光洁度国际标准(iso)培训

单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,*,表面缺陷国际标准,杨德春,2016-03-15,激埃特光电有限公司,表面缺陷定义,抛光表面上存在点状物、线状物、片状物，所有可以挡光的东西都是表面缺陷。,表面缺陷通常表现为：,麻点：表面上的小坑，向内部延伸的小裂纹。,划痕：有一定长度的裂纹。其中有些粗划痕是一串点来的,开口气泡：材料内部有气泡，刚好抛光面穿过气泡。,夹具痕迹：磨边夹具、偏心夹具、抛光夹具、镀膜夹具等,在抛光面上摩擦、挤压出来的圆弧痕迹。,污点：沾在表面上不能擦掉的点状异物。,腐蚀：表面上的分子发生了化学反应，变成的非材料本身,的分子，不透明或折射率与材料不同，腐蚀,透过率,发生了变化。,膜缺陷,镀膜表面局部不均匀现象。,膜缺陷通常表现为：,膜点,：镀膜前基底上有灰尘等微小颗粒，镀膜后覆盖在膜层内；膜料未完,全熔化，颗粒状或片状的膜料溅射在表面上；非膜料的物质被蒸发,到表面上。,雾状,：微小的尘埃覆盖表面、或表面有水分，镀膜后透明度变差。,色斑,：玻璃表面有腐蚀、水印、擦拭痕迹、返油等，在玻璃表面有一层或,局部有小块有一层东西，镀膜后的分光出现差异，颜色异常。,针孔,：镀膜前表面有灰尘，镀膜后灰尘脱落形成没有膜的小孔。,结晶,：膜料在基体表面受温度影响，形成结晶颗粒。,膜裂,：镀膜在温度变化时，膜与基体热膨胀不同，膜层被拉破或挤破，象,划痕一样的现象。,膜划伤,：膜表面被擦拭出的划伤（与基体划痕同样对待）。,缺陷级数,用来描述缺陷大小的尺寸，是按缺陷的大小等级来区分的。,与缺陷的面积有关，而不是按缺陷的实际面积计算的。,级数依次为：,0.0025,、,0.004,、,0.0063,、,0.01,、,0.016,、,0.025,、,0.04,、,0.063,、,0.1,、,0.16,、,0.25,、,0.4,、,0.63,、,缺陷的面积是以级数的平方计算的。,所有的级数都是以近似,1.6,倍的等差数列。,面积的倍数近似,2.5,倍。,缺陷的级数计算：,一个麻点，长,0.08,，宽,0.04,，面积为,0.08*0.04=0.0032,，开平方为,0.0566,。,大于,0.04,，小于,0.063,，其级数为,0.063,。,一个麻点，长,0.06,，宽,0.03,，面积为,0.06*0.03=0.0018,，开平方为,0.0424,。,大于,0.04,，小于,0.063,，其级数为,0.063,。,一个圆麻点，直径,0.07,，面积为,0.07*0.07*/4=0.00385,，开平方为,0.062,。,大于,0.04,，小于,0.063,，其级数为,0.063,。,一条长划痕，长,3.0,，宽,0.002,，面积为,3.0*0.002=0.006,，开平方为,0.077,。,大于,0.063,，小于,0.10,，其级数为,0.1,。,从以上可以看出，在确定缺陷级数时，只进位、不取舍。,缺陷的换算,可以将规定允许的,1,个或数个较大级数缺陷，换算成允许,更多数量的较小级数缺陷。,不可以将规定允许的数个较小级数缺陷，换算成允许较大,级数缺陷。,级数换算表（部分）,大级数,对应小级数的个数,2.5*,6.3*,16,不计,0.016,0.01,0.0063,0.004,0.0025,0.025,0.016,0.01,0.0063,0.004,0.04,0.025,0.016,0.01,0.0063,0.063,0.04,0.025,0.016,0.01,0.1,0.063,0.04,0.025,0.016,0.16,0.1,0.063,0.04,0.025,0.25,0.16,0.1,0.063,0.04,级数换算表,较大级数可以换算成：小,1,级的,2.5,个，是小,2,级的,6.3,个，是小,3,级的,16,个。,小,4,个级数的不再计为缺陷。