屏蔽效能测试方案课件

单击此处编辑母版标题样式,RIGOL,屏蔽效能测试方案,Testing Solutions of Shielding Effectiveness,RIGOL 屏蔽效能测试方案Testing Solutio,背景,电磁辐射：一种新的污染,电子设备对外辐射,电子设备受外界电磁干扰,对人体电磁辐射的危害,电磁信息泄漏：危害国家政治、军事及经济信息安全,屏蔽机理,反射效应,吸收效应,屏蔽效果分类,SE(dB),0,0-10,10-30,30-60,60-90,90,屏蔽效果,无,差,较差,中等,良好,优,背景电磁辐射：一种新的污染SE(dB)00-1010-303,应用领域,电磁屏蔽材料,屏蔽材料,吸波材料,电磁屏蔽漆,柔性屏蔽织物（电磁屏蔽防护服、屏蔽帐篷、屏蔽幕帘、屏蔽炮衣）,特种电磁屏蔽混凝土,IC,芯片封装,电磁屏蔽室,全电波暗室、半电波暗室、,EMC,屏蔽室、混响室,医疗成像和治疗设施（磁共振成像,MRI/,医用,X,射线摄影,/,计算机断层扫描,CT,）,屏蔽箱、电波暗箱、,TEM/GTEM,小室,军用方舱（军车、舰船屏蔽舱室）,电磁屏蔽机柜、屏蔽操作台,应用领域电磁屏蔽材料,应用领域,应用领域,应用领域,应用领域,什么是屏蔽效能,(Shielding Effectiveness),？,定义：在同一激励电平下，有屏蔽材料与无屏蔽材料时所接收到的功率或电压之比，并以对数表示。,SE=20lg,（,V,0,/V,1,）,=10lg,（,P,0,/P,1,）,式中，,SE,屏蔽效能，,dB,；,V,0,无屏蔽材料时的接收电压；,V,1,有屏蔽材料时的接收电压；,P,0,无屏蔽材料时的接收功率；,P,1,有屏蔽材料时的接收功率。,什么是屏蔽效能(Shielding Effectivenes,屏蔽效能 典型测试结果,屏蔽效能 典型测试结果,标准法规,SJ 20524:1995,材料屏蔽效能的测量方法,GJB 6190:2008,电磁屏蔽材料屏蔽效能测量方法,GB/T 25471:2010,电磁屏蔽涂料的屏蔽效能测量方法,GB/T 12190:2006,电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法,GJB 6785-2009,军用电子设备方舱屏蔽效能测试方法,GJB 3039:1997,舰船屏蔽舱室要求和屏蔽效能测试方法,IEEE Std 299:2006,IEEE standard method for measuring the effectiveness of electromagnetic shielding enclosures.,ASTM D4935:2010,Standard Test Method for Measuring the Electromagnetic Shielding Effectiveness of Planar Materials.,IEEE Std 1302:2008,IEEE Guide for the Electromagnetic Characterization of Conductive Gaskets in the Frequency Range of DC to 18 GHz.,MIL-DTL-83528C:2001,Gasketing Material,，,Conductive,，,Shielding Gasket,，,Electronic,，,Elastomer,，,EMI/RFI.,SAE ARP 1173,：,2004,Test procedure to measure the RF shielding characteristics pf EMI gaskets.,SAE ARP 1705A:2006,Coaxial test procedure to measure,the RF shielding characteristics of EMI gasket materials.,DESC 92017,DEF STAN 59-103,标准法规SJ 20524:1995 材料屏蔽效能的测量方法,屏蔽效能 测试方法,屏蔽材料（频域）,法兰同轴测试法,频谱分析仪,+,射频信号源,频谱分析仪,+,跟踪源,网络分析仪,屏蔽室窗口测试法,屏蔽暗箱窗口测试法,双,TEM,室测试法,其他测试方法,ASTM-ES-7,双屏蔽盒测试法（近场）,ASTM-ES-7,同轴传输线测试法（远场）,改进的,MIL-STD-285,测试法（近场）,屏蔽材料（时域）,快沿电磁脉冲,法兰同轴测试法,GTEM,小室测试法,屏蔽室,低频段,谐振频段,高频段,F,1GHz,F,1GHz,屏蔽效能 