SIM卡基础知识及常见问题分析

上传人:y****n 文档编号:245294925 上传时间:2024-10-08 格式:PPT 页数:7 大小:299.50KB
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,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,*,1,,,SIM,卡是(,Subscriber Identity Module,客户识别模块)的缩写。,也称为用户身份识别卡、,智能卡,,,GSM,数字移动电话机必须装上此卡方能使用。在,电脑芯片,上存储了数字移动电话客户的信息,加密的,密钥,以及用户的电话簿等内容,可供,GSM,网络客户身份进行鉴别,并对客户通话时的语音信息进行加密。,2,,,SIM,卡现在常用三种尺寸。,标准,SIM,卡:,25mmx15mm,Micro SIM,卡,:,15mmx12mm,nano-SIM,卡:,12.3mm8.8mm,一,SIM,卡基础知识,3,,,SIM,卡的脚位定义以及内部的芯片结构,C1,VCC,提供输入电压,3V/5V,早期的卡为,5V,现在为,3V,工作电流一般不大于,10mA,C2 RESET,复位信号,C3 CLK,时钟输入端,C7 I/O,数据输入输出脚。,C6 VPP,编程电压输入脚(基本不用)。,C5 GND,接地脚,C4,C8,为空脚,3,SIM,卡的卡座有,8PIN,和,6PIN,两种,8PIN,的卡座对应,SIM,卡,8,个脚全部有接出,6PIN,的卡座,C4,C8,没有接出,生产中遇到的,SIM,卡不良主要是,不识别,SIM,卡,(,1,),优先排除,SIM,卡座是否有空焊,、,短路,、,移位,排除制程造成的不良,(,2,),SIM,卡用久了本身接触点氧化或者有破损造成接触不良,可更换,SIM,卡重新测试。以排除测试工具造成的不良。,(,3,),SIM,卡卡座本体不良,分析时观察卡座各弹片是否有变形,、,脱落或者断开。如下图常用的卡座弹片,、,引脚是在裸露在外面的很好测量,当然也有卡座是遮住的分析难度会大一些。,二,故障分析,(,4,)检查电源是否正常。,MTK,方案,SIM,卡供电都是,PMIC,的内部,LDO,产生的。以,MT6950,为例如下图,PMIC,输出电源经过两颗电容和一颗,ESD,到,SIM,卡。,外部器件很好确认,如电源还是异常就剩下,PMIC,了。一样分析,先排除制程问题,再考虑材料问题。,PMIC,输出端,SIM,卡座输入端,(,5,)检查信号是否正常。,CLK,、,RESET,、,I/O,这三个信号和电源一样,都是从,PMIC,或者,CPU,中输出到卡座(外部只有一颗,ESD,连接)。在开机过程中可以测到以下信号(忽略,VPP,),用排除法确认完卡座,、,ESD,外部器件后,下一步分析,PMIC/CPU,的不良,一样先排除制程问题再考虑材料不良。,SIM,卡座输入端,PMIC,输出端,谢谢!,
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