紫外固体样品测定.doc

紫外可见分光光度计固体样品测定培训1. 固体样品的测定1-1. 测定方法种类 12. 固体样品的透射测定2-1.透射测定的种类 22-2.直线透射测定方法 3实习 1.直线透射测定2-3.全透射测定方法 7实习 2.全光线透射测定2-4.散射透射测定 11实习 3.散射透射测定3. 固体样品的反射测定3-1.反射测定的种类 153-2.不含镜面反射的漫反射测定方法 17实习 4.不含镜面反射的漫反射测定3-3.含镜面反射的漫反射反射测定方法 23实习 5.含镜面反射的漫反射测定3-4.绝对反射测定方法（绝对镜面反射测定） 29实习 6.绝对反射测定3-5.镜面反射测定方法（相对镜面反射测定） 35实习 7.镜面反射测定4. 固体样品的其他测定（附录）4-1. 色彩测定 394-2. 膜厚测定 401. 固体样品的测定主要用于溶液样品测定的紫外可见分光光度计，在测定固体样品时，有若干必须使用的附件以及应注意的事项。本讲义对于各种测定方法说明了必须使用的附件和在测定上的注意事项。1-1. 测定方法种类固体样品测定分为测定样品透过光的透射测定和测定样品反射光的反射测定。并且，透射测定、反射测定还各自可分为若干种类的测定。使用紫外可见分光光度计进行的固体样品测定的方法可列举如下：直线透射测定全光线透射测定散射透射测定透射测定反射测定不含镜面反射的相对散射反射测定含镜面反射的相对散射反射测定镜面反射（正反射）测定绝对镜面反射测定相对镜面反射测定图1-1 固体样品测定方法的分类以下各章详细说明以上列举的各测定方法。2. 固体样品的透射测定2-1. 透射测定的种类所谓透射测定是测定照射到样品后透过样品的光的方法。透射光的种类如下入射光散射透射光样品直线透射光全光线透射光图2-1 透射光的种类分为测定透过样品的直线前进光的直线透射测定、测定透过样品的全部光的全光线透射测定、测定透过样品的散射光的散射透射测定。实际装置可全部进行以下3种测定。1. 直线透射测定2. 全光线透射测定3. 散射透射测定本章说明各种透射测定和实际样品的测定以及测定上的注意事项。2-2. 直线透射测定测定样品透射光中的直线传播透射光的方法。样品入射光直线透射光图2-2-1 直线透射光一般用于3mm以下的薄透明薄膜的测定等。用于测定的附件中有薄膜架。直线透射测定时的注意事项A. 不透明的样品不透明样品（白浊样品）时，在样品上光发生散射，成为散射透射光，有不能到达检测器的光。为此，显示的透射率相当低。并且，根据分光光度计的机型，样品设置位置到检测器的距离不同，因此，即使测定同一样品，各装置也有时得到不同的测定结果。为此，难以进行不透明样品的直线透射测定。B. 样品的厚度样品较厚时（3mm以上），由于空气和样品的折射率不同，与基线校正时相比，检测器上的聚光焦点位置发生变化，因此，不能得到正确的透射率。对于这样的厚样品，请使用积分球或端窗式光电倍增管进行全光线透射测定。受光面从受光面溢出的光出光样品基线校正时样品测定时图2-2-2测定厚样品、透镜时的光束变化C. 透镜测定透镜时与厚样品一样，与基线校正时相比，检测器上的聚光焦点位置发生变化，因此，不能得到正确的透射率。此时，也请使用积分球或端窗式检测器进行全光线透射测定。D. 偏振光光是在行进方向和垂直面内振动的电磁波。像太阳光那样的在面内各向同性地振动的光，称为非偏振光（自然光）。偏向某一方向的光，称为偏振光。(a)非偏振光（自然光）(b)偏振光图2-2-3 非偏振光和偏振光测定样品具有偏振光特性时（偏振光薄膜等），基本上应使用偏光元件进行测定。几乎所有的在分光部使用光栅的紫外可见分光光度计装置，偏振光比根据波长而改变。E.