SPC训练课程15952

按一下以編輯母片標題樣式,按一下以編輯母片文字樣式,第二層,第三層,第四層,第五層,Datech Electronic Corp.Ltd,Statistical Process Control Introduction,我們必須實施統計製程管制,檢驗 容許浪費,預防 避免浪費,Statistical Process Control Introduction,Statistical Process Control Introduction,一般機遇原因:,特殊原因,:,由於機器(清潔度、磨損等)、工具(強度、損壞率等)、材料(硬度、尺寸等)、人員的不同,，,而導致產品間的差異,由於,機器調整錯誤、作業員疏失及不合格的原料半成品，導致不合格品成不規則的方式出現,Statistical Process Control Introduction,局部矯正措施(製程管制):,系統矯正措施(製程能力分析),:,通常用於消除特殊原因所造成的變異。,通常由製程現場人員實施。,使用管制圖、柏拉圖、魚骨圖等工具。,通常可解決,15%,的製程問題。,通常用於減少一般原因所造成的變異。,通常由管理者進行系統面的改善。,使用實驗設計、田口方法、迴歸分析等工具。,通常可解決85%的製程問題。,Statistical Process Control Introduction,製程能力,:,消除所有特殊原因變異後，系統穩定的程度,製程管制,製程能力,管制中,非管制中,可接受,CASE1,CASE3,不可接受,CASE2,CASE4,CASE1：製程目前維持管制中，且其製程能力可被管理者及顧客接受。,CASE2：製程目前雖在管制中，但一般機遇原因所造成的變異必須減低。,CASE3：製程能力可為管理者及顧客所接受，但必須尋找特殊原因所造成的變異並消除。,CASE4：一般機遇原因及特殊原因所造成的變異都太大。,Statistical Process Control Introduction,製程改善循環,:,1.分析製程,製程將完成哪些事？,哪些因素會使製程失效？,製程現在的狀態為何？,2.製程維護,製程狀態監控。,偵測特殊原因變異並消除。,3.改善製程,深入瞭解製程的一般原因變異。,減少一般原因的變異。,Statistical Process Control Introduction,管制圖使用流程,:,1.蒐集資料,蒐集製程或品質特性的數據，並繪製於管制圖上。,2.管制,依照蒐集的數據計算管制圖的上下限，如果有數據超出管制界限，則必須尋找該點異常的原因，待異常原因消除後再重新計算管制上下限。,3.分析及改善,待管制圖內的所有點都在管制上下限內後，管制圖便形成一管理的工具，新的資料在蒐集計算後將之與上下限比較，以判定目前製程的狀態，同時製程能力指數也可以開始計算，以評估目前一般機遇原因所造成變異的情形。,Statistical Process Control Introduction,X,及R-Chart,:,1.建立使用的環境：管理者必須指派特定的人員負責，並支持改善的動作。,2.定義製程：必須瞭解製程的上下關係(前後製程)，並熟悉製程內的各項,投入(5M)，因果圖及流程圖可幫助對製程的瞭解。,3.決定製程(品質)特性：,4.定義量測系統：必須定義製程(品質)特性是在何處，使用什麼工具，在什,麼環境下進行量測，量測的結果必須具有,可重覆性,與,再現性,。,5.減少不需要的變異：儘量減少不必要的干擾源，如人員、工具的更換、材,料的變更等。,考慮客戶(含下製程)的需求。,考慮目前或潛在性的問題所在，此提供一個改善品質的機會。,製程(品質)特性間的共同點。,Statistical Process Control Introduction,X,及R-Chart,:,1.樣本大小：通常為2至5，樣本大小必須能反映出目前製程的狀態。,2.抽樣頻率：管制的目的是要偵測出製程的變化，因此抽樣頻率的選擇必,須能反映出製程可能變化的時機，如換機種時、作業員精神較差時。,3.抽樣數：抽樣數愈多愈能反映出製程實際的情形，一般而言25以上才足夠。,R=X(最大)X(最小),=,=,=,樣本點,:,中心線,:,上界限:,下界限,:,Statistical Process Control Introduction,R Chart 之解釋,:,如果樣本點落在管制界限的上方，或連續7點都在中心線的上方，或連續7點增加，代表,生產的變異程度增加了。,量測系統的改變(不同的檢驗員及量具或量具偏移)。,計算錯誤或標圖錯誤。,如果樣本點落在管制界限的下方，或連續7點都在中心線的下方，或連續7點遞減，代表,生產的變異程度降低了。(變好了),量測系統的改變(不同的檢驗員及量具或量具偏移)。,計算錯誤或標圖錯誤。,X,Chart 之解釋,:,樣本點超出了上下管制界限或連續7點都在中心線的同一側，或連續7點遞增(減)，則代表,製程的中心值或平均值偏移了。,量測系統的改變(不同的檢驗員及量具或量具偏移)。,計算錯誤或標圖錯誤。,Statistical Process Control Introduction,Required Rules from Dell,:,Rules 1 through 8 apply to Average and Individuals charts.Rules 1 through 4 apply to P,NP,C,and U charts.Rule 1 One point beyond the Control LimitsRule 2 Nine points in a row in Zone C or beyondRule 3 Six points in a row steadily increasing or,decreasingRule 4 Fourteen points in a row alternating up and,downRule 