晶振主要技术指标解释

相位噪声相位噪声是在振荡器能提供的频率范围内衡最其频率稳定度的一项重耍指标，通常和SSB光谱密度一样用dEc/Hz来做单位。低帚（高水平）的相位噪声要通过良好的电路设计和采用适合的高品质谐振器来达到。电压特性振荡器的振荡频率会随着输入电压的变化U产生微小改变。在输入电压的改变幅度为10%的时候，多数的频率变化范围从lppb到+lppmo电压特性对OCXO影响较小，但刘TCXO影响较大，因为其工作在一个非常低的工作电压环境中。负载特性振荡器的振荡频率会随着接在输出电路上的负载的改变而改变。对一个有着正弦输出波形或数个逻辑门输出的振荡器而言，外接负载在改变10%的情况F,多数的频率变化范围是从从lppb到lpp】m由J：振荡器所接的负载在各种应用中都几乎相同（10K7/10pF）,因此负载变量一般是一个不太重要的指标。频率变动量是用來表示振荡器频率随着外界环境变化而变化的指标。频率变动駅是影响振荡器性能的关键。影响振荡器的频率变动最的要素有：温度特性、老化率（一般强调年老化率）、电源特性、负载特性、热滞后（此指标仅对某些类型的TCXO有意义）、折回和灵敏度。1温度变试：temperaturevariation电源变:Supplyvariation2老化率：Aging负载变ml:loadvariation为了帮助用户更好地了解哪些因素对振荡器的稳定度起影响，我们列表如卜：QCXQI*.TCXO/TGVGXCX%;1QVIlenperahioet4Ao(noYea：iK*tiSupplfIIMRetrjccID114A曲忖必6$冲3诵11ilrinnMr*ESITauiSihiitirrtonnw压控范围压控晶体振荡器外加控制电压由规定最人值变化到最小值时输出频率z差。压控线性度压控线性度与理想直线（函数）相比的输出频率输入控制电压传输特性的一种吊渡。通常是以百分数表示在规定的范闌内频偏的可允许非线性度。A线理想直线B线一实际的压控特性曲线C、D线一偏离极限（均于行J：A线）压控线性度=F/AFX100%温度特性是用來衡磧频率随着周围温度改变而变化的一项指标。测起温度特性的方法是将振荡器放置在一个可控制温度变化的箱体（温箱）内，并把温箱的温度调节至振荡器可产生（工作）稳定频率的最低温度，测帚此时振荡器的振荡频率，然后把温箱的温度逐步升高至振荡器可产生（工作）稳定频率的最高温度，并测覺振荡器在每一个温度点对应的振荡频率。TCXO的温度特性曲线如右图。温度特性计算方法1：ft=（finaxfrniii）/ft：频率温度稳定度（不带参考基准温度点）fTief：频率温度稳定度（带参考基准温度点）fmax：规定温度范FBI内测得的最人频率值fmrn：规定温度范FBI内测得的最小频率值fref：指定的基准参考温度点所测得的频率值老化率振荡器的振荡频率会随着时间的推移而慢慢地发生变化，我们用老化率这一指标來反映此变化。石英晶体的质屋传递和应力松她是影响此指标的首要因素。在一个设计合理的石英晶片或成品上，老化率是随着时间的推移而减少的。所有的老化率检测都是在被严格控制温度的温箱内由机器自动运行。如果使用一个由电脑控制的测试仪来进行测试将会提高效率，因为此类机器可同时对数以百计的振荡器进行测试，它会定时读取每个振荡器的数据。振荡器的老化测试需在指定的老化温度坏境内进行。所有的测最最好使用锄标准钟并遵守相关测试标准，帥标准钟可选用两台HP的基准振荡器，对人批最产品的测试可使用T2System系统来进行。