《SPC培训教材》PPT课件.ppt

统计过程控制,SPC (Statistical Process Control)统计过程控制,整 理：阿 炳,课堂纪律,手机：打震动或关机,讨论：人多，讲师同意方可进行,发言：允许，但注意秩序，不要起哄,总原则：请不要影响他人,整 理：阿 炳,管理小故事,扁鹊的医术 魏文王问名医扁鹊说：“你们家兄弟三人，都精于医术，到底哪一位最好呢？” 扁鹊答：“长兄最好，中兄次之，我最差。” 文王再问：“那么为什么你最出名呢？” 扁鹊答：“长兄治病，是治病于病情发作之前。由于一般人不知道他事先能铲除病因，所以他的名气无法传出去；中兄治病，是治病于病情初起时。一般人以为他只能治轻微的小病，所以他的名气只及本乡里。而我是治病于病情严重之时。一般人都看到我在经脉上穿针管放血、在皮肤上敷药等大手术，所以以为我的医术高明，名气因此响遍全国。”,质量管理心得：事后控制不如事中控制，事中控制不如事前控制，可惜大多数的质量管理者均未能体会到这一点，等到错误造成了重大的损失才寻求弥补。而往往是即使请来了名气很大的“空降兵”，结果于事无补。 所以事前控制的方法是目前质量管理员迫切需要的一种管控方法。SPC就提供了很好的一种管控方法。,整 理：阿 炳,过程,一组将输入转化为输出的相互关联或相互关系的活动，就过程。 一个过程的输入通常是其他过程的输出 组织为了增值通常对过程进行策划并时期在受控条件下进行,活动,输入,输出,支持活动，如：培训、设备维护等,管理活动或资源提供,过程单元,整 理：阿 炳,过程控制的三种方法,过程,过程单元,过程前控制,过程中控制,过程后控制,统计过程控制,刀具控制,程式控制,制程检验,首件检验,抽检、自检,全检, ,整 理：阿 炳,三种控制方法的能力分析,技术控制成本,物力控制成本,过程后控制,过程中控制,过程前控制,生产品质,整 理：阿 炳,过程控制的需要,检测-容忍浪费：抽样或100%检验的不足 预防-避免浪费： 质量是生产出来的，不是检验出来的,整 理：阿 炳,为什么要应用SPC?,整 理：阿 炳,SPC技术原理,整 理：阿 炳,SPC的定义:,统计过程控制即SPC (Statistical Process Control),它是应用统计方法对过程中的各个阶段进行监控，从而达到保证与改进质量的目的。SPC强调全过程的预防为主。,整 理：阿 炳,SPC的产生,工业革命以后， 随着生产力的进一步发展，大规模生产的形成，如何控制大批量产品质量成为一个突出问题，单纯依靠事后检验的质量控制方法已不能适应当时经济发展的要求，必须改进质量管理方式。于是，英、美等国开始着手研究用统计方法代替事后检验的质量控制方法。 1924年，美国的休哈特博士提出将3Sigma原理运用于生产过程当中，并发表了著名的“控制图法”，对过程变量进行控制，为统计质量管理奠定了理论和方法基础。 SPC控制图不同于抽样检验。抽样检验是对最终产品实施质量控制，这种事后检验的策略通常会造成浪费和损失；而SPC控制图是采取预防策略，通常可避免浪费和损失。 SPC控制图是由美国贝尔实验室的休哈特博士于1924年首先提出的。他有几句名言： “在一切制造过程 中所呈现出的变异有两个分量。第一个分量是过程内部引起的稳定分量，即正常变异；第二个分量是可查明原因的间断变异，即异常变异。” “那些可查明原因的变异可用有效方法加以发现，并可被剔去，但正常变异不会消失，除非改变基本过程。” “基本3限的SPC控制图可以把正常变异与异常变异区分开来。,整 理：阿 炳,SPC的发展简史,SPC是美国贝尔实验室休哈特博士在20世纪二、三十年代所创立的理论，它能科学地区分出生产过程中产品质量的偶然波动与异常波动，从而对生产过程的异常及时告警，以便采取措施，消除异常，恢复过程的稳定。 SPCD是Statistical Process Control and Diagnosis的简称，即统计过程控制与诊断, 它是SPC发展的第二阶段。SPC虽能对过程的异常进行告警，但它并不能分辨出是什么异常，发生于何处，即不能进行诊断，1982年我国首创两种质量诊断理论，突破了休哈特质量控制理论，开辟了统计质量诊断的新方向。此后，我国质量专家又提出了多元逐步诊断理论和两种质量多元诊断理论，解决了多工序、多指标系统的质量控制与诊断问题。 SPCDA是Statistical Process Control , Diagnosis and Adjustment的简称，即统计过程控制、诊断与调整,它能控制产品质量、发现异常并诊断导致异常的原因、自动进行调整，是SPC发展的第三个阶段，目前尚无实用性成果。