STS-8200测试程序开发及DUT设计规则大全

STS-8200测试程序开发及DUT设计规则王华目录1.STS8200的硬件结构2.STS8200的开关机3.STS8200资源简介3.1 PVI硬件简介3.2 DVI硬件简介3.3 OVI硬件简介3.4 QTMU硬件简介3.5 ACSM硬件简介3.6 DIO硬件简介4.STS8200软件简介5.STS8200上开发新程序5.1 DUT制作5.2 程序编写6.STS8200校验6.1 硬件连接6.2 万用表的设置1.STS8200的硬件结构通风口主机机柜测试头主机电脑电缆线1.STS8200的硬件结构STS8200内部分上下两层共26个slot,资源板卡可以插在任意位置。2.STS8200的开关机开机:插上电源按下绿色的按钮,绿灯亮启动主机电脑关机：关闭主机电脑按下红色的按钮,绿灯熄灭拔出电源注意：某些主机箱上电源灯可能有损坏，开机的状态下绿灯不亮，最好通过检查机柜顶部的出风口有无风，来确认机柜电源有无打开。3.STS8200资源简介板卡板卡资源源通道数通道数/板卡板卡性能性能简介介PVI2最大电压40V，最大电流10A（1A以上为脉冲形式）DVI2最大电压40V，最大电流400MAOVI8最大电压20V，最大电流40MAQTMU4/2模块数量可选；每个模块有A、B两个通道ACSM44个ACS，为波形发生器；4对ACM差分测量。使用的时候硬件分配为4组ACSM，即ACSn与ACMn为一组（n=03）DIO88通道数字板，可产生pattern和进行高低电平比较。STS8200常用板卡简介如下：其中PVI、DVI、OVI为直流源，工作模式有FVMI/FVMV/FIMV/FIMI4中可选QTMU用于测试时间、频率、占空比等ACSM用于产生和测试交流信号3.1 PVI硬件简介模式模式量程量程精度精度FV50V，20V，10V，5V，2V，1V0.05%FI1A，100MA，10MA，1MA，100UA0.1%FI10A1%每块PVI提供双路V/I源，都是从CH0-1（STA）连接的一根电缆输出CH0-1（STB）是备用接口，不用连接3.2 DVI硬件简介每块DVI提供双路V/I源，都是从CH0-1（STA）连接的一根电缆输出CH0-1（STB）是备用接口，不用连接模式模式量程量程精度精度FV50V，20V，10V，5V，2V，1V0.05%FI400MA，40MA，4MA，400UA，40UA，4UA0.1%3.3 OVI硬件简介模式模式量程量程精度精度FV20V，10V，5V，2V0.05%FI40MA，4MA，400UA，40UA，4UA0.1%每块OVI提供八路V/I源，分别是从CH0-3（STA）和CH4-7（STA）引出。使用的时候，CH0-3必须分配到统一工位上，CH4-7也是一样。STB是备用接口，不用连接3.4 QTMU硬件简介输入入电压范范围25V，5V时间测量范围10nS40S 频率测量范围0.1Hz10MHz可选滤波器ALLPASS/100KHz/1MHz/10MHz输入电压范围25V，5V输入极性POS/NEG模块化电路，数量可选每个模块有A、B两个通道，可以直接测试时间差、频率、占空比。3.5 ACSM硬件简介板卡可以分为4路ACSM通道，每路ACSM通道包含一对ACM和一个ACS。ACM用于差分测量ACS用于产生交流信号3.5 ACSM硬件简介3.6 DIO硬件简介8通道数字板卡4.STS8200软件简介开机后，双击桌面图标 启动测试软件，在弹窗中输入用户名和密码，进入control 界面。User Manage:用户管理。用于增加或者修改用户名和密码，以及各用户的权限。Check：点击后进入测试机配置界面，并可对板卡进行自检。Calibration:校验板卡。需要外接校准盒与万用表Debug:启动软件示波器。在其中可以查看各V/I source的采样结果和CBIT等的状态StationA:进入测试界面StationB:暂无功能Change User：用户切换Data Analyse:用于转换数据格式以及简单数据统计Tips:如果输入密码后弹出左侧窗口，请检查机柜电源有无开启；或者机柜与电脑之间的通讯线有无松动。4.STS8200软件简介如果开机正常，进入control界面，我们可以先查看测试机的配置情况，即进入CHECK界面，按左下角的Start对勾选的板卡进行自检，自检通过显示OK，不通过显示fail.并可以 Open Self Check file 查看自检的数据。4.STS8200软件简介在Control界面按下StationA进入测试软件界面：加载测试程序；卸载测试程序 输入新的批号后，测试数据会清零；输入的内容会显示在测试数据内。单次测试；自动测试；停止自动测试。数据显示模式（当前数据/多行滚动显示数据/各工位的summary情况）独立窗口显示测试summary情况 数据转换格式/数据分析软件编辑程序，后续建立新程序时详细介绍4.STS8200软件简介选项界面。如下所示：主要有Test Control和Save两个界面需要注意。在Test Control界面可以控制stop on fail以及选择工位的开启和关闭。以左侧的截图来说，当前是双工位程序，可以选择开启/关闭任意工位。勾选状态为开启。4.STS8200软件简介Save界面为数据保存界面，注意两点：1、数据名称 按我司要求数据名应该为：测试批号+FT1/RT1/WT12、数据保存路径：C：STS8200Datalog5.编写新程序在编写新的测试程序之前，我们需要根据测试规范的要求确定测试电路和用到的资源。以开短路程序为例，下面这个产品需要用到DVI0、DVI1两个源。右侧所示为STS8200通用母板的接口定义，在制作DUT的时候按照实际情况对应连接。5.编写新程序打开测试软件，点击 进入测试程序编辑界面。依次选择filenew/new project from Template 一般我们会选择后者，以别的程序为模板，新建立的程序将会将源程序的内容全部复制过来。现在我们选择New,在右侧的空白区域建立测试函数和测试项目点击菜单栏的code，在弹出的窗口输入新程序的名称：openshort5.