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,*,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,嵌入式实验,1,（汇编）,一、实验内容：,1,、实验电路,如图所示,。编程实现：,K1,键第一次按下，,LED1,点亮；,第二次按下时，,LED2,点亮；第三次按下时，,LED3,点亮；第四次按,下时,LED4,点亮。第,5,次按下时,LED1-LED4,全部熄灭，然后重复以上过程。,二、实验设备,1,、,PC,机,2,、,ARM2410,实验箱,3,、,JTAG,仿真器,三、实验要求：,1,）初始化,I/O,口的程序设计成子程序结构。,2,）使用伪指令,EQU,来确定,I/O,口的地址。,例,:rGPECON EQU OX56000000,3,）提供电子档的实验报告,下,返,返,JTAG(Joint Test Action Group;,联合测试行动小组,),是一种国际标准测试协议（,IEEE 1149.1,兼容），主要用于芯片内部测试。现在多数的高级器件都支持,JTAG,协议，如,DSP,、,FPGA,器件等。标准的,JTAG,接口是,5,线：,TMS,、,TCK,、,TDI,、,TDO,，,TRST,分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出及复位线。,JTAG,最初是用来对芯片进行测试的，,JTAG,的基本原理是在器件内部定义一个,TAP,（,Test Access Port;,测试访问口）通过专用的,JTAG,测试工具对进行内部节点进行测试。,JTAG,测试允许多个器件通过,JTAG,接口串联在一起，形成一个,JTAG,链，能实现对各个器件分别测试。现在，,JTAG,接口还常用于实现,ISP,（,In-System Programmable,在线编程），对,FLASH,等器件进行编程。,返,边界扫描寄存器,TAP,MCU,外围输入输出通道,TCK,TMS,TDI,TRST,TDO,
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