,整 理：阿 炳,SPC的特点,SPC是全系统的，全过程的，要求全员参加，人人有责。 SPC强调用科学方法(统计技术，尤其是控制图理论)来保证全过程的预防。 SPC不仅用于生产过程，而且用于服务过程和管理过程。,整 理：阿 炳,一组重要的统计概念,计数型数值与计量型数值 平均值、中位数 极差、标准差,整 理：阿 炳,计数型数值和计量型数值,整 理：阿 炳,平均值（Xbar或X）,整 理：阿 炳,河水平均深度 1.4M, 士兵平均身高 1.7M,整 理：阿 炳,平均温度20度,整 理：阿 炳,平均主义害死人 !,数据分析中，平均值的分比较重要，但如果不能正确应用，仅仅应用平均值会让我们犯错,整 理：阿 炳,极差（R)，组距,作用: 表明数据之间的离散程度,整 理：阿 炳,中位数（ X）,=,X(n+1)/2 n为奇数 Xn/2 + Xn/2 +1 n为偶数,2,整 理：阿 炳,标准差 （Sigma),标准差 总体标准差 = 样本标准差 = 通常用样本标准差近似的估计为总体标准差 标准差的意义：一组数中各单个值与总体平均数之间的平均离差，说明改组数的离散程度,整 理：阿 炳,标准偏差与极差的关系（对于给定的样本容量,平均极差-R越大,标准偏差- 越大）,X,范围,范围,X,X,范围,R,R,R,标准偏差与极差的关系,整 理：阿 炳,特殊原因 一种间断性的，不可预计的，不稳定的变差来源。有时被称为可查明原因，存在它的信号是：存在超过控制线的点或存在在控制线之内的链或其他非随机性的情形。,普通原因 造成变差的一个原因，它影响被研究过程输出的所有单值；在控制图分析中，它表现为随机过程变差的一部分。,普通原因与特殊原因,整 理：阿 炳,变差（波动）的普通原因与特殊原因的区别,整 理：阿 炳,改进方式,普通原因 是无法避免的 每天都会发生 需要很多的资金 影响性15 占所有问题的85 必须有高阶管理者 参与解决,特殊原因 可以避免的 一发生即会造成很大的损失 影响性85 占所有问题的15 基层管理干部即可解 决,整 理：阿 炳,局部措施和对系统采取措施,局部措施 通常用来消除变差的特殊原因 通常由与过程直接相关的人员实施 通常可纠正大约15%的过程问题 对系统采取措施 通常用来消除变差的普通原因 几乎总是要求管理措施，以便纠正 大约可纠正85%的过程问题,整 理：阿 炳,过度调整,过度调整是把每一个偏离目标的值当作过程中特殊原因处理的作法。,如果根据每一次所做的测量结果来调整一个稳定的过程，则调整本身就成了一个变差源。,整 理：阿 炳,过程控制,目标：对影响过程的措施做出合理经济的决定 过程在统计控制下运行（过程受控）：仅存在造成变差的特殊原因 过程控制的作用：当出现变差的特殊原因时报警；反之，不报警,整 理：阿 炳,过程控制 受控 （消除了特殊原因） 时间 范围 不受控 （存在特殊原因）,整 理：阿 炳,过程控制的工具-控制图,上控制限 中心限 下控制限,控制图是1924年休哈特博士在贝尔实验室发明的。 基于可控制和不可控制的变差的区分。 二战后的日本工业企业将控制图应用到极致，为战后日本的经济复苏做出了很大的贡献,控制图原理-3Sigma原则,当质量特性的随机变量x服从正态分布时，则x落在3 的概率是99.73%。 根据小概率事件可以“忽略”的原则：如果出现超出3 范围的x值，则认为过程存在异常。,所以，在过程正常情况下约有99.73%的点落在在此控制线内。 观察控制图的数据位置，可以了解过程情况有无改变。,注：正态分布（NormalDistribution）一种针对计量型数据的连续的、对称的、钟形的频率分布，它是计量型数据控制图的基础。,整 理：阿 炳,控制图的控制线,中心线（CL): X 上控制线/限（UCL): X+ 3 下控制线/限（LCL): X- 3 右转90度,3 ,3 ,x,99.73%,整 理：阿 炳,公差界限与控制界限的区别,公差界限： 区分合格品与不合格品 控制界限： 区分正常波动与异常波动,注：控制界限 中心线 CL 公差界限 中心线 SL 上控制限UCL 上控制限USL 下控制限 LCL 下控制限 LSL,整 理：阿 炳,整 理：阿 炳,UCL,LCL,第类错误（）：虚发警报 第类错误（）：漏发警报,两类错误,整 理：阿 炳,两类错误都会造成损失 上下控制限间距变大： 减小， 增大 上下控制限间距变小： 增大， 减小 间距的设定寻求二者的均衡点（ 3 ）,两类错误,整 理：阿 炳,控制图设计思想,先确定 ，再看 -按照3方式确定UCL、CL、LCL， 0 =0.27% -通常采用 =1%，5%，10%三级，为了增加使用者的信心，取 =0.27%。 