SPC培训教材43976

单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,98,SPC(Statistical Process Control),统计过程控制,内容摘要,导言,统计过程控制的基本原理,控制图种类,控制图建立概论,x-R,均值和极差控制图的建立,P,控制图的建立,导言,案例,1,：销售记录,10,月,10,日销售,A,客户,100,台,10,月,11,日销售,B,客户,150,台,10,月,11,日销售,C,客户,200,台,10,月,12,日销售,C,客户,300,台,10,月,13,日销售,A,客户,160,台,10,月,13,日销售,B,客户,210,台,10,月,15,日销售,B,客户,90,台,10,月,16,日销售,A,客户,100,台,10,月,16,日销售,B,客户,150,台,导言,表格的运用,日期,销售量,(,台,),合计,A,客户,B,客户,C,客户,10,100,100,11,150,200,350,12,300,300,13,160,210,370,15,90,90,16,100,150,250,合计,360,450,650,1460,导言,推移图的运用,导言,伯拉托图的运用,导言,问题的提出,案例,1,中我们做了什么？,基础数据的收集,统计,以适当的图表形式表达,对统计的结果我们进行分析了吗？,分析的结果是否能够指导我们的行动 ？,导言,案例,1,的统计过程，是对已发生事实的反映。,更深层次的统计要求,控制。,宇宙飞船的发射,炮弹的杀伤力,过程统计控制的基本原理,案例,2,过程统计控制的基本原理,SPC,Statistical Process Control,控制图是,1924,年由美国品管大师,W.A. Shewhart,休哈特,博士发明。因其用法简单且效果显著，人人能用，到处可用，遂成为实施质量管理时不可缺少的主要工具，当时称为,(Statistical,Quality,Control),。,預防或容忍?,PROCESS,原料,人,机,法,环,测量,测量,结果,好,不好,不要等产品做出来后再去看它好不好，,而是在制造的时候就要把它制造好。,过程控制反馈循环图,过程,人员,设备,原料,方法,量测,环境,产品或服务,客户,确认客户,需求与期望,客户声音,统计方法,过程之声,输入,过程,/,系统,输出,每个产品的尺寸都与别的产品不同,尺寸,尺寸,尺寸,尺寸,但他们形成一个模型，若稳定，则可以绘制成一个分布,尺寸,尺寸,尺寸,尺寸,尺寸,尺寸,位置,形状,分布宽度,分布可以由以下因素来区分,过程统计控制的基本原理,中心极限定理：,无论随机变量的共同分布是什么（离散分布或连续分布，正态分布或非正态分布），只要独立统分布随机变量的个数,n,较大时，分布总是正态分布。,过程统计控制的基本原理,正态分布,99.73%,68.26%,95.45%,+1,+2,+3,-1,-2,-3,过程统计控制的基本原理,标准偏差,:,描述一组数据分散程度的指标,= 0.5,=,1.0,=,1.5,标准偏差与控制限,标准偏差与控制限,过程统计控制的基本原理,过程能力指数,Cp & Cpk,Cp:,考虑标准偏差因素，对过程能力评价的指标。,Cpk:,考虑标准偏差和偏离中心程度等综合因素，对过程能力评价的指标。,过程统计控制的基本原理,Cp,变化的演示,过程统计控制的基本原理,Cpk,变化的演示,过程统计控制的基本原理,过程统计控制的基本原理,通过对特性参数数据间的相互关系的研究，确定数据可能的变化趋势，和潜在的不符合发生的概率，为进一步的改善提供量化的支持。,关键的评价指标：,Cp,Cpk,过程统计控制的基本原理,计量值：用各种计量仪器测出、以数值形式表现的测量结果，包括用量仪和检测装置测的零件尺寸、长度、形位误差等,如电池之压片厚度,小片称重,卷针直径等指标,.,计数值：通常是指不用仪器即可测出的数据。,计件如不合格品数,外观不良数，服从二项分布；,计点如电池激光焊接的气密性,短路数等,服从泊松分布,.,SPC,应用过程,确定特性,确定测量系统,确定条件：,频率,子组容量,子组数,确定控制图,数据采集,绘制控制图,判读,改善行动,确定过程,数据处理,能力研究,确定控制限,数据采集,绘制控制图,实时判读,改善行动,能力研究,研究,控制,控制图种类,(,以数据来分,),计量型数据,X-R,均值和极差图,计数型数据,P,不良率管制图,X-s,均值和标准差图,np,不良数管制图,X-R,中位值极差图,C,缺点数管制图,X-MR,单值移动极差图,U,单位缺点数管制图,易,难,难,易,n9,n,9,n = 1,n 1,控制图种类,(,以数据来分,),控制图的选择,确定控制特性,特性 属性,子组,n,关注,X-MR,C,U,np,P,X-R,X-s,样本容量,样本容量,不合格数,缺陷数,计量型,计数型,不定,恒定,不定,恒定,均值计算,子组,n,标准差,计算,X-R,练习,质量特性,样本数,选用什么图,长度,5,重量,10,乙醇比重,1,电灯亮不亮,100,每一百平方米的脏点,100平方米,控制图种类,(,以数据来分,),举例,控制图,车辆不泄漏泄漏,灯亮不亮,孔的直径尺寸太小或太大,给销售商发的货正确不正确,风窗玻璃上的气泡,门上油漆缺陷,发票上的错误,练习,控制图种类,(,以数据来分,),控制图种类,(,依用途来分,),解析用控制图,决定方针用,制程解析用,制程能力研究用,制程管制准备用,管制用控制图,追查不正常原因,迅速消除此项原因,并且研究采取防止此项原因重复发生之措施。