实验一基本门电路逻辑功能测试课件

上传人:无*** 文档编号:244064169 上传时间:2024-10-02 格式:PPT 页数:20 大小:294.87KB
返回 下载 相关 举报
实验一基本门电路逻辑功能测试课件_第1页
第1页 / 共20页
实验一基本门电路逻辑功能测试课件_第2页
第2页 / 共20页
实验一基本门电路逻辑功能测试课件_第3页
第3页 / 共20页
点击查看更多>>
资源描述
,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,数字电子技术实验,指导教师:孔洁,数字电子技术实验,实验一,基本门电路逻辑功能测试,实验二 中规模组合逻辑电路应用(一),实验三 中规模组合逻辑电路应用(二),实验四 利用EDA软件进行组合逻辑电路的设计,实验五,触发器设计及应用,实验六 计数器的设计及应用,实验七 555定时器的应用,实验八 实验考试,实 验 内 容,数字电子技术实验,实验一 基本门电路逻辑功能测试 实 验 内 容数字,实验一,基本门电路逻辑功能测试,一、实验目的,1、,熟悉基本门电路的逻辑功能及测试方法,2、,掌握用SSI设计组合逻辑电路的方法,3、,用实验验证所涉及电路的逻辑功能,二、实验仪器及器材,1、,数字逻辑实验台,2、集成块,74LS00、74LS32、74LS86各一片,3、导线若干,实验一 基本门电路逻辑功能测试一、实验目的1、熟悉基本门电,74系列门电路芯片外形如图1-1所示,管脚编号方法:管脚向下半月形缺口向左,从下排自左向右顺序编号,上排自右向左顺序编号。,图1-1 74系列芯片的管脚编号方法图,1. 74系列芯片的管脚读法,三、实验原理,实验一,基本门电路逻辑功能测试,74系列门电路芯片外形如图1-1所示,管脚编号方法,按集成度分:小规模(,SSI):每片110个器件,,中规模(MSI):每片10100个器件,大规模(LSI):每片数千个器件,超大规模(VLSI):每片10000器件,按电路结构和工作原理分:,组合逻辑电路:无记忆,输出与以前状态无关,时序逻辑电路:有记忆,输出与以前状态有关,实验原理,2.逻辑电路的分类:,按集成度分:小规模(SSI):每片110个器件,,3. 组合逻辑电路的设计,实验原理,组合电路,:输出仅由输入决定,与电路当前状态无关;电路结构中,无,反馈环路(无记忆),组合电路的描述方法主要有逻辑表达式、真值表、卡诺图和逻辑图等。,输入到输出之间没有反馈回路。电路不含记忆单元。,组合电,路特点:,3. 组合逻辑电路的设计实验原理组合电路:输出仅由输入决定,,实验原理,实验原理,1.分析,2.真值表,3.化简,4.逻辑图,设计要求:在满足逻辑功能和技术要求的基础上,力求使电路简单、经济、可靠。设计中所说的“最简”是指电路所用的器件数最少,器件的种类最少,而器件之间的连线也最少。,实验原理,组合逻辑电路的设计,1.分析2.真值表3.化简4.逻辑图设计要求:在满足逻辑功能,逻辑变量:取值仅有逻辑“0”和逻辑“1”,逻辑代数:按一定逻辑关系进行代数运算(与、或、非、与非、异或),实验原理,4. 逻辑变量和逻辑代数的含义,逻辑变量:取值仅有逻辑“0”和逻辑“1” 实验原理4. 逻,74LS00,实验原理,74LS00实验原理,四、实验内容及步骤,1.二输入与非门74LS00的,逻辑功能测试(结果填入表1.1),实验一,基本门电路逻辑功能测试,四、实验内容及步骤1.二输入与非门74LS00的逻辑功能测试,实验内容及步骤,2.二输入或门74LS32的,逻辑功能测试(结果填入表1.1),实验内容及步骤2.二输入或门74LS32的逻辑功能测试(结果,实验内容及步骤,3.二输入异或门74LS86的,逻辑功能测试(结果填入表1.1),实验内容及步骤3.二输入异或门74LS86的逻辑功能测试(结,表,1.1,门电路逻辑功能表,实验内容及步骤,异 或,表1.1 门电路逻辑功能表 实验内容及步骤异 或,解:逻辑抽象,输入变量:,主裁判为A,副裁判为B、C。,判明成功为1,失败为0;,输出变量:,举重成功与否用变量Y表示,成功为1,失败为0;,逻辑真值表,4.,用与非门设计一个举重裁判表决电路。设举重比赛有3个裁判,一个主裁判和两个副裁判。只有当两个或两个以上裁判判明成功,并且其中有一个为主裁判时,表明举重成功。,实验内容及步骤,解:逻辑抽象输入变量:输出变量:逻辑真值表4.用与非门设计,卡诺图化简,逻辑电路图,实验内容及步骤,卡诺图化简 逻辑电路图实验内容及步骤,用74LS00与非门电路组成的半加器电路如图3-1所示,。,5.,测试由门电路组成的半加器的逻辑功能,实验内容及步骤,能实现两个一位二进制数的算术加法及向高位进位,而不考虑低位进位的逻辑电路,1.由逻辑图写出逻辑表达式。,2.列出真值表,并化简。,3.按图3-1连接电路,验证逻辑关系。将实验结果填如表3-1中。,用74LS00与非门电路组成的半加器电路如图3-1所示,其中: A,-加数;,B,-被加数;,S,-本位和;,C,-,进位。,实验内容及步骤,其中: A-加数;B-被加数;实验内容及步骤,实验一,基本门电路的逻辑功能测试,6.,设计用两只开关同时控制一盏灯的逻辑电路,A,B,Y,0,0,0,0,1,1,1,0,1,1,1,1,实验一 基本门电路的逻辑功能测试6.设计用两只开关同时控制,五、注意事项,1、注意电源和地应接正确。,2,、集成块的输入端应接钮子开关上方,输出端接 LED电平指示器。,3、检查连线正确后再打开电源。,4、学会用逻辑笔检查线路。,实验一,基本门电路逻辑功能测试,五、注意事项1、注意电源和地应接正确。实验一 基本门电路逻,
展开阅读全文
相关资源
正为您匹配相似的精品文档
相关搜索

最新文档


当前位置:首页 > 管理文书 > 施工组织


copyright@ 2023-2025  zhuangpeitu.com 装配图网版权所有   联系电话:18123376007

备案号:ICP2024067431-1 川公网安备51140202000466号


本站为文档C2C交易模式,即用户上传的文档直接被用户下载,本站只是中间服务平台,本站所有文档下载所得的收益归上传人(含作者)所有。装配图网仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对上载内容本身不做任何修改或编辑。若文档所含内容侵犯了您的版权或隐私,请立即通知装配图网,我们立即给予删除!