越大， 越小,1%,5%,10%,整 理：阿 炳,合理使用控制图的益处,供正在进行过程控制的操作者使用 有助于过程在质量上和成本上能持续的、可预测的保持下去 使过程达到： 更高的质量 更低的单件成本 更高的有效能力 为讨论过程的性能提供共同的语言 区分变差的特殊原因和普通原因，作为采取局部措施或对系统采取措施的指南,整 理：阿 炳,现场作控制图人员应具备的条件：,（1）、 必须熟知所要做SPC产品的作业基准书的要求； （2）、 量检具的正确使用，保证测量数据准确； （3）、 控制图会描点连线，异常情况会判定； （4）、 与人员的沟通与协调能力； （5）、 处理事情的及时性与有效性。,整 理：阿 炳,控制图的样式：,整 理：阿 炳,控制图的基本步骤,1、收集 收集数据并画在图上 2、控制 根据过程数据计算实验控制限 识别变差的特殊原因并采取措施 3、分析及改进 确定普通原因变差的大小并采取减小它的措施 重复这三个阶段从而不断改进过程,整 理：阿 炳,使用控制图的两个阶段,过程分析阶段（初始能力研究） 过程监控阶段,整 理：阿 炳,分析用控制图与控制用控制图,分析用控制图 应用控制图时，首先将非稳态的过程调整到稳态，用分析控制图判断是否达到稳态。确定过程参数 特点： 1、分析过程是否为统计控制状态 2、过程能力指数是否满足要求？ 控制用控制图 等过程调整到稳态后，延长控制图的控制线作为控制用控制图。应用过程参数判断,整 理：阿 炳,控制图类型,注：我们常用的是计量型控制图。它的最大优点灵敏度高，往往在真正造成不合格品之前已经及时发现异常，采取纠正措施。 计量型控制图常用的又有两种：一种是均值极差图(X-R控制图)，一种是移动极差图( X-MR 控制图)。,整 理：阿 炳,控制图的选择方法,确定要制定控制图的特性,是计量型数据吗？,否,关心的是不合格品率？,否,关心的是不合格数吗？,是,样本容量是否恒定？,是,使用np或p图,否,使用p图,样本容量是否桓定？,否,使用u图,是,是,使用c或u图,是,性质上是否是均匀或不能按子组取样例如：化学槽液、批量油漆等？,否,子组均值是 否能很方便 地计算？,否,使用中 位数图,是,使用单值图X-MR,是,接上页,子组容量是否大于或等于9？,是,否,是否能方便地计算每个子组的S值？,使用 XR图,是,否,使用 XR图,使用 X s图,注：本图假设测量系统已经通过评价并且是适用的。,控制图的选择方法,整 理：阿 炳,计量型数据控制图,与过程有关的控制图 计量单位：（mm, kg等） 过程,人员,方法,材料,环境,设备,1 2 3 4 5 6,接上页,测量方法必须保证始终产生准确和精密的结果,不精密,精密,准确,不准确,整 理：阿 炳,使用控制图的准备,1、建立适合于实施的环境 a 排除阻碍人员公正的因素 b 提供相应的资源 c 管理者支持 2、定义过程 根据加工过程和上下使用者之间的关系，分析每个阶段的影响 因素。 3、确定待控制的特性 应考虑到： 顾客的需求 当前及潜在的问题区域 特性间的相互关系,接上页,4、确定测量系统 a 规定检测的人员、环境、方法、数量、频率、设备或量具。 b 确保检测设备或量具本身的准确性和精密性。 5、使不必要的变差最小 确保过程按预定的方式运行 确保输入的材料符合要求 恒定的控制设定值 注：应在过程记录表上记录所有的相关事件，如：刀具更新，新的材料批 次等，有利于下一步的过程分析。,整 理：阿 炳,均值和极差图（X-R）,1、收集数据 以样本容量恒定的子组形式报告，子组通常包括2-5件连续的产品，并周性期的抽取子组。 注：应制定一个收集数据的计划，将其作为收集、记录及描图的依据。 1-1 选择子组大小，频率和数据 1-1-1 子组大小：一般为5件连续的产品，仅代表单一刀具/冲头/过程 流等。（注：数据仅代表单一刀具、冲头、模具等 生产出来的零件，即一个单一的生产流。） 1-1-2 子组频率：在适当的时间内收集足够的数据，这样子组才能 反映潜在的变化，这些变化原因可能是换班/操作人 员更换/材料批次不同等原因引起。对正在生产的产 品进行监测的子组频率可以是每班2次，或一小时一 次等。,例,整 理：阿 炳,接上页,1-1-3 子组数：子组越多，变差越有机会出现。一般为25组，首次使 用管制图选用35 组数据，以便调整。 