开关电源测试项目

单击此处编辑母版标题样式,*,*,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,目录,1,、功率因素和效率测试,2,、平均效率测试,3,、输入电流测试,4,、浪涌电流测试,5,、电压调整率测试,6,、负载调整率测试,7,、输入缓慢变动测试,8,、纹波及噪声测试,9,、上升时间测试,10,、下降时间测试,11,、开机延迟时间测试,12,、关机维持时间测试,13,、输出过冲幅度测试,14,、输出暂态响应测试,15,、过流保护测试,16,、短路保护测试,开关电源常规测试项目,17,、过压保护测试,18,、重轻载变化测试,19,、输入电压变动测试,20,、电源开关循环测试,21,、元件温升测试,/,22,、高温操作测试,23,、高温高湿储存测试,24,、低温操作测试,25,、低温储存测试,26,、低温启动测试,27,、温度循环测试,28,、冷热冲击测试,29,、绝缘耐压测试,30,、跌落测试,31,、绝缘阻抗测试,32,、额定电压输出电流测试,1,1. POWER FACTOR & EFFICIENCY TEST /,功率因素和效率测试,一、目的,:,测试,S.M.P.S.,的功率因素,POWER FACTOR,效率,EFFICIENCY(,规格依客户要求设计,).,二,.,使用仪器设备,:,(1). AC SOURCE /,交流电源,;,(2). ELECTRONIC LOAD /,电子负载,;,(3). DIGITAL VOLTAGE METER (DVM) /,数字式电压表,;,(4). AC POWER METER /,功率表,;,三,.,测试条件,:,四、 测试方法,:,(1).,依规格设定测试条件,:,输入电压,频率和输出负载,.,(2).,从,POWER METER,读取,Pin and PF,值,并读取输出电压,计算,Pout.,(3).,功率因素,=PIN / (Vin*Iin),效率,=Pout / Pin*100%,；,五,.,测试回路图,:,Temp.,环境温度,AC INPUT/,输入电压,Freq./,输入频率,OUTPUT LOAD SET UP,o,C,90V / 115V / 132V,47Hz - 63Hz,MAX. LOAD/,最大负载,180 V / 230V / 264V,V,AC SOURCE,ELECTRONIC LOAD,待测品,POWER METER,SWITCH,GND,Vo,2,2. ENERGY EFFICIENCY TEST / 能效测试,一、目的,:,测试 S.M.P.S. 能效值是否满足相应的,各国能效等级标准要求,(,规格依各国标准要求定义,),.,二,.,使用仪器设备,:,(1). AC SOURCE /,交流电源,;,(2). ELECTRONIC LOAD /,电子负载,;,(3). AC POWER METER /,功率表,;,三,.,测试条件,:,(1).,输入电压条件为,115Vac/60Hz,和,230Vac/50Hz,与,220Vac/50Hz/60Hz,条件,.,(2).,输出负载条件为空载、,1/4 max. load,、,2/4 max. load,、,3/4 max. load,、,max. load,五种负载条件,.,四、 测试方法,:,(1).,在测试前将产品在在其标称输出负载条件下预热,30,分钟,.,(2).,按负载由大到小顺序分别记录,115Vac/60Hz,与,230Vac/50Hz,输入时的输入功率,(Pin),输入电流,(Iin),输出电压,(Vo),功率因素,(PF),，,然后计算各条件负载的效率,.,(3).,在空载时仅需记录输入功率,(Pin),与输入电流,(Iin).,(4).,计算,115Vac/60Hz,与,230Vac/50Hz,时的四种负载的平均效率,该值为能效的效率值,五、标准定义,:,CEC /,美国,EPA /,澳大利亚及新西兰的能效规格值标准,(IV,等级,),；,(1). IV,等级效率的规格是,: 1).Po51,Average Eff.0.85.,(2).,输入空载功率的规格是,:1).0Po250W, Pin0.5W;,(3). Po,为铭牌标示的额定输出电压与额定输出电流的乘积,;,(4) .,实际测试的平均效率值和输入空载功率值需同时满足规格要求才可符合标准要求,.,六、计算方法举例：,(1).12V/1A,的能效效率,=(0.09*ln12+0.5 )*100%= (0.09*2.4849+0.5)*100%=72.36%;,(2).,输入功率,0.5W;,3,3. AC I / P CURRENT TEST / 输入电流测试,一、目的,:,测试 S.M.P.S. 之输入电流有效值 INPUT CURRENT,(,规格依客户要求设计,).,.,二,.,使用仪器设备,:,(1). AC SOURCE /,交流电源,;,(2). ELECTRONIC LOAD /,电子负载,;,(3). AC POWER METER /,功率表,;,三,.,测试条件,:,四、 测试方法,:,(1).,依规格设定测试条件: 输入电压, 频率和输出负载,;,(2).,从功率计中记录,AC INPUT,电流值,;,五,.,测试回路图,:,Temp.,环境温度,AC INPUT/,输入电压,Freq./,输入频率,OUTPUT LOAD SET UP,o,C,90V / 115V / 132V,47Hz - 63Hz,MAX. LOAD/,最大负载,180 V / 230V / 264V,AC SOURCE,ELECTRONIC LOAD,待测品,POWER METER,SWITCH,GND,Vo,4,4. INRUSH CURRENT TEST / 浪涌电流测试,一、目的,:,测试,S.M.P.S.,输入浪涌电流,INRUSH CURRENT,是否符合,SPEC.,要求,.,二,.,使用仪器设备,:,(1). AC SOURCE /,交流电源,;,(2). ELECTRONIC LOAD /,电子负载,;,(3). OSCILLOSCOPE /,示波器,;,三,.,测试条件,:,(1).,依 SPEC. 