ICTATE Teradyne Z1800测试概述 旭达电脑公司

M,TK,MiTAC,Kunshan,LTD.,旭達,電腦有限公司,MKL Presentation,測試工程處,ICT/ATE,Teradyne Z1800,測試概述,Prepared By :HQ.LI,12/2003,測試工程處,ICT/ATE,測試概述,ICT/ATE,簡介,15,分,ICT/ATE,測試原理,及區別,30,分,軟体介紹,30,分,ICT/ATE TE,職能,25,分,測試工程處,ICT/ATE,簡介,Ict,/Ate,測試在生産流程中的位置,對母板進行測試，,ICT,測試設備置於回流焊(,reflow),之後，,ATE,測試機台至於二次插裝(,second insertion),之後 。,測試工程處,ICT/ATE,簡介,BIOS PROGRAMMING,MATERIALS ON MACHINE,版面錫膏印刷,表面粘貼,M-SLATION INSPECTION,回流焊reflow,stick S/N label,ICT test,visual inspection,fail,fail,T/S repair,ICT,測試在生産流程中的位置,測試工程處,ICT/ATE,簡介,second insertion,visual inspection,F/T test,T/S repair,ATE,測試在生産流程中的位置,ATE test,測試工程處,ICT/ATE,簡介,定義及功能,ICT:,In Circuit Test，,可以對母板上元件和開短路情況進行測試，可以檢測到母板的缺件，空焊，浮腳，冷焊，連錫，開短路等不良狀況,。,ATE:,Auto Test,Eqipment,，,有,ICT,測試的所有功能，並且在此基礎上可以進行電源點的電壓測試和對,digital IC,進行邏輯功能測試,測試工程處,ICT/ATE,測試原理及區別,ICT/ATE,測試設備分爲兩部分：,ICT/ATE,測試機台和測試治具。,治具,機台,測試工程處,ICT/ATE,測試原理及區別,測試機台,fixture,D/R board,(top:32,back:32),function board,t:3,b:2,測試工程處,ICT/ATE,測試原理及區別,測試工程處,ICT/ATE,測試原理及區別,機台方面，,ICT,和,ATE,區別在於：,ATE,機台比,ICT,機台多一個可編程,POWER(055v),所用的是,連接板是,DR2D,。,ATE,機台上,D/R board,類型為,DR2D,而,ICT,機台上為,DR2A.,DR2A:Analog capability only,still has V,+,and V,-,relays for use,withMultiScan,tests.,DR2D:Have digital capability, can obtain reference voltages for drivers from either the +/- pins.,POWER,D/R board,055V,測試工程處,ICT/ATE,測試原理及區別,ICT/ATE,測試治具,sensor,載板,測試工程處,ICT/ATE,測試原理及區別,ICT/ATE,治具方面的區別:,ICT,和,ATE,治具區別是由於,ATE,電壓測試和邏輯功能測試的需要，,ATE,治具内部接綫上會有上電接綫。,另外，由於,ATE,是在二次插件后進行測試，所以,ATE,治具有,connect sensor，,且載板上,connect,槽較深,。,測試工程處,ICT/ATE,測試原理及區別,功能上,相同點：,ICT,和,ATE,測試都可以對母板上元件和開短路情況進行測試，可以檢測到母板的缺件，空焊，浮腳，冷焊，連錫，開短路等不良狀況。,不同點：由於,ATE,機台比,ICT,機台多一個,POWER，,此,POWER,可以提供055,V,可編程電壓，所以,ATE,測試可以進行電源點的,電壓測試,和對,digital IC,進行,邏輯功能,測試，而,ICT,測試不能進行這兩項測試。,測試工程處,軟体介紹,ICT/ATE,測試軟体是,Z18xx,系統，通過電腦主板上一塊,PCIO,板，測試機台與電腦相連，實現信息的傳送。,測試所用軟体是,z18,系統。,測試工程處,軟体介紹,Mos,-,系统主目录,系统的主程序以及一些相关设置、数据等,Pgt,-,系统库文件夹,系统原有的库和我们自定义的待常调用的库元素,Tpd,-,测试程序目录,（可由自己定）,测试程序默认的文件夹（可以在,setup,菜单中改变）,安裝,z18xx,系統后，會自動生成以下幾個文件夾：,測試工程處,軟体介紹,z18xx測試系統主界面,測試工程處,軟体介紹,測試程式的產生,編寫,ICT/ATE,測試程式是將,feamaster,產生的,ipl.dat,文件在,z18,系統中產生，再加一調試而成。,有,componment,数据库自动产生一个测试程序,建立,componment,數據庫,測試工程處,軟体介紹,硬体架構,測試工程處,軟体介紹,入圖，為三極管的調試界面，參照電路圖，對三極管用雙激勵的方法，分別測試三極管兩個狀態下的輸出電壓：,截止狀態，放大和飽和的臨界狀態。,調試界面,測試工程處,ICT/ATE,TE,職能,編寫並調試,ICT/ATE,測試程式。,维护,ICT/ATE,测试的正常进行。,清板（對維修的板進行再次分析）。,不間斷修改程式，提高覆蓋率，減小誤測。,保養機器和治具。,測試工程處,The End!,Thanks!,12/2003,