1-2 建立控制图及记录原始数据 （见下图）,均值和极差图（X-R）,整 理：阿 炳,整 理：阿 炳,1-3、计算每个子组的均值（X）和极差R 对每个子组计算： X=（X1+X2+Xn）/ n R=Xmax-Xmin 式中： X1 ， X2 为子组内的每个测量值。n 表示子组 的样本容量 1-4、选择控制图的刻度 4-1 两个控制图的纵坐标分别用于 X 和 R 的测量值。 4-2 刻度选择 ：,整 理：阿 炳,接上页,对于X 图，坐标上的刻度值的最大值与最小值的差应至少为子组均值（X）的最大值与最小值的差的2倍，对于R图坐标上的刻度值的最大值与最小值的差应为初始阶段所遇到的最大极差（R）的2倍。 注：一个有用的建议是将 R 图的刻度值设置为 X 图刻度值的2倍。 （ 例如：平均值图上1个刻度代表0.01mm，则在极差图上 1个刻度代表0.02mm） 1-5、将均值和极差画到控制图上 5-1 X 图和 R 图上的点描好后及时用直线联接，浏览各点是否 合理，有无很高或很低的点，并检查计算及画图是否正确。 5-2 确保所画的X 和R点在纵向是对应的。 注：对于还没有计算控制限的初期操作的控制图上应清楚地注明“初始研究”字样。,整 理：阿 炳,2 计算控制限 首先计算极差的控制限，再计算均值的控制限 。 2-1 计算平均极差（R）及过程均值（X） R=（R1+R2+Rk）/ k（K表示子组数量） X =（X1+X2+Xk）/ k 2-2 计算控制限 计算控制限是为了显示仅存在变差的普通原因时子组的均 值和极差的变化和范围。控制限是由子组的样本容量以及反 映在极差上的子组内的变差的量来决定的。 计算公式： UCLx=X+ A2R UCLR=D4R LCLx=X - A2R LCLR=D3R,整 理：阿 炳,接上页 注：式中A2,D3,D4为常系数，决定于子组样本容量。其系数值 见下表 ：,注： 对于样本容量小于7的情况，LCLR可能技术上为一个负值。在这种情况下没有下控制限，这意味着对于一个样本数为6的子组，6个“同样的”测量结果是可能成立的。,整 理：阿 炳,2-3 在控制图上作出均值和极差的控制限,平均极差和过程均值画成实线。 各控制限画成虚线。 对各条线标上记号（UCLR ，LCLR ，UCLX ，LCLX） 注：在初始研究阶段，应注明试验控制限。 2-4 过程控制分析 分析控制图的目的在于识别过程变化或过程均值不恒定的证据。 （即其中之一或两者均不受控）进而采取适当的措施。 注1：R 图和 X 图应分别分析，但可进行比较，了解影响过程 的特殊原因。 注2：因为子组极差或子组均值的能力都取决于零件间的变差， 因此，首先应分析R图。,整 理：阿 炳,2-5 分析控制图前，先回顾一下3 控制图,整 理：阿 炳,3-1 分析极差图上的数据点,3-1-1 超出控制限的点 一个远离中心线超过3个标准差 a 出现一个或多个点超出任何控制限是该点处于失控状态的主要 证据，应分析。 b 超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种： b.1 控制限计算错误或描点时描错 b.2 零件间的变化性或分布的宽度已增大(即变坏）原材料不合格，设备故障等 b.3 测量系统变化（如：不同的检验员或量具） c 有一点位于下控制限之下，说明存在下列情况的一种或多种 c.1 控制限或描点时描错 c.2 分布的宽度变小（变好） c.3 测量系统已改变（包括数据编辑或变换）,整 理：阿 炳,不受控制的过程的极差（有超过控制限的点）,UCL,LCL,UCL,LCL,R,R,受控制的过程的极差,整 理：阿 炳,3-1-2 链- 有下列之现象表明过程已改变或出现某种趋势： 连续 7点在平均值一侧； 连续6点连续上升或下降； a 高于平均极差的链或上升链说明存在下列情况之一或全部： a-1 输出值的分布宽度增加，原因可能是无规律的（例如：设备工作不正常或固定松动）或是由于过程中的某要素变化（如使用新的不一致的原材料），这些问题都是常见的问题，需要纠正。 a-2 测量系统的改变（如新的检验人或新的量具)。 b 低于平均极差的链或下降链说明存在下列情况之一或全部： b-1 输出值的分布宽度减小，好状态 。 b-2 测量系统的改好。 注1：当子组数（n）变得更小（5或更小）时，出现低于 R 的链的可能 性增加。 注2：标注这些使人们作出决定的点，并从该点做一条参 考线延伸到 链的开始点，分析时应考虑开始出现变化趋势或变化的时 间。