X射线光电子能谱

单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,*,*,*,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,*,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,*,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,*,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,*,X射线光电子能谱,参考文献,课件下载：,John F. Watts & John Wolstenholme, “An introduction to surface analysis by XPS and AES, John Wiley & Sons, 2003,David Briggs and John T. Grant, “Surface Analysis by Auger and X-Ray Photoelectron Spectroscopy, IM Publications, 2007, ISBN: 1-901019-04-7,D. Briggs & M. P. Seah, “Practical Surface Analysis (Second Edition), Volume 1: Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy, John Wiley & Sons, 1992,Graham C. Smith, “Surface Analysis by Electron Spectroscopy: Measurement & Interpretation, Plenum Press, New York, 1994,吴正龙译著，?外表分析(XPS和AES) 引论?，华东理工大学出版社，2021,黄惠忠等编，?外表化学分析?，华东理工大学出版社，2007,王建祺等编,?电子能谱学(XPS/XAES/UPS)引论?，国防工业出版社，1992,刘世宏等编,?X射线光电子能谱分析?，科学出版社，1988,2,课程目的,X射线光电子能谱学的根本物理原理？,X射线光电子能谱能解决什么问题？,X射线光电子能谱图怎样识别？,X射线光电子能谱实验要注意那些问题？,3,主要内容,(Outline),第一章 XPS的物理根底,第二章 结合能与化学位移,第三章 电子能谱仪构造,第四章 谱图一般特征,第五章 定性分析方法,第六章 定量分析和深度剖析方法,第七章 数据处理方法,第八章 在材料科学中的应用,4,第1章 XPS的物理根底,X射线光电子能谱与其特性,电子能级与其表示,光电效应,俄歇效应,外表与外表灵敏性,5,、,X,射线光电子能谱与其特性,X射线光电子能谱(X-Ray Photoelectron Spectroscopy)，简称XPS，别称ESCA,X射线光电子能谱学是1960年代末开展成熟起来的一门独立完整的综合性学科。它与多种学科相互穿插，融合了物理学，化学，材料学，真空电子学，以与计算机技术等多学科领域。,XPS是外表灵敏的定量谱学技术，可分析材料中存在的元素构成，经历式，以与元素的化学态和电子态。,它是研究原子，分子和固体材料的有力工具。,6,、,X,射线光电子能谱,(XPS),当软,X,射线作为探针作用于物质,入射,X,射线光子与物质中的原子发生相互作用，经历各种能量转递的物理效应后，使原子发生光电离。所释放出的电子具有原子的特征信息，亦即具有特征能量。,通过对这些电子特征信息的解析，可以获得物质中原子的各种信息,如元素种类和含量，化学环境，化学价态等。,收集、检测和记录和分析这些特征信号电子的能量分布,和空间分布,的,方法技术,就是,X,射线光电子能谱学,。,7,、,X,射线光电子能谱,(XPS),所用激发源(探针)是单色X射线，探测从外表出射的光电子的能量分布。由于X射线的能量较高，所以得到的主要是原子内壳层轨道上电离出来的电子。XPS的物理根底：光电效应。,瑞典Uppsala大学物理研究所Kai Siegbahn教授与其小组在二十世纪五十和六十年代对XPS的实验设备进展了几项重要的改进并逐步开展完善了这种实验技术，首先发现内壳层电子结合能位移现象，并将它成功应用于化学问题的研究中。X射线光电子能谱不仅能测定外表的元素组成，而且还能给出各元素的化学状态和电子态信息。,Kai Siegbahn由于其在高分辨光电子能谱方面的开创性工作和出色奉献荣获了1981年的诺贝尔物理奖。,8,、,X,射线光电子能谱的特性,除氢和氦以外元素周期表中所有元素都有分立特征谱峰；,近邻元素的谱线分隔较远，无系统干扰。,可观测的化学位移。与氧化态和分子构造相关，与原子电荷相关，与有机分子中的官能团有关。