资源描述
Hier klicken, um Master-Titelformat zu bearbeiten.,Hier klicken, um Master-Textformat zu bearbeiten.,Zweite Ebene,Dritte Ebene,Vierte Ebene,Fnfte Ebene,*,w w w . t u v . c o m,6,s,的意义与计算,6s的意义与计算,1,s,是一个希腊字母, 用来 描 述 过程的变差,6,s,最初由,Motorola,公司发起, 逐步 被越来越多的世界级大公司所采用,68.2% 的数据落在1,s,以内,95.4% 的数据落在2,s,以内,99.7% 的数据落在3,s,以内,99.99999975% 的数据落在6,s,以内,3,2,1,1,2,3,s 是一个希腊字母, 用来 描 述 过程的变差,2,LSL,下限,USL,上限,平均值,m,或目标值,T,s,个数的计算,(连续数据）,Z,=,s,Min（USL-T）, （ T-LSL） ,Z=3Cpk,LSL下限USL上限平均值m或目标值Ts个数的计算(连续数据,3,过程的漂移,短期4,短期3,短期2,短期1,长期,s,的个数,Zlt,(,长期）,=,Zst,（,短期）,-1.5,过程的漂移短期4短期3短期2短期1长期s的个数 Zlt(长期,4,计算,s,个数的概念与公式,Unit:,单元，,被研究对象的基本单位。如一件产品、一次服务、一个过程等。,Defect:,缺陷，任何未达到要求的特性,DPU (Defects per unit) = Defects / Unit,=,缺陷数/单元数,PPM (Defects per Million Units) = Defects / Unit x 10,6,=,缺陷数/（单元数,X 10,6,),TOP (Total Opportunities) = Units * Opportunities,(,总机会）=单元数,X,每单元发生缺陷的,机会,DPO (Defects per Opportunity)=Defects/TOP,(,每个机会中产生的缺陷数）=缺陷数/总机会,DPMU(Defects per million units)=DPUx 10,6,（,每百万单元中的缺陷数）,计算s个数的概念与公式Unit: 单元，被研究对象的基本单位,5,DPMO (Defects per Million Opportunities) = Defects / TOP x 10,6,=,缺陷数 /,TOP x 10,6,First Pass Yield(,一次合格率)=全过程中未产生任何缺陷的单元数/总单元数,Rolled Yield,(,单元的缺陷数为零的几率）,（,The likelihood that any given unit of product will contain 0 defects),Y,RT,=,e,-DPU,Y,RT,= P(ND) * P(ND) * P(ND) *.P(ND),n,P（ND),表示零缺陷的几率,Y,norm,(Normalized Yield,正态合格率）=1-,DPO=,n,Y,RT,(,连续过程的平均合格率）,n=,过程的个数,Zlt=NormSinv(Ynorm),（,在电子表格,Excel,的函数,f,x,中的统计类中，,或查表）,Zst=Zlt+1.5,计算,s,个数的概念与公式,（非连续数据）,DPMO (Defects per Million Oppo,6,计算,s,个数实例,M(,每单元产生缺陷的机会）,=50,Units（,单元数） =1000,Defects（,缺陷数） =500,TOP=MxUnits =50000,DPO=Defects/TOP =0.01,DPMO=DPOx10,6,=10000,Ynorm=1-DPO =0.9900,Zlt=NormSinv(Ynorm) =2.33,Zst=Zlt+1.5 =3.83,计算s个数实例M(每单元产生缺陷的机会）,7,93.32%,Long-Term Yield,Long-Term Yield,4,2,308,537,3,66,807,6,210,5,233,6,3.4,不同,s,个数,的比较,(,Distribution Shifted 1.5,s),s,PPM,过程能力,DPMO,93.32%Long-Term YieldLong-Term,8,3,4,5,6,7,1,000,000,100,000,10,000,1,000,100,10,1,2,Sigma,的个数,PPM,The Basic Objective,一般公司,Best-in-Class,世界级优秀公司,345671,000,000100,00010,0001,0,9,- - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - -,Process Entitlement,目标,Sweet Fruit,最甜的果实,Design for Manufacturability,Bulk of Fruit,大量的果实,Process Characterization,and Optimization,过程优化,Low Hanging Fruit,底处的果实,Seven Basic Tools,统计七工具,Ground Fruit,掉到地上的果实,Logic and Intuition,基本常识,- - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - -,We dont know what we dont know,We cant act on what we dont know,We wont know until we search,We wont search for what we dont question,We dont question what we dont measure,Hence, We just dont