干渉条纹样品较薄时（数十以下）或样品有薄膜镀层时，在数据上可见到干渉条纹。干渉条纹本身难以消除，有时可通过扩大狭缝宽减小干渉条纹的上下振幅。图2-2-4 干渉条纹例（食品保鲜膜）实习 1.直线透射测定使用薄膜架，进行直线透射光谱测定。取下标准样品室的池架，设置薄膜架。（设置时，将薄膜架底座的椭圆形开孔置于内侧。）设定UVProbe的测定方法。打开装置参数菜单，将测光值种类(M)设为透射率，将狭缝宽(S)在只含可见紫外区域的测定时设为2.0、含近红外区域的测定时设为5.0。检测器单元(D)在SolidSpec-3700、UV-3600时设为直接受光。UV-2450/2550时没有检测器单元(D)的设定。图2-2-5 测定参数在空置的状态下（也称Air）进行基线校正。设置样品，进行样品测定。用于透明色薄膜等的透射率确认测定。也可通过透射率接近100%来确认两面有防反射镀层（AntiReflection/AR镀层）的样品无反射。参比侧样品测测定样品参比侧样品侧基线校正时 样品测定时图2-2-6 直线透射测定 样品设置位置2-3. 全光线透射测定测定透过样品的全部透射光（包括直线透射光和散射透射光）的方法。入射光散射透射光样品直线透射光全光线透射光图2-3-1 全光线透射光一般用于测定不透明的样品（白浊类样品）。测定透明样品时，没有散射透射光，因此，可得到与直线透射测定相同的数据。测定用附件中有积分球。为此，也称为积分球透射法。另外，也有时使用端对准形光电倍增管（代表例有MPS-2450）进行测定。全光线透射测定时的注意事项A. 透明样品即使无散射透射光的样品也可以使用积分球。但是，在测定厚度十分薄的样品时，直线透射测定的数据噪声小，这是因为检测器只能捕捉到部分入射积分球内的光。B. 积分球种类有若干种带积分球的附件。首先是积分球的大小不同。一般常用60mm的积分球，也有150mm的积分球。另外是样品设置场所的尺寸不同。积分球附件不能设置太大的测定样品，但多用途大型样品室可设置较大样品。有开口部（孔）数不同的透射测定用积分球。此透射型积分球适于诸如透镜等在基线校正时和样品测定时聚光焦点位置变化大的样品。此透射型积分球不能进行散射透射测定（2-4章）、不含镜面反射的漫反射测定（3-2章）。参比光标准白板无开口部测定光图2-3-2 透射型积分球的形状C. 全光线透射率的比较散射透射光多的样品时，使用以同一个积分球测定的数据进行全光线透射率比较。使用不同的积分球时，有时不能比较数据。这是因为在基线校正时(Air)和样品测定时光最先照射到的位置不同。入射积分球内的光在基线校正时首先照射到标准白板，但在样品测定时照射到积分球的整个内面。由此造成数据差。实习 2.全光线透射测定使用积分球进行全光线透射光谱测定。在标准样品室内设置积分球附件。有的装置（如SolidSpec-3700）本身带有积分球附件。设定UVProbe的测定方法。打开装置参数菜单，将测光值种类(M)设为透射率，将狭缝宽(S)在只含可见紫外区域的测定时设为5.08.0，在含近红外区域的测定时设为(20)(32)。将检测器单元(D)在SolidSpec-3700时设为积分球，UV-3600时设为外部。UV-2450/2550没有检测器单元(D)的设定。图2-3-4 测定参数将标准白板设置在规定位置上。并将积分球用薄膜架设置在规定位置上，在空置的状态（Air）下，进行基线校正。在薄膜架设置样品后，进行样品测定。用于确认不透明薄膜的透射率等的测定。也可用于确认遮光薄膜、防紫外线薄膜等的性能。参比光标准白板标准白板测定光测定样品参比光标准白板标准白板测定光基线校正时 样品测定时图2-3-5 全透射测定 样品设置位置2-4. 