10373-6(附录)

单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,2011-12-6,#,10373-6,（附录篇,A-E,）,任鹏飞,附录,A,（,PCD,测试天线）,PCD,的测试天线布局包括阻抗匹配网络。,图,A1.A2.A3.A4,阐述了,PCD,测试天线的布局。图纸是没有比例的。天线线圈宽度是,1.8mm,（除了电镀穿孔）。从阻抗匹配网络每,45,有交叉。印制电路板（,PCB,）：,FR4,材料、厚度为,1.6mm,、两面都有,35,m,铜。,A.2,阻抗匹配网络,天线的阻抗（,Rant,，,Lant,）是适应信号发生器输出阻抗（,z=50,）由一个匹配的电路（见,A.2.1,和,A.2.2).,电容器的,c1,c1a,c1b,c2,和,c3,有固定的值。输入阻抗相位可以调整可变电容器,c4,。,PCD,的测试组件在,5.3,规定的和这个附件规定是打算用于时间上的有限测量，避免任何独立的部件过热。如果不断的测试，散热应该加以改进。应注意保持最大电压和最大限度的散热，在指定范围的独立部件。阻抗匹配网络的两种描述：阻抗匹配网络的比特率,fc/128,和阻抗匹配网络的比特率,fc/64, fc/32,和,fc/16.,表个,A.1,包含着他们的使用案例。,A.2.1,阻抗匹配网络的比特率,fc/128,A.2.2,阻抗匹配网络的比特率,fc/64, fc/32,和,fc/16,附录,B,（,PCD,的测试天线调谐）,图,B.1,和,B.2,显示两个步骤，一个简单的相位调整程序匹配阻抗的的天线去驱动发生器。在两个步骤后的信号发生器的调谐程序应直接连接到测试的输出天线上。,Step 1,一个高精度电阻阻值为,501,（例如,50 BNC,电阻）插在信号线的信号发生器的输出端和天线的连接器之间。在两个探针的示波器是连接到双方得串行参考电阻。示波器显示一个,lissajous,图时，它设定在,y,到,x,的描述。信号发生器将：,波形：正弦曲线的；,频率：,13.56MHZ,；,振幅：,2v(rms)- 5 V(rms),。,输出终止了第二个高精密电阻,501,（例如,50 BNC,终止电阻）。探测器，这是平行的输出连接器有一个小的寄生电容,C,（,probe,）。一个校准电容,Ccal,参考电阻并联补偿电容器这个探头（,Cprobe Ccal,）。探头的电容补偿,lissajous,时完全关闭。,Step 2,使用相同的值数作为第一步，第二部是匹配电路连接到天线输出，在天线上的电容器,C4,板是用来调谐相位为零。,附录,C,（感应线圈）,Sense coil layout,感应线圈组件,附录,D,（,Reference PICC,的天线布局）,尺寸跟踪中心（图纸没有比例）,耦合线圈和主要线圈应同心。,这两个线圈磁道宽度和间距应该是,0.5mm,，相对误差为,20,。,印制电路板（,PCB,）：,FR4,材料，厚度,0.76mm,与一个相对宽度的,10,，两面是,35,m,铜。,附录,E,（调制指数和波形分析工具）,概述,E.2,取样,示波器用于信号采集中定义的规定，履行,5.1.1.,要求。时间和调制脉冲电压数据（见图,e.2,）将转移到一个合适的电脑。,E.3,过滤,一个,4th,秩序，巴特型带通滤波器的中心频率,13.56MHZ,和,10MHZ 3-dB,带宽必须用于过滤直流和更高的谐波分量。过滤器的特点是在图,E.3,说明。,E.4,包络生成,滤过的信号应当,Hibert,变换的和复合变换的大小代表信号包络。,E.5,包络参数的平滑算法,The signal envelope shall be smoothened with a moving average filter and the filter period shall be one carrier period.,The smoothened envelope signal is illustrated Figure E.4.,E.6,调制指数测定,最初的和调制包络信号振幅，须由计算的平滑直方图包络信号。最频繁的值数与初始和调制包络信号振幅。调制型信号包络信号幅度只有初步确定直方图的方法使用。,E.7,定时测定,上升和下降时间可以根据定义,ISO / IEC 14443 - 2:2010,。,E.8,过冲和下冲的测定。,已经理顺包络信号应进一步平滑移动平均滤波器超过,3,载体之前确定的过冲和下冲值根据定义的标准,14443-2:2010,。,E.9,程序的调制指数和波形分析工具,(,信息,),接下来的程序是用,C,语言编写给出了一个例子为实施调制指数和波形分析工具。,C,实现包含,6,个不同文件。应放置在同一文件夹中。,附录,G(,附加的,PICC,测试方法,),G.1 PICC,的测试仪器及配件,这一条款定义和测试电路测试装置进行,PICC,操作的根据,ISO / IEC 14443 3,。测试装置包括：,校准线圈（见,5.2,）；,测试,PCD,总成（见,5.3,）；,数字采样示波器（,5.1.1,）,.,应注意保证结果并未受到无线电频率性能的测试电路。,G.1.1,模拟,I / O,协议,这,PICC,的测试仪器能效仿,A,型和,B,型的协议，必须测试一个,PICC,。,G.1.2,产生,I/O,特点的时间接收方式。,PICC,测试仪器就可以根据,ISO / IEC 14443 - 3,产生,I/ O,码流了。定时参数：配置起始位的长度、监视时间、位宽度、请求保护的时间、起始宽度的框架、最终的框架宽度。,G.1.3,测量和监控的无线电频率,I / O,协议。,这,PICC,测试仪器能测量和监视时间的逻辑状态下得低频和高频无线电频率输入,/,接受线相对的时间频率,.,这,PICC,测试仪器应该能监控,PICC,的副载波。,G.1.4,协议分析,PICC,测试仪器能分析,I/O,位流依照协议中的,A,型和,B,型中指定的,ISO/IEC 14443-3:,和,ISO/IEC 14443-4:2008,和提取逻辑数据流为进一步的协议分析。,G.1.5 RFU,领域,RFU,领域应该实时监控领域的测试过程中和应永远被验证包含指定的默认值,