测试方法屏蔽材料（频域）法兰同轴测试法频谱分析仪+,法兰同轴测试法,（频谱分析仪,+,射频信号源）,频率范围：,30MHz,1.5GHz,试样厚度：小于等于,10mm,可测试电磁屏蔽材料对平面波的屏蔽效能,参考试样,负载试样,法兰同轴测试法（频谱分析仪+射频信号源）频率范围：30MHz,法兰同轴测试法,（频谱分析仪,+,跟踪源）,频率范围：,30MHz,1.5GHz,试样厚度：小于等于,10mm,可测试电磁屏蔽材料对平面波的屏蔽效能,参考试样,负载试样,法兰同轴测试法（频谱分析仪+跟踪源）频率范围：30MHz1,法兰同轴测试法,-,试样制备,法兰同轴测试法-试样制备,法兰同轴测试法,-,推荐配置,项目,制造商,型号,设备名称,备注,方案一,1,Rigol,DSA800/DSA1000,频谱分析仪,2,DSG3000,射频信号源,3,北京鼎容实创,DR-S01+,测试支架,法兰同轴屏蔽效能测试装置,二选一,DR-S02,法兰同轴屏蔽效能测试仪,4,Rigol,RF Attenuator Kit,10dB,衰减器*,2,6dB,亦可,5,Rigol,CB-NM-NM-75-L-12G,射频连接电缆*,2,N,公头,-,N,公头,方案二,1,Rigol,DSA800+TG,或,DSA1000+TG,频谱分析仪，带跟踪源,2,北京鼎容实创,DR-S01+,测试支架,法兰同轴屏蔽效能测试装置,二选一,DR-S02,法兰同轴屏蔽效能测试仪,3,Rigol,RF Attenuator Kit,10dB,衰减器*,2,6dB,亦可,4,Rigol,CB-NM-NM-75-L-12G,射频连接电缆*,2,N,公头,-,N,公头,法兰同轴测试法-推荐配置项目制造商型号设备名称备注方案一1,屏蔽室窗口测试法,屏蔽室窗口测试法,屏蔽暗箱窗口测试法,屏蔽暗箱窗口测试法,双,TEM,室测试法,双TEM室测试法,快沿电磁脉冲 时域测试,（法兰同轴测试法）,参考试样,负载试样,快沿电磁脉冲 时域测试（法兰同轴测试法）参考试样,快沿电磁脉冲 时域测试,（,GTEM,小室测试法）,快沿电磁脉冲 时域测试（GTEM小室测试法）,ASTM-ES-7,双屏蔽盒测试法（近场）,ASTM-ES-7双屏蔽盒测试法（近场）,ASTM-ES-7,同轴传输线测试法（远场）,ASTM-ES-7同轴传输线测试法（远场）,改进的,MIL-STD-285,测试法（近场）,改进的MIL-STD-285测试法（近场）,屏蔽室屏蔽效能 测试频率,测试频率表,低频段测量（,9kHz-20MHz,）,谐振频段测量（,20MHz-300MHz,）,高频段测量（,300MHz-1GHz,）,高频段测量（,1GHz-18GHz,）,屏蔽室屏蔽效能 测试频率测试频率表,屏蔽室屏蔽效能 测试频率,测试频率应该参考国家或军队无线电管理机构提供的频率列表,建议从供工业、科学和医疗设备（,ISM,）使用的频率或推荐频率表选择,屏蔽室屏蔽效能 测试频率测试频率应该参考国家或军队无线电管理,屏蔽室 低频段测量,（,9kHz-20MHz,）,屏蔽室 低频段测量（9kHz-20MHz）,屏蔽室 谐振频段测量,（,20MHz-300MHz,）,屏蔽室 谐振频段测量（20MHz-300MHz）,屏蔽室 高频段测量,（,300MHz-1GHz,）,屏蔽室 高频段测量（300MHz-1GHz）,屏蔽室 高频段测量,（,1GHz-18GHz,）,屏蔽室 高频段测量（1GHz-18GHz）,推荐配置,DSA800/1000,频谱分析仪,DSG3000,射频信号源,射频功放（可选）,天线：,低频：环天线,谐振：双锥天线,高频,300MHz-1GHz,：,发射：半波长偶极子天线,接收：八分之一波长偶极子天线,高频,1GHz-18GHz,：,喇叭天线,推荐配置DSA800/1000频谱分析仪,典型测试案例,-IC,芯片封装,（集成电路天线测量法）,典型测试案例-IC芯片封装（集成电路天线测量法）,典型测试案例,-,防电磁辐射服装,典型测试案例-防电磁辐射服装,Thank You!,Thank You!,知识回顾,Knowledge Review,知识回顾Knowledge Review,