散射透射测定所谓散射透射测定是指测定样品透射光中除直线透射光以外的散射透射光的方法。入射光散射透射光样品直线透射光图2-4-1 散射透射光测定时，不使直线透射光进入检测器内。测定用附件中有积分球。但使用方法与全光线透射测定时稍微不同。用于确认固体样品的散射等。也可用于浊度测定等。散射透射测定时的注意事项A. 与全光线透射光、直线透射光的关系从全光线透射光中除去这个散射透射光后的光，理论上是直线透射光，但问题是到几度范围以内的光可看作是直线透射光呢（直线透射光也具有一定的扩散）？B. 浊度测定在JIS规定中有关浊度的测定，不仅规定了积分球的开口率，还详细规定了光束大小、开口尺寸等。为符合JIS规定的要求，需要使用专用附件。C. 积分球的开口率开口率是指积分球内面积与测定光、检测器等的光出入口（开口部）面积总和的比率(开口率=全部窗面积/球内表面积)。开口率越小积分球效果越大（接近理想的积分球），但另一方面，到达检测器的光量减少，所以，噪声増加。为减小开口率，积分球直径加大。ISR-3100光量多，能够进低噪音测定ISR-3100开口率为13% LISR-3100开口率为2% LISR-3100 光束的大小是 ISR-3100 的二倍，(不确定，光束是550nm处看到的光斑的大小，理论上是应该是一样的)主要用于测定有花纹儿的面料等测定领域的平均反射率。另外，测定扩散性高的样品的透过率，使用 LISR-3100 能够 取得很好的数据。图2-4-2 积分球开口部（ ）实习 3.散射透射测定使用积分球进行散射透射光谱测定。在标准样品室内设置积分球附件。有的装置（如SolidSpec-3700）本身带有积分球附件。设定UVProbe的测定方法。打开装置参数菜单，将测光值种类(M)设为透射率，将狭缝宽(S)在只含可见紫外区域的测定时设为5.08.0，在含近红外区域的测定时设为(20)(32)。将检测器单元(D)在SolidSpec-3700时设为积分球，UV-3600时设为外部。UV-2450/2550没有检测器单元(D)的设定。图2-4-3 测定参数将标准白板设置在规定的位置上。在空置的状态（Air）下进行基线校正。设置样品。并且取下隔着积分球位于对角侧的标准白板。这样，直线透射光射出到积分球外侧，积分球只捕捉散射透射光。进行样品测定。用于测定不透明薄膜的散射性能等。标准白板参比光测定光测定样品参比光标准白板标准白板测定光基线校正时 样品测定时图2-4-3 散射透射测定 样品设置位置3. 固体样品的反射测定3-1.反射测定的种类所谓反射测定是测定光入射样品后的反射光的方法。反射光分类如下入射光漫反射光镜面反射光（正反射光）图3-1-1 反射光的种类反射测定分为两种测定方法，测定相对于基准样品的相对反射率（将反射基准作为100%的反射率）的相对反射测定和测定直接绝对反射率的绝对反射测定。并且，反射测定分为漫反射测定和镜面反射测定。样品为纸、塑料等时，反射光向各方向散射，将漫反射光引入检测器进行测定就是漫反射测定。样品为玻璃、金属时，反射光几乎是正反射光（镜面反射光），将此镜面反射光引入检测器进行测定就是镜面反射测定。将上述测定组合，反射测定有2（相对测定和绝对测定）2（漫反射和镜面反射）共4种测定方法。但绝对漫反射测定是在论文等中介绍的测定方法，没有市售装置。实际的测定装置有：1. 绝对镜面反射测定（简称绝对反射测定）2. 相对镜面反射测定（简称镜面反射测定）3. 相对漫反射测定（简称漫反射测定）3种测定。并且，在漫反射测定中，包括含镜面反射的测定和不含镜面反射的测定。在相对反射测定中，反射基准的反射率不一定始终一致（基准不同、或随时间变化等），因此，在进行数据比较时要加以注意。本章说明各种反射测定和实际样品测定以及测定注意事项。