,可定量的技术。测定元素的相对浓度，测定同一元素不同氧化态的相对浓度。,外表灵敏技术。采样深度约110nm，信号来自最外表的十数个原子单层。,分析速度快，可多元素同时测定。,样品的广泛适用性。固体样品用量小，不需要进展样品前处理。,需要超高真空实验条件,9,X,射线光电子能谱,(,XPS),优点：,可测除H、He以外的所有元素。,亚单层灵敏度；探测深度110nm，依赖材料和实验参数。,定量元素分析；检测限：0.11.0 at%,优异的化学信息，化学位移和伴峰构造与完整的标准化合物数据库的联合使用。,分析是非构造破坏的；X射线束损伤通常微缺乏道,详细的电子构造和某些几何信息。,缺点：,横向分辨率较低，15m(小面积)，1m(成像)。,10,、,XPS,可提供的信息和功用,样品外表(1-12nm)元素组成的定性和半定量测定(误差,E,B,),，就可发生光电离过程,A,+,h,A,+*,+,e,由能量守衡,:,E,i,(,n,) +,h,=,E,f,(,n,-1,k,) +,E,K,或,E,K,=,h,E,B,此即,爱因斯坦光电发射定律,。,其中,结合能,定义为：,1.3.2,爱因斯坦光电发射定律,16,1.3.3,光电离截面,电离过程中产生的光电子强度与整个过程发生的几率有关，后者常称为,电离截面,。一个原子亚壳层的总截面,nl,与电子的主量子数,n,和角量子数,l,有关。当,n,一定时，随,l,值增大，,n,l,亦增大；当,l,一定时，随,n,值增大，,n,l,值变小。,17,1.3.4,固体中的光电发射,光吸收过程非常快(10-16s)；,假设光子能量小于材料的外表功函数，hnhn，无从该能级的光电发射；,光电发射强度 与光子强度成正比；,需要单色的(X-ray)入射光束；,每种元素都有唯一的一套芯能级，其结合能可用作元素的指纹；,结合能随能级变化：EB(1s) EB(2s) EB(2p) EB(3s) ,轨道结合能随Z增加：EB(Na 1s) EB(Mg 1s) i)，如L1L2M,假设W=X=Y，称为超C-K跃迁，(pi，qi)，如N5N6N6,俄歇过程根据初态空位所在的主壳层能级的不同，可分为不同的系列，如K系列，L系列，M系列等；同一系列中又可按参与过程的电子所在主壳层的不同分为不同的群，如K系列包含KLL，KLM，KMM，等俄歇群，每一群又有间隔很近的假设干条谱线组成，如KLL群包括KL1L1，KL1L2，KL1L3，KL2L2，KL2L3等谱线。俄歇谱由多组间隔很近的多个峰组成。,其中,: ,初态空位能级,W,i,弛豫电子空位,能级,X,p,俄歇电子发射空位,能级,Y,q,(i, p, q,为次壳层标记,),23,俄歇跃迁,在所有俄歇电子谱线中，,K,系列最简单。,L-,，,M-,系列的谱线要复杂得多，这是因为：产生原始空穴的能级有较多的子壳层，即原子初态有好几个，在,L-,和,M-,系列俄歇跃迁发生之前可有其它俄歇跃迁发生，使原子变成多重电离。,发射俄歇电子后原子处于双重电离状态，而俄歇电子的能量与原子的终态有关，而终态能量又取决于终态两个空穴的能级位置和它们间的偶合形式。一个俄歇群所包含的谱线条数取决于两个终态空穴可以构成多少不同的能量状态。如,KLL,俄歇群，,L-S,耦合有,5,条谱线，,J-J,耦合有,6,条谱线，中间耦合有,9,条谱线出现。,元素,H,和,He,是不能发生俄歇跃迁的。,24,1.4.4,、俄歇几率,电离原子退激发可有两种过程：射线荧光过程和俄歇过程。,设它们发生的几率分别为Px和Pa，那么,Px+Pa=1,考虑到屏蔽和相对论效应，对初态空位在K能级的电离原子，给出:,A.H. 给出:,n=1/4，A=-6.410-2，B=3.4010-2，C=-1.0310-6,由上式可算出Pa和Px随Z的变化关系。如果Z19，Pa在90%以上。直到Z=33，Px才增加到与Pa相等。,25,强俄歇峰,对低Z元素更利于俄歇发射。几率随Z和芯空穴位置(K, L, M)而变。,因此，对Z15的元素，采用K系俄歇峰进展分析，此时Px5%0。对重元素一般KLL跃迁弱而LMM、MNN等跃迁比较强。,当Z超过15后，直到Z=41，采用L系俄歇峰进展分析，此时荧光过程发生的几率近似为零。,当Z再增加时，依此类推，采用其它系列俄歇峰进展分析，如,K系列: 对于原子序数Z在3(Li)和13(Al)之间；,L系列: 对于原子序数Z在11(Na)和35(Br)之间；,M系列: 对于原子序数Z在19(K)和70(Yb)之间；,N系列: 对于原子序数Z在39(Y)和94(Pu)之间；,总之，在实际进展俄歇分析是，随Z的增加，依次选用KLL，LMM，MNN等适宜系列，荧光几率都可近似是零，退激发过程可近似认为仅有俄歇过程。,实验说明，同一系列中较强的俄歇峰WXY一般是X、Y主量子数相等，同时X、Y主量子数比W大1的过程，如KLL、LMM、MNN、NOO等群在各自的系列中一般都比较强。