,(,当做微缺陷来处理,),数个较大级数的缺陷换算成小缺陷后，较小缺陷的个数四舍五入,取整数。,按缺陷的面积换算对比，也是,2.5,倍、,6.3,倍、,16,倍。,级数换算表,举例：,例：,1,个,0.16,级的缺陷可以换算为：,1,、,0.1,级缺陷：,3,个（,1*2.5=2.53,）；,2,、,0.063,级缺陷,6,个（,1*6.3=6.36,）；,3,、,0.04,级缺陷,16,个（,1*16=1616,）；,1*0.16,换算,在同时存在,0.1,级、,0.063,级和,0.04,级缺陷时，先看小,1,级的个数，再看小,2,级的个数，最后才计算出允许小,3,级的个数。,如：有,2,个,0.1,级的，允许,0.063,级的个数为：（,2.5-2,）*,2.5=1.25,，四舍五入后允许有,1,个,0.063,级缺陷。,如有,1,个,0.1,级的，,1,个,0.063,级的，允许,0.04,级的个数为：（,1.25-1,）*,2.5=0.65,，四舍五入后允许有,1,个,0.04,级缺陷。,如：有,2,个,0.1,级的，没有,0.063,级的允许,0.04,级的个数为：（,2.5-2,）*,6.3=3.15,，四舍五入后允许有,3,个,0.04,级缺陷。,1*0.16,换算,如：有,1,个,0.1,级的，允许,0.063,级的个数为：（,2.5-1,）*,2.5=3.75,四舍五入后允许有,4,个,0.063,级缺陷。,如有,1,个,0.1,级的，,2,个,0.063,级的，允许,0.04,级的个数为：（,3.75-2,）,*,2.5=4.375,，四舍五入后允许有,4,个,0.04,级缺陷。,如：无有,0.1,级的，有,0.063,级,3,个允许,0.04,级的个数为：（,6.3-3,）*,2.5=8.25,，四舍五入后允许有,8,个,0.04,级缺陷。,计算公式：,设：允许基本级数个数为,M0,，有基本级数缺陷,N0,个，允许小,1,级的,M1,个；,有小,1,级的,N1,个，允许小,2,级的,M2,个；,有小,2,级的,N2,个，允许小,1,级的,M3,个。,M1=,（,M0-N0,）*,2.5,；,M2=,（,M1-N1,）*,2.5,；,M3=,（,M2-N2,）*,2.5,。,计算公式：,判定是否合格还可以使用以下公式：,设：允许基本级数个数为,M0,，有基本级数缺陷,N0,个，有,小,1,级的,N1,个，有小,2,级的,N2,个，有小,3,级的,N3,个。,N0+N1/2.5+N2/6.3+N3/16M0,为合格。,N0+N1/2.5+N2/6.3+N3/16,M0,为不合格。,膜缺陷的计算方法,膜缺陷的计算方法与基体在缺陷判定方法相同,膜缺陷超出要求，超出的部分可以当成基体的缺陷,计算。（条件是基体的表面缺陷小于规格）,在没有单独给出膜缺陷要求时，膜缺陷当成基体缺陷。,长划痕,长度大于,2,毫米且长宽比大于,160,的为长划痕。,长划痕对应的级数不能超过基本级数。长划痕与其它缺陷一并计入基本级数的数量内。,长划痕的宽度不能超出规定的宽度。,长划痕也可以换算。换算方法与基本级数的换算相同。,长划痕的规格表,级数,长划痕尺寸（宽度*长度）,0.04,0.00063*2.5,0.001*1.6,0.063,0.001*4.0,0.0016*2.48,0.1,0.001*10,0.0063*6.3,0.0025*4,0.004*2.5,0.16,0.001*25,0.0016*16,0.0025*10,0.004*6.3,0.0063*4,0.25,0.0025*25,0.004*16,0.0063*10,0.01*6.3,0.016*4,0.4,0.0063*25,0.01*16,0.016*10,0.025*6.3,0.04*4,0.63,0.025*25,0.04*16,0.063*6.3,0.1*4,1,0.04*25,0.063*16,0.1*10,0.25*4,1.6,0.1*25,0.25*10,0.4*6.3,0.63*4,2.5,0.25*25,0.4*16,0.63*10,小尺寸缺陷的忽略问题,1,、级数小于,0.0025,的缺陷；,2,、宽度小于,0.0005,的划痕；,3,、比基本级数小,4,个级的缺陷；,4,、宽度小于等于基本级数值,0.012,倍宽的划痕。