相对反射和绝对反射相对反射测定是指以某种物质作为基准进行的测定。测定样品的反射率是将反射基准的反射率作为100%时的反射率。因此，即使是同一样品，如果改变反射基准，那么反射率也发生变化。“相对反射”的名称也由此而来。反射基准根据测定方法，一般采用镀铝反射镜、硫酸钡等，并不确定。在相对反射中，即使是同一样品，使用反射装置测定的值和使用反射装置测定的值不一定相同。这是因为各装置使用的反射基准不同。绝对反射是指测定样品绝对反射率的反射测定。换一种表述方法， 将100%完全反射光的理想反射物质（现实中不存在）作为基准时的反射率成为绝对反射率。如果使用绝对反射附件，则恰似使用上述理想的反射基准，可以测定样品的反射率。绝对反射时，如果是同一个样品，则使用反射装置测定的反射率和使用反射装置测定的反射率在理论上是相同的反射率。3-2. 不含镜面反射的漫反射测定所谓不含镜面反射的漫反射测定是测定以与入射光角度不同的角度反射的漫反射光的方法，使用反射基准进行测定。入射光漫反射光镜面反射光（正反射光）图3-2-1 不含镜面反射的漫反射光测定使用积分球。反射基准使用硫酸钡等。在从样品反射的光中，镜面反射光从开口部出到积分球外，不被检测。用于测定纸等表面粗糙的样品或进行色彩测定。不含镜面反射的漫反射测定的注意事项A. 反射基准（标准白板）不含镜面反射的漫反射测定基准根据JIS规格等规定，使用硫酸钡、氧化镁、氧化铝。另外，有时使用上述基准以外的氟树脂材料。不使用镜面反射镜。在近红外区域硫酸钡有水分吸收，因此测定样品的水分少时，水的吸收通常显示为倒峰。B. 库贝勒卡-蒙克变换（粉末样品）漫反射测定可测定粉末样品。此时，可将测定值变换为与透射测定时的吸光度相同的与浓度成正比的值。此变换称为库贝勒卡-蒙克变换。但是，数据受粉末粒径、粉末密度的影响，因此有时难以用于实际的定量测定。C. 反射镜等的测定像反射镜、玻璃这样的样品，几乎没有漫反射光，因此在漫反射测定时，得到几乎为0%的反射率。反射镜这种以镜面反射光为主的样品适合使用其他测定方法。D. 反射率的校正因为使用反射基准，所以只能得到相对值（将反射基准作为100%时的反射率）。但是，如果反射基准的反射率为已知，则能够通过数据演算进行校正。硫酸钡、氟树脂时，可通过使用带有反射率值的反射基准进行校正。带有反射率值的标准白板的代表例如下所示。硫酸钡制标准（括弧内为波长范围）MERCK公司制硫酸钡粉末试剂（320800nm）咨询：试剂销售代理店陶瓷制标准财团法人日本色彩研究所制标准白板（380780nm）咨询：财团法人 日本色彩研究所 TEL048-794-3831(Web)http:/www.jcri.jp/氟树脂制标准LabSphare公司制Spectralon反射标准99%（2502500nm）咨询：株式会社 系统工程技术（）TEL.03-3946-4993 (Web)http:/www.systems-eng.co.jp/实习 4.不含镜面反射的漫反射测定使用积分球附件，进行不含镜面反射的漫反射光谱测定。使用150积分球时，使用方法不同。A. 使用积分球附件（ISR-3100/ISR-2200/ISR-240A）、多用途大型样品室（MPC-3100/MPC-2200）时（入射角0（垂直入射）安装积分球附件。设定UVProbe的测定方法。打开装置参数菜单，将测光值种类(M)设为反射率，将狭缝宽(S)在只含可见紫外区域的测定时设为5.08.0，在含近红外区域的测定时设为(20)(32)。将检测器单元(D)在SolidSpec-3700时设为积分球，UV-3600时设为外部。UV-2450/2550没有检测器单元(D)的设定。图3-2-2 测定参数将标准白板设置在规定的位置。