《LLCR测试原理》PPT课件.ppt

LLCR測試原理 UprightGao Content 1 LLCR定義2 測試原理3 失效模式 LLCR定義 CR ContactResister測試條件一般使用DC5V1Aor0 1ALLCR LowLevelContactResister測試條件DC20mV0 1A以下 使用LLCR測試之原因 1 任何金屬表面可能有a 灰塵b 氧化物c 油污等雜質 當兩金屬表面接觸後該介質會影響電流之流通 一般稱之為接觸電阻 2 為確保Connector在任何環境及使用條件皆可導通故以低電壓 20mV以下 低電流 0 1A以下 測試接觸電阻 稱之LLCR 因以太大之電壓 電流測試時 火花會將該層介質打穿 測試原理 利用V IxRR V I I V 定電流 R I 以4線式量測 探針 端子 接觸點 測試原理 以4線式量測 接線 探針電阻 LLCR 探針電阻 端子材料電阻 Rp1 Rp2 Rp3 Rp4 RCR 測試原理 Rp1 Rp2 Rp3 Rp4 RCR I1 I Vm VCR I1xRCR VCR VRP2 VRM VRP4 I2 內阻Rm 106歐姆 Rm 測試原理 VCR VRP2 VRM VRP4VRM VCR VRP2 VRP4因為RM 106 107歐姆RP2 PR4 RP2 PR4I1 II2 0所以VRM VCR量測值R VRM I 測試原理 失效模式A VCR VRP2 VRM VRP4VRM VCR VRP2 VRP4如果RP2 PR4 100k歐姆VRM VCR 探針或接頭老舊 失效模式B 探針 端子 接觸點 一根探針接兩條測試線 接線 失效模式B 探針電阻 LLCR 探針電阻 端子材料電阻 Rp1 Rp3 RCR 失效模式B Rp1 Rp3 RCR V I 內阻Rm 106歐姆 Rm I1 I2 I3 失效模式B 因為RM RP1 RCR RP3 所以I3 0I2 I1V Ix RP1 RCR RP3 R V I RP1 RCR RP3量測值R RCR