SPC培训教程（PPT 49页）

单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,John Z. Rao 2001,*,SPC培训教程,一、持续改进及统计过程控制概述,二、SPC基础,三、计数型数据控制图,1,产品质量波动及其统计描述,产品质量特性,定性,定量,连续,离散,计量值,计数值,计件值,计数值,2,变 异,误差 =X-X,0,偶然性误差：误差大小和方向的变化是随机的。,系统性误差：误差大小和方向的变化保持不变或按一定规律变化。,过程控制中常用,精度,这个概念来反映质量的波动（变异）程度。,3,精 度,精度又可分为：,准确度(Accuracy)：,反映系统误差的影响程度；,精密度(Precision)：,反映偶然误差的影响程度；,精确度(Uncertainty)：,反映系统误差和偶然误差综合的影响程度,4,精度的概念,准确度好,精密度好,系统误差小,偶然误差小,准确度差,精密度高,系统误差大,偶然误差小,准确度高,精密度差,系统误差小,偶然误差大,准确度差,精密度差,系统误差大,偶然误差大,5,持续改进及统计过程控制概述,预防与检测,过程控制系统,变差：普通原因及特殊原因,局部措施和对系统采取措施,过程控制和过程能力,过程改进循环及过程控制,控制图：过程控制工具,控制图的益处,6,持续改进及统计过程控制概述之一,检测与预防,过程控制的需要,检测容忍浪费,预防避免浪费,7,持续改进及统计过程控制概述之二,过程控制系统,我们工作,的方式,资源的融合,产品,或,服务,顾客,识别不断变化,的需求和期望,顾客的声音,人,设备,材料,方法,环境,输入,过程/系统,输出,过程的声音,统计方法,有反馈的过程控制系统模型,8,持续改进及统计过程控制概述之三,变差的普通原因及特殊原因,9,SPC基础,SPC (Statistical Process Control),统计过程控制：利用统计技术对过程中的各个阶段进行监控，从而得到保证产品质量的目的。,二十世纪二十年代美国休哈特(W.A.Shewhart)首创过程控制(Process Control)理论极其监控过程的工具控制图(Control Chart)形成SPC的基础，后扩展到任何可以应用的数理统计方法。,控制图(Control Chart)：对过程质量特性记录评估，以监察过程是否处于受控状态的一种统计方法图。,1924年5月6日休哈特提出的不合格样品率P控制图为世界第一张控制图。,10,产品质量的统计观点一,产品质量具有变异性,影响产品质量的因素有6M,Man: 人,Machine: 机,Material: 料,Method: 法,Mother-nature: 环,Measurement: 测,无论人类社会如何进步发展，产品质量不可能保持绝对恒定，一定具有变异性。,11,产品质量的统计观点二,产品质量的变异具有统计规律性,确定性现象，确定性规律：在一定条件下，必然发生或不可能发生的事情。如一个大气压（760mm汞柱）下，H,2,O的变化规律。,温度, 0,固体状态,温度 0, t 25),计算每个子组的不合格率（,p,）,记录每个子组的下列值,被检项目的数量,n,发现的不合格项目,np,计算不合格率,p=,np/p,选择控制图的坐标刻度（,1.52,倍）,将不合格品率描绘在控制图上,29,不合格率的p图,计算控制界限,计算过程平均不合格品率,P=,计算上、下控制界限（,UCL,、,LCL,）,UCL=p+3,LCL=p-,画线并标注,过程平均,水平实线,控制线路（,UCL,、,LCL,）,水平虚线,30,、变化示意图,时间,特性值,不变,倾向性变化,31,、变化示意图,时间,特性值,不变,无规律变化,32,、变化示意图,时间,特性值,规律性变化,不变,33,、变化示意图,时间,特性值,无规律变化,不变,34,、变化示意图,时间,特性值,无规律变化,无规律变化,35,X-R控制图,计量值最常用、重要的控制图,适用范围广：,X图：,X正态,X正态,X非正态近似正态（中心极限定理）,中心极限定理使得X图广为应用。,R图,通过计算机上的模拟试验证实：只要X不是非常不对称，则R的分布无大的变化。,36,X-R控制图,灵敏度高,X图：,X通过平均,R图：无此优点,偶因至少可以部分抵消,（偶因反映在,上）,异因不变,灵敏度高,异因突出,37,X图的控制线,设过程正常，xN(,，,2,),则可证明 XN(,，,2,/n)，n为样本大小,若、已知，则X图的控制线为,UCL=,CL,LCL,38,若,、未知，则需对其进行估计，即,39,A.收集数据,A1 选择子组大小、频率和数据,A2 建立控制图及记录原始数据,A3 计算每个子组的均值（X）和极差（R）,A4 选择控制图的刻度,A5 将均值和极差画到控制图上,40,A1选择子组大小、频率和数据,子组大小,使各样本之间出现变差的机会小,在过程的初期研究中，子组一般由,45,件连续生产的产品的组合，仅代表一个单一的过程流。,子组频率,在过程的初期研究中，通常是连续进行分组或很短的时间间隔进行分组,过程稳定后，子组间的时间间隔可以增加。,子组数的大小,一般,100,个单值读数，,25,个子组,41,42,A2建立控制图及记录原始数据,X-R 图通常是将X图画在R图之上方，下面再接一个数据栏。X和R的值为纵坐标，按时间先后的子组为横坐标。数据值以及极差和均值点应纵向对齐。,数据栏应包括每个读数的空间。同时还应包括记录读数的和、均值（X）、极差（R）以及日期/时间或其他识别子组的代码的空间。,43,A3计算每个子组的极差和均值,画在控制图上的特性量是每个子组的样本均值（X）和样本极差（R），合在一起后它们分别反映整个过程的均值及其变差。,对每个子组，计算：,式中：X,1,，X,2,为子组内的每个测量值。N为子组的样本容量。,44,45,A4选择控制图的刻度,两个控制图的纵坐标分别用于X和R的测量值。,X图：坐标上的刻度值的最大值与最小值之差应至少为子组均值勤（X）的最大值与最小值差的2倍。,R图：刻度值应从最低值为0开始到最大值之间的差值为初始阶段所遇到的最大极差（R）的2倍。,46,A5将均值和极差画到控制图上,将均值和极差分别画在其各自的图上。该工作在确定了刻度以后应尽快完成。将各点用直线联接起来从而得到可见的图形和趋势。,简要地浏览一下所有画上去的点，看它们是否合理，如果有的点比别的点高得很多或低得很多，需确认计算及画图是否正确，应确保所画的X和R点在纵向是对应的。,47,48,49,