所要求,(,通常定义输入电压为,100-240Vac/50-60Hz),.,四、 测试方法,:,(1).,依 SPEC. 要求设定好输入电压, 频率, 將待测品输出负载设定在 MAX. LOAD.,(2). SCOPE CH2 接 CURRENT PROBE, 用以量测 INRUSH CURRENT, CH1设定在 DC Mode,VOLTS/DIV,设定视情况而定, CH1,作为,SCOPE,之,TRIGGER SOURCE, TRIGGER SLOPE,设定为,+, TIME/DIV,以,5mS,为较佳, TRIGGER MODE,设定为,NORMAL.,(3). CH1,则接到,AC,输入电压,.,(4).,以上设定完成后,POWER ON,找出,TRIGGER,动作电流值,(AT 90,o,或,270,o,POWER ON).,五、注意事项,:,(1).,冷开机,(COLD-START):,需在低,(,常,),温环境下且,BULK Cap.,电荷须放尽,以及热敏电阻亦处于常温下,然后仅能第一次开机,若需第二次开机须再待电荷放尽才可再开机测试,.,(2). OSCILLOSCOPE,需使用隔离变压器,.,六、测试回路图,:,Hz,47 / 63,Ch1,Ch2,待测品,AC SOURCE,OSCILLOSCOPE,ELECTRONIC LOAD,CURRENT PROBE,SWITCH,GND,Vo,5,4. INRUSH CURRENT TEST / 浪涌电流测试,Hz,47 / 63,Fig1 Inrush Current - 240Vac(50Hz) CC=0. 5A,Inrush Current,Input Voltage,6,5. LINE REGULATION TEST / 电压调整率测试,一、目的,:,测试 S.M.P.S. OUTPUT LOAD 一定而 AC LINE 变动时, 其输出电压跟随变动之稳定性,(,常规定义,1%).,二,.,使用仪器设备,:,(1). AC SOURCE /,交流电源,;,(2). ELECTRONIC LOAD /,电子负载,;,(3). DIGITAL VOLTAGE METER (DVM) /,数字式电压表,;,三,.,测试条件,:,四、 测试方法,:,(1).,依规格设定测试负载,LOAD,条件,.,(2).,调整输入电压,AC LINE,和频率,FREQUENCY,值,.,(3).,记录待测品输出电压值是否在规格内,.,(4). Line reg.=(,输出电压的最大值,(Vmax.)-,输出电压的最小值,(Vmin.)/Vrate volt.*100%.,五,.,注意事项,:,(1).,测试前先将待测品热机,待其输出电压稳定后再进行测试,.,(2).,电压调整率值是输出负载不变,输入电压变动时计算的值,.,Temp.,环境温度,AC INPUT/,输入电压,Freq./,输入频率,OUTPUT LOAD SET UP,o,C,90V / 115V / 132V,47Hz - 63Hz,MAX. LOAD/,最大负载,MIN. LOAD/,最小负载,180 V / 230V / 264V,7,6. LOAD REGULATION TEST / 负载调整率测试,一、目的,:,测试,S.M.P.S.,在,AC LINE,一定而,OUTPUT LOAD,变动时,其输出电压跟随变动之稳定性,(,常规定义,5%).,二,.,使用仪器设备,:,(1). AC SOURCE /,交流电源,;,(2). ELECTRONIC LOAD /,电子负载,;,(3). DIGITAL VOLTAGE METER (DVM) /,数字式电压表,;,三,.,测试条件,:,四、 测试方法,:,(1). 依规格设定测试输入电压 AC LINE 和频率 FREQUENCY 值.,(2).,调整输出负载,LOAD,值,(3).,记录待测品输出电压值是否在规格内,.,(4). Load reg.=(,输出电压的最大,/,小值,(Vmax/min.)-,输出电压的额定值,(Vrate)/Vrate volt.