SPC控制指标解析

*,1,第五讲,SPC,控制指标解析,制程能力指标解析,XUCL,：,Xbar,管制图的管制上限,Xbar,：,Xbar,管制图的中心值,XLCL,：,Xbar,管制图的管制下限,RUCL,：,R,管制图的管制上限,RBar,：,R,管制图的中心值,RLCL,：,R,管制图的管制下限,Ca,：制程准确度,Cp,：制程精密度,Cpu,：,单边上限过程能力,Cpl,：,单边下限过程能力,Cpk,：,短期,制程能力,Pp,：初期制程潜力,Ppu,：,单边上限性能指数,Ppl,：,单边下限性能指数,Ppk,：,长,期制程能力,指数,质量管制图分析,质量九大特质分析,3,制程能力指数,(Process Capability Indexes),USL,：规格上限,(Upper Specification Limit),SL,：规格标准,(Specification Level),LSL,：规格下限,(Lower Specification Limit),制程能力指标解析,Xbar,、,Me,、,Mo,、,R,的计算,：,平均数,(Xbar),X,=(,X,1,+,X,2,+,X,n)/Ns,中位数,(Me),将数据从小到大或大至小依次排列，位居中央的数称为中位数；,众数,(Mo),一群数据中，出现次数最多的数，称为众数；,全距,(R),一组数值中最大值与最小值之差，称为全距；,R=Max-Min,通常平均数的精度比原位数多取一位,S,、,V,(X),、,的计算：,平方和,(S,),各数值与平均值之差之平方总和,；,S=,(X-X),2,变异数,V(X),平方和除以数据个数,n,；,V(X)=S/n,标准差,(),变异数之开方；,=V,标准差之计算非常烦琐，尤其样本数据比较大之时，早期统计学家为解决计算问题考虑用全距取代，在估计的精度上在样本较小,(n10),时与标准差相差无几,希腊文字里的,sigma,小写符号,-,是统计学符,号。代表母体的,“,标准偏差,”,（,Standard,Deviation,）,统计学中，标准偏差意指任何一组事项或流程,所产出的变异或不一致的度量值,例,热汉堡、三件衬衫，超市感觉,何谓标准差,(),s,规格标准差,读做,Sigma Spec,USL,LSL,USL,LSL,s-3,=,USL LSL,6,s-6,=,USL LSL,12,制程能力指数之,Ca,准确度,Capacity of Accuracy,Ca = L1 /L2,L1 = X,SL,L2 = (USL,LSL)/2,a,值,等级,判定,对策,a,12.5%,A,过程能力充分,继续维持,12.5%,a,25%,B,过程能力尚可,有必要将其改善至,A,级,25%,a,50%,C,过程能力不充分,立即检讨，进行改善,50%,a,D,过程能力不足,停止生产，全面检讨,准确度,Ca,评价表,制程能力指数之,Cp,精密度,Cp,Process potential,Cp(,精密度,),是有关制程之能力指数，把过程能力与公差表示的最大允许变差进行比较,反映制程是否能够很好的满足变化要求,当 未知时，可用,=,或,=,估计,(,双边规格,),s,s,6,),(,6,LSL,USL,T,Cp,-,=,=,USL,与,LSL,分别代表工程规格的上限与下限。应知此一公式会受到双边规格的限制,:,亦即，上下限都已经被指定了。设若某一边规格附加了某些特性，则能力指数或许应改为：,C p u,=,USL-,3,a,(,无偏移单边上限制短期程能力指数,),或,当,时,记,=0,C p l,=,-LSL,3,a,(,无偏移单边下限制短期程能力指数,),当,时,记,=0,a,R,d,2,上式中,估计标准差,(,Sigma Actual,),LSL,USL,SL,X,C,pl,C,pu,X,LSL,USL,X,Actual Spread, 3,s,Actual Spread, 3,s,Ca,过程能力计算示意图,精密度,Cp,评价表,值,等级,判定,对策,1.67 ,A,过程能力过高,可抽检或免检,1.33,1.67,B,过程能力充分,继续维持,1.00,1.33,C,过程能力尚可,要加严检查,0.67 ,1.00,D,过程能力不足,产品要全检,0.67,E,过程能力严重不足,停止生产或全检,不精密,精密,准确,不,准,确,A,B,C,D,制程能力,C,a,、,C,p,之,关系,Cpk,制程能力,(,综合制程能力指数,),=(1,),=(,Min,or,),(,表示有偏移短期过程能力指数,),当数据均值 与公差中心 不重合，即有偏移时，不合格品率必然增大， 值降低，上式所计算的过程能力指数不能反映有偏移的实际情况，需要加以修正，修正后的过程能力指数为,k,值,等级,判定,适用范围,1.67Cpk,A,工序能力过高,适用于初始能力,1.33Cpk,1.67,B,工序能力可靠,适用于特殊特性,1.0Cpk,1.33,C,工序能力好,适用于一般特性,Cpk,1.0,D,工序能力不足,过程能力指数,当平均值与公差中值不重合时，,Cp,容易出现假象，须计算,Cpk:,双边规格,Cpk=(1-|Ca|),Cp,单边上限规格,Cpk=Cpu=Cp,单边下限规格,Cpk=Cpl=Cp,改进过程能力，提高能力指数的途径:,1.使过程特性的均值与技术规范的中心值对齐，这时:,Cpk= Cp；,Ppk= Pp,2.改进过程，减少变差的普通原因，减少变差；,3.,当进一步减少变差，会造成成本过高，或技术上实现困难情 况下，考虑适当放宽技术规范的可能性。,过程能力表示,Ca,：过程准确度，过程中心与规范中心的偏离程度；,Cp,：过程精密度，过程变异与规范宽度的比值；,Cpu,：单边上限制程能力指数，过程中心到上规格的距离与过程组内变异的比值；,Cpl,：单边下限制程能力指数，过程中心到下规格的距离与过程组内变异的比值；,Cpk,：短期过程能力指数，,=MIN(Cpl, Cpu),；,19,制程标准差,表示无偏移过程性能指数,表示无偏移单边上限过程性能指数,表示无偏移单边下限过程性能指数,表示长期过程性能指数,过程性能指数,20,Pp,：无偏移过程性能指数，过程变异与规范宽度的比值；,Ppu,：无偏移单边上限过程性能指数，与,Cpu,类似，只是变异采用所有样本的变异；,Ppl,：无偏移单边下限过程性能指数，与,Cpl,类似，只是变异采用所有样本的变异；,Ppk,：长期性能指数，,=MIN(Ppl, Ppu),；,过程性能表示,21,-THE END-,Q&A,