,搜集数据,解析用控制图,是否稳定,是否满足规格,控制用控制图,寻找异常原因,提升制程能力,使用控制图的准备,建立适用于实施的环境,定义过程,确定待管理的特性，考虑到,顾客的需求,当前及潜在的问题区域,特性间的相互关系,确定测量系统,使不必要的变差最小,控制图建立概论,质量特性与控制图的选择,为保证最终产品的质量特性,需要考虑以下几个方面,:,认真研究用户对产品质量的要求,确定这些要求哪些与质量特性有关,应选择与使用目的有重要关系的质量特性来作为控制的项目,.,有些虽然不是最终产品质量的特性,但为了达到最终产品的质量目标,而在生产过程中所要求的质量特性也应列为控制项目,在同样能够满足对产品质量控制的情况下,应该选择容易测定的控制项目,.,用统计方法进行质量控制，如无质量特性数据就无法进行,.,控制图建立概论,质量特性与控制图的选择,在同样能够满足产品质量控制的情况下,应选择对生产过程容易采取措施的控制项目,.,为了使控制最终取得最佳效果,应尽量采取影响产品质量特性的根本原因有关的特性或接近根本原因的特性作为控制项目,.,产品的质量特性有时不止一个,则应同时采取几个特性作为控制项目,.,控制图建立概论,使用控制图的注意事项,分组问题,主要是使在大致相同的条件下所收集的质量特性值分在一组,组中不应有不同本质的数据,以保证组内仅有偶然因素的影响,.,我们所使用的控制图是以影响过程的许多变动因素中的偶然因素所造成的波动为基准来找出异常因素的,因此,必须先找出过程中偶然因素波动这个基准,.,控制图建立概论,时间,质量特性,制程的变化,分组时的重要考虑,让组内变化只有偶然因素,让组间变化只有非偶然因素,组内变异小,组间变异大,使用控制图的注意事项,控制图建立概论,使用控制图的注意事项,分层问题,同样产品用若干台设备进行加工时,由于每台设备工作精度、使用年限、保养状态等都有一定差异,这些差异常常是增加产品质量波动、使散差加大的原因,.,因此,有必要按不同的设备进行质量分层,也应按不同条件对质量特性值进行分层控制,作分层控制图,.,另外,当控制图发生异常时,分层又是为了确切地找出原因、采取措施所不可缺少的方法,.,控制图建立概论,复合,层别的说明,使用控制图的注意事项,控制图建立概论,x-R,均值和极差控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制,解析,D,过程能力,解析,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,A1,选择子组大小、频率和数据,子组大小,子组频率,子组数大小,A2,建立控制图及记录原始记录,A3,计算每个子组的均值和极差,A4,选择控制图的刻度,A5,将均值和极差画到控制图上,x-R,均值和极差控制图的建立,选择子组大小，频率和子组数,子组大小：一般为,25,件连续的产品，仅代表单一刀具,/,冲头,/,过程流等。（,注：,数据仅代表单一刀具、冲头、模具等生产出来的零件，即一个单一的生产流。）,子组频率：在适当的时间内收集足够的数据，这样子组才能反映潜在的变化，这些变化原因可能是换班,/,操作人员更换,/,材料批次不同等原因引起。对正在生产的产品进行监测的子组频率可以是每班,2,次，或一小时一次等。,子组数：子组越多，变差越有机会出现。一般不少于,25,组。,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,A1,A2,A3,A4,A5,x-R,均值和极差控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,A1,A2,A3,A4,A5,1,100,98,99,100,98,2,98,99,98,101,97,3,99,97,100,100,98,4,100,100,101,99,99,5,101,99,99,100,99,平均,99.6,98.6,99.4,100,98.2,极差,3,3,3,2,2,C,过程控制解析,D,过程能力解析,x-R,均值和极差控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,x-R,均值和极差控制图的建立,A1,A2,A3,A4,A5,平均值的计算,R,值的计算,C,过程控制解析,D,过程能力解析,A,收集数据,B,计算控制限,A1,A2,A3,A4,A5,均值曲线图,极差曲线图,C,过程控制解析,D,过程能力解析,x-R,均值和极差控