TFT-LCD知识培训

单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,*,BOE DT Module Copyright 2011,TFT-LCD,知识介绍,TFT-LCD,常用语介绍,TFT-LCD,模块工艺流程,TFT-LCD,结构介绍,Contents,Cleaning,Autoclave,Polarizer Attachment,B/L Assembly,PCB Attachment,Inspection,Aging,Packaging,Cell,Inspection,Module-,工艺流程,TFT-LCD,结构,金属框,行驱动器,列驱动器,接口,PCB,背光源,棱镜板,TFT-LCD,结构,LCD,屏,X-COF,Y-COF,PCB,（,X-PCB,，,Y-PCB,）,时序控制器（,T/C,）,背光源,金属压框,逆变器,ACF,遮光板、屏蔽条,标签、螺丝,模块组成,TFT-LCD,模块工艺流程,一、,POL,贴付,TFT-LCD,模块工艺流程,TFT-LCD,模块工艺流程,二、,ACF BONDING,TFT-LCD,模块工艺流程,三、,TCP BONDING,TFT-LCD,模块工艺流程,BONDING PAD,C/F,POL,TFT,ACF,GATE,补正,DATE,补正,TFT-LCD,模块工艺流程,四、,PCB BONDING,TFT-LCD,模块工艺流程,Panel,Back Light,Bezel,+,Module,五、,ASS,Y,TFT-LCD,检测介绍,一、检查方法及内容,主要通过点灯（加电状态）检查和人工外观检查完成检查项目的检查。主要内容如下所示。,二、,Module,检查工序,主要包括：,OLB,检查、,Ass,y,检查、,Aging,检查、,Final,检查及,QA,检查等主要检查工序，下面进行简单说明。,A,、,OLB,检查,项目：,CELL,和,TCP,的连接状态、,Cell,引线不良、,TCP,连接不良及,IC,不良等。,不良种类：线缺陷、,Block,及灰度显示不良,B,、,Ass,y,检查,项目：对,CELL,周边回路（,TCP/PCB,），背光源及其他组装部件在点灯状态下进行画面品质和外观检查，检出,TCP,和,PCB,连接不良、,PCB,不良及组装不良。,不良种类：画面异常、灰度不良、,Block,、漏光及异物；是否漏装及螺丝是否浮起等。,TFT-LCD,检测介绍,TFT-LCD,检测介绍,C,、,Aging,检查,项目：将,Module,在点灯状态下，置于一定的环境当中（,50,），并保持一定的时间来确认,CELL,和,TCP,的连接状态、,TCP,和,PCB,的连接状态、,IC,不良及,PCB,上其它部件不良等。,不良种类：异常点灯、灰度不良及,Block,等,D,、,Final,检查,项目：在,Aging,后，对,Module,进行外观和点灯状态下的检查，检查各种不良并同时确定驱动电流、电压在规定的规格以内。,不良种类：各种点灯状态下的不良和外观不良等。,E,、,QA,检查,QA,的检查主要是针对将要出厂的产品按照一定的标准进行抽样检查，保证出厂产品的品质，检查项目及测试手段更多。,TFT-LCD,检测介绍,温度,: 253,湿度,: 6520%RH,照度,: 200 50LUX(,点灯检查,),1000 200LUX,(,外观检查,),距离,: 30,视角,:,正面,(,左右,:,40,上下,:,25),TFT-LCM MODULE,30Cm,三、,Module,检查环境及视角要求,TFT-LCD,常用语介绍,用语,用语说明,备注,Array Line,进行,Thin Film, Photo, Etch,工艺的生产,Line,是,Array Line,，,主要制造,Glass,上面,TFT (Thin Film Transistor),结构。,Cell Line,进行,PI Coating, Rubbing, Filling, Seal/TR,印刷工艺等生产,Line,是,Cell Line,，主要生产,TFT-LCD Cell,状态产品的过程。,Module Line,是用,TCP (Tape Carrier Package),将,PCB,与,CELL,进行连接，并使用,BEZEL,进行组装的,Ass,y,工艺等的生产,Line,，是生产,TFT Module,产品的过程。,LCD,Liquid Crystal Display,的简称,。,用电场、磁场等外部影响,改变液晶分子排列,改变液晶分子结构的光学特性后,利用其明暗效果的显示元件,.,TFT-LCD,在形成,FET (Field Effect Transistor),结构的,TFT Glass,与,Color Filter,之间注入液晶而制的,显示元件,使用于,Note Book PC,、,Monitor,、中小型,TV,等。