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单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,*,递向技米,数字化设计逆向技术,递向技术,逆向工程背景,邊向工程(Reverse Engineering,RE),也貅反都工,程、反向工程等。,递向工程起源于惰密测量和质量捡验,它是设计下鴻,向设计上鴻反馈信息的回路。,20世犯90年代以来,邊向工程技术独放到大悟缩短,新产品开发周期和增礙企业竟争能力的主要筐置上。,邊向工程所需硬获外,测量设各,递向设计袅件,递向技术,逆向工程流程图,二痄样、技,实物样件,木文档,小仿制改制产品,字化测量,CAD模型重构,PD,CADICAE系统,系统,快速成型RP,CAM系统,产品样件,模具,新产品,递向技术,觉向工程关键技术,1.字化测量,2.测量数据预处,3.五维重构,4.坐标配,5.银差分析,实物,处理,重构,分析,设计,撰型,递向技术,数宇化测量,飘字化测量是邊向工程的基础,在此基础上造行氯杂曲面的建模,评价、改进和制造。飘据的测量质量直接影响最彝模型的质量。,常用数据测呈方法,接触式,非接触式,触发式,扫描式,磁学,超声波,图像,投影,激光,轮摩,工业,核磁,测距,光栅,投,共振,递向技术,数宇化测量一测量设备,接触式测量,蚱甚触式测量,递向技术,数字化测量一测量设备,村纬源,撳字图像平集,探洲器,让理示系统,基于平板探测器射戌成黍貌,射廷产生射线与物质相互作用,探测器成像,X射线成像各个环节于意图,医学CT测量,递向技术,数宇化测量一测量方法比较,优点,接触式探头发展已有几十年,其机械结构和电子系统已相当成熟,故,有较高的准确性和可靠性,接触式测量探头直接接触工作表面,与工件表面的反射特性、颜色及,曲率关系不大,缺点为了确定测量基准点而使用特殊的夹具,不同形状的产品可能会要求,不同的夹具,因此导致测量费用较高,球形的探头易因接触力造成磨损,为了维持测量精度,需要经常校正,探头的直径,不当的操作还会损坏工件表面和探头。,测量数度较慢,对于工件表面的内形检测受到触发探头直径的限制。,对三维曲面的测量,探头测量到的点是探头的球心位置,欲求得物体,真实外型需要对探头半径进行补偿,因而可能引入修正误差,换触式测量,递向技术,教宇化测量一测量方法比较,优点不必作半径补偿,因为激光光点位置就是工件表面的位置。,测量数度非常快,不必像接触式探头那样逐点进出测量,软工件、薄工件、不可接触的高精密工件可直接测量,缺点测量精度较差,因接触式探头大多使用光敏位置探测器来检测光点,位置,目前其精度仍不够,约为20以上。,因非接触式探头大多是接收工件表面的反射光或折射光,易受工件,表面反射特性的影响,如颜色、曲率等,非接触式测量只做工件轮廓坐标点的大量取样,对边线处理、凹孔,处理以及不连续形状的处理较困难。,甚触式测量,
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