EMC测试项目详解课件

单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,EMC,定义,EMC定义,EMC,：,Electromagnetic compatibility,，电磁兼容性,EMC,定义,：在同一电磁环境中，设备能够不因为其他设备的干扰影响正常工作，同时也不对其他设备产生影响工作的骚扰。,EMC,三要素，缺少任何一个都构不成,EMC,问题,干扰源,敏感设备,耦合途径,EMC：Electromagnetic compatibil,常见缩略语,EMC (Electromagnetic Compatibility),：电磁兼容性,EMI (Electromagnetic Interference),：电磁干扰,EMS (Electromagnetic Susceptibility),：电磁抗扰度,OATS (Open Area Test Site),：开阔场,CISPR,：国际无线电干扰特别委员会,IEC (International Electrotechnical Commission),：国际电工委员会,EUT (Equipment Under Test),：受试设备,FCC,（,Federal Communication Commission,）：联邦通信委员会,CE,：字母,CE,是法文句子,C,onformit,E,uropene,的缩写，意指欧盟。,常见缩略语EMC (Electromagnetic Comp,EMC,EMI(,自身,),EMS(,外界,),EMCEMI(自身)EMS(外界),针对体外诊断设备设备的专门要求,某一类产品的标准，例如：,IEC/EN 61326-1),：测量、控制和实验室用电气设备 电磁兼容性要求 第,1,部分,:,一般要求,规定了一系列试验方法与限值要求，并且给出了这些方法要 求适用于什么环境，例如：,EN61000-6-2,：工业区 环境抗扰度通用标准是制定其它,EMC,标准的基础，通常不涉及具体产品类别。,例如：,IEC/EN 61000-4-X,系列标准,基础标准,通用标准,产品类标准,产品类专标,基础标准通用标准产品类标准产品类专标,常见,EMC,测试项目,EMC,：电磁兼容性,EMI,：电磁干扰,EMS,：电磁敏感,RE,CE,Harmonics,Flicker,辐射发射,传导发射,谐波电流,闪烁,RS,CS,ESD,EFT/B,Surge,PMS,辐射抗扰度,传导抗扰度,静电抗扰度,电快速瞬变脉冲群,浪涌抗扰度,工频磁场抗扰度,Dips,电压跌落,/,短时中断,常见EMC测试项目EMC：电磁兼容性EMI：电磁干扰EMS：,RE,：,Radiated emission,RE,主要是考察设备在正常工作时自身对外界的辐射干扰强度，测试频段根据不同的标准要求不同，在,CISPR 22,中，测试频段为,30,1000MHz,，值得注意的是设备进行,RE,测试时标准要求尽可能满配置、满负荷的运行。,RE,问题是,EMC,中的难点。主要因为,RE,设计产品,EMC,设计的各个环节：屏蔽、滤波、接地。,RE：Radiated emissionRE主要是考察设备在,在,RE,测试中，天线的高度、天线的极化方向以及转台的角度都需要不断改变，以求检测到设备辐射的最大点。,RE,测试可以在开阔场和半电波暗室内进行。,在RE测试中，天线的高度、天线的极化方向以及转台的角度都需要,CE,：,Conducted emission,任何一个非便携式设备都和其他设备有电缆互连关系，无论是通过电源电缆还是信号电缆，只要有这种互连关系的存在，设备就有一个途径将自身的共模电流传导给与其互连的设备，这种现象就叫传导干扰，又成为传导发射。,传导发射包含两个部分：电源端,CE,和通信端,CE,电源端,CE,：测试设备通过自己的电源端口向交流电网或直流配电网络传送的干扰，测试频段为,150kHz,30MHz,。,通信端,CE,、测试频段同上，此处描述的通信端指得是针对接驳到公网的端口，如网口、,ISDN,口等才有,CE,测试要求，而对于接终端的信号端口如音视频端口则无,CE,要求。,CE：Conducted emission任何一个非便携式设,CE,：,测试示意图（电源端）,LISN,：,Line impedance stabilization network,线路阻抗稳定网络，用来,进行电源端,CE,测试时的阻抗稳定，并且该网络上面有一取样端子，,EUT,沿电源线向外的干扰就从此端子取出，送至接收机进行检波。,CE：测试示意图（电源端）LISN：Line impedan,Harmonics,：,交流电源谐波,设备的输入电压为正弦波（,50Hz,或者,60Hz,），当该电压的输入负载为非线性电路时，将会使得输入电流发生畸变，即输入电流不为正弦波，根据傅利叶变换，非正弦波信号在频域将会存在谐波，这些谐波电流将会降低设备电源的使用效率，并且会倒灌至电网，对电网产生污染。,测试上限为基频的,40,次谐波频率。,Harmonics：交流电源谐波设备的输入电压为正弦波（50,Flickers,：,交流电源闪烁,考察设备电源模块引起输入电源的频率变化能力，该中频率变化从设备端口反灌入电网，会引起电网频率的波动，导致对人体的伤害。