集成门电路功能测试电子实验报告.docx

电子电路实验报告 集成门电路功能测试信息科学与工程学院2013级 物联1302张芝201308080215实验器材1. 硬件基础电路实验箱，双踪示波器，数字万用表2. 74LS00，74LS04，74LS08，74LS32，74LS86各一块实验目的1. 熟悉逻辑与电压值的关系2. 掌握常用逻辑门电路逻辑功能及其测试方法3. 数吸引建基础电路实验箱的基本功能和使用方法实验原理1. 逻辑值与电压值在数字电路中，逻辑“1”与逻辑“0”可表示两种不同电平的取值，根据实际取值的不同，有正、负逻辑之分。正逻辑中，高电平用逻辑“1”表示，低电平用逻辑“0”表示；负逻辑中，高电平用逻辑“0”表示，低电平用逻辑“1”表示。逻辑电路的输入与输出仅表示某种逻辑状态（“1”或“0”），而不表示具体的数值。由于在数字电路中只关心信号的有无即电位的相对高低，故多少伏以上算为高电平、多少伏以下算为低电平，不同场合，规定有所不同。2. 门电路的基本功能集成门电路是组成各种数字电路的基本单元，它是一种条件开关电路，它的输出信号与输入信号之间存在着一定逻辑关系，基本逻辑关系是与门、或门、非门三种。与、或、非、与非、或非和异或等基本逻辑门电路为常用的门电路，表达它们的逻辑关系用真值表、逻辑表达式和逻辑符号。(a) 与非门 逻辑符号 (b) 逻辑电路3. 数字集成电路的引脚识别及型号识别集成电路的每一个引脚各对应一个脚码，每个脚码所表示的阿拉伯数字(如l，2，3，)是该集成电路物理引脚的排列次序。使用器件时，应在手册中了解每个引脚的作用和每个引脚的物理位置，以保证正确地使用和连线。从图1.9a.2可见，双列直插式集成与非门电路CT74LS00。图1.9a.2 数字集成电路的脚码及型号集成电路有定位标识，帮助使用者确定脚码为l的引脚；定位标识有半圆和圆点两种表达形式，最靠近定位标识的引脚规定为物理引脚的第l脚，脚码为l，其他引脚的排列次序及脚码按逆时针方向依次加l递增。4. 集成门电路功能验证方法选定器件型号，查阅该器件手册或该器件外部引脚排列图，根据器件的封装，连接好实验电路，以测试74LS00与非门的功能为例：图1.9a.2 74LS00的封装正确连接好器件工作电源：74LS00的1 4脚和7脚分别接到实验平台的5 V直流电源的“+5 V和“GND”端处，TTL数字集成电路的工作电压为5 V(实验允许5的误差)。 连接被测门电路的输入信号：74LS00有四个二输入与非门，可选择其中一个二输入与非门进行实验，将输入端A,B分别连接到实验平台的“十六位逻辑电平输出” 电路的其中两个输出端。连接被测门电路的输出端：将与非门的输出端Y连接到“十六位逻辑电平显示”电路的其中一个输入端。通过开关改变被测与非门输入端A，B的逻辑值，对应输入端的LED指示灯亮时为“1”，不亮时为“0”。观测输出端的逻辑值，对应输出端的指示灯LED亮红色时为“1”，亮绿色时为“0”。 不亮表示输出端不是标准的TTL电平。实验内容1. 验证74LS08(与门)、74LS32(或门)、74LS04(非门)、74LS00(与非门) 、74LS86(异或门)的功能2. 利用74S00与非门组成非门，2输入与门,2输入或门电路，画出实验电路图，并测试其逻辑功能，验证结果。3. 测试用“异或”门和“与非”门组成的半加器的逻辑功能。数据记录1. 验证74LS08(与门)、74LS32(或门)、74LS04(非门)、74LS00(与非门) 、74LS86(异或门)的功能将被测芯片插入实验区的空插座,连接好测试线路,拨动开关,改变输入信号,观测输入输出端的逻辑值时，并用万用表测量出输出端对应的电压值，验正TTL电路的逻辑功能, 记录实验数据。输入输出Y74LS0874LS3274LS0474LS00ABYU/VYU/VY（输入为A对应的时）U/VYU/V0000.184600.18313.55113.5480100.184613.54913.5481000.184613.54900.18413.5481113.54913.54900.1842. 利用74S00与非门组成非门，2输入与门,2输入或门电路，画出实验电路图，并测试其逻辑功能，验证结果。电路图：1) 非门2) 2输入或门3) 2输入与门逻辑功能：输入输出Y非与或门与非门ABY1Y2Y3Y4001000011011100011110110通过观察灯泡的亮度以及测量电压来判断高低电平，均与逻辑实际功能相符。实验总结 通过此次实验，将我们学到的知识用于实践，以及回顾了基本器件的功能，了解到基本电路功能箱的简单的使用方法，相信在之后的学习中，我们会越来越多了解到功能箱的各种用法。