集成逻辑门电路逻辑功能的测试课件

,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,数字电路实验,(),单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,80 x86汇编语言程序设计,*,2024/11/15,数字电路实验,(),集成逻辑门电路逻辑功能的测试,2023/9/25 集成逻辑门电路逻辑功能的测试,2024/11/15,数字电路实验,(),一、实验目的,认识数字电子技术实验的仪器、设备及使用方法。,逐步熟悉常用的集成电路芯片。,了解逻辑代数的物理意义。,2023/9/25一、实验目的认识数字电子技术实验的仪器、,2024/11/15,数字电路实验,(),二、实验仪器及设备,1.,数字逻辑实验台,1,台,2.,元器件：,74LS08,（二输入端四与门）,1,片,74LS32,（二输入端四或门）,1,片,74LS04,（六反相器）,1,片,74LS00,（二输入端四与非门）,1,片,74LS02,（二输入端四或非门）,1,片,2023/9/25二、实验仪器及设备1.数字逻辑实验,2024/11/15,数字电路实验,(),三、实验内容,1,测试,74LS08,（二输入端四与门）逻辑功能,2,测试,74LS32,（二输入端四或门）逻辑功能,3,测试,74LS04,（六反相器）逻辑功能,4,测试,74LS00,（二输入端四与非门）逻辑功能,5,测试,74LS02,（四输入端二与非门）逻辑功能,2023/9/25三、实验内容,2024/11/15,数字电路实验,(),集成块实物图,2023/9/25集成块实物图,2024/11/15,数字电路实验,(),2023/9/25,2024/11/15,数字电路实验,(),1,测试,74LS08,的逻辑功能,将,74LS08,芯片正确插入面包板，并注意识别第,1,脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为第,1,脚）。按表一要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。,2023/9/251测试74LS08的逻辑功能,2024/11/15,数字电路实验,(),实物接线图,2023/9/25实物接线图,2024/11/15,数字电路实验,(),2,测试,74LS32,的逻辑功能,将,74LS32,正确插入面包板，并注意识别第,1,脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为第,1,脚）。按表一要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。,2023/9/25 2测试74LS32的逻辑功能,2024/11/15,数字电路实验,(),3,测试,74LS04,的逻辑功能,将,74LS04,正确插入面包板，并注意识别第,1,脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为第,1,脚）。按表一要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。,2023/9/25 3测试74LS04的逻辑功能,2024/11/15,数字电路实验,(),4,测试,74LS00,的逻辑功能,将,74LS00,芯片正确插入面包板，并注意识别第,1,脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为第,1,脚）。按表一要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。,2023/9/25 4测试74LS00的逻辑功能,2024/11/15,数字电路实验,(),2023/9/25,2024/11/15,数字电路实验,(),5,测试,74LS02,的逻辑功能,将,74LS02,芯片正确插入面包板，并注意识别第,1,脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为第,1,脚）。按表一要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。,2023/9/255测试74LS02的逻辑功能,2024/11/15,数字电路实验,(),6,测试,74LS86,的逻辑功能,将,74LS86,芯片正确插入面包板，并注意识别第,1,脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为第,1,脚）。按表一要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。,2023/9/25 6测试74LS86的逻辑功能,2024/11/15,数字电路实验,(),四、实验记录,2023/9/25四、实验记录,2024/11/15,数字电路实验,(),五、实验结果分析,总结与门、或门、非门、与非、或非门、异或的逻辑规律。,2023/9/25五、实验结果分析总结与门、或门、非门、与非,