,整 理：阿 炳,UCL,LCL,R,UCL,R,LCL,（存在高于和低于极差均值的两种链）,不受控制的过程的极差（存在长的上升链）,不受控制的过程的极差,整 理：阿 炳,3-1-3 明显的非随机图形,a 非随机图形例子：明显的趋势；周期性；数据点的分布在整个控制限内，或子组内数据间有规律的关系等。 b 一般情况，明显的非随机图形有： 连续14点交替上下变化。 2/3的点距中心线的距离超过2个标准差(同一侧) 4/5的点排列在中心线的距离超过1个标准差(同一侧) 。 连续15个点排列在中心线1个标准差范围内(任一侧) 连续8个点距中心线的距离大于1个标准差(任一侧) c 说明存在下列情况的一种或多种: c-1 控制限计算错或描点已描错 。 c-2 过程或取样方法被分层，每个子组系统化包含了从两个或多 个具有完全不同的过程均值的过程流的测量值（如：从几组 轴中，每组抽一根来测取数据）。 c-3 数据已经过编辑（极差和均值相差太远的几个子组更改删除）。,整 理：阿 炳,3-1-4 识别并标注所有特殊原因（极差图）,a 对于极差数据内每一个特殊原因进行标注，作一个过程操作 分析，从而确定该原因并改进，防止再发生。 b 应及时分析问题，例如：出现一个超出控制限的点就立即开 始分析过程原因。,整 理：阿 炳,3-1-5 重新计算控制限（极差图）,a 在进行首次过程研究或重新评定过程能力时，失控的原因已 被识别和消除或制度化，然后应重新计算控制限，以排除失控 时期的影响，排除所有已被识别并解决或固定下来的特殊原因 影响的子组，然后重新计算新的平均极差R和控制限，并画下来， 使所有点均处于受控状态。 b 由于出现特殊原因而从R 图中去掉的子组，也应从X图中去掉。 修改后的 R 和 X 可用于重新计算均值的试验控制限，X A2R 。 注：排除代表不稳定条件的子组并不仅是“丢弃坏数据”。而是排除受已知的特殊原因影响的点。并且一定要改变过程，以使特殊原因不会作为过程的一部分重现。,整 理：阿 炳,3-2 分析均值图上的数据点,3-2-1 超出控制限的点一个远离中心线超过3个标准差： a 一点超出任一控制限通常表明存在下列情况之一或更多： a-1 控制限计算错或描点时描错 a-2 过程已更改，或是在当时的那一点（可能是一件独立的事件）或是一种趋势的一部分。原材料不合格，设备故障等 a-3 测量系统发生变化（例如：不同的量具或QC）,整 理：阿 炳,不受控制的过程的均值（有一点超过控制限）,受控制的过程的均值,UCL,LCL,X,LCL,UCL,X,整 理：阿 炳,3-2-2 链- 有下列现象之表明过程已改变或出现某种趋势： 连续 7点在平均值一侧； 连续6点连续上升或下降； a 与过程均值有关的链通常表明出现下列情况之一或两者。 a-1 过程均值已改变 a-2 测量系统已改变（漂移，偏差，灵敏度） a-3工具逐渐磨损、维修水平逐渐降低、操作人员技能逐渐提高等。 注：标注这些使人们作出决定的点，并从该点做一条参 考线延伸到 链的开始点，分析时应考虑开始出现变化趋势或变化的时 间。,整 理：阿 炳,不受控制的过程的均值（长的上升链）,不受控制的过程的均值（出现两条高于和低于均值的长链）,UCL,X,LCL,UCL,X,LCL,整 理：阿 炳,3-2-3 明显的非随机图形,a 非随机图形例子：明显的趋势；周期性；数据点的分布在整个控制限内，或子组内数据间有规律的关系等。 b 一般情况，明显的非随机图形有： 连续14点交替上下变化。 2/3的点距中心线的距离超过2个标准差(同一侧) 4/5的点排列在中心线的距离超过1个标准差(同一侧) 。 连续15个点排列在中心线1个标准差范围内(任一侧) 连续8个点距中心线的距离大于1个标准差(任一侧) c 说明存在下列情况的一种或多种: c-1 控制限计算错或描点已描错 。 c-2 过程或取样方法被分层，每个子组系统化包含了从两个或多 个具有完全不同的过程均值的过程流的测量值（如：从几组 轴中，每组抽一根来测取数据）。,整 理：阿 炳,c-3 数据分组不当、控制规格太宽和数据不准确。 c-4过程的标准差太大等。 注：如果存在几个过程流，应分别识别和追踪。,接上页,整 理：阿 炳,UCL,X,LCL,UCL,X,LCL,均值失控的过程（点离过程均值太近）,均值失控的过程（点离控制限太近）,整 理：阿 炳,3-2-4 识别并标注所有特殊原因（均值图）,a 对于均值数据内每一个显示处于失控状态的条件进行一次过 程操作分析，从而确定产生特殊原因的理由，纠正该状态， 防止再发生。 