逻,辑,辑分析仪,的,的组成原,理,理,信号,输入,信号,外时钟,采,样,数据,存储,时钟,选择,内时钟,触发,产生,显示,控制,CRT,数据捕获,数据显示,逻辑分析仪原理结构,门限电平设定,逻辑分析,仪,仪的组成,主,主要包括,数据捕获,和,数据显示,两大部分.,采样是通,过,过比较器,来,来完成的,！,！,三、 逻,辑,辑分析仪,的,的触发方,式,式, 几个,概,概念,通道1,通道8,100.1,100.1,000.1,000.0,采样时钟,000.0,000.0,100.0,100.1,100.0,100.0,采样数据,数据流,数据流：逻辑分析,仪,仪对被测,信,信号连续,采,采样获得,的,的一序列,数,数据。,触发：,由一个事,件,件来控制,数,数据获取,，,，即选择,观,观察窗口,的,的位置。,跟踪：,采集并显,示,示数据的,一,一次过程,称,称为一次,跟,跟踪。,触发字,数据流,数据窗口,跟踪开始,观察窗口宽度：,逻辑分析仪存储深度, 触发,方,方式,(1),组,组合触发,：多通道,信,信号的组,合,合作为触,发,发条件，,即,即数据字,触,触发。,每个通道,的,的触发条,件,件可为：,“,“ 1,”,”,“ 0,”,”,“ x,”,”,如：8个,通,通道的组,合,合触发条,件,件设为：,“,“0110,10,X,1”,则：该8个通,道,道中出,现,现数据,：,：,0110,10,0,1 或0110,10,1,1 时,均,均触发,基本的,触,触发跟,踪,踪方式,：,：,触发起,始,始跟踪,触发终,止,止跟踪,触发字,数据流,数据窗口,跟踪开始,触发起始跟踪,触发字,数据流,数据窗口,跟踪结束,触发终止跟踪,(2),延,延迟,触,触发,触发字,数据流,数据窗口,跟踪开始,延迟数,跟踪结束,数据流,数据窗口,触发字,延迟数,触发开始跟踪加延迟,触发终止跟踪加延迟,在数据,流,流中搜,索,索到触,发,发字时,，,，并不,立,立即跟,踪,踪，而,是,是延迟,一,一定数,量,量的数,据,据后才,开,开始或,停,停止存,储,储数据,，,，它可,以,以改变,触,触发字,与,与数据,窗,窗口的,相,相对位,置,置。,(3),序,序列,触,触发,导引条件使能,第二级触发,第二级触发,字无效,第二级触发,字有效,第一级触发,B(导引条件),子程序,C(触发条件),主程序,两级序列触发工作原理,多个触,发,发字的,序,序列作,为,为触发,条,条件，,当,当数据,流,流中按,顺,顺序出,现,现各个,触,触发字,时,时才触,发,发。,序列触,发,发常用,于,于复杂,分,分支子,程,程序的,跟,跟踪。,(4),手,手动,触,触发（,随,随机触,发,发）,(5),限,限定,触,触发,与门,限定条件,触发,识别,数据流,触发信号,限定条件触发产生原理,无条件,的,的人工,强,强制触,发,发，因,此,此观察,窗,窗口在,数,数据流,中,中的位,置,置是随,机,机的。,由于某,些,些触发,条,条件出,现,现太频,繁,繁，为,有,有选择,地,地捕获,特,特定数,据,据，可,给,给触发,条,条件加,上,上些约,束,束条件,。,。附加,的,的条件,未,未出现,，,，也不,能,能触发,。,。,四、,逻,逻辑分,析,析仪的,显,显示方,式,式,每个通,道,道的信,号,号用一,个,个伪方,波,波显示,，,，多个,通,通道同,时,时显示,。,。,(1),波,波形,显,显示,(2),数,数,据,据列表,显,显示,将每个,通,通道采,集,集到的,值,值组合,成,成数据,，,，按采,样,样顺序,显,显示。,8bit作为,一,一个探,头,头,(3),反,反,汇,汇编显,示,示,地址（HEX）,数据（HEX）,操作码,操作数,2000,2003,2005,2006,.,.,.,214220,0604,97,23,.,.,.,LD,LD,SUB,INC,.,.,.,HL，2042,B，04,A,HL,.,.,.,将数据,流,流按照,被,被测CPU指,令,令系统,反,反汇编,后,后显示,。