SPC统计制程控制程序

规章、制度系统文件文件类别程序文件文件名称统计制程控制程序版 次2.0核准审核制作持有单位发行章制定、修订记录发布日期发行 版次发行 页次修订 版次修订 页次修 订 内 容 重 点精选资料1、目的规定有关统计过程控制及过程能力分析的方法。2、使用范围本规定适用于设备能力、初始过程能力和长期过程能力的研究。3、术语3.1 变差：也称波动，指同一过程输出个体间的差异。3.2 初始过程能力：是过程总变差的总范围（6bs）。3.3 过程能力：某一稳定过程固有变差的总范围（6（T R/d2 ）。3.4 初始过程能力指数：不考虑过程有无偏移，定义为容差宽度除以过程能力，用以评价生 产过程准备情况。3.5 过程能力指数：不考虑过程有无偏移，定义为容差宽度除以过程能力，用以评价某一稳 定过程的输出同规范要求（顾客要求）的关系。3.6 Cmk （设备能力指数）：衡量所使用的设备是否满足零件加工精度的要求的定量化指标。3.7 统计过程控制：适用诸如控制图等统计技术来分析过程或其输出，以便采取适当的措施 来达到并保持统计控制状态，从而提高过程能力。3.8 控制图：用来表示一个过程特性的图像，图上标有根据那个特性收集到的一些统计数 据，一条中心线，一条或两条控制限。它能减少I类或II类错误的净经济损失。它有两 个基本的用途：一是用来判定一个过程是否一直受统计控制；二是用来监控过程保持受 控状态。控制图可分为计量型和计数型两大类。计量型的过程表现为得到的质量特性为可度量 的数值（如直径、长度等），计数型表现为只有两个数值（如合格/不合格，成功/失败）， 但他们可以被计数从而用来记录和分析。4、职责4.1 新产品试制阶段，由产品质量先期策划小组依据产品 /过程特殊特性，制定设备能力、 初始过程能力研究计划，并组织实施。4.2 批量生产阶段，由技术部技术人员负责制定计划（或依特殊情况），收集数据及计算，并 正确评价。4.3 若统计过程不受控，相关职能部门应制定过程纠正预防措施并实施。4.4 技术部监督并验证过程纠正预防措施的实施。4.5 正常生产过程中，确保每半年对关键、重要特性(可收集计量型数据的)进行一次Cpk值研究。当顾客有特殊要求时，执行顾客要求。5、工作内容及控制方法5.1 设备能力的测算5.1.1 确定所研究的对象分析和加工零件的待测特性及规范公差，测量方法和测量工具。5.1.2 样本数：最小样本为50件。5.1.3 研究时机：新零件、新设备/模具、公差带压缩、设备大修、设备更新、机器搬迁、 长期停产等。5.1.4 采集样本的时机在做完测量系统分析并合格后，按规定的样本数连续采集数据并记录。5.1.5 计算公式X = Z2Xi/nS= E (Xi-X ) 2 (n-1)Cm=(USL-LSL)/6SCmk=min(USL-X)/3S -，(X-LSL ) /3S S过程变差的平方根n采集的样本数Xi 样本的测量值X样本的平均值USL 公差的上限LSL 公差的下限5.1.6 设备能力的评价Cmk >1.67,设备有满足质量指标的加工能力，可使用于指定生产；Cmk <1.67 ,设备能力不足，应对该设备加工的所有零件进行100%检验，并对设备进行检修，检修后重新进行Cmk研究。5.1.7 保存设备能力测算表由生产部负责保存，期限长期。5.2 过程性能及过程能力研究5.2.1 制定 “ Ppk、Cpk 计划”5.2.2 绘制分析用控制图（X-R图为例）5.2.2.1 收集数据并记录在控制图上，同时与控制图下面记录过程相关事件。5.2.2.2 计算每一子组的均值和极差，并记录在控制图上。X= EXi/n , R=Xmax-Xminn：子组中样品数量Xi :子组中每一样品测量值Xmax :子组中最大样品测量值Xmin :子组中最小样品测量值5.2.3 选定控制图的刻度5.2.4 按平均值和极差值在控制图上描出对应点。5.2.5计算极差均值和过程面值X,并按均值在控制图上画出中心线。5.2.6kR =iRi公中：k ：子组数Ri:每一个子组的极差Xi :每一个子组的均值 计算控制限 _UCL k D4RLCL 产D3 RUCL x=X + A 2 RLCL x= X -A 2 R式中A2, D3, D4根据子组容量表查得出5.2.7按计算结果在均值图和极差图中画出控制限。5.2.8分析控制图是否随即分布:a.点：出现超出控制线的点;b.链：产生连续七点上升/下降/在平均值的一侧的点;c.明显的非随机图形：显著多于（或少于）2/3的点落在离均值很近之处。若有上述非随机分布现象，则:去除非随机点，重新计算控制界限，再次分析控制图；如需采取纠正措施，改进过程，则应在纠正措施实施有效后重新收集数据，制作控制图并重新进行分析。5.2.9 计算初始过程能力指数：(试生产阶段进行或过程改变)Pp= (USL-LSL ) /6(7 s式中：USL:规范的公差上限LSL :规范的公差下限bs：总体样本标准差在过程有偏移的情况下Ppk=min(USL-X)/3 = s s , (X-LSL)/36 s s n E (Xi- X ) 2/ ( n -1 )1=15.2.10 评价初始过程能力指数Ppk>1.67 :满足要求，可以进入批量生产阶段。Ppk<1.67 :初始能力需改进减少特殊原因引起的变差，将过程均值调整到接近目标值。减少特殊原因引起的变差，减少单个过程特性值的变差。改变规范使之与过程能力一致。5.2.11 生产现场品检人员制作控制用控制图：5.2.11.1 将初始过程满足质量要求所到的控制中心线与上、下控制限画在控制图上。5.2.11.2 按初始过程能力研究确定的子组大小收集样本，记录过程事件。5.2.11.3 计算每组样本的均制和极差，并在控制图上描点。5.2.11.4 分析控制图上的点是否随机分布(方法同5.1.8 )5.2.12 计算过程能力指数Cp=(USL-LSL)/ 6 f R/d2 Cpk=min(USL-X)/ -3 R R/d2 , (X-LSL )/ 3 R R/d2 其中6选=R /d 2 ,式中d2根据子组容量查表得出Cpk 过程等级评价处理原则>1.67特级理想1 .可以考虑放宽对特性波动的控制2 .收缩标准范围，提高质量要求1.33 vCpkw 1.67一级正常1 .天键特性小变，非天键特性可降低对波动的限制；2 .简化检验，换全检为抽检或减少抽检频次。1.00 vCpkw 1.33二级略显 不足1 .当为1.33时，处于正常状态；2 .当接近1时，应加强管理；3 . 一般不能简化检验。0.67 vCpkw 1.00三级不足1 .分析产生不足的原因，采取措施加以改进；2 .加强检验，实行全数检验或考虑放宽标准范围。Cpkv 0.67四级严重 不足1 .停止加工，立即追查原因；2 .采取措施，实行全数检验加以筛选。5.2.12.1 评价过程能力：（批量生产阶段进行）5.2.12.2 初始过程能力只在过程刚刚建立或改变时分析计算，批量生产产品过程能力每半 年计算一次。5.2.12.3 过程能力测算由技术部保存，期限三年。初始过程能力测算表提交先期质量策划 小组。6、形成文件和记录控制图