b 应及时分析问题，例如：出现一个超出控制限的点就立即开 始分析过程原因。 3-6 重新计算控制限（均值图） 在进行首次过程研究或重新评定过程能力时，要排除已发现 并解决了的特殊原因的任何失控点，然后重新计算并描画过程 均值 X 和控制限，使所有点均处于受控状态。,整 理：阿 炳,3-3 为了继续进行控制延长控制限,a 当首批数据都在试验控制限之内（即控制限确定后），延长控 制限，将其作为将来的一段时期的控制限。 b 当子组容量变化时，（例如：减少样本容量，增加抽样频率） 应调整中心限和控制限 。方法如下： b -1 估计过程的标准偏差（用 表示），用现有的子组容 量计算： = R/d2 式中R为子组极差的均值（在极差受控期间）， d2 为随样本 容量变化的常数，如下表：,整 理：阿 炳,b 2 按照新的子组容量查表得到系数d2 、D3、D4 和 A2，计算新 的极差和控制限： R新 = d2 UCLR= D4 R新 LCLR = D3 R新 UCLX = X+ A2 R新 LCLX = X A2 R新 将这些控制限画在控制图上。,整 理：阿 炳,4总结：过程异常判断准则,出现超出控制线的点一个远离中心线超过3个标准差 存在链（Run)： 连续 7点在平均值一侧； 连续6点连续上升或下降； 任何其他明显非随机的图形： 连续14点交替上下变化。 2/3的点距中心线的距离超过2个标准差(同一侧) 4/5的点排列在中心线的距离超过1个标准差(同一侧) 。 连续15个点排列在中心线1个标准差范围内(任一侧) 连续8个点距中心线的距离大于1个标准差(任一侧),整 理：阿 炳,5控制图作成注意事项,在作成处签上作SPC人员之名字； 控制图的背面填写事件日志（事件日志也可单独列出，见下页）； 对于抽取的样本，若检测合格，则此工件可随流水线流入下一工序。否则，应立即通知加工现场的作业人员，并报告现场主管、品质主管，分析原因，进行改善。,整 理：阿 炳,事件日志,整 理：阿 炳,控制图作成注意事项,改善后生产的首件，作业员进行自检，并经品管员二次确认合格后，方可继续生产。 否则，应继续分析、改善，直至确认合格为止。对于在此检验频次间的异常品，制程品管员要及时进行隔离并标识，填写品质异常处理单，交与现场主管处理，对此检验频次的异常品全检；（改善后，重大异常应作过程能力分析）,整 理：阿 炳,控制图作成注意事项, 、必须保证所检测数据真实、准确，严禁数据造假； 、计数时的疑难解答：抽取的样本检测后，若发现不合格品或接近上、下限的，除重复上述 以上的动作外，还应按实际值进行描点，并请分析人员把现场分析原因及措施填写在控制图上。 在所有情况下，过程记录表上应坚持记录所有相关事件，如：刀具更换，刀具补偿，调机，断料，人员更换，新的原材料批次等。,整 理：阿 炳,其他控制图理论为选学内容,根据时间确定,过 程 能 力,过程能力是指过程处于受控状态下（不存在变差的特殊原因）的实际加工能力 一个稳定过程的固有变差的总范围 过程能力是由造成变差的普通原因造成 工序能力高时：产品品质出现异常的几率越小 工序能力低时：产品品质出现异常的几率越大 过程能力是指过程的加工质量满足技术指标的能力，它是衡量过程加工内在一致性的标准。而生产能力则指加工数量方面的能力，二者不可混淆。过程能力决定于质量因素人、机、料、法、环而与公差无关。,整 理：阿 炳,为什么要进行过程能力分析？作用？,是为了确定过程在有自然变差的情况下，是否能满足既定的顾客要求和规范。 作用 (1)、测评工作过程是否有能力。 (2)、帮助确定工作过程中是否有过变化。 (3)、帮助确定产品和服务不满足顾客要求的百分率。,整 理：阿 炳,过程能力 受控且有能力符合规范 （普通原因造成的变差已减少） 规范下限 规范上限 时间 范围 受控但没有能力符合规范 （普通原因造成的变差太大）,整 理：阿 炳,过程改进循环 1、分析过程 2、维护过程 本过程应做什么？ 监控过程性能 会出现什么错误？ 查找变差的特殊原因并 本过程正在做什么？ 采取措施。 达到统计控制状态？ 确定能力 计划 实施 计划 实施 措施 研究 措施 研究 计划 实施 3、改进过程 措施 研究 改进过程从而更好地理解 普通原因变差 减少普通原因变差,整 理：阿 炳,带有不同水平的变差的能够符合规范的过程（所有的输出都在规范之内）,规范下限 LSL,规范上限 USL,范围,LSL,USL,范围,不能符合规范的过程（有超过一侧或两側规范的输出）,LSL,LSL,USL,USL,范围,范围,整 理：阿 炳,过程能力指数的计算,过程能力用过程能力指数来加以量化 Cp;能力指数，定义为工艺规范宽度除以过程能力，不考虑过程有无偏移 Cp=(Usl-Lsl)/6R/d2 （2） Cpk: 能力指数, 考虑过程有偏移.