化学沉铜工艺知识讲解-PPT

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孔或厚板。,三、工艺流程简介,-Plasma,2,等离子处理简介,2.1,等离子体技术在,pcb,制造过程中的应用,2.1.1 PTFE,、,PI,材料的表面改性,(亲水性),表面改性包括两方面的作用:,1,材料表面物理改性,主要通过等离子的蚀刻作用使材料表面粗糙,而粗糙的表面具有比光滑的表面大得多的比表面积。,2,材料表面的化学改性,通过等离子体的蚀刻作用使材料表面的化学建发生断裂,再通过化学交联反应,再断键的部位接枝上亲水基团(主要包括,NH2,-HO,)使材料具有亲水性。整个过程其实包括两个方面的改性,即表面物理结构改性和表面化学特性改性。,三、工艺流程简介,-Plasma,2.1.2,去钻污(针对特殊板材),去钻污主要针对的是,Desmear,难以去除的板材类型,包括含碳氢化合物板材、,H-Tg,板材等。,从图可以清晰的看出,等离子处理后的板材可以做出三面包夹的效果,更好的增强了可靠性。,2.1.3,电镀夹膜的处理,2.1.4,去除激光钻孔后的碳膜,三、工艺流程简介,-Plasma,2.2,等离子设备,2.2.1,等离子设备简图,典型的等离子设备包括:真空室、电,极、射频发生器、真空泵。其它辅助设备,还包括:冰水机等。如右图。,2.2.2,参数控制,在等离子体处理,如下工艺参数合理选择起了很重要的作用:气体种类和混合比例;功率;加工时间;工作室真空压力;气体流量;温度。,2.2.3,检测项目,大家有疑问的,可以询问和交流,可以互相讨论下,但要小声点,三、工艺流程简介,-Desmear,3,除胶渣工艺,3.1,胶渣的由来,钻孔时,玻璃环氧树脂与钻嘴,在高速旋转剧烈磨擦的过程中,局部温度上升至200,o,C,以上,超过树脂的,Tg,值(130,o,C,左右)。致使树脂被软化熔化成为胶糊状而涂满孔壁;冷却后便成了胶渣(,Smear).,3.2,胶渣的危害,1.,对多层板而言,内层导通是靠平环与孔壁连接 的,钻污的存在会阻止这种连接。出现“互连分离”或“孔壁分离”质量问题。,2.,对双面板而言,虽不存在内层连接问题,但孔壁铜层若建立在不坚固的胶渣上,在热冲击或机械冲击情况下,易出现拉离问题。,三、工艺流程简介,-Desmear,3,除胶渣工艺,3.3,除胶渣方法介绍,三、工艺流程简介,-Desmear,3.3.1,MLB,膨松剂 211,使孔壁上的胶渣得以软化,膨松并渗入树脂聚合后之交联处,从而降低其键结的能量,使易于进行树脂的溶解。,三、工艺流程简介,-Desmear,3.3.2,MLB,除钻污剂 214(主要成分高锰酸钾,+,液碱),作用:,高锰酸钾,具有,强氧化性,在高温及强碱的条件下,与树脂发生化学反应,使其,分解溶去。,反应原理:,4,M,n,O,4,-,+,有机树脂+4,OH,-,4 M,n,O,4,2-,+CO,2,+2H,2,O,附产物的生成:,KMnO,4,+OH,-,K,2,MnO,4,+H,2,O+O,2,K,2,MnO,4,+H,2,O MnO,2,+KOH+O,2,MnO,2,是一种不溶性的泥渣状沉淀物,。,附产物的再生:,由于工作液中存在,MnO,2,将严重影响槽,液的寿命,并影响除胶渣的质量,故必须抑制其浓度,一般控制在低于25,g/L,的浓度工作。,维持低浓度锰酸根最有效的办法是氧化再生成有用的高锰酸根离子。,三、工艺流程简介,-Desmear,再生电极,:,结构截面示意图,电解再生器外观图,再生原理,三、工艺流程简介,-Desmear,3.3.3,MLB,中和剂,216,(酸性强还原剂),作用:,能将残存在板面或孔壁死角处的二氧化锰或高锰酸盐中和除去;,三、工艺流程简介,-,沉铜工艺,4.,沉铜工艺,4.1,流程,4.2,设备要求,三、工艺流程简介,-,沉铜工艺,4.3,各药水槽功能简介,4.3.1,清洁剂,1175,(碱性除油),作用:,能有效地除去线路板表面及孔壁轻微氧化物及轻微污渍(如手指印等).如果孔壁和铜箔表面有油污,会影响化学镀铜层的结合力,甚至沉积不上铜。所以必须要进行清洁处理。,工艺参数控制,:,三、工艺流程简介,-,沉铜工艺,工艺参数控制,:,4.3.2,调整剂(,233,)处理,作用,:,调整孔壁表面的静电荷,通常钻孔后的板,孔壁带负电荷,不利于随后吸附带负电荷的胶体钯催化剂。实际上调整剂是在清洁剂的基础上中添加阳离子型的表面活性剂。,调整剂的控制直接影响沉铜的背光效果.,三、工艺流程简介,-,沉铜工艺,4.3,各药水槽功能简介,4.3.3,微蚀剂(过硫酸纳系列),作用:,除去板子铜面上的氧化物及其它杂质。