*100%.,五,.,注意事项,:,(1).,测试前先将待测品热机,待其输出电压稳定后再进行测试,;,(2).,负载调整率值是输入电压不变,输出负载变动时计算的值,.,Temp.,环境温度,AC INPUT/,输入电压,Freq./,输入频率,OUTPUT LOAD SET UP,o,C,90V / 115V / 132V,47Hz - 63Hz,MAX. LOAD/,最大负载,MIN. LOAD/,最小负载,180 V / 230V / 264V,8,7,. BROWN OUT & RECOVERY TEST / 输入缓慢变动测试,一、目的,:,验证当输入电压偏低情形发生时,待测品需能自我保护,且不能有损坏现象,;,二,.,使用仪器设备,:,(1). AC SOURCE /,交流电源,;,(2). ELECTRONIC LOAD /,电子负载,;,(3). AC POWER METER /,功率表,;,三,.,测试条件,:,(1).,依,SPEC.,要求,:,设定输入电压为,90Vac,或,180Vac,和输出负载,Max. load;,四、 测试方法,:,(1).,将待测品与输入电源和电子负载连接好,且设定好输入电压和输出负载,;,(2).,逐步调降输入电压,每次,3 Vac/,每分钟,.,(3).,记录电压值,(,包括输入电压和输出电压,),直到待测品自动当机为止,.,(4).,设定好输入电压为,0Vac,逐步调升输入电压,每次,3 Vac/,每分钟,直到待测品输出电压达到正常规格为止,记录电压启动时输出电压和输入电压值,.,五、注意事项,:,(1). 待测品在正常操作情况下不应有任何不稳动作发生, 以及失效情形,;,(2).,产品当机和启动时的输入电压需小于输入电压范围下限值,.,9,8,. RIPPLE & NOISE TEST / 纹波及噪声测试,一、目的,:,测试,S.M.P.S.,直流输出电压之纹波,RIPPLE,及噪声,NOISE(,规格定义常规为输出电压的,1%);,二,.,使用仪器设备,:,(1). AC SOURCE /,交流电源,;,(2). ELECTRONIC LOAD /,电子负载,;,(3) OSCILLOSCOPE /,示波器,;,(4) TEMP. CHAMBER /,温控室,;,三,.,测试条件,:,各种,LINE,和,LOAD,条件及温度条件,各种输入电压,&,输出负载,(Min.-MAX. LOAD).,四、 测试方法,:,(1).,按测试回路接好各测试仪器,设备,以及待测品,测试电源在各种,LINE,和,LOAD,及温度条件之,RIPPLE &,NOISE(,下图为一典型输出,RIPPLE C: NOISE,五、注意事项,:,(1).,测试前先将待测输出并联,SPEC.,规定的滤波电容, (,通常为,10uF/47uF,电解电容,;,或钽电容及,0.1uF,陶瓷,电容,),频宽限制依,SPEC.,而定,(,通常为,20MHz).,(2).,应避免示波器探头本身干扰所产生的杂讯,.,A,B,C,10,8,. RIPPLE & NOISE TEST / 纹波及噪声测试,Fig2 Ripple & Noise - 90Vac(60Hz) CC=0. 5A,11,9,. RISE TIME TEST / 上升时间测试,一、目的,:,测试 S.M.P.S. POWER ON 时,各组输出从 10% 90% POINT 之上升时间,(,常规定义为,20mS),.,二,.,使用仪器设备,:,(1). AC SOURCE /,交流电源,;,(2). ELECTRONIC LOAD /,电子负载,;,(3). OSCILLOSCOPE /,示波器,三,.,测试条件,:,四、 测试方法,:,(1).,依规格设定,AC VOLTAGE, FREQUENCY AND LOAD .,(2). SCOPE,的,CH1,接,Vo,并设为,TRIGGER SOURCE, LEVEL,设定在,Vo,的,60% 80%,较为妥当, TRIGGER SLOPE,设定在,+,TIME/DIV,和,VOLTS/DIV,则视输出电压情况而定,.,(3).,用,CURSOR,中,TIME,量测待测品各组输出从电压,10%,至,90%,之上升时间,.,五,.,注意事项,:,测试前先将待测品处于冷机状态,待,BUCK Cap.,电荷放尽后进行测试,.,Temp.,环境温度,AC INPUT/,输入电压,Freq./,输入频率,OUTPUT LOAD SET UP,o,C,90V / 115V / 132V,47Hz - 63Hz,MAX. LOAD/,最大负载,Min. LOAD/,最小负载,180 V / 230V / 264V,12,9,. RISE TIME TEST / 上升时间测试,Fig.3 Rise time - 90Vac(60Hz) CC=0.5A,13,10. FALL TIME TEST / 下降时间测试,一、目的,:,测试,S.M.P.S. POWER ON,时,各组输出从,90% 10% POINT,之下降时间,(,常规定义,5mS);,二,.,使用仪器设备,:,(1). AC SOURCE /,交流电源,;,(2). ELECTRONIC LOAD /,电子负载,;,(3). OSCILLOSCOPE /,示波器,三,.,测试条件,:,四、 测试方法,:,(1).,依规格设定,AC VOLTAGE, FREQUENCY AND LOAD.,(2). SCOPE,的,CH1,接,Vo,并设为,TRIGGER SOURCE, LEVEL,设定在,Vo,的,60% 80%,较为妥当, TRIGGER SLOPE,设定在,-,TIME/DIV,和,VOLTS/DIV,则视输出电压情况而定,;,(3).,用,CURSOR,中,TIME,量测待测品各组输出从电压,90%,至,10%,之下降时间,.,五,.,注意事项,:,测试前先将待测品,热,机, 待其输出电压稳定后再进行测试.,Temp.,环境温度,AC INPUT/,输入电压,Freq./,输入频率,OUTPUT LOAD SET UP,o,C,90V / 115V / 132V,47Hz - 63Hz,MAX. LOAD/,最大负载,180 V / 230V / 264V,14,10. FALL TIME TEST / 下降时间测试,Fig.4 Fall time - 90Vac(60Hz) CC=0.5A,15,1,1,. TURN ON DELAY TIME TEST / 开机延迟时间测试,一、目的,:,测试 S.M.P.S. POWER ON 时, 输入电压 AC LINE 与输出之时间差,(,常规定义为,3000mS),.,二,.,使用仪器设备,:,(1). AC SOURCE /,交流电源,;,(2). ELECTRONIC LOAD /,电子负载,;,(3). OSCILLOSCOPE /,示波器,三,.,测试条件,:,四、 测试方法,:,(1).,测试时依规格设定,AC LINE, FREQUENCY,和输出负载,(,一般为,LOW LINE & MAX. LOAD,时间最长,).,(2). OSCILLOSCOPE,的,CH1,接,Vo,为,TRIGGER SOURCE, CH2,接,AC LINE.,(3). TRIGGER LEVEL,设定在,Vo,的,60% 80%,间较为妥当, TRIGGER SLOPE,设定在,+,VOLTS/DIV,和,TIME/DIV,则视实际情况而定,.,(4).,用,CURSOR,中,TIME,量测,AC ON,至,Vo LOW LIMIT,之时间差,.,五,.,注意事项,:,(1). 测试前先将待测品处于冷机状态, 待 BULK Cap. 电荷放尽后进行测试,;,(2).,示波器,(OSCILLOSCOPE),需使用隔离变压器,.,Temp.,环境温度,AC INPUT/,输入电压,Freq./,输入频率,OUTPUT LOAD SET UP,o,C,90V / 115V / 132V,47Hz - 63Hz,MAX. LOAD/,最大负载,180 V / 230V / 264V,16,1,1,. TURN ON DELAY TIME TEST / 开机延迟时间测试,Fig. 5 Turn on delay time - 90Vac(60Hz) CC=0. 5A,Output Voltage,Input Voltage,17,12,. HOLD UP TIME TEST / 关机维持时间测试,一、目的,:,测试,S.M.P.S. POWER OFF,时,输入电压,AC LINE,与输出,OUTPUT,之时间差,(,常规定义,10mS/115Vac ,二,.,使用仪器设备,:,(1). AC SOURCE /,交流电源,;,(2). ELECTRONIC LOAD /,电子负载,;,(3). OSCILLOSCOPE /,示波器,三,.,测试条件,:,四、 测试方法,:,(1).,测试时依规格设定,AC LINE, FREQUENCY,和输出负载,.,(2). OSCILLOSCOPE,的,CH1,接,Vo,为,TRIGGER SOURCE, CH2,接,AC LINE.,(3). TRIGGER LEVEL,设定在,Vo,的,60% 80%,间较为妥当, TRIGGER SLOPE,设定在 “,-”, VOLTS/DIV,和,TIME/DIV,则视实际情况,而定,.,(4).,用,CURSOR,中,TIME,量测,AC ON,至,Vo LOW LIMIT,之时间差,.,五,.,注意事项,:,(1).,测试前先将待测品热机,待其输出电压稳定后再进行测试,;,(2).,示波器,(OSCILLOSCOPE),需使用隔离变压器,.,Temp.,环境温度,AC INPUT/,输入电压,Freq./,输入频率,OUTPUT LOAD SET UP,o,C,90V / 115V / 132V,47Hz - 63Hz,MAX. LOAD/,最大负载,180 V / 230V / 264V,18,12,. HOLD UP TIME TEST / 关机维持时间测试,Fig. 6 Hold up time - 115Vac(60Hz) CC=0.5A,Input Voltage,Output Voltage,19,1,3,. OUTPUT OVERSHOOT TEST / 输出过冲幅度测试,一、目的,:,测试,S.M.P.S. POWER ON,时,输出,DC OUTPUT,过冲幅度变化量,(,常规定义为,10%).,二,.,使用仪器设备,:,(1). AC SOURCE /,交流电源,;,(2). ELECTRONIC LOAD /,电子负载,;,(3). OSCILLOSCOPE /,示波器,;,三,.,测试条件,:,依,SPEC.,所要求,输入电压范围与输出负载,(Min. Max. load).,四、 测试方法,:,(1).,测试时依规格设定 AC LINE, FREQUENCY 和输出负载,.,(2). OSCILLOSCOPE,的,CH1,接,Vo,为,TRIGGER SOURCE;,(3).,TRIGGER LEVEL 设定在 Vo 的 60% 80% 间较为妥当, TRIGGER SLOPE 设定在 “+”,和 “,-”, VOLTS/DIV,和,TIME/DIV,则视,实际情况而定,.,(4).,用,CURSOR,中,VOLT,量测待测品輸出过冲点与稳定值之关系,.,(5). ON / OFF,各做十次,过冲幅度,%=V / Vo *100%;,五、注意事项,:,产品在,CC,与,CR,模式都需满足规格要求,.,20,1,3,. OUTPUT OVERSHOOT TEST / 输出过冲幅度测试,Fig. 7 Overshoot - 90Vac(60Hz) CC=0.0A,21,1,4,. OUTPUT TRANSIENT RESPONSE TEST / 输出暂态响应测试,一、目的,:,测试 S.M.P.S. 