CPK培训教材[1]

,LOGO,CPK,培训教材,作成,:,陈炜,2008/11/7,乙,选,手,甲,选,手,谁,的成,绩,好呢,?,谁较,有,潜,力呢,?,你,会选谁当选手,呢,?,您的工,厂,/,服,务,品,质,/,供应商,若有,问题,您希望是甲,状况还,是乙,状况,呢,?,品,质,的一致性,制程能力靶心图,准确度好,精密度好,系统误差小,偶然误差小,准确度差,精密度高,系统误差大,偶然误差小,准确度高,精密度差,系统误差小,偶然误差大,准确度差,精密度差,系统误差大,偶然误差大,何谓制程能力？,制造程序潜在精度的测定，以衡量加工的一致性,制程加工品质在一定因素与正常管制状态下满足技术标准的程度,基本精神,将制程能力计量化,将测得的制程能力与品质要求作比较,制程能力与生产能力有本质的区别，制程能力是指质量上所能达到的程度，而生产能力是指数量上所能达到的程度，一个指质量，一个指数量。,制程能力分析,对设计单位提供基本单位资料,分派工作到机器上,用来验收全新或翻新调整过的设备,选用合格的作业员,设定生产线的机器,根据规格公差设定设备的管制界限,当制程能力超越公差时，决定最经济的作业水准,找出最好的作业方法,制程能力分析之用途,制程能力指数含义,制程能力指数：,是指制程能力与制程目标相比较的定量描述的数值，即表示制程满足产品质量标准的程度。一般以,Cp,或,Cpk,表示。,Cp,适用于质量标准规格的中心值与实测数据的分布中心值一致，即无偏离的情况下。,Cpk,适用于质量标准规格的中心值与实测数据的分布中心值不一致，即有偏离的情况下。,标准偏差（,）,何谓标准偏差,（,）？,希腊文字里的,sigma,小写符号,是统计学符号,。,代表母体的“标准偏差,”,。,（,Standard Deviation,）,统计学中,，,标准偏差意指任何一组,事项,或,流程,所产出的,变异,或,不一致,的度量,值（例,热汉,堡,、三件,衬衫、,超市,感觉）,。,(,样,本,数,n 6,时,若大得愈多,Cp,值,也愈大,也就是,说,在,这种生产条,件,(,人,机,械,材料,管理等,),本制程非常,适,合于生,产,此,种,精密度的,产,品,反之若,T6,时则,Cp,值,也愈小,说,明了此工程在目前,这种,狀,态,下,不能,适应,此,种,精密度的,产,品,Cp,与,Ca,之不同,点,是,Ca,值,愈小愈好,Cp,则,是愈大愈好,现将,不同的,Cp,值分等,级,做,为评定标准,Cp,等级之解说,等級評定後之處置原則,(Cp,等級之處置,),A,級,:,此一製程甚為穩定，可以將規,格,許容差縮小或勝任更精密之工作。,B,級,:,有發生不,良,品之危險，必須加以注意，並設法維持不要使其變壞及迅速追查。,C,級,:,檢討規格及作業標準，可能本製程不能勝任如此精密之工作。,D,級,:,應採取緊急措施，全面檢討所有可能影響之因素，必要時應停止生產。,以上也是與,Ca,一樣，僅是一些基本原則，在一般上,Cp,如果不良時，,其對策方法是技術單位為主，製造單位為副，品管單位為輔。,Cpk,製程能力指數,(,綜合指數,),A.,双边规格时,:,B.,单边规格时,:,Cp,值,愈大時或,Ca,值,愈小時,Cpk,值,愈大,而,Cpk,值,愈大即代表製程綜合能力愈好。,Cpk,值,愈大時,代表在此工程的生產條件即(人員、機器、方法、材料)非常的好,所以生產出來的產品其品質變異的寬度遠比規格公差範圍小的很多,且其實績平均值(,X),與規格中心值(,u),也很接近,甚至重合在一起即,Ca=0;,反之,若,Cpk,值,很小時,則其可能是,Ca,不好或,Cp,不好,或者是,Ca,與,Cp,兩者都不好,所以在遇到,Cpk,值,不好時,即應進一步探討其是,Ca,不好或,Cp,不好,以便區分原因,再去做改善對策。,Cpk,值,的好壞程度標準即對製程的基本處置原則。,制程能力指数评价标准,Cp,值以及,Cpk,值的范围,品质等级,制程能力指数评价,对策,Cp,1.67,制程能力过高,特殊产业需求,1.Cp,值过高时,缩小规格,放宽制程变异,改用精度低的设备,简化品质检验工作,2.Cp,值过小时,在不影响最终产品性能的基础上放宽规格,分析加工精度低的原因,制定改进措施,采用精度更高的设备,加强品质检验工作,1.67,Cp,1.33,制程能力充分,1.33,Cp,1.0,制程能力尚可,但接近,1.0,时要注意,1.0,Cp,0.67,制程能力不足,需要采取控制措施,Cp,0.67,制程能力严重不足,必要时应停工整顿,备注：本表为一般通则，因产业品质水准进步对比此标准也有所变更。