CPK制程能力教育训练

Click to edit Master title style,Click to edit Master text styles,Second level,Third level,Fourth level,Fifth level,11/7/2009,#,按一下以編輯母片標題樣式,按一下以編輯母片本文樣式,第二階層,第三階層,第四階層,第五階層,*,CPK,制程能力教育训练,1,2,課程大綱,何謂品質,?,SPC,概論,:,一般簡介,:,製程能力分析,:,Cpk,概論:,3,一,.,何謂品質,1.,從製造面看品質,2.,從生產技術面看品質,3.,從品管面看品質,4.,從顧客面看品質,5.,從設計面看品質,6.,全面品質管理,TQM,(Total Quality Management),4,二,.,統計製程管制,1.,統計,(Statistics):,搜集,整理,分析,解釋數據,以小看大,並做成結論,.,SPC(Statistical Process Control),2.,統計製程管制,:,依計劃收集製程,連續,數據資料,提供各種統計分析及管制圖之處理,計算,圖示與列表,以達成預防,避免不良的管制要求,.,3.,統計方法,:,設計抽樣計畫,由樣本推測母體,.,5,三,.,一般簡介,1.,數據分類,(Data Category),計量值,(Variables):,連續性,即兩數值間有無限可能數字,.,計數值,(Attributes):,間斷性,即兩數值間只容許有限可能數字,.,6,.,2.,名詞介紹,:,批,(Lot):,在相同條件下生產之一群東西的集合,.,樣本,(Sample):,要研究某種特性的部分個體之集合,.,不良率,P=d/n=,不良數,/,檢驗數,良品率,=1-,不良率,.,影響度,=(,不良各數,/,不良總數,)*100%.,PPM(Parts Per Million):,每百萬個單位的不合格數.,7,三,.,製程能力分析,所謂製程能力是指製程的均一性,而製程能力分析就是逐步設法減少製程中的變異使製程能符合要求或規格,.,EX:,設備不穩定,不合理公差,製程變異大,零件變異大,操作錯誤,測定偏差,.,8,四,.Cpk,概論,SU:,產品之規格上限,.,SL:,產品之規格下限,.,u:,規格中心值.,X:,平均數=,X/n,所有數據集合之重心.,:,標準差,=,(,X-X),/n,所有數據點與平均數之平均距離,.,9,公差概述,1.,平衡公差,:18.0+-0.5.,2.,不平衡公差,:18.0+0.5,0.2 or 18.0+0.3,0.5,3.,單向公差,:18.0+0.2+0.8 or 18.0-0.3 -0.9,4.,單邊公差,:30,以上,15,以下,5.T:,規格公差,=,規格上限,-,規格下限,10,Capability of Precision,Cp:,製程精密度,:,表示製程特性的一致程度,值越大越集中,.,Cp=,規格公差/6個,標準差,=T/6,(,雙邊規格,),Cp=(SU-X)/,3,(,單邊規格,),Cp=(X-SL)/,3,(,單邊規格,),11,Capability of Accuracy,Ca:,製程準確度,:,表示製程特性中心位置的偏移程度,.,Ca=(,平均數-規格中心值)/規格公差 的一半*100%,=(X-u)/0.5T)*100%,12,Capability of Process,Cpk:,製程能力指數:即同時考慮偏移及一致程度.,Cpk=,製程精密度,(1-/,製程準確度,/),=Cp(1-/Ca/),13,某,物件,產品規格為18+-0.5,m/m.,抽測值如下,:,求,Cp,Ca,Cpk,各值,?,18.4,17.6,17.9,18.3,18.2,17.7,18.5,18.0,18.1 18.3,Ans:,1.,平均數,X=(18.4+17.6+,.18.3)/10=18.1,2.,規格公差,T=18.5-17.5=1,3.,標準差,=(18.4-18.1)+(17.6-18.1)+.(18.3-18.1),10,=0.08=0.282844,14,.,Ca=(18.1-18.0)/0.5=0.2,Cp=1/(6*0.282844)=0.589,Cpk=0.589*(1-0.2)=0.4714,15,檢討與建議,:,1,.,2,.,3,.,若上述問題無法改善要使,Cpk,合乎要求則,:,1.,公差訂定為何,?,2.,以新公差算,Cp,Ca,Cpk,各值,!,16,Cpk&AQL,之比較,1.AQL,依抽樣計劃檢驗規格公差內,即判定,OK.,2.Cpk,依,Lot or,交貨批量執行,30,PCS,量測,Cpk,值需達,1.33,以上,.,3.,製程能力需達,4,以上,.,4.,良品率,99.993,以上,.,5.63 ppm,以下,.,17,EX,二,:,某產品數據收集如下,.,測定值,(n=100),18,問題研討,平均數,X=1.404,標準差,=0.048,1.,規格值訂定,=,2.,規格下限值,SL=,3.,規格上限值,SU=,4.,規格公差值訂定,=,5.Cp=SU-SL/6,=,6.Ca=(X-u)/0.5T=,7.Cpk=Cp(1-/Ca/)=,19,Cp/Ca/Cpk,等級對照,20,Cpk/,/PPM,對照,21,Cpk/,/PPM,對照,22,23,Cpk,的應用,Ca0%,實績中心與規格中心不合需調整刀具或模具,.,Cpk 2.0,製程能力太高,可縮小規格或尋求降低成本,.,1.67=Cpk=2.0,理想狀況保持,.,1.33=Cpk1.67,進行工作及品質改善,.,1=Cpk1.33,確實進行工作及品質改善,.,Cpk1,積極採取措施,全檢分析原因,.,24,CPK,兩大核心議題,1.,平均數,X:,看數據的中心,即集中趨勢,.,2.,標準差,:,看數據的分佈,即離散趨勢,.,25,Cpk,精神,製程能力分析是一種有效的品管方法之一,可透過電腦的計算,繪圖,使人明白品質水準為何,而重要的是,“,人,“,需依據結果擬定對策,採取措施,付諸實行,驗證結果,持續有效改善,才能提升品質,.,26,現行,CPK,做法,試產,:,1.Cpk,管制尺寸,:(Cpk,管制點,)*,模*穴*,30PCS.,2.,重點管制尺寸,:(,重點管制點,)*,模*穴*,5PCS.,3.,取樣,:,隨機抽樣,(SPC),4.MP:,出貨附,30 PCS Cpk,報告,5 PCS,重點尺寸報告,.,27,28,29,Cpk,系統需求,1.Cpk,軟體一套,.,2.Pentiun III,RAM 64 Mb,H/D 20G,WIN 98/2000/ME.,3.Print 1 Set.,4.Train,由,KINPO,負責,.,