激光干涉测长B08340218 吴国斌 08测控2班干涉测量技术是以光的干涉现象为基础进行测量的一门技术。1-6 激光外差干涉测长与测振。光（强）的探测方法分为直接探测法（非相干探测）和外差探测法（相干探测）。所谓直接探测是将待测光信号直接射入到光探测器光敏面。微电子技术的发展给光 干涉技术注入了新。
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1、 1. 长度计量器具英文略 比长仪干涉仪稳频激光器测长机测长仪工具显微镜读数显微 镜光学计测量用投影仪三坐标测量仪球径仪球径仪样板圆度仪锥度测量仪孔径测量仪比较仪测微仪光学仪器检具量块尺基线尺线纹尺光栅尺光栅测量装置磁尺容栅尺水准标尺感应同。
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3、激光干涉测长B08340218 吴国斌 08测控2班干涉测量技术是以光的干涉现象为基础进行测量的一门技术。在激光出现以后，加之电子技术和计算机技术的发展，隔振与减振条件的改善，干涉技术得到了长足进展。干涉测量技术大多数是非接触测量，具有很高。
4、1-6 激光外差干涉测长与测振,韦 宏 艳,光探测方法,光（强）的探测方法分为直接探测法（非相干探测）和外差探测法（相干探测）。直接探测简单实用，外差探测灵敏度高，探测目标时的作用距离远。 直接探测的基本原理： 所谓直接探测是将待测光信号直接射入到光探测器光敏面，光探测器响应于光辐射强度而输出相应的电流或电压，探测系统可经光学天线或直接由探测器接收光信号，在其前端可经过频率滤波（如滤光片）和空间滤。
5、第六章 激光干涉测长技术 自从 1802年杨氏 Thomas Young 首先用实验方法研究光 的干涉现象以来 ， 对光干涉的本质及其应用研究已延续近 200 年的历史 。 激光的出现和计算机技术 ， 微电子技术的发展给光 干涉技术注入了新。
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7、 自从1802年杨氏Thomas Young首先用实验方法研究光的干涉现象以来，对光干涉的本质及其应用研究已延续近200年的历史。激光的出现和计算机技术，微电子技术的发展给光干涉技术注入了新的活力，并已成为现代光学中一个重要的分支。激光干涉。
8、毕毕 业业 论论 文设文设 计计题 目： 激光扫描测径仪的系统设计激光扫描测径仪的系统设计英文： System design of a laserscanned diameter gauge 院 别： 机电学院 专 业： 机械电子工程 姓 。