,常態分配,通常寫為,XN(,:,2,),其中,:,常態分配的中心值,(,Mean,),2,：,常態分配的變異（,Variance,）,:,常態分配的標準差,(Standard Deviation),常態分配特性,(1),曲線與橫軸所圍的面積為,1;,(2),以,為中心呈對稱性分布,;,(3),變異,2,代表分配函數的離散程度 如圖,1,所示,具有相同,的二個常態分 配,(a),與,(b),(a),的離散程度比,(b),小,即,2,a,QualityTools,Capability Six Pack,Normal,运用,Minitab,计算能力,第 2 步,第 3 步,第,4,步,在找什么呢,?,1.,该过程是否受控,?,可受控,-,看控制图,4.,求,DPMO,3,.,现在可以得到,Cp=0.91,Cpk=0.56,2.,可以得到,P,值,=0.075,0.05,属于常态分布,运用,Minitab,计算能力的另一个方法,第,1,步,Stat,Basic Statistics,Normality Test,第,2,步,第,3,步,P,值,=0.075,0.05,属于常态分布,第,4,步,Stat,Quality Tools,Capability Analysis,Normal,第,5,步,第,6,步,第,7,步,C,P,C,PK,1.601.60,1.600.40,0.400.40,0.400.15,解释,在6,里,我们首先解决中心偏移问题,然后解决产生偏差的原因.,Cp=Cpk,过程居中,能力好偏差小,过程中心偏移,偏差小,过程居中,偏差大,过程中心偏移,偏差大,Cpk,為什麼要大於或等於,1.33?,1.Cp=0.67,時,穩態控制,下不合格品率為,4.6%;,2.Cp=1.00,時,穩態控制,下不合格品率為,0.27%;,3.Cp=1.33,時,穩態控制,下不合格品率為,0.0063%=63PPM,在圖例上表示為中心沒有偏移,(,實際中心值與規格中心重合,),DPPM,DR=DRL+DRR,DR(Defect Rate):,總不良,DRL(Defect Rate Left):,左不良,DRR(Defect Rate Right):,右不良,正態分布中，任一點出現在,1,內的概率為,P(-1X+1)=68.27%,2,內的概率為,P(-2X+2)=95.45%,3,內的概率為,P(-3X+3)=99.73%,+,你对结果如何评价,?,=48.68,LSL =46,=1.11USL=50,例子,:,我们的原材料团队收集了某彩管交货时间(小时).我们来评估一下该过程的表现.求该过程的能力指数,(,Cp&Cpk).,由,Cpk,公式中：,Cpk=(,規格上限,Xbar)/3a,或,(Xbar-,規格下限,)/3a,兩者取小值,我們得知，當我們的,Cpk,值訂為,1.5,時，其規格上限、規格下限如何計算出來？,1.5=(,規格上限,304.5,54,)/(3 0.0,66,),規格上限,=304.5,54,+1.5(3 0.0,66,)=304.8,51,1.5=(304.5,54,規格下限,)/(3 0.0,66,),規格下限,=304.5,54,1.5(3 0.0,66,),=304.,257,如何計算出合理工程技術規格,(1),由品管,SIX SIGMA,理念中我們得知當,a,=,s,時，,PPM=3.4,趨近於零缺點，因此由已知之中心值,6,a,來訂定規格上限、下限。,例如：位置,1,其中心值,(Xbar)=304.5,54,，,a,=0.0,66,，計算其規格上限、規格下限？,Xbar+6,a,=304.,950,.,規格上限,Xbar-6,a,=304.,158,.,規格下限,計算其,Cpk,、,PPM,？,Cpk=2.00,、,PPM=2,如何計算出合理工程規格,(2),The End,Thanks,