,。,(4),图,图解,显,显示,BCD 数据序列的图解显示,0,5,10,程序执行的图解显示,2000H,20FFH,主程序,子程序,循环程序,图解显示,将屏幕X，Y,方,方向分,别,别作为,时,时间轴,和,和数据,轴,轴进行,显,显示的,一,一种方,式,式。它,将,将要显,示,示的数,据,据通过D/A,转,转换器,变,变为模,拟,拟量，,按,按照存,储,储器中,取,取出数,据,据的先,后,后顺序,将,将转换,所,所得的,模,模拟量,显,显示在,屏,屏幕上,，,，形成,一,一个图,像,像的点,阵,阵。,主要技,术,术指标, 定,时,时分析,最,最大速,率,率。, 状,态,态分析,最,最大速,率,率。, 通,道,道数。, 存,储,储深度,。,。, 触,发,发方式,。,。, 输,入,入信号,最,最小幅,度,度。, 输,入,入门限,变,变化范,围,围。, 毛,刺,刺捕捉,能,能力。,五、,逻,逻辑分,析,析仪的,技,技术指,标,标及发,展,展趋势,发展趋,势,势,分析速,率,率、通,道,道数、,存,存储深,度,度等技,术,术指标,也,也在不,断,断提高,功能不,断,断加强,。,。,与时域,测,测试仪,器,器示波,器,器的结,合,合 ，,提,提高混,合,合信号,分,分析能,力,力,向逻辑,分,分析系,统,统（Logic AnalyzeSystem）方,向,向发展,。,。,六、,逻,逻辑分,析,析仪的,应,应用,硬件测,试,试及故,障,障诊断,激励信号,被测电路,逻辑分析仪,例：ROM/ASIC的指,标,标测试(最高,工,工作频,率,率、寿,命,命测试,、,、高低,温,温测试),数据发生器,ROM,逻辑分析仪,频率计,地址,数据,外时钟,ROM 指标参数测试,例：毛,刺,刺信号,的,的测试,分频,电路,74LS138,A,B,C,G,/G2A,/G2B,逻辑,分析仪,（a） 译码电路的测试,（b） 译码电路输出定时图,逻辑定时分析仪测试译码电路及其毛刺,/Y,0,/Y,1,/Y,2,/Y,3,/Y,4,/Y,5,/Y,6,/Y,7,实例：HB9402,软件测,试,试与分,析,析,03CF,042D,03F2,通路A,通路B,分支程序的跟踪测试,通路B,触发条件（03F2）,通路A,导引条件（042D）,逻辑分,析,析仪也,可,可用于,软,软件的,跟,跟踪调,试,试，发,现,现软硬,件,件故障,，,，而且,通,通过对,软,软件各,模,模块的,监,监测与,效,效率分,析,析还有,助,助与软,件,件的改,进,进。,例1：80C51指,令,令执行,信,信号时,序,序测试,例2：,分,分支程,序,序跟踪,测,测试,9.3,可,可测性设计,主要内容:,一、概述,二、扫描设,计,计技术,三、内建自,测,测试技术（,简,简）,四、边界扫,描,描测试技术,（,（简）,可测性设计,出,出现的背景,：,：VLSI,传统的系统,设,设计方法的,缺,缺陷,可测性设计-在系,统,统的设计阶,段,段就同时考,虑,虑测试的需,求,求，以提高,系,系统的可测试性,可测性的量,化,化-可测性测度,可控性（Controllability）,对电路中各,节,节点的逻辑,值,值控制难易,程,程度的度量,可观性(Observability) 对故障,信,信号进行观,察,察或测量难,易,易程度的度,量,量,一、 概述,可测性设计,考,考虑的主要,问,问题,什么样的结构容易作故障,诊,诊断,什么样的系,统,统，测试时,所,所用的测试矢量既数量少，,产,产生起来又,较,较方便,测试点和激,励,励点设置在什么,地,地方，设置,多,多少，才能,使,使测试比较,方,方便而开销,又,又比较少,结构可测性,设,设计 