5 Two out of three points in a row in Zone A or,beyondRule 6 Four out of five points in Zone B or beyondRule 7 Fifteen points in a row in Zone C,above and,below thecenter lineRule 8 Eight points in a row on both sides of the,center line withnone in Zone C,Statistical Process Control Introduction,製程能力的解釋,:,抽樣點落在規格內的機率,雙邊規格,製程能力指數則定義為Z的1/3也就是,Z=最小值,單邊規格,或,Cpk=1,製程良率=99.865%,Cpk=1.33,製程良率=99.9967%,=,Statistical Process Control Introduction,製程精密度的解釋,:,公差與製程變異的比值,雙邊規格,單邊規格,Statistical Process Control Introduction,製程精密度的解釋,:,第一級 Cp 1.67：產品變異如大一些也不要緊，考慮管理的簡單化或成本降低方法。,第二級 1.67 Cp 1.33：理想的狀態故維持現狀。,第三級 1.33 Cp 1.00：確實進行製程管理，使其能保持在管制狀態，當Cp 值近於1時，恐怕會產生不良品，儘可能改善為第二級。,第四級 1.00 Cp 0.67：產生不良品，產品須全數選別，並管理改善製程。,第五級 0.67 Cp：品質無法在滿足的狀態，須進行品質改善、探求原因、採取緊急對策，並重新檢討規格。,Statistical Process Control Introduction,製程能力的解釋,:,第一級 Cpk 1.67：量測值落在規格內的機率接近100%。,第二級 1.67 Cpk 1.33：量測值落在規格內的機率為99.997%至 100%。,第三級 1.33 Cpk 1.00：量測值落在規格內的機率為99.865%至 99.997%。,第四級 1.00 Cpk 0.67：量測值落在規格內的機率為97.725%至 99.865%。,第五級 0.67 Cpk：量測值落在規格內的機率小於97.725%。,Statistical Process Control Introduction,確立製造流程,決定管制項目,製程處於管制狀態時,製程處於非管制狀態時,製程能力調查,原因不明且無法採取技術性的措施,蒐集資料,找出特殊原因,先掌握機械能力並追究原因,管制圖的運用,實施改善及標準化,製程能力足夠,製程能力不足,改變流程並標準化,調節製程管制,檢付規格公差,修正檢驗,Statistical Process Control Introduction,p-Chart,:,1.樣本大小：計數型管制圖需要較大的樣本(通常為50到200或者更多)來偵測結果,是否偏移，一般而言，樣本需要大到群体中含有數個不良，樣本的,大小並不是一定要固定的，但最好其變動的程度不會超過25%。,2.抽樣頻率：抽樣的時機最好選擇在可表現製程意義的時候，例如某張工單內,抽樣或者某日的抽樣。,3.抽樣數：抽樣數愈多愈能反映出製程實際的情形，一般而言25以上才足夠。,樣本點,:,中心線,:,上界限:,下界限,:,Statistical Process Control Introduction,p-Chart之解釋,:,如果樣本點落在管制界限的上方(下方)，或連續7點都在中心線的上方(下方)，或連續7點遞增(遞減)，代表,生產的變異程度增加了(降低了)。,量測系統的改變(不同的檢驗員及量具或量具偏移)。,計算錯誤或標圖錯誤。,製程精密度的解釋,:,以p-Chart 而言，製程精密度是以製程結果落在規格內的機率(Cp)來解釋，如果製程是在穩定的狀態下(沒有特殊原因造成的異變)，製程的平均不良率為,p,，該製程的能力便可計算為(1-,p,)。,Statistical Process Control Introduction,u-Chart,:,樣本：在 u-Chart中樣本大小可以是變動或固定的，並以單位的不良數 u=c/n，作,為圖上的標示點。,中心線,:,上界限:,下界限,:,某些情況下不良點的存在是可以被容許的，如SMT製程中，通過迴焊爐的PC板平均每片可容許1.2個不良點。,其中代表每次的樣本大小，如果其差距皆在25%以內，則n*則使用平均的樣本大小，否則必須使用變動的上下界限。,Statistical Process Control Introduction,量測系統分析,:,測量的變異通常來自其環境、測量工具及測量員。在我們可以接受的品質系統必須具有以下幾點要求：,測量系統必須是在統計的穩定之中，也就是其變異僅來自一般機遇原因,的變異而沒有特殊原因的變異。,測量系統的變異必須小於所測量製程系統的變異。,測量系統的變異必須小於規格的公差。,測量系統的品質一般可以使用偏差(Bias)、重覆性(Repeatability)、再現性(Reproducibility)、穩定性(Stability)及線性(Linearity)來衡量。,Statistical Process Control Introduction,量測系統分析,:,測量系統分析目的主要是計算測量員產生的變異（重覆性）與測量工具本身的變異(再現性)占製程變異的百分比，以判定測量系統的品質水準。,小於10%該測量系統可被接受。,10%至30%測量系統或許可以被接受，一測量本身的重要性成本而定。,大於30%測量系統需要改進，須找出問題根源進行矯正。,而對於重覆性與再現性的比數，如果重覆性的變異大於再現性的變異代表,測量設備需要加以保養或校驗。,量具剛性不夠，須重新設計更高之精密度。,量具之夾持或定位須被改善。,零件或製