编写新程序点击OK后，新程序的框架会自动生成，如下：#include“stdafx.h“/加入需要用的头文件/此处可以定义用到的各变量DUT_API void HardWareCfg()/多工位程序的资源分配，若为单工位程序可以不填写 /*StsSetModuleToSite(MD_DVI400,SITE_1,0,1,-1);StsSetModuleToSite(MD_DVI400,SITE_2,2,3,-1);*/DUT_API void InitBeforeTestFlow()/测试前初始化，此处可以加入一些源的复位DUT_API void InitAfterTestFlow()/测试后初始化DUT_API void SetupFailSite(const unsigned char*byFailSite)/测试失效后的设置DUT_API int openshort_test(short funcindex,LPCTSTR funclabel)/测试函数主体 /AFX_STS_PARAM_PROTOTYPES CParam*PIN1=StsGetParam(funcindex,PIN1);CParam*PIN2=StsGetParam(funcindex,PIN2);/AFX_STS_PARAM_PROTOTYPES /TODO:Add your function code here return 0;5.编写新程序根据实际情况编写程序后如下：#include stdafx.hDVI400 pin4(0);/根据之前原理图，pin4连接到DVI0，pin3连接到DVI1DVI400 pin3(1);int i;/定义变量和常量int Num_Site=2;double adresult16;DUT_API void HardWareCfg()DUT_API void InitBeforeTestFlow()/测试前将资源初始化 pin3.Init();pin4.Init();DUT_API void InitAfterTestFlow()DUT_API void SetupFailSite(const unsigned char*byFailSite)pin3.Init();pin4.Init();5.编写新程序DUT_API int openshort_test(short funcindex,LPCTSTR funclabel)/AFX_STS_PARAM_PROTOTYPES CParam*PIN1=StsGetParam(funcindex,PIN1);CParam*PIN2=StsGetParam(funcindex,PIN2);/AFX_STS_PARAM_PROTOTYPESpin3.Set(FV,0,DVI400_2V,DVI400_4MA,RELAY_ON);/将所有管脚置零，可以避免管脚之间互相短路的情况pin4.Set(FV,0,DVI400_2V,DVI400_4MA,RELAY_ON);/DVI0加0V电压，电压量程2V，电流量程4MA，板卡输出继电器闭合delay_ms(2);pin3.Set(FI,-100e-6f,DVI400_2V,DVI400_4MA,RELAY_ON);/DVI1加-100uA电流delay_ms(2);pin3.MeasureVI(MV,10,20);/DVI1测量电压（MV），采样10个点 取平均值，每个采样点时间间隔20uSfor(i=0;iSetTestResult(i,0,adresulti);/输出测试结果pin3.Set(FV,0,DVI400_2V,DVI400_4MA,RELAY_ON);/DVI1置零pin4.Set(FI,-100e-6f,DVI400_2V,DVI400_4MA,RELAY_ON);delay_ms(2);pin4.MeasureVI(MV,10,20);for(i=0;iSetTestResult(i,0,adresulti);pin4.Set(FV,0,DVI400_2V,DVI400_4MA,RELAY_ON);pin3.Init();pin4.Init();/TODO:Add your function code here return 0;5.编写新程序程序编好后还要给程序添加分BIN，才能更好地将失效产品归类。方法如下：在Edit界面，点击 ，在下面的窗口中 ，选择Add all fail bin,修改失效参数的硬件BIN。如有需要良品分档或者在线抽测，也是在此界面设置这样测试程序就大体编写完成。后续即是要取产品进行调试，根据情况调整。5.编写新程序在调试的过程中，经常需要debug使产品处于固定的状态，去判断异常出现的原因，具体方法如下：在测试程序界面，按下F5，在弹窗中选择STS8200目录下的testui,点击OK5.编写新程序加载程序，在程序代码中需要的状态出设置断点（光标停在某一行，按下F9），再去测试产品的时候，代码执行到断点处就会停下。这个时候就可以用万用表或者示波器去检查电路，排查原因。6.主机校准6.1 校准盒连接校准盒连接将校准盒扣在测试盒头上，4根电缆线对应标识一一连接。6.STS8200校验6.1万用表校准设置万用表校准设置 校准设置六位半部分：通信协议是选择RS232，波特率为9600，8 bit 数据(不带奇偶校验)。6.主机校准设置OK后，进入下一界面，勾选需要校准的板卡，通道和档位Notice：之前自检fail的通道是灰色缺省的状态，不能选择。另外POW为灰色勾选状态，校准时，必须经过该项的校准。6.主机校准点击OK即开始自动校准，校准结果会显示在窗口中。校验数据解读：校验数据解读：第一列（No.）：当前硬件模块校准结果的数目序号；第二列（V/I）：档位，有四种类型：MV、MI、FV、FI，其意义分别为：MV 电压测量，后面的数据单位为“V”MI 电流测量，后面的数据单位为“A”FV 电压输出，后面的数据单位为“V”FI 电流输出，后面的数据单位为“A”第三列（Range）：当前校准的量程；第四列（Criterion）：判据值；第五列（TargetValue）：目标值。在“MV”和“MI”时表示数字表的测量值，在“FV”和“FI”时则表示设定的源的输出值；第六列（TestValue）：测试值（修正以后）。在“MV”和“MI”时表示PVI 或DVI 的测量值，在“FV”和“FI”时则表示数字表的测量值；第七列（Error）：误差，即 TestValue 与 TargetValue 的差再除以满量程值的结果。