,Polarizer (POL),将入射光分为,2,个直交的偏光，透射其中特定方向的光线,吸收或分散别的光线后,将透射光变为偏振光的高分子,Film,TFT-LCD,常用语介绍,用语,用语说明,备注,Backlight (B/L),为了给,LCD,提供光源,在,Panel,后部组装的发光部件,有,EL,（电致发光）,LED,（发光二极管）, CCFL,（冷阴极管荧光灯）,等。,Color Filter (C/F),制造,Color,液晶显示元件时使用的主要原材料,指按一定的顺序排列了,Red,，,Green,，,Blue,像素的薄膜。,Pixel and Dot,Pixel,是,Picture Element,的简称,Color Filter Stripe,上的,3,个,R,G,B Dot,统称为单位像素,Dot,(or Sub-pixel),指上述,R,G,B,的,各个像素,.,Lot,以一定的目的捆绑为一个单位的状态,.,制造工艺上考虑作业时间及库存等情况后决定最佳的,Lot Size,并使用,.,Particle,是大气灰尘及装备,/,DI Water,产生的污染物质等的总称,.,一般指大小在,0.0011000,的固体及液体粒子,.,Smock Smock Room,Smock,是出入,Clean Room,时穿着的外衣,也成为洁净服,.,Smock,Room,是出入,Clean Room,时,换着,Smock,的场所,.,TFT-LCD,常用语介绍,用语,用语说明,备注,W/S,Working Sample,.,为确认产品基本性能而制造的初期样品,在此阶段了解开发目标的到达可行性,并找出修改事项,.,E/S,Engineering Sample.,为确保开发产品的质量目标符合的性能及信赖性制造的样品,在此阶段完成产品开发,P/P,Pre-Production.,为了确认完成开发的产品的量产性,而实施的预备试验生产阶段,.,BOM,表现构成产品的材料与材料间、材料与装配件间等相互关系的目录，指开发及生产,/,制造活动的,M,aster,data,Part List,指为编制,BOM,而编制的资材,list,，包含比,BOM,更详细的资材规格信息,TFT-LCD,常用语介绍,用语,用语说明,备注,Chromaticity,将,LCD Module,色彩数值化后,用坐标表现出来的东西,Color Gamut,LCD Module,表现色彩的能力,Brightness,LCD Module,画面的亮度,.,Uniformity,产品亮度的均一度,CR,CONTRAST RATIO,的简称,.,指,Display,一定的光时,指显示器上亮的部分与暗的部分的明暗对照,Crosstalk,在,Dynamic,驱动时,因驱动电压的问题,不该点灯的部分进行点灯,或点灯部分的亮度因别的异常点灯,contrast,降低的现象,Viewing Angle,显示器的可视角度,表示对显示器垂直面的角度,Response Time,在每个阶段的应答上,输出信号从最终值到特定范围的时间,;,加电压或消除电压时,LCD,投过率变化所需的时间,.,Flicker,因画面的亮度周期性的变化,使使用人疲劳及降低画面质量的现象,.,TFT-LCD,常用语介绍,用语,用语说明,备注,SPEC,记载了与工艺,/,资材,/,质量相关的详细技术规格的技术标准文件,ECN,通报设计变更事项,或通报设计相关文件修改时用的文件,属于技术标准文件,PCN,通报工艺变更事项,或通报工艺相关文件修改时使用的文件,属于技术标准文件,.,SPC,以统计资料为基础，了解分析工艺现象，把工艺控制在要求状态的技术,Sigma (,),分散的平方根，将每,1,个,data,的散布大小的平均以测量单位表示的值,是散布大小的实际单位。,OJT,为了使新员工、 社招员工、职务变更员工尽快具有相应职务的 工作能力，将必要的知识、,技术、态度等通过各种方法（阅读文件，理论实操教育，视听教育等）进行指导培养的教育，也包括工作中进行的教育。,用语,用语说明,备注,Sampling,从需要检查的总体中任意抽取检查样品的活动,Sampling Plan,指,Sampling,检查的详细计划。,MRB,表示对不合格品的放弃与否及为了协商不合格品投入时管理方 法（现状态投入，重新生产筛选，返品，废除）的审核委员会,UAI,表示可以判断不合格品对工艺生产，原价，出产率和品质没有影响的情况下采取直接适用。,LRR,在规定的时间内对检查,不,合格的,LOT,比率。,Supplier,提供资材制造厂家（,MAKER,）产品的供应商。,CAR,消除对不合理事项及其他不合理状况的原因采取措施。为防止再发生的一系列改善及处理事项的相互确认。