SPC之Xbar -R chart实施细则讲义

按一下以編輯母片標題樣式,按一下以編輯母片,第二層,第三層,第四層,第五層,*,SPC,之X-R 管制圖實施細則,DT(II),品保部,馮胜標,目錄,1,.基礎知識,1.1 何謂,.,一般之製程控制模式,.,統計觀點,1.4,SPC CHARTS-,管制圖,2.平均值與全距管制圖(X-R Chart),2.1 X-R管制圖的定義 2.2 導入組織,2.3 管制項目之選擇 2.4 建立解析用管制圖,2.5,建立管制用管制圖,:,2.6,三個原則,:,2.7 管制圖的判讀,2.8 異常處理,1.1 何謂SPC?,S,tatistic Process Control,統計 制程 管制,1.2 一般之製程控制模式,1.3 統計觀點,1,品質特性值之,變異性,2,變異原因,:4,M1E3,變異性質分類,:,a.,機遇原因,(偶然性,不易識別,不易消除, 大量的.) 如:同批材料內部結構的不均勻性表現的微小差異,設備 的微小振動,刀具的正常磨損,以及操作者細微的不穩定等. -其對品質變異起著細微的作用,是正常的,b,.,非,機遇原因,(系統性,易識別,可以消除, ),如:使用了不合規格標准的原材料,設備的不正確調整,刀具的嚴重磨損,操作者偏離操作規程等. -其對品質變異影響程度大,生產失控,為異常原因,.,1.3 統計觀點,4.,統計數據類型,:,計量,;,計數,計量性的 例如,:,長度,溫度,重量,電流值等,.,計數性的 例如,:,一個人,一張床,一條魚等,5.,品質變異之一般統計規律,:,-3,-2,-1,+1,+2,+3,0.135%,0.135%,99.73%,95.45%,68.27%,常態分配:,常態分布函數,f(x)=,2,1,e,-(x-,),2,/2,2,0; -,.常,態分布兩個重要參數:,平均值,:描述品質特性值之集中位置 標準差,: 描述品質特性值之分散程度,請,看以下幾個例子,:,第一組數據,第二組數據,第三組數據,第四組數據,問題一:它們的平均值相等嗎?,問題二:若SPEC,定在10.250.15,它們合格嗎?,問題三:哪一組數據比較好?,1.3 統計觀點,7.常態分配是SPC,管制圖的基本理論,SPC CHARTS-,管制圖,管制圖,是一種以實際產品品質特性與根據過去經驗所判明,的制程能力的管制界限比較,而以時間順序用圖形表示者,.,管制圖的功效:,a. 及時掌握異常波動,克服影響因素,維持制程穩定.,b. 了解制程能力.(Cpk、Ca、Cp),c. 應客戶的要求,提供給客戶作為質量控制的依據,(規格上限),管制上限UCL,(規格值),管制下限LCL,(規格下限),X1,X2,X3,X4,X2,X1,X3,X4,X1,X2,管制中限CL, Mean, Standard deviation,X average,S Sample stand deviation,Population,總體N,Sample,樣 本n,-,直方圖,常態分布圖,1,.4,SPC CHARTS-,管制圖,n30,時,直方圖,常態分布圖,管制圖,管制上限UCL,中心線CL,管制下限LCL,-,2,-,2,-3,3,A,區,A,區,B,區,B,區,C,區,C,區,旋轉90,管制圖,常態分布圖,SPC CHARTS-,管制圖,直方圖,常態分布圖,管制圖,為何用,3,作為管制上下限?,原因1. “,3,”原則,概率正態分布之性質在,3,範圍之概率,為0.9973 , 幾乎包含了全部的質量特性值.,所以: 3,範圍被認為是產品品質正常波動的合理的最大幅度,它代表了一個過程所能達到的質量水平,所以過程能力一般用 3,來表示.,原因2.,能使抽樣檢驗造成的第一種錯誤與第二種錯誤(損失)之總和減至最少且最經濟,SPC CHARTS-,管制圖,管制圖種類:,a.,按數據性質分:,1.,計量值管制圖,:,管制圖所依據的數據均屬於由量具實際 量測而得,.,A,.,平均值與全距管制圖,(,X-R Chart). B.,平均值與標準差管制圖,(,X-,Chart). C.,中位值與全距管制圖,(,X-R Chart). D.,單個數據,-,移動全距管制圖,(,X-,Rm,Chart). E.,最大值與最小值管制圖,(,L-S Chart).,2.,計數據管制圖,:,管制圖所依據的數據均屬於以單位計數者,.