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,B1,计算平均极差及过程平均值,B2,计算控制限,B3,在控制图上作出平均值和极差,控制限的控制线,C,过程控制解析,D,过程能力解析,x-R,均值和极差控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,B1,B2,B3,B1,计算平均极差及过程平均值,C,过程控制解析,D,过程能力解析,x-R,均值和极差控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,B1,B2,B3,B2,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,x-R,均值和极差控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,B1,B2,B3,B3,在控制图上作出平均值和极差控制限的控制线,均值曲线图,极差曲线图,C,过程控制解析,D,过程能力解析,x-R,均值和极差控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,C1,分析极差图上的数据点,C2,识别并标注特殊原因,(,极差图,),C3,重新计算控制界限,(,极差图,),C4,分析均值图上的数据点,C5,识别并标注特殊原因,(,均值图,),C6,重新计算控制界限,(,均值图,),C7,为了继续进行控制延长控制限,x-R,均值和极差控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,C1,C2,C3,C4,C5,C6,C7,控制图判读,极差图分析,超出控制限的点,出现一个或多个点超出任何控制限是该点处于失控状态的主要证据，应分析。,UCL,LCL,R,x-R,均值和极差控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,C1,C2,C3,C4,C5,C6,C7,控制图判读,极差图分析,超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种：,控制限计算错误或描点时描错,零件间的变化性或分布的宽度已增大,(,即变坏）,测量系统变化（如：不同的检验员或量具）,有一点位于控制限之下，说明存在下列情况的一种或多种：,控制限或描点时描错,分布的宽度变小（变好）,测量系统已改变（包括数据编辑或变换）,x-R,均值和极差控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,C1,C2,C3,C4,C5,C6,C7,控制图判读,极差图分析,链,-,有下列现象之表明过程已改变或出现某种趋势：,连续,7,点在平均值一侧；,连续,7,点连续上升或下降；,UCL,LCL,R,x-R,均值和极差控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,C1,C2,C3,C4,C5,C6,C7,控制图判读,极差图分析,高于平均极差的链或上升链说明存在下列情况之一或全部：,输出值的分布宽度增加，原因可能是无规律的（例如：设备工作不正常或固定松动）或是由于过程中的某要素变化（如使用新的不一致的原材料），这些问题都是常见的问题，需要纠正。,测量系统的改变（如新的检验人或新的量具,),。,低于平均极差的链或下降链说明存在下列情况之一或全部：,输出值的分布宽度减小，好状态 。,测量系统的改好。,x-R,均值和极差控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,C1,C2,C3,C4,C5,C6,C7,控制图判读,极差图分析,明显的非随机图形,非随机图形例子：明显的趋势；周期性；数据点的分布在整个控制限内，或子组内数据间有规律的关系等。,UCL,LCL,R,x-R,均值和极差控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,C1,C2,C3,C4,C5,C6,C7,控制图判读,极差图分析,如果显著多余,2/3,以上的描点落在离,R,很近之处（对于,25,子组，如果超过,90%,的点落在控制限的,1/3,区域），则应对下列情况的一种或更多进行调查：,控制限或描点已计算错描错 。,过程或取样方法被分层，每个子组系统化包含了从两个或多个具有完全不同的过程均值的过程流的测量值（如：从几组轴中，每组抽一根来测取数据）。,数据已经过编辑（极差和均值相差太远的几个子组更改删除）。,x-R,均值和极差控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,C1,C2,C3,C4,C5,C6,C7,控制图判读,极差图分析,如果显著少余,2/3,以上的描点落在离,R,很近之处（对于,25,子组，如果有,40%,的点落在控制限的,1/3,区域），则应对下列情况的一种或更多进行调查：,控制限或描点已计算错描错 。