进行基线校正。取下位于标志的对角处的标准白板，设置样品。在此位置进行测定，则入射光垂直入射，正反射光从积分球出射到外面。将测定面对着积分球侧进行样品测定。适合测定纸等表面粗糙的样品。也可用于色彩测定。参比光标准白板测定样品测定光标准白板参比光标准白板测定光基线校正时 样品测定时图3-2-3 不含镜面反射的漫反射测定 样品设置位置B. 使用150积分球附件（LISR-3100）时/只有UV-3600（入射角7）安装积分球附件。设定UVProbe的测定方法。打开装置参数菜单，将测光值种类(M)设为反射率，将狭缝宽(S)在只含可见紫外区域的测定时设为5.08.0，在含近红外区域的测定时设为(20)(32)。将检测器单元(D)设为外部。图3-2-4 测定参数将标准白板设置在规定的位置。在操作说明书上记述为积分球开口部处（来自测定样品的正反射光照射到的地方）安装光捕集器。这样，正反射光被光捕集器捕集，不能返回积分球内。进行基线校正。取下标准白板，设置样品，使测定面对着积分球侧，进行样品测定。测定光参比光光捕集器测定样品标准白板图3-2-5 使用150mm积分球的不含镜面反射的漫反射测定3-3. 含镜面反射光的漫反射测定含镜面反射的漫反射测定是测定全部样品反射光的方法，使用反射基准进行测定。入射光漫反射光镜面反射光（正反射光）图3-3-1含镜面反射光的漫反射光测定使用积分球。使从样品的反射光相对于样品稍有一点角度（10度以内），将镜面反射光捕集到积分球内。反射基准使用硫酸钡等，但与不含镜面反射光的漫反射测定不同的是有时反射基准使用也镀铝反射镜。在样品反射光中镜面反射成分多时，反射基准使用镀铝反射镜较好。本方法是日射反射率测定等常采用的测定方法。含镜面反射和漫反射的测定的注意事项A. 反射基准与漫反射测定一样，经常使用硫酸钡等作为反射基准。但是，因为进行含镜面反射光的测定，所以也有时使用镀铝反射镜。选择与测定样品性状相似的反射基准为好（镜面反射光多的样品选择镀铝反射镜，漫反射光多的样品选择硫酸钡等）。B. 反射率的校正因为使用反射基准，所以只能得到相对值（将反射基准作为100%时的反射率）。但是，如果反射基准的反射率为已知，则能够通过数据演算进行校正。反射基准使用镀铝反射镜时，可使用绝对反射测定方法测定反射率，通过数据演算进行校正（反射镜上有伤痕时不能得到正确的反射率，务请注意）。硫酸钡、氟树脂时，可通过使用带有反射率值的反射基准进行校正。带有反射率值的标准白板的代表例如下所示。硫酸钡制标准（括弧内为波长范围）MERCK公司制硫酸钡粉末试剂（320800nm）咨询：试剂销售代理店陶瓷制标准财团法人日本色彩研究所制标准白板（380780nm）咨询：财团法人 日本色彩研究所 TEL048-794-3831(Web)http:/www.jcri.jp/氟树脂制标准LabSphare公司制Spectralon反射标准99%（2502500nm）咨询：株式会社 系统工程技术（）TEL.03-3946-4993 (Web)http:/www.systems-eng.co.jp/C. 入射角在10度以下入射角设定为10度以下。镜面反射在入射角较小时几乎不受偏振光的影响。并且，入射角在10度以下，垂直光入射时反射率几乎不变。（参照3-4章 绝对反射测定图3-4-5）实习 5.含镜面反射的漫反射测定使用积分球附件进行含镜面反射的漫反射光谱测定。测定方法与不含镜面反射的漫反射测定一样，使用积分球，但使用方法有若干不同。另外，150积分球时，使用方法不同。A. 使用积分球附件（ISR-3100/ISR-2200/ISR-240A）、多用途大型样品室（MPC-3100/MPC-2200）时（入射角8）在装置本体上安装积分球附件。