从可测,性,性的观点对,电,电路的结构,提,提出一定的,规,规则，依据,可,可测性设计,的,的一般规则,和,和基本模式,来,来进行电路,的,的功能设计,，,，使得设计,的,的电路容易,测,测试,扫,扫描,通,通路,法,法,二、,扫,扫,描,描设,计,计技,术,术,基本,原,原理-将,一,一个,集,集成,电,电路,内,内所,有,有状,态,态存,储,储器,件,件串,接,接起,来,来，,组,组成,一,一个移位,寄,寄存,器,器，使,得,得从,外,外部,能,能容,易,易地,控,控制,并,并直,接,接观,察,察这,些,些状,态,态存,储,储器,件,件中,的,的内,容,容,同步,时,时序,电,电路,的,的一,般,般模,型,型,N,组合,电,电路,Y,i,状,状态,存,存贮,器,器件,PO,主,主输,出,出,PI,主,主输,入,入,对状,态,态存,储,储器,件,件的,控,控制,和,和观,测,测只,能,能通,过,过组,合,合电,路,路间,接,接进,行,行，,使,使测,试,试问,题,题复,杂,杂,一般,扫,扫描,通,通路,设,设计,扫,扫,描通,路,路设,计,计要,保,保证,各,各个,时,时序,元,元件,可,可以,同,同组,合,合电,路,路完,全,全隔,离,离开,来,来，,以,以便,时,时序,元,元件,的,的状,态,态可,随,随意,设,设置,，,，同,时,时保,证,证时,序,序元,件,件的,输,输入,可,可观,察,察.,隔离,开,开关,(,添加),（添,加,加）,电,电平,灵,灵敏,扫,扫描,设,设计,电平,灵,灵敏,的,的概,念,念,一个,逻,逻辑,系,系统,，,，如,果,果其,稳定,状,状态,对,对任,何,何输,入,入状,态,态改,变,变的,响,响应,与,与系,统,统中,电,电路,的,的,延迟,无关,，并,且,且，,如,如果,有,有两,个,个以,上,上输,入,入改,变,变，,输出,响,响应,与,与输,入,入改,变,变的,先后,顺,顺序,也无,关,关，,系,系统,的,的稳,定,定状,态,态只,取,取决,于,于各,输,输入,变,变化,的,的最,终,终稳,定,定电,平,平,，则,称,称这,样,样的,逻,逻辑,系,系统,为,为,电平,灵,灵敏,的,电平,灵,灵敏,设,设计,的,的,目的,-保,证,证电,路,路中,器,器件,的,的延,迟,迟、,上,上升,和,和下,降,降时,间,间等,参,参量,对,对电,路,路工,作,作无,影,影响,电平,灵,灵敏,设,设计,的,的,实现,-时,序,序逻,辑,辑中,的,的基,本,本存,贮,贮元,件,件必,须,须是,电,电平,灵,灵敏,的,的,前者,缺,缺陷,：,：切,换,换开,关,关引,入,入延,时,时，,切,切换,时,时存,在,在竞,争,争,电平,灵,灵敏,设,设计,的,的关,键,键元,件,件串行,移,移位,寄,寄存,器,器,串行,移,移位,寄,寄存,器,器在,时,时钟CLK控,制,制下,工,工作,，,，A=0orB=0,，,，数,据,据锁,存,存至,输,输出,端,端。,正常,工,工作,时,时，A=0，B=0，,由,由CLK,控,控制,数,数据,输,输出,扫描,方,方式,时,时：A=1，CLK=0，SD,进,进入L1,；,；,A=0，SD,锁,锁存,在,在输,出,出端,；,；B=1,，,，L1数,据,据进,入,入L2；,B=0，,数,数据,锁,锁存,在,在L2.,不允,许,许A,、,、B,同,同时,为,为1,，,，避,免,免数,据,据同,时,时进,入,入锁,存,存器,。,。,三、,内,内,建,建自,测,测试,技,技术,内建自测,试,试(BIST)的,基,基本,原,原理,将测,试,试作,为,为系,统,统的,一,一个,功,功能,，,，做,在,在系,统,统中,，,，使,系,系统,具,具有,自,自己,测,测试,自,自己,的,的能,力,力。BIST,通,通过,将,将测,试,试激,励,励和,对,对测,试,试响,应,应的,分,分析,集,集成,在,在被,测,测系,统,统或,芯,芯片,中,中实,现,现,BIST,用,用于功能,性,性测,试,试,BIST,中,中通,常,常使,用,用特,征,征分,析,析技,术,术。