TEM和SEM应用对比

想请问一下透射电镜（TEM）和扫描电镜（SEM）应用的区别？haizi2000 （站内联系 TA）TEM是做材料微观组织分析，比如说孪晶啊、马氏体啊、位错啊等等，SEM 般是做面扫 描，也可以配能谱仪进行能谱分析，比如说断面形貌，组织观察，元素百分比等等。jhkla （站内联系TA）在百度百科上收一下ten sem 一搜就有chxmright （站内联系 TA）其实本质上还是原理不一样，造成应用上的差别另外补充一下做TEM的样比SEM的样要复杂很多santuo （站内联系TA）TEM是做材料微观组织、晶体结构分析；SEM主要用于表面形貌观察，亦可通过能谱检测局部元素组成与含量Image6975 （站内联系 TA）SEM观察材料表面信息TEM观察材料内部信息tiger808 （站内联系TA）TEM是做材料微观组织分析，比如说孪晶啊、马氏体啊、位错啊等等，SEM 一般是做面扫 描，也可以配能谱仪进行能谱分析，比如说断面形貌，组织观察，元素百分比等等。补充：透射电镜做晶体结构分析较好，扫描电镜做表面形貌和成分分析较好。lchealsea （站内联系 ta）透射电镜是利用透射电子来成像的，为此样品制作比较麻烦，需要做的很薄。可以TEM检 测来判断材料的内部空间结构。比如得到衍射花样，再通过标定，可以得到其为面心，体心, 是否有孪晶等。扫描电镜主要是利用二次电子成像，以获取材料的表面形貌。通常扫描的附件会带有能谱仪, 通过特征射线获取材料的成分分布情况，另外扫描电镜可以观察端口形貌。大友（站内联系TA）扫描电镜就扫表面透射电镜电子束透过透射的放大倍数高扫描的好分析透射可以分析结构扫描只能看形貌老师：感觉要看断口的宽厚，SEM比较好，看微晶结构TEM更好，但是以前师兄师姐的论 文即使做了透射也不是分析晶体结构。