设定UVProbe的测定方法。打开装置参数菜单，将测光值种类(M)设为反射率，将狭缝宽(S)在只含可见紫外区域的测定时设为5.08.0，在含近红外区域的测定时设为(20)(32)。将检测器单元(D)在SolidSpec-3700时设为积分球，UV-3600时设为外部。UV-2450/2550没有检测器单元(D)的设定。图3-3-2 测定参数将测定条件中的S/R反转设定为反转。S/R反转在SolidSpec-3700/UV-3600的装置参数菜单的详细设定中、UV-2550/2450的装置参数菜单中。Solidsepc-3700/UV-3600UV-2450/2550图3-3-4 S/R反转设定将标准白板设置在规定的位置。进行基线校正。取下位于标志的对角处的标准白板，设置样品。适用于各种固体样品的测定。测定光测定样品标准白板参比光测定光标准白板标准白板参比光基线校正时 样品测定时图3-3-5 含镜面反射的漫反射测定 样品设置位置B. 使用150积分球附件（LISR-3100）时/只有UV-3600（入射角7）在装置本体上安装积分球附件。设定UVProbe的测定方法。打开装置参数菜单，将测光值种类(M)设为透射率，将狭缝宽(S)在只含可见紫外区域的测定时设为5.08.0，在含近红外区域的测定时设为(20)(32)。将检测器单元(D)设为外部。150mm积分球时不进行S/R反转。图3-3-6 测定参数将标准白板设置在规定的位置。在操作说明书上记述为积分球开口部处（来自测定样品的镜面反射光照射到的地方）安装积分球用盖子。这样，镜面反射光返回积分球内。进行基线校正。取下标准白板，设置样品，进行样品测定。测定光参比光积分球用盖子测定样品标准白板图3-3-7 使用150mm积分球的含镜面反射的漫反射测定3-4. 绝对反射测定（绝对镜面反射测定）绝对反射测定（绝对镜面反射测定）是测定以与样品入射光相同的角度反射的镜面反射光（正反射光）的方法，不使用基准测定绝对值。入射光镜面反射光（正反射光）图3-4-1 镜面反射光使用绝对反射测定装置进行测定。入射角一般固定为5、12、30、45等。也有入射角可变型的绝对反射测定装置。角度变大，则在测定时需要使用偏光元件。使用角度固定型绝对反射测定装置的测定以如下方式进行测定。样品检测器検出器M2M2M3M3M1100%设定时测定时入射光绝对反射测定装置的构造基线校正时按虚线光路进行测定，样品测定时，平行移动M2反射镜，旋转M3反射镜，按实线光路进行测定。构造设计成以M2-M2-样品-M3(M3)构成的四角形成为平行四辺形。这样，各自光路的光程、去反射镜的入射角、使用的反射镜数都不变。绝对反射测定的注意事项A. 偏振光光是在行进方向和垂直面内振动的电磁波。像太阳光那样在面内做各向同性振动的光称为非偏振光（自然光）。振动偏向某一方向的光叫做偏振光。(a)非偏振光（自然光）(b)偏振光图3-4-3 非偏振光和偏振光绝对反射测定时，一般分为P偏振光和S偏振光进行讨论。与入射面平行的成分称为P偏振光（平行偏振光），与入射面垂直的成分称为S偏振光（垂直偏振光）（所谓入射面是入射反射面的光的方向和反射面的法线所形成的面）。反射面S偏光入射面入射光反射光P偏光图3-4-4 P偏振光和S偏振光入射角较小时，几乎见不到由偏振光造成的反射率的差，但随着入射角变大，偏振光的影响变大，需要使用偏光元件进行测定。B. 入射角和偏光元件对于各种金属以及光学玻璃BK-7的偏振光P成分、S偏振光成分的绝对反射率计算结果如下图所示。图3-4-5 各种金属以及光学玻璃BK-7的镜面反射率（上侧Rs 、下侧Rp ）绝对反射测定装置有入射角为5、12、30、45的四种装置。