,TFT-LCD,常用语介绍,TFT-LCD,常用语介绍,用语,用语说明,备注,AQL,进行检查时,检查,LOT,的允许的质量限制范围。,EQP,以出厂检查的产品检查结果进行推断的生产工艺产品的质量现状。,FG-CODE,为了区分生产的产品，按,Model/Line/,产品群的类别进行区分的方法。,Line Patrol,巡视生产,Line,，随时确认作业现场的,3,定,5S,、作业员,Workmanship,、遵守标准情况等，并要求在现场立即采取措施的一种工艺检查方法。,NCR,Non-Conformity Report,的简称。 将,Line Patrol,时发现的违反基准的事项，详细记录后发放给当事人，并为了管理措施等而使用的文件。,Workmanship,为了洁净度管理、工艺稳定及质量管理，生产,Line,进出人员在,Line,内需要遵守的基本的行为守则。,TFT-LCD,常用语介绍,用语,用语说明,备注,CS,Customer Service,的简称,.,为了处理从顾客接收的不满,/,要求,/,要求事项、以及其他质量,Issue,，而进行一系列工作,DOA (Defect),Dead On Arrival,的简称,.,指向最终消费者,(End-User),销售前发生的所有不良产品。对,LCD,来说，指,Monitor/Notebook,企业生产过程中发生的,LCD,不良。,Field Defect,指,F,ield Failure Product,。指向最终消费者,(End-User),销售后发生的不良产品。,Epidemic Failure,指因同样的原因或各种原因引起的一定数量以上同样不良的现象,(,例,),异常点灯,， 对,Epidemic,的规定一般指发生,1%,以上不良的情况，通常与顾客签定质量合同时协商决定。,RM,Return Material,等简称。,指因不良、质量,Issue,等的原因，退回的产品。,TFT-LCD,常用语介绍,用语,用语说明,备注,RMA,Return Material Authorization,的简称。,向顾客销售的产品，因发生不良、质量,Issue,等的原因，退回公司或,Repair,Center,的一系列的工作,Warranty,指质量等的保证活动。对质量上发生异常的已销售的产品（零部件），在一定的期限内进行的退货，更换，修理等的所有的质量保证活动,In-warranty,指在质量保证期限内，因发生质量问题，无偿进行的质量保证活动。泛指无偿修理，更换，,新产品替换等的质量保证活动,Out of Warranty,指过了质量保证期限，因发生质量问题，有偿进行质量保证的活动。泛指有偿修理，有偿更换，新产品有偿替换等的质量保证活动,T.A.T,Turn Around Time,的简称,完成工作所需的从开始到结束的总的时间。,TFT-LCD,常用语介绍,用语,用语说明,备注,MURA,画面污渍的总称。,TFT LCD,画面显示后产生的污渍形态的不良。,X/Y Block,以,X/Y TAB Block,单位产生的不良。,.,以,Block,单位产生异常点灯和,Line Defect,现象。,IDD,是指,TFT LCD,的消耗电流。是驱动,LCD,时消耗的电流，,IDD,不良是指消耗电流的不良。,Data Loss,是指驱动,LCD,时从信号发生器传递的显示画面信号的不良。在画面出现小点为没有显示信号的不良现象。,DDC,表示,Display Data Channel,以及输入在,I-Module,产品内部的信息（生产工厂、生产日期、,DDC,信号形态），当,DDC,信息输入错误时产生的不良现象。,Wave,LCD,画面显示时按,Wave/,横排,/,竖排形式在画面上出现周期性波浪形态的不良现象。,TFT-LCD,常用语介绍,用语,用语说明,备注,亮点,亮点，一般在,L0,下观察,极少出现，具体原因未知。,指压,亮点,Panel,在被按压时，导电性的,particle,导通了,common,电极和像素电极，像素电场场强为,0,，其间,LC,分子不发生偏转，在常白模式下造成亮点。,暗点,像素电极与,common,线或,Gate,线导通，,LC(,液晶,),总是处在一个强电场下而保持偏转状态，在常白模式下表现为暗点。,Particle,也有可能造成暗点,TFT-LCD,常用语介绍,用语,用语说明,备注,DDS,S/D remain,，导电异物等导致两条或两条以上的,data,线发生短路。,GGS,Gate Remain,，导电异物，,PDI,发生,ESD,等导致两条或两条以上的,Gate,线发生短路。,DGS,ESD,，绝缘层里有导电性异物，,active Open,等造成,Gate,线和,Data,线发生短路。,TFT-LCD,常用语介绍,用语,用语说明,备注,Gate Open,Particle,，过刻，,PR,胶,peel off,，,Scratch,，较大端差等。