输出负载快速变化时, 其输出电压跟随变动之稳定性,(,规格定义电压最大与最小值不超过输出规格的,10%),.,二,.,使用仪器设备,:,(1). AC SOURCE /,交流电源,;,(2). ELECTRONIC LOAD /,电子负载,;,(3). OSCILLOSCOPE /,示波器,;,三,.,测试条件,:,依 SPEC.所规定: 输入电压 AC LINE, 变化的负载 LOAD, 频率及升降斜率 SR/F 值.,四、 测试方法,:,(,1). 测试时设定好待测品输入电压 AC LINE 和频率 FREQUENCY.,(2). 测试时设定好待测品输出条件: 变化负载和变化频率及升降斜率.,(3). OSCILLOSCOPE CH1,接到,OUTPUT,侦测点,量其电压之变化,.,(4). CH2,接,CURRENT PROBE,测试输出电流,作为,OSCILLOSCOPE,之,TRIGGER SOURCE.,(5). TRIGGER MODE,设定为,AUTO.,五、注意事项,:,(1).,注意使用,CURRENT PROBE,时,每改变,VOLTS/DIV,刻度,PROBE,皆须归零,ZERO,(2).,须经常对,CURRENT PROBE,进行消磁,DEGAUSS,和归零,ZERO.,22,1,4,. OUTPUT TRANSIENT RESPONSE TEST / 输出暂态响应测试,Fig. 8 Transient response - 90Vac(60Hz) (20-80%)*0.5A 100Hz & 50% duty,23,15. OVER CURRENT PROTECTION TEST / 过流保护测试,一、目的,:,测试 S.M.P.S. 输出电流过高时是否保护, 保护点是否在规格要求內, 及是否会对 S.M.P.S. 造成损伤,(,常规定义过流点为输出额定负载的,1.2-2.5,倍,/ CV,模式产品初外,),.,二,.,使用仪器设备,:,(1). AC SOURCE /,交流电源,;,(2). ELECTRONIC LOAD /,电子负载,;,(3). OSCILLOSCOPE /,示波器,;,三,.,测试条件,:,依,SPEC.,所规定,:,输入电压,AC LINE,和电子负载,.,四、 测试方法,:,(1).,将待测组输出负载设在,MAX. LOAD.,(2).,以一定的斜率,(,通常为,1.0A/S),递增,加大输出电流直至电源保护,当保护后,將所加大之电流值递减,视其输出是否会自动,RECOVERY.,(3). OSCILLOSCOPE CH2,接上,CURRENT PROBE,以,PROBE,检测输出电流,.,(4). CH1,则接到待测输出电压,作为,OSCILLOSCOPE,之,TRIGGER SOURCE.,(5). TRIGGER SLOPE,设定为,-, TRIGGER MODE,设定为,AUTO, TIME/DIV,视情况而定,.,五、注意事项,:,(1).,注意使用,CURRENT PROBE,时,每改变,VOLTS/DIV,刻度,PROBE,皆须归零,ZERO,(2).,须经常对,CURRENT PROBE,进行消磁,DEGAUSS,和归零,ZERO.,(3).,产品不能有安全危险产生,.,24,15. OVER CURRENT PROTECTION TEST / 过流保护测试,Fig. 9 OCP - 90Vac(60Hz) CC=0.4A,Output Current,Output Voltage,25,16.,SHORT CIRCUIT PROTECTION TEST / 短路保护测试,一、目的,:,测试,S.M.P.S.,输出端在开机前或在工作中短路时,产品是否有保护功能,.,二,.,使用仪器设备,:,(1). AC SOURCE /,交流电源,;,(2). ELECTRONIC LOAD /,电子负载,;,(3). OSCILLOSCOPE /,示波器,;,(4).,低阻抗短路夹,三,.,测试条件,:,依SPEC. 所规定: 输入电压 AC LINE 和负载 LOAD 值,和低阻抗短路夹,.,四、 测试方法,:,(1).,依规格设定测试条件,:,输入电压,AC LINE,和负载,LOAD,值,(,一般为,MAX. LOAD).,(2).,各组输出相互短路或对地短路,侦测输出特性,.,(3).,开机后短路,TURN ON THEN SHORT &,短路后开机,SHORT THEN TURN ON,各十次,.,五、注意事项,:,(1).,当 SHORT CIRCUIT 排除之后, 检测待测品是否自动恢复或需重新启动 (视 SPEC 要求),并测试产品是否正常或有无零,件损坏,(,产品要求应正常,).,(2).,产品不能有安全危险产生,.,26,16.,SHORT CIRCUIT PROTECTION TEST / 短路保护测试,Fig. 10 Short Circuit - 90Vac(60Hz) CC=0. 5A,27,17. OVER VOLTAGE PROTECTION TEST / 过压保护测试,一、目的,:,测试 S.M.P.S. 