,测,测试,结,结束,后,后，,通,通过,比,比较,被,被测,电,电路,的,的实,际,际特,征,征和,无,无故,障,障电,路,路特,征,征，,以,以决,定,定被,测,测电,路,路是,否,否存,在,在故,障,障,基于扫描的BIST-,解,解决,时,时序,电,电路,的,的内,建,建自,测,测试,两种,形,形式,：,：,每扫,描,描一,次,次测,试,试的BIST,每时,钟,钟一,次,次测,试,试的BIST,四,、,、,边,边,界,界,扫,扫,描,描,测,测,试,试,技,技,术,术,边,界,界,扫,扫,描,描,测,测,试,试,的,的,基,基,本,本,思,思,想,想,在,靠,靠,近,近,器,器,件,件,的,的,每,每,一,一,输,输,入,入/,输,输,出,出（I/O,）,）,引,引,脚,脚,处,处,增,增,加,加,一,一,个,个,移,移,位,位,寄,寄,存,存,器,器,单,单,元,元。,在,在,测,测,试,试,期,期,间,间,，,，,这,这,些,些,寄,寄,存,存,器,器,单,单,元,元,用,用,于,于,控,控,制,制,输,输,入,入,引,引,脚,脚,的,的,状,状,态,态,（,（,高,高,或,或,低,低,）,）,，,，,并,并,读,读,出,出,输,输,出,出,引,引,脚,脚,的,的,状,状,态,态,。,。,在,在,功,功,能,能,性,性,操,操,作,作,期,期,间,间,，,，,这,这,些,些,附,附,加,加,的,的,移,移,位,位,寄,寄,存,存,器,器,单,单,元,元,是,是,“,“,透,透,明,明,的,的,”,”,，,，,不,不,影,影,响,响,电,电,路,路,的,的,正,正,常,常,工,工,作,作,功,能,能-,不,仅,仅,可,可,以,以,测,测,试,试IC,之,之,间,间,或,或PCB,之,之,间,间,的,的,连,连,接,接,是,是,否,否,正,正,确,确,，,，,还,还,可,可,测,测,试,试,芯,芯,片,片,或,或PCB,的,的,逻,逻,辑,辑,功,功,能,能,移,位,位,寄,寄,存,存,器,器,组,组,成,成,边,边,界,界,扫,扫,描,描,通,通,路,路,测,试,试,期,期,间,间,功,能,能,性,性,操,操,作,作,边,界,界,扫,扫,描,描,标,标,准,准,，,，,边,边,界,界,扫,扫,描,描,描,描,述,述,语,语,言,言,9.4,数,数,据,据,域,域,测,测,试,试,的,的,应,应,用,用,一,、,、,误,误,码,码,率,率,测,测,试,试,二,二,、,、,嵌,嵌,入,入,式,式,系,系,统,统,测,测,试,试,一、误,码,码率测,试,试,在数字,通,通信系,统,统中，,误,误码率,是,是一个,非,非常重,要,要的指,标,标。,误码率,概,概念,误码率,定,定义,:,二进制,比,比特流,经,经过系,统,统传输,后,后发生,差,差错的,概,概率。,测量方,法,法,：,从系统,的,的输入,端,端输入,某,某种形,式,式的比,特,特流，,用,用输出,与,与输入,码,码流比,较,较，检,测,测出发,生,生差错,的,的位数,，,，差错,位,位数和,传,传输的,总,总位数,之,之比为,误,误码率,。,。, 误,码,码测试,原,原理,误码仪,由,由,发送,和,接收,两部分,组,组成，,发,发送部,分,分的测,试,试图形,发,发生器,产生一,个,个已知,的,的测试,数,数字序,列,列,，编码,后,后送入,被,被测系,统,统的输,入,入端，,经,经过被,测,测系统,传,传输后,输,输出，,进,进入接,收,收部分,解,解码；,接,接收部,分,分的测,试,试图形,发,发生器,产,产生相,同,同的并,且,且同步,的,的数字,序,序列，,与,与接收,到,到的信,号,号进行,比较,，如果,不,不一致,，,，便是,误,误码；,用,用计数,器,器对误,码,码进行,计,计数，,然,然后记,录,录存储,，,，分析,后,后显示,测,测试结,果,果。