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单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,2021/2/8,#,與探針有關的測試不准問題,探針頭型誤用,針套不夠垂直,探針刺不准,針頭污染,頭鈍,探針彈簧力量不夠,探針內部污染造成接觸不良,振動,與,PCB,有關的測試不准問題,測點銅箔氧化,定位孔位置不准,測點被防焊漆部分蓋住,定位孔變形或不准,測點比實際尺寸小,免洗制程産生的污染物,PCB,技術的新趨勢,測點種類（,pads,vias,leads）,及高度不等,免洗制程廣泛使用,測點數大增,測點越來越小,零件更難測試,最新,Pogo Plus,如何幫助測試工程師？,改進測試良率,增進産出量,在整個産品生命周期內，測試,程式維持穩定,難測零件量測精准,消除探針導致的假性開路,提高精確測試結果,降低成本,最新,Pogo Plus,系列探針,如何挑戰,PCB,設計新趨勢,PCB,新趨勢,測點越來越小,各種不同測點及高度,（,pads,vias,leads）,免洗制程廣泛使用,測點數更多，更密,更多難測零件,Pogo Plus,優點,刺點準確性極佳,全程側壓力，電阻值低而穩,針型尖，彈力強，綱質或鈹,銅針頭材質,啓程惻壓確實，不再需要2/3,壓縮行程,整個壓縮行程均保持極低而,穩定的電阻值,最新,Pogo Plus,系列探針還有什麽優點？,針頭有鈹銅和綱兩種材質,100，75，50,mil,中心距都齊備,針與針套尺寸與現行標準相容,Everett Charles Technology(ECT),及,Ostby Barton(OB),均有生産,100,mil,針管印有彈簧力,彈簧力可高達16盎司,消除探針造成的假性開路現象,探針設計的幾項重要考量,電阻/阻抗,準確性/可重復性,測試程式穩定性,造成假性開路,針頭甩尾-,TIR(total indicator run-out),影響準確度之因素,刺不准,彈簧力/機械壽命,刺穿污染之強力彈簧,用於高密度區之低力彈簧 板彎問題,壽命 停線時間短，換針成本低,探針技術演進,其他廠商設計#1,無側壓力,中段縮口,無縮口,彈簧空間小,其他廠商設計#2,斜面式側壓力,單圈縮口,雙圈縮口,彈簧空間大,最新,Pogo Plus,設計,錐形加側壓球,彈簧空間大,其他廠商設計#1,無側壓力,中段縮口,無縮口,彈簧空間小,電阻/阻抗,針頭與針管側壓力爲漸進式,電流通路經由電感性的彈簧，常有中斷現象,惻壓不穩定，造成探針電阻值變化太大，假性開路,針頭甩尾-,TIR(total indicator run-out),針頭與針管誤差太大,旗杆效應，刺點位置太分散,平均甩尾,TIR.0075”-.008”,彈簧力/機械壽命,彈簧空間不夠，壽命減少,壓縮過量時造成機械壽命急速縮短,高彈力=壽命短，低彈力=接觸不良,其他廠商設計#2,斜面式側壓力,單圈縮口,彈簧空間大,電阻/阻抗,側壓較1爲佳,在工作行程時，電阻夠低，夠穩定,假性開路不常發生,針頭甩尾-,TIR,單圈縮口，甩尾已有改進,平均甩尾,TIR,爲.004”,彈簧力/機械壽命,針頭縮短，彈簧空間加大,可設計高彈力彈簧，壽命延長,強力彈簧及過壓縮不至於影響壽命,最新,PogoPlus,設計,雙圈縮口,錐形加側壓,球,球,彈簧空間大,電阻,針頭與針管,側,側壓確實,探針壓縮的,全,全部過程中,，,，電阻都保,持,持小而穩定,無假性開路,針頭甩尾-,TIR,雙圈縮口，,嚴,嚴防甩尾,刺點集中,平均甩尾,TIR,爲.0024”,彈簧力/機械,壽,壽命,針頸短,，,，彈簧,空,空間加,大,大,彈簧空,間,間大，,壽,壽命長,，,，可容,納,納強力,彈,彈簧,強力彈,簧,簧及過,壓,壓縮不,影,影響壽,命,命,各種頭,型,型的選,用,用,
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