它是过程均值与最近的规范之间的差除以过程总分布宽度的一半。 Cpk=MIN（Usl- X ）,(X -Lsl)/3R/d2 单侧过程规格的能力指数， 只有上限要求： CpU= (Usl- X)/3R/d2 只有下限要求： CpL= ( XLsl) /3R/d2,备注：R/d2R/d2d2的选择：见78页,整 理：阿 炳,过程能力指数Cpk值的评价标准,整 理：阿 炳,Cp图解，这下看明白了吧?,整 理：阿 炳,Cpk图解,整 理：阿 炳,Cp与CpK的比较,无偏移的Cp表示加工均匀性，即“质量能力”，Cp越大，质量特性值分布越苗条。 有偏移的Cpk表示过程中心u与公差中心的偏移情况，Cpk越大，偏离越小。,整 理：阿 炳,性能指数的计算,Pp:性能指数，定义为工艺规范宽度除以过程性能，不考虑过程有无偏移 Pp=(Usl-Lsl)/6s （4） Ppk:性能指数, 考虑过程有偏移 Ppk=MIN（Usl- X ）,(X -Lsl)/3s 其中标准差为：,整 理：阿 炳,PpK与CpK比较,CPK过程能力指数，只有在已判定过程稳定后，才可以计算得到，PPK过程性能指数则无此要求，可以随时反映实施过程性能。 （1）、若PpCp，说明当前的过程性能已经高于过程固有能力，此时同样需要寻找原因，努力保持当前的过程性能。如果持续一段时间的过程性能指数都得以保持，始终都处于稳定的水平，高于过程的固有能力并且经过判稳标准判定过程处于稳态，则说明过程的稳态水平已经得以提高，可以对过程能力指数进行调整，使其反映当前过程的稳态水平。,整 理：阿 炳,过程能力要求,一般情况Cpk1.33，Ppk1.67，如果客户有特殊要求按客户特殊要求处理。若Cpk,Ppk达不到要求，可计算一下Cp,Pp值。如果Cp,Pp值达到要求，说明过程稳定，过程能力满足要求，只是过程发生偏移，致使过程能力不好。这时应通知现场将尺寸调到中线附近。如果Cp,Pp值也达不到要求，说明过程能力不足，则应继续通过识别/纠正/重新计算程序，提高过程能力，直到满足客户要求。,整 理：阿 炳,持续改进（PDCA）,过程控制中异常情况或过程能力不足时，相关部门均应及时得到反馈、及时处理和改善。对于所有改善，确认合格后，要连续生产100件，现场测量品管记录数据，做PpK&Cpk 分析。在改善结果未得到验证OK前，现场应采取加大检频或过程全检来控制。改善合格，重复上述步骤，改善不合格继续寻找变差原因，继续改善，直至OK。 如果在改善中有工程变更项目，由开发提出工程变更的申请，转给业务与客户沟通，客户同意后，由APQP小组成员修改FMEA，控制计划、作业基准书。,整 理：阿 炳,SPC控制点的取消,在初始能力研究阶段,如果Ppk值7，资料提供客户，与之协商在量产时取消此控制点。 当过程保持稳定，Cpk值持续大于或等于客户要求，时间达到六个月后，由SPC小组主导人将资料和申请书交给业务，由业务与客户沟通，申请取消用SPC控制此质量特性，用其它方法对其进行控制（如：预防保养，工装管理，设备变差分析等）。,整 理：阿 炳,Minitab 的应用,Minitab,整 理：阿 炳,Minitab,Minitab 操作,Minitab 初始画面,方法 2. 利用 Minitab 图标 运行的方法,把 Minitab安装到电脑时，开始菜单 及 Minitab 公文包里生成Minitab的运行图标。运行Minitab的方法有利用开始菜单及选择运行图标两种。,方法 1. 利用开始菜单 运行 Minitab 的方法,整 理：阿 炳,File : 有关文件管理所需的副菜单的构成 Edit : 编辑 Worksheet data , 外部 data 的 link 及 command link editor 副菜单 Manip : Worksheet data 的 Split、Sort、Rank、Delete、Stack/Unstack 等副菜单 Calc : 利用内部函数的数据计算及利用分布函数的数据生成 Stat : 是分析统计资料的副菜单，由基础统计、回归分析、分散分析、品质管理、时针序列 分析、离散资料分析、非母数统计分析等构成 Graph : 为编辑 Graph的Graph Layout, Chart副菜单及文字Graph构成 Editor : 不使用菜单，使用命令直接作业及Clipboard