粗化铜表面,增强铜面与电解铜的齿结能力,微蚀前,微蚀,后,微蚀,后铜面状况,反应式:,Cu+S,2,O,8,2-,Cu,2+,+2SO,4,2-,三、工艺流程简介,-,沉铜工艺,微蚀中可能出现的问题,:,微,蚀不足,:,微,蚀不足将导致基铜与铜镀层附着力不良,.,微,蚀过度,:,微,蚀过度将导致在通孔出现反常形状(,见图点,A,和点,B),.,这种情况将导致化,学铜的额外沉积并出现角裂(负凹蚀)。,槽液污染,:,氯,化物和有机物残渣的带入会降低蚀铜量.清洁-调整剂后需保证良好的,清洗。,工艺参数控制,:,注:各分析项目都是为了控制微蚀量,三、工艺流程简介,-,沉铜工艺,4.3.4,预浸(,c/p404,)处理,作用,:防止板子带杂质污物进入昂贵的钯槽。,防止板面太多的水量带入钯槽而导致局部 解。防止活化液的浓度和,PH,发生变化。预活化槽与活化槽除了无钯之外,其它完全一致,。,工艺参数控制,:,注:,Cu,离子含量偏高会带到活化槽,造成活化液的分解与沉淀,比重是表征预浸液含量,三、工艺流程简介,-,沉铜工艺,4.3.5,活化,cat44,处理(胶体靶),作用,:在绝缘基体上吸附一层具有催化能力的金属颗粒,使经过活化的基体表面具有催化还原金属的能力,从而使后续的化学镀铜反应在整个催化处理过的基体表面顺利进行。,活化的控制直接影响沉铜的背光效果。,胶体钯:钯液中的,Pd,,是以,SnPd,7,Cl,16,胶团存在的。,SnPd,7,Cl,16,的产生 是,PdCl,2,与,SnCl,2,在酸性环境中经一系列的反应而最后产生的。,活化后的孔壁:,三、工艺流程简介,-,沉铜工艺,水的带入,:,胶,体,Pd,由,额外的氯离子和,Sn,2+,维持稳定,.,如果有水的带入,将会导致胶体,Pd,的分解.,活化液的比重通过404溶液控制.,氧化,:,空,气的氧化作用能导致胶体,Pd,的分解,因而要注意循环过滤系统不能出现漏气,;,不,要使用溢流循环,.;,定时释放过滤器里的空气,.,工艺参数控制,:,注:没有鼓气,防止氧化;,钯含量每月外发罗门哈斯分析一次,要求,90-110ppm,活化槽容易出现的问题:,三、工艺流程简介,-,沉铜工艺,4.3.6,加速,acc19,处理,(,氟硼酸,HFB4,系列,),作用,:,剥去,P,d,外层的,Sn,+4,外壳,露出,P,d,金属;,清除松散不实的钯团或钯离子、原子等,。,加速槽的控制影响沉铜的背光效果,处理不足或过度均会造成背光不良。,反应式:,工艺参数控制,:,三、工艺流程简介,-,沉铜工艺,4.3.7,沉铜(,253,系列)药水简介,作用,:,为了使孔壁的树脂以及玻璃纤维表面沉上一层铜,为后续的电镀加厚铜提供导电性。,分类(按沉积厚度):,.,薄 铜:10 20,u,“,(0.25 0.5,u,m),(我司采用),中速铜:40 60,u,(1 1.5,u,m),厚化铜:80 100,u,(2 2.5,u,m),组成成分(,253,系列):,铜盐:硫酸铜;,还原剂:甲醛;,PH,值调节剂:氢氧化钠;甲醛在强碱条件下才能具有还原性。,络合剂:,EDTA(,乙二胺四乙酸二钠);保证铜离子不会在碱性条件下沉淀,呈离子态。,稳定剂:保证化学铜溶液不会自然分解。,三、工艺流程简介,-,沉铜工艺,反应式:,1,)主反应:,产生反应的基本条件:,a),甲醛的还原能力取决于溶液中的碱性强弱程度;,b,)在强碱条件下要保证铜离子不会沉淀,需要加足够的络合剂(因络合剂在反应过程中并不消耗,所以反应式中省略了络合剂),c,)从反应式可以看出,每沉积,1M,的铜要消耗,2M,的甲醛,,4M,氢化钠。要保持化学镀铜速率恒定和化学镀铜层的质量,必须及时补加相应消耗的部分。(使用自动添加器),d,)只有在催化剂,pd,的存在条件下才能沉积出金属铜,新沉积的金属铜本身就是一种催化剂,所以在活化处理过的表面,一旦发生化学镀铜反应,此反应可以在新生 的铜面上继续进行。利用这一特性可以沉积出任意厚度的铜。,pd,三、工艺流程简介,-,沉铜工艺,2,)副反应:,加有甲醛的化学镀铜液,不管使用与否,都会产生以下两个副反应:,a),产生,Cu,2,O,,进而会形成铜颗粒。,要抑制反应,2,的产生,避免产生铜颗粒,就需要不断在沉铜溶液中通入氧气(鼓气),b,)甲醛和,NaOH,之间的化学反应,称为康尼查罗反应。,化学铜溶液中一旦加入甲醛,上述反应即开始了。不管是属于使用状态还是静置状态,都会一直在反应。所以化学铜溶液停止后重新启用时,需重新调整,PH,值,补加甲醛。,1,2,三、工艺流程简介,-,沉铜工艺,工艺参数控制,:,注:上述分析项目均影响化学沉铜沉积速率。其中浓度控制采用的是自动添加系统、,自动添加系统、,三、工艺流程简介,-,沉铜工艺,4.3.8,化学沉铜品质检定方法及标准,背光试验,1.定期抽取样本,切取试验孔。,2.用钻石刀把样本切割在孔的中线。,3.然后放在光源上,再用放大镜检查。,4.检定标准为,8,
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