输出电压过高时是否保护, 保护点是否在规格要求內, 及是否会对 S.M.P.S. 造成损伤,(,常规定义,:Vout12V,过压保护点为,1.8,倍输出电压,; Vout12V,.,过压保护点为,1.5,倍输出电压,).,二,.,使用仪器设备,:,(1). AC SOURCE /,交流电源,;,(2). ELECTRONIC LOAD /,电子负载,;,(3). OSCILLOSCOPE /,示波器,;,(4). DC SOURCE /,直流电源,;,三,.,测试条件,:,依,SPEC.,所规定,:,输入电压,AC LINE,和负载,LOAD,值,.,四、 测试方法,:,(1).,测试方式一,:,拿掉待测品回授,FEEDBACK,找出过压保护,OVP,点,(2).,测试方式二,:,外加一可变电压于操作待测品的输出,缓慢增大电压值,找出过压保护,OVP,点,(3). OSCILLOSCOPE CH1,接到,OVP,侦测点,测量其电压之变化,.,(4). CH2,则接到其它一组输出电压,作为,OSCILLOSCOPE,之,TRIGGER SOURCE.,(5). TRIGGER SLOPE,设定为,-, TRIGGER MODE,设定为,NORMAL.,五、注意事项,:,产品不能有安全危险产生,.,28,17. OVER VOLTAGE PROTECTION TEST / 过压保护测试,Fig. 11 OVP - 90Vac(60Hz) CC=0. 0A,29,18,. MAX. AND MIN. LOAD CHANGE TEST / 重轻载变化测试,一、目的,:,测试,S.M.P.S.,的输出负载在重轻载切换时对输出电压的影响,(,规格定义电压最大与最小值不超过输出规格的,10%),.,二,.,使用仪器设备,:,(1). AC SOURCE /,交流电源,;,(2). ELECTRONIC LOAD /,电子负载,;,(3). OSCILLOSCOPE /,示波器,;,三,.,测试条件,:,依SPEC. 所规定: 输入电压 AC LINE 和负载 LOAD(MIN.,AND,MAX.) 值.,四、 测试方法,:,(1). 依规格设定 AC VOLTAGE, FREQUENCY AND LOAD (MAX. LOAD 和 MIN. LOAD).,(2). SCOPE,的,CH1,接,Vo,并设为,TRIGGER SOURCE, LEVEL,设定在,Vo,的,90% 100%,较为妥当, TRIGGER SLOPE,设定在,+,VOLTS/DIV,则视输出电压情况而定,.,(3). TIME/DIV,设定为,1S/DIV,或,2S/DIV,为滚动状态,.,(4).,在输入电压稳定时,变化输出负载,(,最大,/,最小,).,(5).,在设定电压下测试输出电压的最大和最小值,.,五、注意事项,:,无,30,18,. MAX. AND MIN. LOAD CHANGE TEST / 重轻载变化测试,Fig. 12 Max. and Min. load - 90Vac(60Hz) CC=1/0. 0A,31,19. INPUT VOLTAGE CHANGE TEST / 输入电压变动测试,一、目的,:,测试,S.M.P.S.,的输入电压在规格要求內变动时,是否会对,S.M.P.S.,造成损伤或输出不稳定,.,二,.,使用仪器设备,:,(1). AC SOURCE /,交流电源,;,(2). ELECTRONIC LOAD /,电子负载,;,(3). OSCILLOSCOPE /,示波器,;,三,.,测试条件,:,依,SPEC.,所规定,:,输入电压,AC LINE,和负载,LOAD,值,.,四、 测试方法,:,(1).,将待测输出负载设在,MAX. LOAD,和,MIN. LOAD.,(2). TRIGGER SLOPE,设定为,+, TRIGGER MODE,设定为,AUTO, TIME/DIV,视情况而定,1S/DIV,或,2S/DIV.,(3).,变动输入电压,如,:90Vac-180Vac;115Vac-230Vac;132Vac-264Vac;0-90Vac 0-264Vac.,(4).,测试输出电压在输入电压变动时的最大值和最小值,.,五、注意事项,:,输出电压变动的范围应在规格电压要求内,.,32,19. INPUT VOLTAGE CHANGE TEST / 输入电压变动测试,Fig. 13 Input volt. change - 90-180Vac(50Hz) & 1.0A,33,20,. POWER ON/OFF CYCLE TEST / 电源开关循环测试,一、目的,:,测试 S.M.P.S. 是否能承受连续开关操作下的冲击.,二,.,使用仪器设备,:,(1). AC SOURCE /,交流电源,;,(2). ELECTRONIC LOAD /,电子负载,;,(3). OSCILLOSCOPE /,示波器,;,(4) POWER ON/OFF TESTER /,电源开关测试仪,;,三,.,测试条件,:,(1). 