,过程或取样方法造成连续的分组中包含了从两个或多个具有明显不同的变化性的过程流的测量值（如：输入材料批次混淆）。,x-R,均值和极差控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,C1,C2,C3,C4,C5,C6,C7,识别并标注特殊原因,极差图,对于极差数据内每一个特殊原因进行标注，作一个过程操作分析，从而确定该原因并改进，防止再发生。,应及时分析问题，例如：出现一个超出控制限的点就立即开始分析过程原因。,x-R,均值和极差控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,C1,C2,C3,C4,C5,C6,C7,重新计算控制限,极差图,在进行首次过程研究或重新评定过程能力时，失控的原因已被识别和消除或制度化，然后应重新计算控制限，以排除失控时期的影响，排除所有已被识别并解决或固定下来的特殊原因影响的子组，然后重新计算新的平均极差,R,和控制限，并画下来，使所有点均处于受控状态。,由于出现特殊原因而从,R,图中去掉的子组，也应从,X,图中去掉。修改后的,R,和,X,可用于重新计算均值的控制限。,注：排除代表不稳定条件的子组并不仅是,“,丢弃坏数据,”,。而是排除受已知的特殊原因影响的点。并且一定要改变过程，以使特殊原因不会作为过程的一部分重现。,x-R,均值和极差控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,C1,C2,C3,C4,C5,C6,C7,控制图判读,均值图分析,超出均值控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种情况：,控制限计算错误或描点时描错,过程已更改，或是在当时的那一点（可能是一件独立的事件）或是一种趋势的一部分。,测量系统变化（如：不同的检验员或量具）,连续,7,点在平均值一侧或,7,点连续上升或下降，与过程均值有关的链通常表明出现下列情况之一或两者：,过程均值已改变,测量系统已改变（漂移，偏差，灵敏度）,x-R,均值和极差控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,C1,C2,C3,C4,C5,C6,C7,控制图判读,均值图分析,如果显著多余,2/3,以上的描点落在离均值很近之处（对于,25,子组，如果超过,90%,的点落在控制限的,1/3,区域），则应对下列情况的一种或更多进行调查：,控制限或描点已计算错描错 。,过程或取样方法被分层，每个子组系统化包含了从两个或多个具有完全不同的过程均值的过程流的测量值（如：从几组轴中，每组抽一根来测取数据）。,数据已经过编辑（极差和均值相差太远的几个子组更改删除）。,x-R,均值和极差控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,C1,C2,C3,C4,C5,C6,C7,控制图判读,均值图分析,如果显著少余,2/3,以上的描点落在离,R,很近之处（对于,25,子组，如果有,40%,的点落在控制限的,1/3,区域），则应对下列情况的一种或更多进行调查：,控制限或描点已计算错描错 。,过程或取样方法造成连续的分组中包含了从两个或多个不同的过程流的测量值（这可能是由于对可调整的过程进行过度控制造成的，这里过程改变是对过程数据中随机波动的响应） 。,x-R,均值和极差控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,C1,C2,C3,C4,C5,C6,C7,识别并标注特殊原因,均值图,重新计算控制限,均值图,x-R,均值和极差控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,C1,C2,C3,C4,C5,C6,C7,作控制图的目的是为了使生产过程或工作过程处于,“,控制状态,”,.,控制状态即稳定状态,指生产过程或工作过程仅受偶然因素的影响,产品质量特性的分布基本上不随时间而变化的状态,.,反之,则为非控制状态或异常状态,.,控制状态的标准可归纳为二条,:,第一条,控制图上点不超过控制界限,;,第二条,控制图上点的排列分布没有缺陷,.,进行控制所遵循的依据,:,连续,25,点以上处于控制界限内,;,连续,35,点中,仅有,1,点超出控制界限,;,连续,100,点中,不多于,2,点超出控制界限,.,x-R,均值和极差控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,C1,C2,C3,C4,C5,C6,C7,五种缺陷,链,:,点连续出现在中心线一侧的现象称为链,链的长度用链内所含点数多少来判别,.,当出现,5,点链时,应注意发展情况,检查操作方法有无异常,;,当出现,6,点链时,应开始调查原因,;,当出现,7,点链时,判定为有异常,应采取措施,.,从概率的计算中,得出结论,:,点出在中心线一侧的概率,A1=1/2,点连续出现在中心线一侧的概率,A1=(1/2)7 = 1/128 (0.7%),即在,128,次中才发生一次,如果是在稳定生产中处于控制状态下,这种可能性是极小的,.,因此,可以认为这时生产状态出现异常,.,x-R,均值和极差控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,C1,C2,C3,C4,C5,C6,C7,偏离,:,较多的点间断地出现在中心线的一侧时偏离,.,如有以下情况则可判断为异常状态,.,连续的,11,点中至少有,10,点出现在一侧时,;,连续的,14,点中至少有,12,点出现在一侧时,;,连续的,17,点中至少有,14,点出现在一侧时,;,连续的,20,点中至少有,16,点出现在一侧时,.,倾向,:,若干点连续上升或下降的情况称为倾向,其判别准则如下,:,当出现连续,5,点不断上升或下降趋向时,要注意该工序的操作方法,;,当出现连续,6,点不断上升或下降的趋向时,要开始调查原因,;,当出现连续,7,点不断上升或下降的趋向时,应判断为异常,需采取措施,.,x-R,均值和极差控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,C1,C2,C3,C4,C5,C6,C7,周期,:,点的上升或下降出现明显的一定的间隔时称为周期,.,周期包括呈阶梯形周期变动、波状周期变动、大小波动等情况,.,接近,:,图上的点接近中心线或上下控制界限的现象称为接近,.,接近控制界限时,在中心线与控制界限间作三等分线,如果在外侧的,1/3,带状区间内存在下述情况可判定为异常,:,连续,3,点中有,2,点,(,该两点可不连续,),在外侧的,1/3,带状区间内,;,连续,7,点中有,3,点,(,该,3,点可不连续,),在外侧的,1/3,带状区间内,;,连续,10,点中有,4,点,(,该,4,点可不连续,),在外侧的,1/3,带状区间内,.,x-R,均值和极差控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,x-R,均值和极差控制图的建立,C1,C2,C3,C4,C5,C6,C7,为了继续进行控制延长控制限当首批数据都在试验控制限之内（即控制限确定后），延长控制限，将其作为将来的一段时期的控制限。当子组容量变化时，（例如：减少样本容量，增加抽样频率）应调整中心限和控制限 。,估计过程标准偏差,计算新的控制限,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,x-R,均值和极差控制图的建立,D1,计算过程的标准偏差,D2,计算过程能力,D3,评价过程能力,D4,提高过程能力,D5,对修改的过程绘制控制图并分析,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,x-R,均值和极差控制图的建立,D1,D2,D3,D4,D5,计算过程标准偏差,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,x-R,均值和极差控制图的建立,D1,D2,D3,D4,D5,计算过程能力,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,x-R,均值和极差控制图的建立,D1,D2,D3,D4,D5,计算过程能力,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,x-R,均值和极差控制图的建立,D1,D2,D3,D4,D5,评价过程能力,Cpk1.00,说明制程能力差，不可接受。,1.00Cpk1.33,说明制程能力可以，但需改善。,1.33Cpk1.67,说明制程能力正常。,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,x-R,均值和极差控制图的建立,D1,D2,D3,D4,D5,普通原因：指的是造成随着时间推移具有稳定的且可重复的分布过程中的许多变差的原因，我们称之为：,“,处于统计控制状态,”,、,“,受统计控制,”,，或有时简称,“,受控,”,，普通原因表现为一个稳定系统的偶然原因。只有变差的普通原因存在且不改变时，过程的输出才可以预测。,特殊原因：指的是造成不是始终作用于过程的变差的原因，即当它们出现时将造成,(,整个,),过程的分布改变。除非所有的特殊原因都被查找出来并且采取了措施，否则它们将继续用不可预测的方式来影响过程的输出。如果系统内存在变差的特殊原因，随时间的推移，过程的输出将不稳定。