(,如缺點數、不良 數等,).,A.,不良率管制圖,(,P- Chart). B.,不良數管制圖,(,Pn,- Chart).,C.,缺點數管制圖,(,C- Chart).,D.,單位缺點數管制圖,(,U- Chart).,SPC CHARTS-,管制圖,管制圖種類:,b.依用途分:,1.,管制用管制圖,:,先有管制界限,后有數據,用於控制制程之品質,如有點子跑出界限時,立即采取如下措施,.,A.,追查不正常原因,.,B.,迅速消除此原因,.,C.,研究采取防止此項原因重復發生的措施,.,2.,解析用管制圖,:,先有數據,后才有管制界限,A.,決定方針用,.,B.,制程解析用,.,C.,制程能力研究用,.,D.,制程管制之準備用,.,SPC CHARTS-,管制圖,SPC CHART,管制圖:,選擇流程,9/29/2024,使用SPC容易犯的錯誤,1,選擇不適當之控制參數.,2.非即時結果及判定.,3.不適當之樣品數.,4.不良率為 LOW PPM LEVEL時.,5.用錯 SPC CHART.,6.SPEC LIMIT及SPC LIMIT混淆.,7.錯誤之改正行動時機.,8.變更沒有記錄與評估.,9.不適當之分析.,10.重算 CONTROL LIMITS時,沒有剔除特殊變因.,SPC CHARTS-,管制圖,9/29/2024,2. 平均值與全距管制圖(X-R Chart,),-依據,2.1 X-R,管制圖的定義,在計量值管制圖中,X-R管制圖系最常用的一種,所謂平均,值與全距管制圖,系平均值管制圖(Xbar-Chart),與全距管制圖 (R Chart)二者合並使用.,平均值管制系管制平均值的變化,即分配的集中趨勢變化;,全距管制圖則管制變異的程度,即分配的離散趨勢的狀況.,2. 平均值與全距管制圖(X-R Chart,),2. 平均值與全距管制圖(X-R Chart,),2.2 導入組織:,1.成員含品管.制工.模修.生產單位等相關人員,2.定期開會討論實施狀況,2.3 管制項目之選擇:,依照工標所訂之SIP,2.4,建立解析用管制圖:,1.收集數據100個以上,並予適當分組后記入數據記錄表.,2.計算各組平均值( X ) 及各組全距( R ),3.計算總平均值及全距平均值,4.計算管制界限及繪點連線,5.管制界限檢討修正:,標出失控點,評估其是否由非機遇原因造成,若,是則剔除整組資料,重新計算管制界限及CPK,6.記入其它注意事項,2.,平均值與全距管制圖(X-R Chart,),例題,:用X-R管制圖來控制AGP GAP,尺寸單位為mm,請,利用下列數據資料,計算其管制界限並繪圖.,制品名稱:AGP,機器號碼:RK006,品質特性:GAP 操 作 者:55230,測定單位:mm 測 定 者:58664,制造場所:A線 抽樣期間:03/10/0103/12/01,1.收集數據並記入數據記錄表,2.計算各組X,3.計算各組R值,4.計算總平均( X ),X=,=,+0.67+0.62)20,=,x1+x2+x3+xk,k,5.計算全距之平均值( R ),R=,=,+0.03+0.03)20,=,6.計算管制界限及繪出,X管制圖,中心線 ( CLx,管制上限 ( UCLx ) = X+A2R = 0.66+0.577,管制下限 ( LCLx ) = X-A2R = 0.66-0.577,R1+R2+R3+RK,k,R管制圖,中心線 CL,R,= R =,0.08,管制上限 UCL,R,= D,4,R =,2.115,管制下限 LCL,R,= D,3,R = 0,0.08 = 0,7.