输入电压: 11,5,Vac/2,3,0Vac 输出负载: 满载.,(2). ON/OFF,时间,: ON 5,秒,/ OFF 5,秒,ON/OFF CYCLE,：,AT LEAST 5000 CYCLE.,(3).,环境温度,:,室温,.,四、 测试方法,:,(1).,连接待测品到电源开,/,关测试仪及电源,. (115Vac,和,230Vac &,满载,或依客户规格执行,),(2). S.M.P.S OFF 5,秒 及,ON 5,秒为一周期,总共测试周期,: 5000 CYCLES.,(3).,测试过程中每完成,1000,周期时,记录产品的输入功率和输出电压,.,(4).,待试验结束后,确定待测品在试验前后电气性能是否有差异,.,五、注意事项,:,测试过程中或测试完成阶段,待测品都需能正常操作且不应有任何性能降低情况发生,.,34,21,. COMPONENT THERMAL TEST / 元件温升测试,一、目的,:,测试 S.M.P.S. 在规格操作环境, 电压, 频率和负载条件时, 元件的温升状况.,二,.,使用仪器设备,:,(1). AC SOURCE /,交流电源,;,(2). ELECTRONIC LOAD /,电子负载,;,(3). HYBRID RECORDER /,混合记录仪,(DR130);,(,4,). TEMP. CHAMBER / 温控室,;,三,.,测试条件,:,依,SPEC.,规定,:,输入电压,AC LINE,频率,FREQUENCY,输出负载,LOAD,及环境温度,.,四、 测试方法,:,(1).,依线路情况先确定温升较高的元件,后用温升线粘贴所确定的元件,.,(2).,依规格设定好测试条件,(AC LINE AND OUTPUT LOAD),再开机,并记录输入功率和输出电压,.,(3).,用混合记录仪,HYBRID RECORDER,记录元件的温升曲线,待元件温升完全稳定后打印结果,并记录输入功率和输出电压,.,五、注意事项,:,(1).,温升线耦合点应尽量贴着元件测试点,温升线走势应尽量避免影响,S.M.P.S,元件的散热,.,(2).,测试的样品应模拟其实际的或在系统中的摆放状态,.,(3).,针对于无风扇,( NO FAN),的产品,测试时应尽量避免外界风流动对它的影响,.,35,2,2,. HIGH TEMP OPERATION TEST / 高温操作测试,一、目的,:,测试高温环境对,S.M.P.S.,操作过程中的结构,元件及整机电气的影响,用以考量,S.M.P.S.,结构,设计及零件选用的合理性.,二,.,使用仪器设备,:,(1). AC SOURCE /,交流电源,;,(2). ELECTRONIC LOAD /,电子负载,;,(3). AC POWER METER / 功率表,;,(,4,). TEMP. CHAMBER / 温控室,;,(5). HI-POT TESTER /,高压测试仪,三,.,测试条件,:,(1). 依SPEC.要求: 输入条件 (RATED VOLTAGE), 输出负载 (FULL LOAD) 和操作温度,OPERATION TEMP (,通常为温度,: 40);,(2).,试验时间,: 4Hrs.,四、 测试方法,:,(1).,将待测品置于温控室内,依规格设定好输入输出测试条件,然后开机,;,(2).,依规格设定好温控室的温度和湿度,然后启动温控室,;,(3).,定时记录待测品输入功率和输出电压,以及待测品是否有异常,;,(4).,做完测试后回温到室温,再将待测品从温控室中移出,在常温环境下至少恢复,4,小时,.,五、注意事项,:,(1).,产品试验期间与试验后,产品性能不能出现降级与退化现象,.,(2).,试验后产品的介电强度与绝缘电阻测试需符合规格书要求,.,36,2,3,. HIGH TEMP.&HUMIDITY STORAGE TEST / 高温高湿储存测试,一、目的,:,测试高温高湿储存环境对,S.M.P.S.,的结构,元件及整机电气的影响,用以考量,S.M.P.S.,结构设计及零件选用的合理性,.,二,.,使用仪器设备,:,(1). AC SOURCE /,交流电源,;,(2). ELECTRONIC LOAD /,电子负载,;,(3). AC POWER METER / 功率表,;,(,4,). TEMP. CHAMBER / 温控室,;,(5). HI-POT TESTER /,高压测试仪,三,.,测试条件,:,储存高温高湿条件: 通常为温度 70,2, 湿度 90-95% 试验时间,24,Hrs(非操作条件).,四、 测试方法,:,(1).,试验前记录待测品输入功率,输出电压及,HI-POT,状况,;,(2).,将确认后的待测品置入恒温恒湿机内,依规格设定其温度和湿度,然后启动温控室,;,(3).,试验,24Hrs,试验结束后在空气中放置 至少,4Hrs,再确认待测品外观,结构及电气性能是否有异常,.,五、注意事项,:,(1).,产品试验期间与试验后,产品性能不能出现降级与退化现象,.,(2).,试验后产品的介电强度与绝缘电阻测试需符合规格书要求,.,37,2,4,. LOW TEMP. OPERATION TEST / 低温操作测试,一、目的,:,测试低温环境对,S.M.P.S.,操作过程中的结构,元件及整机电气的影响,用以考量,S.M.P.S.,结构,设计及零件选用的合理性.,二,.,使用仪器设备,:,(1). AC SOURCE /,交流电源,;,(2). ELECTRONIC LOAD /,电子负载,;,(3). AC POWER METER / 功率表,;,(,4,). TEMP. CHAMBER / 温控室,;,(5). HI-POT TESTER /,高压测试仪,;,三,.,测试条件,:,(1).,依,SPEC.,要求,:,输入条件,(RATED VOLTAGE),输出负载,(FULL