现代测试与分析

上传人:沈*** 文档编号:173293229 上传时间:2022-12-09 格式:PPT 页数:47 大小:5.36MB
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课课 程程 内内 容容 第一部分 X射线衍射分析2.X 射线的本质射线的本质波长很短的电磁波波长很短的电磁波5.X射线谱X射线产生n连续X射线谱n特征X射线谱 n特征X射线谱的频率和波长只取决于阳极靶物质,它是物质的固有特征。(1/)1/2=c(z-)(莫塞莱定律)l为线吸收系数(表征沿穿越方向单位长度上X射线强度衰减的程度,它与X射线的波长、吸收物质及其物理状态有关)ttlleIIeII00/lminiillmW1)(33zkm7.X射线的安全防护n安全剂量n重金属铅可强烈吸收X射线 相干相干3aLKHdSinLKHad2)(2)(2/12222/1222aLcaKHdSin2)/(22/12222)()()/()32/()/(22234240RePFvVRcmeIIMhklHKL21212)(2)(2LwKvHuSinfLwKvHuCosfFjjjnjjjjjnjjHKL 晶体结构与消光规律晶体结构与消光规律晶体结构晶体结构结构消光(结构消光(FHKL=0)条件)条件简单主体简单主体无结构消光无结构消光体心立方体心立方H+K+L=奇数奇数面心立方面心立方H、K、L奇偶混合奇偶混合体心正方体心正方H+K+L=奇数奇数金刚石立方金刚石立方(Ge、Si)H、K、L奇偶混合,奇偶混合,或或H、K、L全偶全偶 但但H+K+L 4n密排六方密排六方(-T、Zr、Mg等等H+2K=3n 及及 L=奇数奇数三、三、mmjjjjwkI(nX 射线分析方法在材料学领域的其它应用射线分析方法在材料学领域的其它应用固溶分析:确定固溶类型,测定溶质含量等。晶粒大小测定 测定晶粒的平均大小。应力测定 测定宏观、微观和局域的内应力及原子间结合力晶体取向测定 第二部分 电子显微分析 X射线衍射仪 电子探针仪 扫描电镜X 射 线 二次电子 入射电子 背散射电子阴极荧光 吸收电子 俄歇电子 试 样 透射电子俄歇电子能谱 透射电子显微镜 电子与物质相互作用产生的信息及相应仪器扫描电子显微镜scAAM Flower with a bug with no fixation(BSE)Penicillium oryzae without fixation(BSE)Mite Tyrophagus Putrescentiae without fixation(BSE)Powdery mildew of Babys breath Oidium sp.without fixation(BSE)Red blood cell with fixation and coating(SE)
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