setting等副菜单 Window : 由控制 Window 画面构成的副菜单及 管理 Graph 画面的副菜单构成,Minitab,Minitab 菜单 构成,整 理：阿 炳,Minitab的基本屏幕,Minitab,整 理：阿 炳,Minitab的基本屏幕,Minitab,整 理：阿 炳,Minitab 的应用,Minitab是一个功能强大的统计分析软件，所以我们今天只了解三个内容： 正态分布图的制作 直方图的制作 两种控制图的制作（XR图与XMR图）,Minitab,整 理：阿 炳,Minitab,Minitab 正态分布图的制作,1、 打开Minitab 软件 2、在”Worksheet 1”表格窗口输入需要分析的数据， 3、菜单stat Basic Statistics Normality Test,2,数据名称,1,整 理：阿 炳,Minitab,Minitab 正态分布图的制作,2,1,1、选择C1（数据在”Worksheet 1”表格中列的名称） 2、点击“Select”确认选择 3、确认后“Variable”窗口会出现选择项目 点击“OK”确认完成,3,4,注：其他按钮为可选项目,整 理：阿 炳,Minitab,Minitab 正态分布图的制作,1、PValue值0.05时，此图为正态分布图；反之则不是。 2、右击该图表，点击“Append Graph to Report”(将图形添加到报表） 3、点击报表按钮。,中文意思,中文意思,整 理：阿 炳,Minitab,Minitab直方图的制作,1、菜单statQuality Tools Capability Analysis Normal,整 理：阿 炳,Minitab,Minitab直方图的制作,1、选择C1（数据在”Worksheet 1”表格中列的名称） 2、点击“Select”确认选择，确认后“Single column”窗口会出现选择项目 3、输入Subgroup size(子组大小）：使用常量或ID列 3、输入规格的上下限（无上限或下限则不填） 4、点击“OK”确认完成,中文意思,注：其他按钮为可选项目,整 理：阿 炳,Minitab,Minitab直方图的制作,1、右击该图表（同正态分布图，点击“Append Graph to Report”(将图形添加到报表） 3、点击报表按钮。,中文 意思,整 理：阿 炳,Minitab,Minitab XR控制图的制作,1、菜单statControl Charts Variables Charts for Subgroups Xbar-R,整 理：阿 炳,Minitab,Minitab XR控制图的制作,1、点击“A”空白处，“B”区出现C1后，选择C1（数据在”Worksheet 1”表格中列的名称） 2、点击“Select”确认选择，确认后“A”空白处会出现选择项目 3、输入Subgroup sizes (子组大小） 3、点击“OK”确认完成,中文 意思,注：其他按钮为可选项目,B,整 理：阿 炳,Minitab,Minitab XR控制图的制作,中文 意思,1、右击该图表（同正态分布图，点击“Append Graph to Report”(将图形添加到报表） 3、点击报表按钮。,整 理：阿 炳,Minitab,Minitab XMR图控制图的制作,1、菜单statControl Charts Variables Charts for Individuals X-MR,整 理：阿 炳,Minitab,Minitab XMR图控制图的制作,1、选择C1（数据在”Worksheet 1”表格中列的名称） 2、点击“Select”确认选择，确认后“Variables”窗口会出现选择项目 3、点击“OK”确认完成,中文 意思,注：其他按钮为可选项目,整 理：阿 炳,Minitab,Minitab XMR图控制图的制作,中文 意思,1、右击该图表（同正态分布图，点击“Append Graph to Report”(将图形添加到报表） 3、点击报表按钮。,整 理：阿 炳,Minitab 的应用,正态分布图、直方图、两种控制图已保存于报表中，点击报表按钮。在此报表中可编辑图表或向外输出或复制图表。,Minitab,报表按钮,整 理：阿 炳,SPC常用术语解释,整 理：阿 炳,SPC常用术语解释,整 理：阿 炳,SPC常用术语解释,整 理：阿 炳,为了我们的美好未来, 让我们一起努力奋斗! 共同讨论时间！,谢谢！,整 理：阿 炳,