,Data Open,水平线,/H-Mura,发生在,panel,左侧的微弱白线。,贝壳,Mura,Photo,设备的,Plate Chuck,上有,particle,，造成玻璃发生微小形变，,Mask,时对焦不好，严重时影响,pattern,，造成,Mura.,TFT-LCD,常用语介绍,用语,用语说明,备注,Wave Mura,可能是在,ITO PR,剥离过程中，,PR,残留导致一些区域,Ioff,偏小而发黑。,Embossing Mura,干刻底部电极长时间使用，沾染副产品，导致温度不均匀，刻蚀速率不均匀，从而产生,Embossing Mura,。,周边白,Mura,Array,端差，,seal,的位置、宽度，,PS,的有无、高度，,LC,量等因素均可影响,Gap,性的周边,Mura,。,LC,与未固化的,seal,接触，导致,LC,变性，无法正常在电压下偏转，造成污染性周边,Mura,。,TFT-LCD,常用语介绍,用语,用语说明,备注,周边黑,Mura,PS,、,Seal,等都可以造成周边,cell gap,较低。,TBA,较高也能造成黑色,Mura,。,一次特殊的周边黑,Mura,是,panel dummy,部无,dummy PS,，造成,Cell Gap,较低。,Zaratsuki(Align),C/F,和,TFT,的,total pitch,不匹配。,TFT,的中部偏小，造成漏光。,真空对盒工艺中，发生了玻璃偏移,造成对位偏差,.,TFT-LCD,常用语介绍,用语,用语说明,备注,Zaratsuki(Particle),LC,内的小,particle,影响了,LC,取向，造成漏光。小,Particle,可能是,PI Rubbing,中产生的,PI,碎屑。,Zaratsuki(Domain),可能是因为绿色亚像素特殊的边缘形貌，使其边缘的,PI,不均匀，从而造成边缘的,LC,排列异常，产生小亮点,.,TFT-LCD,常用语介绍,用语,用语说明,备注,Rubbing,Mura,VLRA,Rubbing,布上的,particle,，,rubbing roller,上的气泡，突起等在,PI,膜上摩擦造成。,Rubbing,Mura,VLRB,Rubbing,布上的,particle,等在,PI,膜上摩擦造成。转几圈后,particle,掉了，所以只有很短的一段,Rubbing,Mura,VLRC,估计是,panel,的,Data,反部的端差不断损伤,rubbing,毛，损伤了的部分就在,Data,反部印下了这些痕迹。,Rubbing,Mura Amode,Rubbing roller,上,rubbing,布的接缝处,(winding gap),过大或者过小，就在整片玻璃上印下了这样的痕迹。,rubbing,辊偏芯也可能造成这种不良。如果,TFT,和,C/F,上同时发生就产生了交叉,Mura,。,TFT-LCD,常用语介绍,用语,用语说明,备注,蓝点,Rubbing,工艺中，容易在,panel,末端积累静电,而,3rd mask panel,的,data,反部设计上抗静电能力弱,静电击穿,channel,导致漏电流较大，造成亮点。,黑,Gap,PS,的缺失或破坏,.,B1,最常见的原因是,Cutting,设备,stage,上掉了玻璃碎屑,在吸附时碎屑挤压玻璃,损伤了,PS,，造成黑,Gap,。,白,Gap,Particle, PS,高度异常等。,周边白,Gap,周边的,ps, seal, G/F,异常,落在周边的,particle,等都可能造成。,特殊的周边白,Gap,是因为在,gap,附近，,C/F,的相应位置上没有,dummy PS,，这里玻璃下垂，从而把显示区的玻璃撬高造成的。,TFT-LCD,常用语介绍,用语,用语说明,备注,Seal,Leak,Seal,有,open,或者过细，造成空气进入,panel,产生。,重力,Mura,相对于,Cell,内的空间，,LC,量过多。造成,LC,由于重力作用流到,panel,底部，使底部,Cell Gap,异常得高。,Touch,Mura,可能是,panel,受到拍击，,C/F,发生错位，,PS,无法迅速恢复到原来位置，而长时间产生漏光，造成,touch mura,。不确定为什么,PS,不能快速恢复。,TFT-LCD,常用语介绍,用语,用语说明,备注,Greenish V-Block,Mura,区绿色像素有点薄，透过率比正常大，造成,Greenish,。,V-Block,曝光机的抖动使,S/D,线对像素电极发生,shift,，增大,Cpd,的影响，增大,Vp,使像素发白。,Y-Block,Pad,边缘的,Gate,线的长度比,pad,中间的短的长，所以电阻大的多。,Gate,信号,delay,严重，像素充电不足，造成不良,