,以上,4,种可以忽略的缺陷为微缺陷。,微缺陷可以忽略，为什么还有提到？,传统意义的光学表面，都是认为是经过充分抛光的。,充分抛光是将精磨产生的破坏层全部去除，表面在微观上是平滑,的。表面缺陷只是在表面上残留的坑和沟，这些坑和沟阻挡了光,线的通过。表面缺陷的要求的目的就是规定了表面挡光部分的面,积。,表面微缺陷同样出阻挡光的通过，只是相比基本级数缺陷的挡光,量小很多，可以忽略。,但是，当微缺陷非常多，其总面积可以与基本缺陷面积可以相比,时，微缺陷的挡光作用就不能忽略了。,微缺陷密集，就是抛光不充分的表现。,抛光不充分的现象,表面上有一层细密的麻点。,精磨最终的磨料粒度是,W7,和,W10,，平均直径约,710,微米，产生的,坑点直径略小于磨料的直径，坑下面裂纹的间隔与磨料的直径相当。,裂纹的深浅不同，较浅的先被抛光去除，较深的稀疏一些。随着抛,光的继续，裂纹部分逐步的被磨去，表面的小“点子”越来越稀少，,抛光逐渐充分。,抛光不充分的现象,抛光充分是不要求表面根本没有微小的“点子”，而是要少到一定,程度。同时在抛光过程中还会不断的产生新的“点子”。因此就有,一个抛光等级的要求。,由于抛光材料（沥青、聚氨酯等）、抛光粉（氧化铈、金刚石微粉,等）选择不当，表面出现细密的划痕，在间隔过小时，也可以认为,是抛光不充分。,抛光充分的要求,在,ISO,标准中，给出了抛光等级的规定。但不适合我们加工中使用。,为了实际工作的方便，我们做出了以下规定：,P3,抛光表面缺陷和微缺陷的平均间隔应不小于,0,.,8,毫米；在,D5,内,430,个。,P4,抛光表面缺陷和微缺陷的平均间隔应不小于,3.0,毫米。在,D5,内,3,个。,微缺陷用肉眼几乎无法看到，怎么办、？,我们可以借助工具来观察。,强光灯、点光源、放大镜、,20,倍显微镜。,在强光灯下、点光源下，用肉眼和,10,倍放大镜所能看到的缺陷都,要按平均间隔计算。,现看不清晰的，还可以使用点光源加,20,倍显微镜观察。这时对密,集程度的判定要慎重，因为以前还没有经验可以借鉴。,为了看清楚表面上的物质，可以用,30,倍及以上的显微镜观察，,但不能做为缺陷判定的依据。,是否所以的产品都在检查是否抛光充分呢？,一般来说，在正常的加工状态下，合理的工艺设计、遵守工艺要求的加工时，成熟的加工状态，是不会出现抛光不充分的现象。只在工艺不成熟的产品才可以抛光不充分。,成熟的加工工艺中出现了抛光不充分，必然是有违规现象：,1,、工艺设计错误。,2,、铣磨、精磨的某一道没有按工艺要求加工。,3,、抛光量不足。一般材料都必须抛光,0.01,毫米以上，软材料的抛光量还要大一些。,4,、抛光材料和抛光粉选择不当，或内部有杂质、粒度不均匀（辅料的质量问题）。,5,、抛光时零件“跳”。产生新的“点”。,目前没有规定抛光充分程度的产品,对于中远红外产品，通常材料的加工性能差，抛光表面容易存在微观的细划痕。,而红外的波长较大，一些较小的划痕不会挡光，在考虑微缺陷时放宽对缺陷级数和划痕宽度的要求。,相反，对于紫外产品，应用的波长较小，一些很小的划痕也会挡光，所以对紫外产品的微缺陷要求要严格一些。,缺陷的总数量限制,一个通光区域内的实际缺陷总数量不得超过,40,个。,但是，考虑大尺寸的产品与小尺寸的产品相比，很难保证缺陷的总数量不超过,40,个。,所以，修改成“通光口径内或任意,D25,范围内，大小缺陷的总个数达到,40,个。,关于缺陷密集限制,表面缺陷不能集中，在任意,5%,面积,(1/5,通光口径,),内的缺陷数量不能超过规定数量的,20%,。,允许缺陷数量少于,10,个时，任意,5%,面积内只允许有,2,个缺陷,(,可以