统计过程控制质量参数的定性分析常用方法的介绍课件

研发中心,统计过程控制质量参数的定性分析常用方法的介绍,控制图制作及C,P,值与C,PK,值计算,研发中心,前言,我们知道：21世纪是一个“质量的世纪”。因此，要使我公司产品在市场上立于不败之地，就要采用先进的技术科学与管理科学。一般说来，先进的技术科学可以提高产品质量指标的绝对值，而先进的质量管理科学可以在现有条件下将产品质量波动调整到最小。,基于上述目的，我部在公司范围内，大力推行统计过程控制技术。也就是应用统计技术对过程中的各个阶段进行评估和监控，建立和保持过程处于可接受的并且稳定的水平，从而保证我司的产品质量，提高顾客满意度。,统计过程控制中的主要工具就是控制图理论，而衡量过程加工质量方面的能力指数就是C,P,值与C,PK,值。下面就上述两个方面进行一个简单的介绍。,研发中心,辅导材料目录,第一部分：控制图原理及其制作,一、控制图原理：,二、控制图的两类错误：,三、常规控制图的设计思想及判异原则：,四、XR与XS图 的制作实例介绍。,第二部分：过程能力指数（C,P,值）的分类及其计算方法,一、过程能力的概念及过程能力指数的分类：,二、在3种情况下的过程能力指数的计算：,三、C,P,值与C,PK,值的比较与说明：,四、计算实例介绍。,研发中心,第一部分：一、控制图原理：,1、控制图原理的两种解释：,控制图原理的第一种解释：若生产过程正常，用,3作为控制线，质量参数出界的概率大约为1,0,/,00,左右；但,若生产过程异常，参数出界的概率可能为1,0,/,00,的几十倍乃至,几百倍。用数学语言来说，这就是小概率事件原理：小概率,事件在一次实验中几乎不可能发生，若发生即判断为异常。,控制图就是统计假设检验的一种图上作业。在控制图上每描,一个参数点，就是作一次统计假设检验。,控制图的第二种解释；产品质量波动可分为偶然波动,与异常波动两种。而偶然波动是不可避免的，但对质量的影,响一般不大；异常波动则不然，它对质量的影响大，是可以,通过采取恰当措施加以消除。故在控制过程中，造成异常波,动的异因才是我们注意的对象。,研发中心,一、控制图原理（二），二、控制图的两类错误,我们假设在控制过程中，异常波动已经消除，只剩下偶然的正常波动；这时，应用统计学原理设计出控制图相应的控制界限；一旦异常波动发生时，参数点子就会落在界外。因此，点子频频出界，就表明存在异常波动。控制图上的控制界限就是区分偶然波动与异常波动的科学界限。,二、控制图的两类错误：,控制图对过程的监察是通过抽检来进行的，很经济。但抽检不可能不犯错误。,1、第一类错误：虚发警报。,生产正常而点子偶然超出界外，根据点子出界就判异，于是就犯了第一类错误。通常犯第一类错误的概率记以。第一类错误将造成寻找根本不存在的异因的损失。,研发中心,二、控制图的两类错误（二）三、常规控制图的设计思想及判异原则：,2、第二类错误：漏发警报。,过程已经异常，但仍会有部分产品，其质量特性值大小仍位于控制界限内。如果抽取到这样的产品，点子就会在界内，从而犯了第二类错误，即漏发警报。通常犯第二类错误的概率记以。第二类错误将造成不合格品增加的损失。,三、常规控制图的设计思想及判异原则：,1、常规控制图的设计思想：是先定犯第一类错误的概率，再看犯第二类错误的概率。按照3方式确定的三条控制线，就等于确定了,0,=0.27%。但是，统计质量控制的奠基人休哈特为了增加使用者的信心把常规控制图的取得特别小，这样就大，这就需要增加第二类判异准则，即使点子不出界，但当界内点排列不随机也表示存在异常因素。,研发中心,三、常规控制图的设计思想及判异准则（二,）,2,、判异准则（共8条）,点子落在,A,区之外；,连续,9,点落在中心线同一侧；,连续,6,点递增或递减；,连续,14,点相邻点上下交替；,连续,3,点中有,2,点落在中心,线同一侧的,B,区以外；,连续,5,点中有,4,点落在中心,线同一侧的,C,区以外；,连续,15,点落在,C,区中心线 上下；,连续,8,点在中心线两侧，但无一在,C,区中。,A,B,C,C,B,A,UCL,CL=X,（,中心线,）,LCL,研发中心,研发中心,研发中心,研发中心,研发中心,研发中心,研发中心,研发中心,第二部分：过程能力指数（C,P,值）的分类及其计算方法,一、过程能力的概念及过程能力指数的分类,：,1、过程能力的概念：过程能力也称为工序能力。它是指过程加工质量方面的能力，也是衡量过程加工内在一致性的，是稳态下的最小波动。它只决定于质量因素：人、机、物、料、环；而与公差无关。,当过程处于稳态时，产品的计量质量特性值有99.73%落在3的范围内，其中为质量特性值的总体均值，为质量特性值的总体标准差，也既有99.73%的产品落在上述6范围内，这几乎包括了全部产品。故通常用6倍标准差（6）表示过程能力，它的数值越小越好。,2、过程能力指数的分类：按双测公差与单测公差及有偏移的情况过程能力指数分为3种情况。以下分别进行介绍。,研发中心,二、在3种情况下的过程能力指数的计算：,1、双测公差情况下的过程（工序）能力指数的计算：,C,P,=T/6=T,U,-T,L,/6（当已知时）,当未知时，可用,1,=R/d2,2,=S/C,4,进行估计（d,2,，C,4,为系数，可查表得知）,2、单测公差情况的过程（工序）能力指数的计算：,只有上公差要求的过程能力指数的计算：,C,PU,=T,U,-/3（XT,U,）,只有下公差要求的过程能力指数的计算：,C,PL,=-T,L,/3（XT,L,）,3、有偏移情况的过程（工序）能力指数的计算：,研发中心,当产品质量特性值分布的均值与公差中心M不重合，既有偏移时，不合格品率必然增大，C,P,值降低；按C,P,=T/6=T,U,-T,L,/6公式计算的过程能力指数不能反映有偏移的实际情况，需要加以修正。既分布中心与公差中心M的偏移为=M-定义与M的偏移度K为：K=/2T=2/T(0K1)则过程能力指数修正为：K=/2T=2/T(0K1)则过程能力指数修正为：C,PK,=（1-K）T/6（1-K）/6 这样，当=M（即分布中心与公差中心无偏移时），K=0，C,PK,=C,P,（注意：C,PK,也必须在稳态下求得。）,三、C,P,值与C,PK,值的比较与说明：,根据上面的介绍，无偏移情况的C,P,值表示过程加工的一致性，即“质量能力”C,P,值越大，则质量能力越强；而有偏移的情况的C,PK,值反映过程中心与公差中心M的偏移情况，C,PK,值越大，则两者偏移越小，是过程的“质量能力”与“管理能力”二者综合的结果。二者的测重点不同，需要同时加以考虑。,二、在3种情况下的过程能力指数的计算（二）,研发中心,谢谢大家！,研发中心,