,26,1.4.5,、俄歇电子能量,俄歇电子的能量，现有标准手册和数据库可准确查到。,为了建立根本的物理概念，现给出一种半经历的俄歇电子能量计算方法。,为简化起见，用单电子图象(忽略弛豫和终态效应)，WXY俄歇跃迁电子能量:,实际上，由于俄歇过程内壳层存在一空位，所以 ,近似地得到：中值定理,对从固体中发射的俄歇电子能量，如果俄歇过程不涉与价带，只需考虑俄歇电子必须抑制逸出功才能逸出就行了。所以俄歇电子能量,(1),式中S是固体样品材料的功函数。注意固体各能级的能量是从费米能级EF算起的，EF=0。此半经历公式所得结果与实测数据符合的很好。,俄歇电子要送到能量分析器进展分析，分析器与样品之间存在接触电势差。对于导体样品，当它和谱仪有良好的电接触时，样品材料和谱仪能量分析器材料的费米能级重合，这时进到分析器的俄歇电子能量为:,(2),27,主要俄歇电子谱线能量图,28,、外表与外表灵敏性,、外表与其特性,外表是固体与其它相的直接界面，是相邻两相的过渡区。它是原子尺度的二维相，表现出许多不同于三维体相的特性。通常外表被认为是固体最外表的120个原子单层10nm)的范围。,所有固体材料都通过其外表与所处的环境发生相互作用。材料外表的组成和性质将决定外表的性质。固体的外表性质极大地影响材料的固体性质，与其在预期功能中的行为表现。所以彻底了解材料的外表性质和行为是十分重要的。,外表对材料性能有重要影响，是材料根底研究的重要对象。由于外表问题与根底理论和工程技术的密切关系，使得近年来对外表问题研究异常活泼，特别是低维材料和纳米构造研究方面。,外表科学研究从原子水平来认识和说明外表原子的化学、几何排列、运动状态、电子态等性质与其与外表宏观性质的联系。,29,30,、外表灵敏性,一般来讲，分析方法的外表灵敏度依赖于所检测的辐射。外表分析技术以电子能谱为中心，作为信息载体的特征电子从被X射线照射的样品中发射出，然后到达能量分析器和检测器进展分析测量。,在X射线光电子能谱中，尽管轰击外表的X射线光子可透入固体很深(1m)，但由于电子在固体中的非弹性散射截面很大，只有小局部电子保持原有特征能量而逸出外表。可被检测的无能量损失的出射电子仅来自于外表的110 nm。在固体较深处产生的电子也可能逸出，但在其逸出的路径中会与其它原子碰撞而损失能量，因而它们对分析是无用的背景信号。电子能谱的外表灵敏性是在固体中输运而没有被散射的短距电子的结果。,31,、外表灵敏性,表1-1 不同粒子透入固体樣品的深度,实验说明电子在固体中非弹性散射截面很大，其非弹性平均自由程具有一定能量的电子连续发生两次有效的非弹性碰撞之间所经过的平均距离很短。因此只有在极浅表层中的小局部电子保持原有特征能量而逸出外表。,粒子類型,能 量,透入深度,光子,1,000 eV,1,000 nm,電子,1,000 eV,2 nm,離子,1,000 eV,1 nm,32,外表灵敏性术语,对于电子在物质中的输运，用不同的术语定义外表灵敏度。,IMFP() 非弹性平均自由程。具有一定能量的电子连续发生两次有效的非弹性碰撞之间所经过的平均距离(nm单位)，称为电子的非弹性平均自由程，在外表分析中是一个重要参数，它与电子能量和外表材料有关，它可用来估计具有不同特征能量的电子所携带的信息深度。,ED 逃逸深度。电子由于非弹性过程无大的能量损失逃逸的几率降到其原来值的e-1(38%)处垂直于外表的距离(nm单位)。,AT 衰减长度。从一特殊模型中得到的具有一定能量的电子连续发生两次有效的非弹性碰撞之间所经过的平均距离(nm单位)，这里弹性电子散射假设是可忽略的。,SD 采样深度=3。检测到的电子的百分比为95%时的信息深度。,对于能量在1001000eV的电子来说，非弹性散射平均自由程的典型值在13nm的量级，此一距离对大多数材料而言约为10个原子单层。,33,、,采样深度,实验上非弹性平均自由程是非常难测量的，实际上代之以测定包含弹性散射效应的称为衰减长度的参数。,对于体相材料，电子在固体内部发生非弹性散射的几率正比于在固体中的行程长度。,dI = -I -1 dx,局部积分 0 63%03 95%, 采样深度：,34,信息深度,35,、非弹性平均自由程估算,和W.A.Dench(1979)综合了大量实测数据，总结出以下经历公式：,对纯元素：,对无机化合物：,对有机化合物：,式中：电子能量 E 的单位是eV；体密度的单位为kg m-3；平均单层厚度 nm 。,36,l,值有多大,(,nm)?,对元素硅,l,m,=0.41(aE),0.5,= 8,单层,l,n,对氧化硅,l,m,=0.72(aE) = 13,单层,l,n,两种情形下,l,为几个,nm,的量级,大多数,l,在,nm,范围,(Al K,a,),37,思考题,X射线光电子能谱的物理根底是什么？,为什么说电子能谱是外表灵敏的分析技术? 其采样深度约有多少？,XPS有何特点和优点？它可以分析哪些元素？可提供哪些材料有关的信息？,38,谢谢,39,谢谢,