,（1,）,）测,试,试图,形,形发,生,生器,一般,测,测试,图,图形,选,选用,伪,伪随,机,机二,进,进制,序,序列,来,来模,拟,拟数,据,据的,传,传输,，,，或,用,用特,殊,殊的,字,字符,图,图形,来,来检,查,查图,形,形的,相,相关,性,性和,临,临界,效,效果,时,时间,效,效应,。,。,根据,特,特征,多,多项,式,式，,使,使用,异,异或,门,门和,移,移位,寄,寄存,器,器即,可,可产,生,生伪,随,随机,序,序列,信,信号,（2,）,）误,码,码检,测,测,基本,的,的误,码,码检,测,测电,路,路是,异,异或,门,门，,当,当两,个,个数,据,据图,形,形完,全,全相,同,同且,同,同步,时,时，,异,异或,门,门输,出,出为0；,当,当接,收,收的,数,数据,流,流中,某,某位,出,出现,错,错误,时,时，,异,异或,门,门输,出,出为1。,错误,位,位,（3,）,）误,码,码分,析,析和,数,数据,记,记录,误码,仪,仪除,检,检测,出,出误,码,码，,并,并计,算,算出,误,误码,率,率外,，,，还,应,应对,测,测量,数,数据,进,进行,分析,，如,根,根据,不,不同,误,误码,率,率占,总,总测,量,量时,间,间的,百,百分,比,比，,确,确定,被,被测,系,系统,的,的工,作,作状,况,况。,为了,进,进行,测,测试,结,结果,的,的分,析,析，,误,误码,检,检测,仪,仪必,须,须,记录,大量,的,的测,量,量数,据,据和,误,误码,事,事件,，,，误,码,码性,能,能的,测,测量,可,可能,需,需要,运,运行,几,几个,小,小时,或,或者,几,几天,，,，以,积,积累,有,有意,义,义的,统,统计,结,结果,。,。测,试,试仪,在,在绝,大,大数,时,时间,是,是无,人,人看,管,管而,自,自动,工,工作,的,的。,所,所以,数,数据,记,记录,常,常采,用,用,非易,失,失性,存,存储,器,器,存储,。,。,二、,嵌,嵌入,式,式系,统,统测,试,试,嵌入,式,式微,处,处理,器,器的,可测,性,性,总体,设计,主要,包,包括CPU核,、,、数,据,据及,指,指令,缓,缓存,启,启动ROM、DMA控,制,制器,、,、I/O,控,控制,器,器、,存,存储,控,控制,器,器等,部,部件,。,。,CPU核,：主,要,要是,一,一个4级,的,的流,水,水线,结,结构,，,，每,两,两站,之,之间,有,有站,寄,寄存,器,器，,用,用来,存,存储,从,从上,一,一站,传,传到,下,下一,站,站的,数,数据,，,，采,用,用,BILBO（,内,内部,逻,逻辑,块,块观,察,察）,测试,。,。,存储,器,器,：指,令,令和,数,数据,缓,缓存,分,分别,用,用4K的RAM实,现,现，,另,另外,还,还有512Byte的,启,启动ROM，,都,都是,普,普通,的,的存,储,储器,结,结构,，,，因,此,此采,用,用通,用,用的,BIST,测,测试,方法,。,。,DMA控,制,制器,、,、内,部,部总,线,线、I/O控,制,制器,、,、存,储,储控,制,制器,和,和CPU,核,核中,不,不包,括,括在,流,流水,线,线内,的,的逻,辑,辑是,普,普通,的,的逻,辑,辑电,路,路，,采,采用,部分扫描,测,测试,方法。,嵌入式微,处,处理器符,合,合,边界扫描,测,测试标准IEEE1149.1,，芯片的,每,每一个I/O口都,附,附加有一,个,个扫描单,元,元TAP(测试存,取,取通道),控,控制器成,为,为整个芯,片,片的测试,控,控制中心,。,。,作业题:,频率域测,量,量:8.68.88.9,数据域测,量,量:9.19.39.5,(本次不,交,交),