LOAD),和操作温度,(OPERATION TEMP.),通常温度为,:(0).,(2).,试验时间,: 4Hrs.,四、 测试方法,:,(1).,将待测品置于温控室内,依规格设定好输入输出测试条件,然后开机,.,(2).,依规格设定好温控室的温度,然后启动温控室,.,(3).,定时记录待测品输入功率和输出电压,以及待测品是否有异常,;,(4).,做完测试后将待测品从温控室中移出,在常温环境下恢复至少,4,小时,然后确认其外观和电气性能有无异常,.,五、注意事项,:,(1).,产品试验期间与试验后,产品性能不能出现降级与退化现象,.,(2).,试验后产品的介电强度与绝缘电阻测试需符合规格书要求,.,38,2,5,. LOW TEMP. STORAGE TEST / 低温储存测试,一、目的,:,测试低温储存环境对,S.M.P.S.,的结构,元件及整机电气的影响,用以考量,S.M.P.S.,结构设计及,零件选用的合理性.,二,.,使用仪器设备,:,(1). AC SOURCE /,交流电源,;,(2). ELECTRONIC LOAD /,电子负载,;,(3). AC POWER METER / 功率表,;,(,4,). TEMP. CHAMBER / 温控室,;,(5). HI-POT TESTER /,高压测试仪,;,三,.,测试条件,:,储存低温条件,:,通常为温度,-30,试验时间,24Hrs(,非操作条件,).,四、 测试方法,:,(1).,试验前记录待测品输入功率,输出电压及,HI-POT,状况,.,(2).,将确认后的待测品置入恒温恒湿机内,依规格设定其温度,然后启动温控室,.,(3).,试验,24Hrs,试验结束后在空气中放置 至少,4Hrs,再将待测品做,HI-POT,测试,记录测试结果,之后确认待测品的外观,结构及电气性能是否有异常,.,五、注意事项,:,(1).,产品试验期间与试验后,产品性能不能出现降级与退化现象,.,(2).,试验后产品的介电强度与绝缘电阻测试需符合规格书要求,.,39,2,6,. LOW TEMP. STARTING UP TEST / 低温启动测试,一、目的,:,测试低温储存环境对,S.M.P.S.,的整机电气的影响,用以考量,S.M.P.S.,电气及零件选用的合理性,.,二,.,使用仪器设备,:,(1). AC SOURCE /,交流电源,;,(2). ELECTRONIC LOAD /,电子负载,;,(3).,AC POWER METER / 功率表,;,(,4,).,TEMP. CHAMBER / 温控室,;,三,.,测试条件,:,储存低温条件: 通常为操作温度,0,条件下降低到 -10,2, 储存时间至少 4Hrs.,四、 测试方法,:,(1).,试验前记录待测品输入功率,输出电压及,HI-POT,状况,.,(2).,将确认后的待测品置入恒温恒湿机内,依规格设定其温度,然后启动温控室,.,(3).,试验温度储存至少,4Hrs,然后分别在,115Vac/60Hz & 230Vac/50Hz,和输出最大负载条件下开关机各,20,次,确认待测品电气性能是否正常,.,五、注意事项,:,(1).,在产品性能测试期间或测试之后,产品性能不能出现降级与退化现象,.,(2).,设定的环境温度为操作低温的温度再降,-10,度,.,40,2,7,. TEMPERATURE CYCLING TEST / 温度循环测试,一、目的,:,测试针对 S.M.P.S. 所有组成零件的加速性测试, 用来显露出在实际操作中所可能出现的问题.,二,.,使用仪器设备,:,(1). AC SOURCE /,交流电源,;,(2). ELECTRONIC LOAD /,电子负载,;,(3). AC POWER METER / 功率表,;,(,4,). TEMP. CHAMBER / 温控室,;,(5). HI-POT TESTER /,高压测试仪,;,三,.,测试条件,:,操作温度条件,:,通常为低温度,-40 ,、,25,、,33,和高温度,66 (,湿度,: 50-90%),试验至少,24,个循环,.,四、 测试方法,:,(1).,试验前记录待测品输入功率,输出电压及,HI-POT,状况,.,(2).,将确认后的待测品置入恒温恒湿机内,以无包装,非操作状态下,.,(3).,设定温度顺序为,662 ,保持,1,小时, 332 ,和湿度,902%,保持,1,小时, -402 ,保持,1,小时, 252 ,和湿度,502%,保持,30,分钟,为一个循环,.,(4).,启动恒温恒湿机,然后记录其温度与时间的图形,监视系统所记录的过程,(5).,试验完成后,温度回到室温再将待测物从恒温恒湿机中移出,放置样品在空气中,4Hr,再确认外观,结构及电气性能是否有异常,.,五、注意事项,:,(1).,经过冷热冲击试验后产品的性能与外观不能出现降级与退化现象,.,(2).,经过冷热冲击试验后产品的介电强度与绝缘电阻应符合规格书要求,.,41,28,. THERMAL SHOCK TEST / 冷热冲击测试,一、目的,:,测试高,低温度冲击对,S.M.P.S.,的影响,用来揭露各组成元件的弱点,.,二,.,使用仪器设备,:,(1). AC SOURCE /,交流电源,;,(2). ELECTRONIC LOAD /,电子负载,;,(3). AC POWER METER / 功率表,;,(,4,). TEMP. CHAMBER / 温控室,;,(5). HI-POT TESTER /,高压测试仪,;,三,.,测试条件,: