位置度平面度测量

按一下以編輯母片標題樣式,*,按一下以編輯母片,第二層,第三層,第四層,第五層,1,位置度平面度的定義標注及測量,制作陳世民,指導張光明,目 錄,一提高認識達成統一,二公差基礎知識,三位置度的定義標注及測量,四平面度的定義標注與測量,一提高認識達成統一,在連接器設計中位置度平面度的標注與測量既是重點又是難點。目前D/T工程部品保部以及台北就位置度平面度的標注與測量尚未達成統一認識。以MINI PCI 4.0H客戶圖為例從8月9日至8月29日D/T與台北來回發了十多次電子郵件其中討論的一個重點就是位置度的標注。現為提高并統一大家對位置度平面度的認識特制作此報告。,BACK,二公差基礎知識,(一),公差實際尺寸相對理論尺寸的允許變化範圍即當用實際尺寸減去理論尺寸時如果所得差值在公差允許範圍之內則該尺寸合格。例如30.000.05如果實際測得尺寸為30.03則30.03-30.00=0.03在-0.050.05範圍之內故該尺寸合格。,公差定義是公差標注和測量的依據。,二公差基礎知識,(二),基准為計算或參考的目的設定一實體上的點線平面柱軸等是精確的根據它們工件上其他形狀的位置和几何關系才得以確立。基准表面基准形體都是用以建立基准的真實工件表面或形體故它們仍有著表面或形體不精密的地方。,符號-A-,二公差基礎知識,基准符號形位公差符號的放置,1尺寸的下面,二公差基礎知識,基准符號形位公差符號的放置,2形體的延長線,3尺寸的延長線,尺寸線的延長線,形體的延長線,二公差基礎知識,(三）公差的分類,1尺寸公差控制形體大小,2形狀公差包括直線度平面度圓度圓柱度線輪廓度,曲面輪廓度,3位置公差包括定位公差（,位置度,對稱度同心度）定向公差（傾斜度平行度垂直度）跳動公差（圓跳動全跳動）,二公差基礎知識,（四）公差帶,限制实际要素变动的区域。,（五）公差原则,1.独立原则,图样上给定的形位公差与尺寸公差无关,分别满足功能要求的公差原则。,此原则是形位公差与尺寸公差相互关系的基本原则。,二公差基礎知識,2.,相关原则,2-1.最大实体原则,测量时取被测要素的最大实体的公差原则,如下图所示,左图为尺寸标注,右图为实际测量时的取值,二公差基礎知識,2-2.,最小实体原则,测量时取被测要素的最小实体的公差原则,二公差基礎知識,2-3.,包容原则,使实际要素处处位于理想形状的包容面之内的公差原则。,应用包容原则时,其形位公差数值随着实际形体尺寸的变化而变化。,以,0.6 B-T-B CONN W/POST 40P(M),的孔规设计为例,其端子公差如下所示,二公差基礎知識,由端子的尺寸公差和位置度公差可知,端子允许的变动范围是以其理论位置为中心对称的,0.32,的包容面之内,因此设计孔规时,公差如下设计,二公差基礎知識,二公差基礎知識,其公差带图如下所示,二公差基礎知識,当尺寸公差为,-0.02,即尺寸为,0.28,时,其位置度公差是,0.04,而当其尺寸公差为,0.02,即尺寸为,0.32,时,其位置度公差是,0,。总之,该孔的实际轮廓总是位于以理论位置为中心对称的,0.32,的包容面之内。,BACK,三位置度的定義標注及測量,(一）位置度定義一形體的軸線或中心平面允許自真位置變動的范圍即一形體的軸線或中心平面的實際位置相對理論位置的允許變動范圍。,定義軸線或中心曲面的意義在于避開形體尺寸的影響。,三位置度的標注與測量,（二）位置度的三要素,1.基准,2.理論位置值,3.,位置度公差,三位置度的標注與測量,（三）位置度公差帶,位置度公差帶是一以理論位置為中心對稱的區域。,位置度公差帶,三位置度的標注與測量,(四）位置度的標注與測量,4-1.0.6 B-T-B CONN W/POST(M)40P位置度標注與測量,三位置度的標注與測量,測量步驟,一對端子進行編號,三位置度的標注與測量,第一次置中歸零,第二次置中歸零,二置中歸零,先测出左柱宽,1.00,然后第一次置中归零（测量右柱宽也一样）,再测量其到右柱两边的距离,14.2514.95,进行第二次置中归零,三位置度的標注與測量,三以中心線左边第二根端子为例,测出实际尺寸,D1(0.82)D2(1.02),根据位置度公差定义,DE=abs(Da-Dt)=abs(D1+D2)/2-Dt),=abs(0.82+1.02)/2-0.90,=0.020.05,三位置度的標注與測量,其中,DE,表示实际偏差,abs,表示绝对值,Da,表示实际位置尺寸,Dt,表示理论位置尺寸,对于不同的端子,它们的理论位置尺寸是不同的,测量时测量者须自行计算,三位置度的標注與測量,注意,位置度沒有正負之分但在此為區別其方向公式中的D1D2Dt以基准為零線采用正負符號。