,提高过程能力,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,x-R,均值和极差控制图的建立,D1,D2,D3,D4,D5,局部措施,通常用来消除变差的特殊原因,通常由与过程直接相关的人员实施,大约可纠正,15%,的过程问题,对系统采取措施,通常用来消除变差的普通原因,几乎总是要求管理措施，以便纠正,大约可纠正,85%,的过程问题,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,x-R,均值和极差控制图的建立,D1,D2,D3,D4,D5,影响过程能力的因素,操作者方面：如操作者的技术水平、熟练程度、质量意识、责任心、管理程度等；,设备方面：如设备精度的稳定性，性能的可靠性，定位装置和传动装置的准确性，设备的冷却、润滑情况等等；,材料方面：如材料的成分，配套元器件的质量等等；,工艺方面：如工艺流程的安排，过程之间的衔接，工艺方法、工艺装备、工艺参数、过程加工的指导文件、工艺卡、操作规范、作业指导书等；,测量方面：如测量仪器的精度、稳定性、测量者的读数习惯、测量方法等等都会对结论的形成产生一定的影响；,环境方面：如生产现场的温度、湿度、噪音干扰、振动、照明、室内净化、现场污染程度等等。,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,x-R,均值和极差控制图的建立,D1,D2,D3,D4,D5,PLAN,DO,STUDY,ACT,PLAN,DO,STUDY,ACT,PLAN,DO,STUDY,ACT,1,、分析过程,本过程应做些什么,会出现什么错误,达到统计控制状态,确定能力,2.,维护过程,监控过程性能,查找偏差的特殊原因并采取措施,3.,改进过程,改变过程从而更好,理解普通原因变差,减少普通原因变差,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,x-R,均值和极差控制图的建立,D1,D2,D3,D4,D5,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,x-R,均值和极差控制图的建立,D1,D2,D3,D4,D5,对修改的过程绘制控制图并分析,合理使用控制图能,供正在进行过程控制的操作者使用,有于过程在质量上和成本上能持续地，可预测地保持下去,使过程达到,更高的质量,更低的单件成本,更高的有效能力,为讨论过程的性能提供共同的语言,区分变差的特殊原因和普通原因，作为采取局部措施或对系统采取措施的指南。,P,控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制,解析,D,过程能力,解析,P,控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,A1,选择子组的容量、频率及数量,子组容量,分组频率,子组数量,A2,计算每个子组内的不合格品率,A3,选择控制图的坐标刻度,A4,将不合格品率描绘在控制图,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,P,控制图的建立,A1,A2,A3,A4,子组容量：用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量,(,例如,50200),以便检验出性能的变化，一般希望每组内能包括几个不合格品。,分组频率：应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快，但也许与大的子组容量的要求矛盾,子组数量：要大于等于,25,组以上，才能判定其稳定性。,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,P,控制图的建立,记录每个子组内的下列值,被检项目的数量,n,发现的不合格项目的数量,np,通过这些数据计算不合格品率,A1,A2,A3,A4,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,P,控制图的建立,A1,A2,A3,A4,描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识别作为横坐标。纵坐标刻度应从,0,到初步研究数据读数中最大的不合格率值的,1.5,到,2,倍。,划图区域,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,P,控制图的建立,A1,A2,A3,A4,描绘每个子组的,p,值，将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势。,当点描完后，粗览一遍看看它们是否合理，如果任意一点比别的高出或低出许多，检查计算是否正确。,记录过程的变化或者可能影响过程的异常状况，当这些情况被发现时，将它们记录在控制图的“备注”部份。,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,B1,计算过程平均不合格品率,B2,计算上、下控制限,B3,画线并标注,P,控制图的建立,B1,B2,B3,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,P,控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,B1,B2,B3,均值用水平实线线：一般为黑色或蓝色实线。