know,WHAT LEVEL ARE YOU?,- - - - - - - - - - - - - - -,10,6,s,的意义与计算,6s的意义与计算,11,s,是一个希腊字母, 用来 描 述 过程的变差,6,s,最初由,Motorola,公司发起, 逐步 被越来越多的世界级大公司所采用,68.2% 的数据落在1,s,以内,95.4% 的数据落在2,s,以内,99.7% 的数据落在3,s,以内,99.99999975% 的数据落在6,s,以内,3,2,1,1,2,3,s 是一个希腊字母, 用来 描 述 过程的变差,12,LSL,下限,USL,上限,平均值,m,或目标值,T,s,个数的计算,(连续数据）,Z,=,s,Min（USL-T）, （ T-LSL） ,Z=3Cpk,LSL下限USL上限平均值m或目标值Ts个数的计算(连续数据,13,过程的漂移,短期4,短期3,短期2,短期1,长期,s,的个数,Zlt,(,长期）,=,Zst,（,短期）,-1.5,过程的漂移短期4短期3短期2短期1长期s的个数 Zlt(长期,14,计算,s,个数的概念与公式,Unit:,单元，,被研究对象的基本单位。如一件产品、一次服务、一个过程等。,Defect:,缺陷，任何未达到要求的特性,DPU (Defects per unit) = Defects / Unit,=,缺陷数/单元数,PPM (Defects per Million Units) = Defects / Unit x 10,6,=,缺陷数/（单元数,X 10,6,),TOP (Total Opportunities) = Units * Opportunities,(,总机会）=单元数,X,每单元发生缺陷的,机会,DPO (Defects per Opportunity)=Defects/TOP,(,每个机会中产生的缺陷数）=缺陷数/总机会,DPMU(Defects per million units)=DPUx 10,6,（,每百万单元中的缺陷数）,计算s个数的概念与公式Unit: 单元，被研究对象的基本单位,15,DPMO (Defects per Million Opportunities) = Defects / TOP x 10,6,=,缺陷数 /,TOP x 10,6,First Pass Yield(,一次合格率)=全过程中未产生任何缺陷的单元数/总单元数,Rolled Yield,(,单元的缺陷数为零的几率）,（,The likelihood that any given unit of product will contain 0 defects),Y,RT,=,e,-DPU,Y,RT,= P(ND) * P(ND) * P(ND) *.P(ND),n,P（ND),表示零缺陷的几率,Y,norm,(Normalized Yield,正态合格率）=1-,DPO=,n,Y,RT,(,连续过程的平均合格率）,n=,过程的个数,Zlt=NormSinv(Ynorm),（,在电子表格,Excel,的函数,f,x,中的统计类中，,或查表）,Zst=Zlt+1.5,计算,s,个数的概念与公式,（非连续数据）,DPMO (Defects per Million Oppo,16,计算,s,个数实例,M(,每单元产生缺陷的机会）,=50,Units（,单元数） =1000,Defects（,缺陷数） =500,TOP=MxUnits =50000,DPO=Defects/TOP =0.01,DPMO=DPOx10,6,=10000,Ynorm=1-DPO =0.9900,Zlt=NormSinv(Ynorm) =2.33,Zst=Zlt+1.5 =3.83,计算s个数实例M(每单元产生缺陷的机会）,17,93.32%,Long-Term Yield,Long-Term Yield,2,308,537,3,66,807,4,6,210,5,233,6,3.4,不同,s,个数,的比较,(,Distribution Shifted 1.5,s),s,PPM,过程能力,DPMO,93.32%Long-Term YieldLong-Term,18,3,4,5,6,7,1,000,000,100,000,10,000,1,000,100,10,1,2,Sigma,的个数,PPM,The Basic Objective,一般公司,Best-in-Class,世界级优秀公司,345671,000,000100,00010,0001,0,19,- - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - -,- - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - -,We dont know what we dont know,We cant act on what we dont know,We wont know until we search,We wont search for what we dont question,We dont question what we dont measure,Hence, We just dont know,Low Hanging Fruit,底处的果实,Seven Basic Tools,统计七工具,Process Entitlement,目标,Sweet Fruit,最甜的果实,Design for Manufacturability,Bulk of Fruit,大量的果实,Process Characterization,and Optimization,过程优化,Ground Fruit,掉到地上的果实,Logic and Intuition,基本常识,WHAT LEVEL ARE YOU?,- - - - - - - - - - - - - - -,20,
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