从上图可知，5时几乎不受偏振光的影响，角度变大则受到偏振光的影响。12时，根据样品种类，有的样品受到偏振光的影响，30、45时肯定受到偏振光的影响。为此，在12、30、45的绝对反射测定装置中设有安装偏光元件的场所。测定时请安装偏光元件。C. 里面的处理防反射膜（AntiReflection/AR膜）等，有时只在薄膜的单面镀膜。在测定这种样品时，如果不进行里面处理的话，则透过表面的光在里面反射，发生与表面的反射光重合的现象。在进行镀层的反射率评价时，必须对里面进行处理。介绍处理方法如下：将里面做成毛面（散射面）的方法。对里面进行黒色处理，使其吸收光的方法。比较简便的方法是在里面贴上黒色胶带，胶带与里面之间不用进入空气，可很大程度地抑制里面的反射。D. 透镜的测定使用绝对反射测定装置难以测定透镜。因为透镜的表面不是平面而是曲面。E. 测定面适合测定面光滑的平面样品。有光散射的样品时、测得的反射率低。F.积分球绝对反射测定装置安装在大型样品室内进行测定。这时使用的积分球是称为透射型的积分球。在透射型积分球内，测定光最先照射到的部分没有开口部。为了不使基线校正时和样品测定时的光束微妙的偏差对测定值造成影响而使用。这种类型的积分球不能进行散射透射测定（2-4章）、不含镜面反射的漫反射测定（3-2章）。参比光标准白板无开口部测定光图3-4-6 透射型积分球的形状实习 6.绝对反射测定使用绝对反射率测定装置进行绝对反射光谱测定。在大型样品室内安装绝对反射测定装置。不用忘记安装光罩类。根据入射角度，将偏光元件安装在规定的场所。设定UVProbe的测定方法。打开装置参数菜单，将测光值种类(M)设为反射率，将狭缝宽(S)在只含可见紫外区域的测定时设为5.08.0，在含近红外区域的测定时设为(20)(32)。将检测器单元(D) 在SolidSpec-3700时设为积分球，在UV-3600时设为外部。UV-2450/2550时无检测器单元(D)的设定。图3-4-7 测定参数将2处绝对反射率测定装置的反射镜设为100%的位置。进行基线校正。将2处绝对反射率测定装置的反射镜变更为Measure的位置。设置样品，进行测定。适合测定反射镜、玻璃等表面光滑的平面样品。100%MeasureMeasure积分球100%测定样品試料基线校正时（100% ） 样品测定时（Measure ）图3-4-8 绝对反射测定装置 样品设置位置推荐在测定前使用标准配带的BK7玻璃进行绝对反射率的测定。请确认出现的测定值接近绝对反射率测定装置操作说明书的维护7.2 绝对反射率正确度的确认中所示的值。3-5. 镜面反射测定（相对镜面反射测定）镜面反射测定（相对镜面反射测定）是测定以与样品入射光相同的角度反射的镜面反射光（正反射光）的方法，是使用基准进行样品测定的方法。入射光镜面反射光（正反射光）图3-5-1 镜面反射光使用镜面反射测定装置进行测定。入射角为5度。反射基准常用镀铝反射镜。测定按下图形式进行测定。入射光基准反射镜测定样品检测器图3-5-2 镜面反射测定装置的构造在基线校正时设置基准镀铝反射镜，样品测定时，设置样品进行测定。测定面向下。镜面反射测定的注意事项A. 基准反射镜标准配带的基准反射镜是镀铝反射镜。反射率高、比较稳定。镀银反射镜在使用初期反射率高于镀铝反射镜，但易氧化、不稳定。镀金反射镜稳定，但在短波长侧有吸收。镀金反射镜在近红外区域反射率非常高，因此偶尔专门用于近红外区域的测定。镀铝反射镜有吸收，因此反射率不为100。在800nm附近有较大的吸收，因此，在数据上有时可见到倒峰。B. 标准配带基准反射镜标准配带的反射镜是硬镀层，不易被划伤。此镀层薄，虽然不大但在紫外区域短波长侧有吸收。C. 