將所求出之各X值及R值點入管制圖上並將相鄰兩點用,直線連接,8.制程狀態檢討,9.記入其它注意事項,建立管制用管制圖:,1.記入必要事項,如制品名稱、管制項目、測定單位、規格等.,2.作管制界限,將經解析后之管制圖決定之管制界限繪入.,3.點圖,由制程抽取樣本,測定其特性值,記錄數據,按時由順序 點入.,4.安定狀態之判定,5.采取措施,6.管制界限之重新計算,2. 平均值與全距管制圖(X,bar,-R Chart,),2.6 三個原則:,11. “Set up chart”階段:,如繪制管制界限后,發現有點子超界,則視為正常,無,須改善.,22.“Process Control Chart”階段:,如Cpk一直在以上,有必要提出建議制工更改管制,規格,取消原管制,因Cpk時,不良率為DPPM.,33. 不可將規格的上下限直接作為管制界限,將規格的中,心值作為管制圖的中心線.,2. 平均值與全距管制圖(Xbar-R Chart,),2.7 管制圖的判讀:,滿足下列條件,即可認為制程是在管制狀態:,1.,多數之點子集中在中心線附近,.,2.,少數之點子落在管制界限附近,.,3.,點之分布呈隨機狀態,無任何規則可循,.,4.,沒有點子超出管制界限之外,.,2. 平均值與全距管制圖(Xbar-R Chart,),非管制狀態:,1.點在管制界限的線外 (誤判率為0.27%),2.點雖在管制界限內,但呈特殊排列.,(見附圖),3.管制圖上的點雖未超出管制界限,但點的出現有下列法時,就判斷有異常原因發生.,(a)點在中心線的單側連續出現7點以上時,(b)出現的點連續11點中有10點,14點中有12點,17點中14點,20點中16點出現在中心線的單側時,2. 平均值與全距管制圖(Xbar-R Chart,),七點連續上升或下降的傾向時,(d)出現的點,連續3點中有2點,7點中有3點,10點中有4點,出現在管制界限近旁(2線外)時,2. 平均值與全距管制圖(Xbar-R Chart,),(e)出現的點,有周期性變動時,2 .平均值與全距管制圖(Xbar-R Chart,),(f) 3點中有2點在A區或A區以外者,2. 平均值與全距管制圖(Xbar-R Chart,),(g) 5點中有4點在B區或B區以外者,2. 平均值與全距管制圖(Xbar-R Chart,),(h) 有8點在中心線之兩側,但C區並無點子者,2. 平均值與全距管制圖(Xbar-R Chart,),(i) 連續14點交互著一升一降者,2,. 平均值與全距管制圖(Xbar-R Chart,),(j) 連續15點在中心線上下兩側之C區者,2. 平均值與全距管制圖(Xbar-R Chart,),(k) 有1點在A區以外者,2. 平均值與全距管制圖(Xbar-R Chart,),1.品管開具制程異常聯絡單及(,Corrective Action Record,.),2.會簽品工、制工、模修相關人員分析原因及給出對策.,3.品管人員將詳細資料寫入表中.,4.QE依會簽結論作改善跟蹤.,5.品管重新量測,描點在管制狀態才可繼續生產.,2.8 異常處理,發現為非管制狀態時填寫CAR,2. 平均值與全距管制圖(Xbar-R Chart,),DATE,SPC SHUT DOWN,REASON,ROOT,CAUSE,CORRECTIVE,ACTION,RESULT,VERIFICATION,REMARK,FORMULA,X= Xi/n,R= Ri/n,UCL x= X+A2R,LCL x=X-A2R,UCL r=D4R,LCLr=D3R,r=R/d2,CPK=,MIN(UCL-X)/3r,(X-LCL)/3r,N A2 d2 D4 D3,2 1.88 1.13 3.27 0,3 1.02 1.69 2.58 0,4 0.73 2.06 2.28 0,5 0.58 2.33 2.12 0,Q&A,