,Flickers：交流电源闪烁考察设备电源模块引起输入电源的,静电放电,ESD,：,Electrostatic discharge,ESD,：静电放电，考察设备在接收外界静电源（如带电人体、带电设备等）所产生的直接放电或静电场干扰时的抵抗能力。,静电波形及参数,Tr,约为,0.7,至,1ns,，因上升时间非常短，根据傅利叶变换，其产生干扰的频率可以延伸至,500MHz,静电放电ESD：Electrostatic discharg,静电放电试验包含两个部分：,直接放电和间接放电,直接放电,：,又包含接触放电和空气放电,接触放电主要针对设备表面的金属裸 露部分进行。,空气放电主要针对设备表面覆盖有绝缘物质的地方进行，入喷有绝缘漆等。,直接放电主要模拟人体或其他带电源直接对设备放电的现象。,间接放电,：只包含接触放电,对水平耦合板和垂直耦合板进行放电，耦合板距离设备一定距离，耦合板通过两个,470k,欧姆的电阻接地，所以当对耦合板放电时，耦合板上的静电不会马上泄放到地，而以耦合板为静电源形成一静电场，对设备进行干扰。,模拟设备抗静电场干扰的能力,静电放电试验包含两个部分：,辐射抗干扰,RS,：,Radiated susceptibility,RS,：辐射抗干扰，该项试验的目的主要用来考察设备对于外界电磁场干扰的抗扰能力，例如在设备附近使用无线通讯设备时，设备已经在进行一场考验了，测试频段：,80MHz,2500MHz,，使用,1kHz,或,2Hz,的正弦波进行调幅。该项试验一般在全电波暗室内进行。,辐射抗干扰RS：Radiated susceptibilit,EFT/B,：电快速瞬变脉冲群,EFT/B,：电快速瞬变脉冲群,模拟设备附近或设备所在的电网中发生切断感性负载时导致的脉冲干扰,(,开关触点间隙的绝缘击穿或触点弹跳等原因，在断开处产生的暂态骚扰,),。,EFT/B,波形及主要参数,双指数脉冲,15ms,脉冲串,(5kHz),脉冲串间隔是,300ms,EFT/B：电快速瞬变脉冲群EFT/B：电快速瞬,Surge,：,浪涌试验,浪涌试验用来模拟自然雷击或者电网中接入大容性负载时所产生的脉冲对设备的影响。包含电源端和信号端测试。,电源端测试,包括,L,和,N,线间、,L,对保护地、,N,线对保护地、,L&N,对保护地，其中第一种属于差模干扰，后三种为共模干扰。,信号端测试,如果是屏蔽线，干扰加在屏蔽层上，如果是地线，干扰加在信号线上，例如对用户线，直接加在,AB,线上。,Surge：浪涌试验 浪涌试验用来模拟自然雷击或者电网中,Surge,：,浪涌波形,浪涌波形有：,1.2/50(8/20),组合波，,10/700,电压波，其中,1.2/50,、,1.2/50(8/20),波形用在电源端和室内信号端的试验上，而,10/700,电压波用在室外信号端的浪涌试验上。,上述波形中的,1.2,、,8,和,10,都是指波形的波前时间，单位为,us,，,50,、,20,和,700,指得是波形的脉宽，单位也为,us,，可见浪涌波形的能量远大于,EFT/B,和静电，但是干扰频宽却要窄得多。,Surge：浪涌波形浪涌波形有：1.2/50(8/2,Surge,：,试验方法,Surge：试验方法,传导骚扰抗扰度,CS,：,Conducted susceptibility,现在的空间存在太多的电磁噪声，当空间的电磁波的波长和设备线缆的长度可以比拟时，电磁波将会耦合在此段线缆上并产生感应电压,/,电流，沿着该电缆流进设备内部，从而对设备的正常工作产生干扰，上述的设备线缆包含电源线和信号线。,电源端,CS,试验,此时频段,150kHz,80MHz,，加入的试验电压根据产品类型不同而不同。,信号端,CS,试验,测试频段同电源端试验，加扰的强度也因产品类型不同而不同。,传导骚扰抗扰度 CS：Conducted suscept,CS,：,试验连接示意图,信号端试验连接图,EM CLAMP,EUT,ATTENUATER,SIGNAL GENERATER,AMPLIFIER,AUX,G.R.P,0.1m,0.4m,0.4 m,CS：试验连接图示意图0.3m CDNATTENUATER,PMS,：,Power-frequency magnetic susceptibility,试验仪器,EUT,线圈,50Hz,电流,PMS,：工频磁场试验主要模拟,50Hz,工频电力线所构成的磁场（如大型变压设备附近的磁场等）对设备的影响，对此项试验较敏感的主要是产品内部有磁敏感设备，如带线圈的设备如,CRT,或设备内有摩尔器件等。,试验示意,PMS：Power-frequency magnetic s,DIP/interruptions,：,试验介绍,DIP/interruptions,：该试验主要是模拟交流电网中接入大功率设备引起的电网电压下降甚至短时中断的现象，考察设备在处于这种工作状态中的性能稳定性。,跌落深度,持续时间,性能判据,70,500ms,C,40%,200ms,C,0,10ms,B,0,5s,C,DIP/interruptions：试验介绍DIP/inte,Thank you,Thank you,DIP/interruptions,：,试验介绍（续）,试验仪器控制试验的跌落深度、持续时间以及跌落相位。,其中相位为,0,、,45 ,、,90 ,、,135 ,、,180 ,、,225 ,、,270 ,、,315 ,、,360 ,。,DIP/interruptions：试验介绍（续）试验仪器控,谢谢大家！,谢谢大家！,谢谢大家！,谢谢大家！,