器件集成与非门电路参数的测试实验报告.doc

集成与非门电路参数的测试一、 实验目的（1） TTL和CMOS与非门的电压传输特性的测试（2） TTL和CMOS与非门的主要参数及测试方法二、 实验器件(1) HBE硬件基础电路实验箱、双踪示波器、数字万用表(2) 元器件：74LS00、CD4011三、 实验内容1. 测试与非门74LS00的电压传输特性测量电路原理如图所示，调节电位器RW，使Vi从0V向5V变化，逐点测试Vi和Vo，列表记录Vi和Vo值。根据测试数据画出门电路的传输特性曲线。+5V+5V电路连线：1413&2+Vi-V+Vo-V7实验数据：Vi0.450.730.831.111.281.391.471.581.69Vo4.444.434.424.243.292.331.520.130.13 传输特性曲线：Vo/V4.543.532.521.510.50 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 1.2 1.4 1.6 1.8 Vi/V 原理： 根据调节上拉电阻接入电路中的电阻值来调节Vo和Vi的大小从而得出关系曲线。VDD +5V2. 与非门电压传输特性曲线与TTL与非门电压传输特性曲线测试方法基本一样。这是将不用的输入端接到电源+VDD(+5V)上即可，不得悬空。下图为用示波器X-Y方式的测试电路，输入信号电压Vi应为+5V正弦直流电压。&141CH1Vi +5.00V32CH27电路连线：如上图。示波器显示：原理：利用信号发生器产生一个连续信号在电路图中的Vi端输入到电路中，再用示波器的X-Y方式显示电路中的CH1和CH2信号的关系图像，动态测试与非门电压传输特性曲线。四、 实验心得此次实验内容很少，但任然花了好长时间才做出来，而且还是在老师帮助下。示波器调节比较难弄，连线也有些纠结，通过此次实验我更加深入得了解了示波器的使用，初步掌握了TTL和CMOS与非门的电压传输特性的测试。