基准反射镜的使用与在家庭中使用的镜子不同，是在玻璃基板上蒸镀铝的表面镜。易被划伤，使用时要注意。有伤痕时，反射率发生变化，则无法进行测定数据的比较。家庭使用的镜子是在玻璃里側蒸镀铝的里面镜。不易被划伤，但在玻璃表面和铝蒸镀面共2面上发生反射，因此，不能作为基准使用。D. 反射率的校正镜面反射测定使用反射基准，只能获得相对值（将反射基准作为100%时的反射率）。但是，如果反射基准的绝对反射率是已知的话，则可通过数据演算进行校正。通过使用绝对反射测定方法测定基准反射镜的反射率，则可通过数据演算进行校正。E. 5mm和15mm的样品台有孔径5mm和15mm的两种样品台。请根据测定样品的大小区分使用。5mm时，一部分的光被遮挡，因此噪声稍稍增加，0%线上升。F.干渉条纹与直线透射测定一样，根据测定样品，有时可观察到干渉条纹。消除干渉条纹较困难，但设定较宽的狭缝宽，有时可减小上下振幅。G. 里面的处理与绝对反射测定装置一样，根据样品，需要进行里面处理。防反射膜（AntiReflection/AR膜）等，有时只在薄膜的单面镀膜。在测定这种样品时，如果不进行里面处理的话，则透过表面的光在里面反射，发生与表面的反射光重合的现象。在进行镀层的反射率评价时，必须对里面进行处理。介绍处理方法如下：将里面做成毛面（散射面）的方法。对里面进行黒色处理，使其吸收光的方法。比较简便的方法是在里面贴上黒色胶带，胶带与里面之间不用进入空气，可很大程度地抑制里面的反射。H. 偏振光的影响镜面反射测定装置的入射角为5度，几乎不受偏振光的影响。实习 7.镜面反射测定使用镜面反射测定装置（入射角5），进行镜面反射光谱测定。取下标准样品室的池架，安装镜面反射测定装置。请根据测定样品尺寸，变更5mm或15mm的样品台。设定UVProbe的测定方法。打开装置参数菜单，将测光值种类(M)设为反射率，将狭缝宽(S)在只含可见紫外区域的测定时设为2.0，在含近红外区域的测定时设为5.0。将检测器单元(D) 在SolidSpec-3700、UV-3600时设为直接受光。UV-2450/2550时无检测器单元(D)的设定。图3-5-3 测定参数将基准反射镜设置在规定的位置，（有对照侧用和样品侧用），进行基线校正。反射镜面在下侧。取出测定侧基准反射镜，设置样品，进行样品测定。测定面在下侧。适合测定镜、玻璃等光滑的平面样品。测定样品基准反射镜基准反射镜基准反射镜基线校正时 样品测定时图3-5-4 镜面反射测定装置（入射角5） 样品设置位置4.固体样品的其他测定（附录）固体样品的测定目的不仅有透射率、反射率的测定，还有色彩计算、膜厚计算为目的的测定。本章说明色彩测定、膜厚测定。4-1. 色彩测定表示物体色彩的方法有表色系。在JIS规格中，对此表色系有若干规定。表色系使用380780nm范围的每隔5nm的数据和加权系数进行计算，表示色彩。色彩计算的参数有光源（A、B、C、D65等）、视角（2、10）。根据规定，使用特定的光源。备有色彩测定选配件软件。使用此软件，如果测定光谱，则可同时最多表示6个项目的色彩计算值。图4-1-1 色彩测定程序类似的计算有日射透射率、日射反射率的计算等（此时需要2502500nm的测定值）。色彩测定使用透射测定或反射测定都可以计算。4-2. 膜厚测定样品有非常薄的膜时，在透射率和反射率的数据上有时出现干渉条纹。可根据此干渉条纹和样品的折射率进行膜厚的计算。膜厚计算需要入射角、样品的折射率。膜厚计算式如下：。图4-1 膜厚计算式有膜厚计算选配件软件。本软件在输入入射角、样品的折射率后，自动检测出干渉条纹的峰和谷，从干渉波长幅计算膜厚。如果观察到干渉条纹，并知道折射率，则无论透射测定还是反射测定都可进行计算可能。图4-2-1 膜厚测定程序