,控制限用水平虚线：一般为红色虚线。,尽量让样本数一致，如果样本数一直在变化则会如下图：,P,控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,B1,B2,B3,P,控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,C1,分析数据点，找出不稳定证据,C2,寻找并纠正特殊原因,C3,重新计算控制界限,P,控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,C1,C2,C3,超出控制限的点,链,明显的非随机图形,P,控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,C1,C2,C3,当从数据中已发现了失控的情况时，则必须研究操作过程以便确定其原因。然纠正该原因并尽可能防止其再发生。由于特殊原因是通过控制图发现的，要求对操作进行分析，并且希望操作者或现场检验员有能力发现变差原因并纠正。可利用诸如排列图和因果分析图等解决定问题数据。,P,控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,C1,C2,C3,当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时，应重新计算试验控制限，以更排除某些控制时期的影响，这些时期中控制状态受到特殊原因的影响，但已被纠正。,一旦历史数据表明一致性均在试验的控制限内，则可将控制限延伸到将来的时期。它们便变成了操作控制限，当将来的数据收集记录了后，就对照它来评价。,P,控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,收集数据,绘图及计算,控制限,是否异常,延伸控制限,N,找出异常点原因,并提出相应措施,制程有变化,人机料法环测量,Y,P,控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,D1,计算过程能力,D2,评价过程能力,D3,改进过程能力,D4,绘制并分析修改后的过程控制图,P,控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,D1,D2,D3,D4,偶因和异因并存,找出异因,只剩偶因,运用控制图,过程稳定,(,连,25,点不超限,),计算过程能力,P,控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,D1,D2,D3,D4,对于,p,图，过程能力是通过过程平均不合率来表达，当所有点都受控后才计算该值。如需要，还可以用符合规范的比例,(1-p),来表示。,对于过程能力的初步估计值，应使用历史数据，但应剔除与特殊原因有关的数据点。,当正式研究过程能力时，应使用新的数据，最好是,25,个或更多时期子组，且所有的点都受统计控制。这些连续的受控的时期子组的,p,值是该过程当前能的更好的估计值。,P,控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,D1,D2,D3,D4,过程稳定，不良率维,持在一定的水平当中,降低不良率,采取管理上的措施,降低偶因，如此才能,缩小控制界限，降低不良率,缩小控制限,P,控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,D1,D2,D3,D4,过程一旦表现出处于统计控制状态，该过程所保持的不合格平均水平即反应了该系统的变差原因过程能力。在操作上诊断特殊原因,(,控制,),变差问题的分析方法不适于诊断影响系统的普通原因变差。必须对系统本身直接采取管理措施，否则过程能力不可能得到改进。有必要使用长期的解决问题的方法来纠正造成长期不合格的原因。,可以使用诸如排列图分析法及因果分析图等解决问题技术。但是如果仅使用计数型数据将很难理解问题所在，通常尽可能地追溯变差的可疑原因，并借助计量型数据进行分将有利于问题的解决,P,控制图的建立,A,收集数据,B,计算控制限,C,过程控制解析,D,过程能力解析,D1,D2,D3,D4,当对过程采取了系统的措施后，其效果应在控制图上明显地反应出来；控制图成为验证措施有效性的一种途径。,对过程进行改变时，应小心地监视控制。这个变化时期对系统操作会是破坏性，可能造成新的控制问题，掩盖系统变化后的真实效果。,在过程改变期间出现的特殊原因变差被识别并纠正后，过程将按一个新的过程均值处于统计控制状态。这个新的均值反映了受控制状态下的性能。可作为现行控制的基础。但是还应对继续系统进行调查和改进。,P,控制图的建立,Questions and Answer,