基于93000ATE系统的高速高分辨率ADC集成芯片测试技术研究课件

,*,*,*,基于,93000ATE,系统的高速高分辨率,ADC,集成芯片测试技术研究,基于93000ATE系统的高速高分辨率ADC集成芯片测试技术,测试结果与工作总结,课题背景及意义,ATE,测试技术简介,ADC,相关测试理论,测试方案设计与实现,主要内容,测试结果与工作总结课题背景及意义ATE测试技术简介ADC相关,ADC,应用,ADC,在信息产业技术的多个领域中得到了广泛的应用。,ADC,发展,随着,IC,产业的飞速发展，,ADC,朝着高速和高精度方向发展。,ATE,应用,所有的商用化芯片最终都要依赖于,ATE,设备进行量产测试。,ATE,发展,各类,ATE,测试系统的性能提升明显落后于,ADC,产品性能的发展,.,课题意义,基于现有,ATE,测试系统，配合研究开发高性能的外加模块将是一种可能的优化方案。,课题背景及意义,ADC应用ADC在信息产业技术的多个领域中得到了广泛的应用。,主要,vendor,ATE(Automatic Test Equipment,）是自动化测试设备的英文缩写，是一种通过计算机控制进行器件、电路板和子系统等测试的设备。,ATE,设备通过计算机编程取代人工劳动,自动化的完成测试序列。,Teradyne,Verigy,AdvanTest,LTX-Credence,ATE,测试技术简介,主要vendorATE(Automatic Test Equ,Verigy93000,测试机,ATE,测试技术简介,Verigy93000测试机ATE测试技术简介,动态参数,信噪比,(SNR),、总的谐波失真,(THD),、有效位数,(ENOB),、无杂散动态范围,(SFDR),、信号噪声失调比,(SNDR),、动态范围（,DR,）、交调失真,(IMD),、输入带宽等等。,静态参数,分辨率、精度、失调,(,或零点,),误差,(Offset Error),、增益误差,(Gain Error),、积分非线性误差,(INL),、微分非线性误差,(DNL),及温度系数等。,ADC,主要测试参数,ADC,相关测试理论,动态参数静态参数ADC主要测试参数ADC相关测试理论,ADC,静态参数测试,-,码密度直方图测试法,ADC,动态参数测试,-FFT,测试法,相关采样定理,-,频谱泄露与窗函数技术,ADC,相关测试理论,ADC静态参数测试-码密度直方图测试法 ADC动态参数,在高速高分辨率,ADC,测试中，主要有两方面因素影响其测试指标性能。,输入信号的质量,ADC,采样时钟的抖动,而且随着输入信号频率的提高时钟抖动问题对,ADC,信噪比的影响将会越来越明显。,影响,ADC,测试性能的主要因素,ADC,相关测试理论,在高速高分辨率ADC测试中，主要有两,输入信号对,ADC,测试性能的影响,ADC,相关测试理论,输入信号对ADC测试性能的影响ADC相关测试理论,输入时钟对,ADC,测试性能的影响,ADC,相关测试理论,输入时钟对ADC测试性能的影响ADC相关测试理论,分辨率为,12bit,、最高采样速率为,125MHz,、输入带宽为,650MHz,测试方案设计与实现,测试用,ADC-AD9233,分辨率为12bit、最高采样速率为125MHz、输入带宽为6,ADC,单端输入,ADC,差分输入,ADC,输入电路设计,测试方案设计与实现,ADC ADCADC输入电路设计测试方案设计与实现,ADC,输入电路设计,测试方案设计与实现,阻容无源网络,变压器,放大器,ADC输入电路设计测试方案设计与实现阻容无源网络变压器放大器,ADC,时钟电路设计,测试方案设计与实现,ADC时钟电路设计测试方案设计与实现,可能的信号源,可能的时钟源,测试方案设计与实现,可能的信号源可能的时钟源测试方案设计与实现,测试方案最终版,schematic,测试方案设计与实现,测试方案最终版schematic测试方案设计与实现,测试结果与工作总结,Filter,测试结果,测试结果与工作总结Filter测试结果,Jitter,测试结果,93K,数字通道,Jitter,测试结果,Crystal Jitter,测试结果,测试结果与工作总结,Jitter测试结果93K数字通道Jitter测试结果Cry,ADC,静态参数测试结果,测试结果与工作总结,ADC静态参数测试结果测试结果与工作总结,ADC,低频动态参数测试结果,测试结果与工作总结,ADC低频动态参数测试结果测试结果与工作总结,ADC,高频动态参数测试结果,测试结果与工作总结,ADC高频动态参数测试结果测试结果与工作总结,ADC,高频动态参数测试频谱图对比,AD9779A,信号源,E8267D,信号源,Crystal,信号源,测试结果与工作总结,ADC高频动态参数测试频谱图对比AD9779A信号源E826,已解决的几个关键技术问题：,从理论上分析证明了影响测试,ADC,最为关键的两个外 在因素，即采样时钟抖动,(Jitter),和测试输入信号自身质量对测试结果的影响；,验证了满足量产要求的时钟源、信号源技术方案与器件选择问题；,实现了增加窗函数条件下,SNR,、,THD,等参数计算算法及验证；,实现了与,ATE,不同源,(,不同步,),时钟采集条件下的数据精确采集和处理算法。,目前仍存在的问题：,THD,、,SFDR,、,SPUR,等参数指标稍微偏高；,还没有经过严格的量产测试考验,。,测试结果与工作总结,已解决的几个关键技术问题：测试结果与工作总结,谢谢各位老师!,谢谢各位老师!,