,此外,根据上面公式,我们还可以推出另一种测量方法,但我个人还是推荐采用上述方法,因为下面这种方法多了一次置中归零,置中归零不仅测量繁琐,而且会增加测量误差。,三位置度的標注與測量,DE,=abs(Da-Dt)=abs(D1+D2)/2-Dt),=abs(d1+Dt)+(Dt-d2)/2-Dt),=abs(d1-d2)/2=abs(0.12-0.08)/2,=0.020.05,三位置度的標注與測量,四,制作位置度公差表,PIN,BASE,D1,D2,Da,Dt,T,判定,1,2,3,4,5,BACK,三位置度的標注與測量,4-2.IDE 44P垂直位置度標注與測量,如圖IDE 44P端子在垂直方向上具有以下特點排數少（只有兩排）每排端子數量多（達22PIN）長度值為端子材厚值對于不同的端子其值差異極小因此我們可把上排端子和下排端子分別看成兩個整體。下面以下排端子為例介紹其測量方法。,三位置度的標注與測量,一,测出角柱垂直方向上,1.70,的实际尺寸,然后置中歸零,二,往下偏移,2.00,然后归零,三位置度的標注與測量,三,分别找出位置向上和向下偏离最大的端子,测出其端子上下表面的距离,并测出端子实际材厚值,DE1=d1-T/2=,0.15-0.20/2=0.05,DE2=d2-T/2=0.17-0.20/2=0.07,下排端子的位置度最大偏差为,max,（DE1,DE2,）,=0.070.10,BACK,三位置度的標注與測量,4-3.MINI PCI 4.0H位置度的標注與測量,對于MINI PCI 4.0H存在著兩個位置度一個是端子錫腳的位置度此位置度以POST為基准用于控制端子錫腳與與PCB板的配合現其位置度公差0.18另一個是端子接觸區域的位置度此位置度以KEY為基准用于控制端子接觸區域與對插件的配合現其位置度公差0.3。對于第一個位置度其標注方式已統一對于第二個位置度有如下兩種標注方式,三位置度的標注與測量,第一種標注方式直接測量,采用這種方式測量時直接對124根端子接觸區域一一測量其位置度由于端子接觸區域是包在主體內部其測量繁瑣困難,。,三位置度的標注與測量,第二種標注方式間接測量,由于端子是下料成型且插在主體插槽中插槽控制了端子的平面度因此只須控制KEY相對POST的位置度與端子錫腳相對POST的位置度相應地也就控制了端子接觸區域相對KEY的位置度且其測量誤差相對直接測量極其微小。建議采用此種標注方式。,BACK,三位置度的標注與測量,4-4.,位置度的其它标注与测量,BACK,三位置度的標注與測量,此位置度的公差帶是以理論位置為中心的直徑為0.30的圓。對于每根端子測出其水平位置度Th和垂直位置度Tv后須再驗証其是否滿足公式Th+Tv0.15。,BACK,四平面度的定義標注及測量,(一）平面度的定義,曲面輪廓度,一表面,允許作單向的或雙向的輪廓均勻變移的區域。平面度其實是曲面輪廓度的一種特例。在連接器設計中我們將端子站腳及TAB(或LATCH)的表面,看成一整體,由于其要求相對PCB的表面在0.1mm之內的平行區域之內故平時我們將此三者的曲面輪廓度叫做平面度。,四平面度的定義標注及測量,(二）平面度的測量基准,如上圖所示測量平面度時以P1P2P3等不同平面為基准則所測得的平面度值顯然也不同。在這些基准面中只有以,最終放置面或配合面,為基准所測得的平面度才是被測面的有效平面度值。,四平面度的標注與測量,（,三,）平,面,度,的,標,注,與,測量,如下圖所示在標注平面度時除了要將其輪廓變化范圍限制在0.10mm的公差帶范圍之內外還須限制該公差帶的傾斜角度。在連接器設計中通過限制該公差帶的位置來限制其傾斜角度。下面以0.6 B-T-B(M)CONN W/POST為例介紹其標注與測量。,四平面度的標注與測量,一以站脚为基准在立式投影機上測量測量所有端子和接地片的位置,二（1）方法一將成品放在平行板上在,臥式投影機,上測量測量端子接地片站腳三者的最大平面度值（當有臥式投影機時推荐采用此種方法）,四平面度的標注與測量,（2）方法二將成品放在,立式投影機,下找出40根端子2個接地片2個站腳中最高的兩者然后以其為基准測量其最低點所測得的值即為平面度值。,THANKS!,THE END,Dragontop Enclosure Plant,