13-单元十三物联网工程布线系统测试与验收2952

,Click to edit Master title style,Click to edit Master text styles,Second level,Third level,Fourth level,Fifth level,Click to edit Master title style,Click to edit Master text styles,Second level,Third level,Fourth level,Fifth level,*,物联网工程布线技术,单元十三,物联网工程布线系,统测试与验收,主要内容,13.1,双绞线链路测试,13.2,光纤链路测试,13.3,系统验收,13.4,典型行业应用案例,13.5,工程经验,13.6,练习题,13.7,实训项目,1.,熟悉物联网工程布线系统的电缆链路和光缆链路测试原理。,2.,了解综合工程布线项目的验收项目和技术。,重点,主要内容,主要内容,主要内容,13.1,双绞线链路测试,13.1.1,双绞线电缆测试相关知识,1.,测试准备,在综合布线工程中，用于测试双绞线链路的设备通常有通断测试与分析测试两类，如图,13-1,和图,13-2,所示。,图,13-1,“能手”测试仪,图,13-2 FLUKE DTX,系列产品,13.1.1,双绞线电缆测试相关知识,1.,测试准备,1,）测试软件,LinkWare,软件可完成测试结果的管理，其界面如图,13-3,所示。图,13-4,显示了各种格式的测试报告，如图形和纯文本等。,LinkWare,具有强大的统计功能，图,13-5,显示了,LinkWare,对单个信息点进行单项参数数据统计的结果。,图,13-4,测试报告 图,13-5,信息点数据统计,13.1,双绞线链路测试,图,13-3,测试界面,13.1.1,双绞线电缆测试相关知识,1.,测试准备,2,）测试仪器精度,测试结果中出现“*”，表示该结果处于测试仪器的精度范围内，测试仪无法准确判断。测试仪器的精度范围也被称为“灰区”，精度越高，“灰区”范围越小，测试结果越可信。图,13-6,显示了,FLUKE,测试仪成功和失败的结果。影响测试仪精度的因素有高精度的永久链路适配器和匹配性能好的插头。,图,13-6,测试结果,成功,失败,13.1,双绞线链路测试,13.1.1,双绞线电缆测试相关知识,2,测试模型,1,）基本链路模型,基本链路包括三部分：最长为,90m,的水平布线电缆、两端接插件和两条,2m,测试设备跳线。基本链路连接模型应符合图,13-7,方式。,2,）信道模型,信道指从网络设备跳线到工作区跳线间端到端的连接，它包括了最长为,90m,的水平布线电缆、两端接插件、一个工作区转接连接器、两端连接跳线和用户终端连接线，信道最长为,100m,。如图,13-8,所示。,图,13-7,基本链路连接模型 图,13-8,信道连接模型,13.1,双绞线链路测试,13.1.1,双绞线电缆测试相关知识,2,测试模型,3,）永久链路模型,其与基本链路的区别在于基本链路包括两端的,2m,测试电缆。在使用永久链路测试时可排除跳线在测试过程中本身带来的误差，从技术上消除了测试跳线对整个链路测试结果的影响，使测试结果更准确、合理。,图,13-9,永久链路连接模型,13.1,双绞线链路测试,13.1.1,双绞线电缆测试相关知识,2,测试模型,4,）各种模型之间的差别,图,13-10,显示了三种测试模型之间的差异性，主要体现在测试起点和终点的不同、包含的固定连接点不同和是否可用终端跳线等。,图,13-10,三种链路链接模型差异比较,13.1,双绞线链路测试,13.1.1,双绞线电缆测试相关知识,3,测试类型,从工程的角度可将综合布线工程的测试分为两类：验证测试和认证测试。,验证测试一般是在施工的过程中由施工人员边施工边测试，以保证所完成的每一个连接的正确性。,认证测试是指对布线系统依照标准进行逐项检测，以确定布线是否达到设计要求，包括连接性能测试和电气性能测试。认证测试通常分为自我认证和第三方认证两种类型。,4,测试标准,布线的现场测试是布线测试的依据，它与布线的其他标准息息相关。,5,测试技术参数,包括接线图、长度、传输时延、插入损耗、近端串扰、综合近端串扰、回波损耗、衰减串扰比、等效远端串扰和综合等效远端串扰等。,13.1,双绞线链路测试,13.1.1,双绞线电缆测试相关知识,5,测试技术参数,1,）接线图,正确的线对组合为,1/2,、,3/6,、,4/5,、,7/8,，错误的连接分为四种：开路、反接,/,交叉、短路、跨接,/,错对。如图,13-11,至图,13-15,所示。,图,13-11,正确接线图,图,13-12,开路 图,13-13,反接,/,交叉,13.1,双绞线链路测试,图,13-14,短路 图,13-15,跨接,/,错对,13.1.1,双绞线电缆测试相关知识,5,测试技术参数,2,）长度,长度测量的准确性主要受几个方面的影响：缆线的额定传输速度（,NVP,）、绞线长度与外皮护套的长度，以及沿长度方向的脉冲散射。,NVP,表述的是信号在缆线中传输的速度，以光速的百分比形式表示。,3,）传输时延,传输时延为被测双绞线的信号在发送端发出后到达接收端所需要的时间，最大值为,555ns,。,13.1,双绞线链路测试,图,13-16,时域反射 图,13-17,传输时延产生过程 图,13-18,传输时延测试结果,13.1.1,双绞线电缆测试相关知识,5,测试技术参数,4,）衰减或者插入损耗,衰减或者插入损耗为链路中传输所造成的信号损耗（以分贝,dB,标示）。图,13-19,描述了信号的衰减过程；图,13-20,显示了插入损耗测试结果。造成链路衰减的主要原因有：电缆材料的电气特性和结构、不恰当的端接和阻抗不匹配的反射，而线路过量的衰减会使电缆链路传输数据变得不可靠。,图,13-19,插入损耗产生过程 图,13-20,插入损耗测试结果,13.1,双绞线链路测试,13.1.1,双绞线电缆测试相关知识,5,测试技术参数,5,）串扰,串扰是测量来自其他线对泄露过来的信号。图,13-21,显示了串扰的形成过程。串扰又可分为近端串扰（,NEXT,）和远端串扰（,FEXT,）。,NEXT,是在信号发送端（近端）进行测量。图,13-22,显示了,NEXT,的形成过程。,图,13-21,串扰产生过程 图,13-22,近端串扰产生过程,13.1,双绞线链路测试,13.1.1,双绞线电缆测试相关知识,5,测试技术参数,5,）串扰,图,13-23,描述了双绞线各线对之间的相互干扰关系。图,13-24,描述了,NEXT,的测试结果。图,13-25,显示的测试结果验证了,4dB,原则。,在,ISO13801,：,2002,标准中，,NEXT,的测试遵循,4dB,原则，即当衰减小于,4dB,时，可以忽略,NEXT,。,13.1,双绞线链路测试,图,13-24 NEXT,测试结果 图,13-25 4dB,原则,图,13-23,线对间的近端串扰测量,13.1.1,双绞线电缆测试相关知识,5,测试技术参数,6,）综合近端串扰,综合近端串扰（,PS NEXT,）是一对线感应到所有其他绕对对其的近端串扰的总和。图,13-26,描述了综合近端串扰的形成，图,13-27,显示了测试结果。,图,13-26,综合近端串扰产生过程 图,13-27,综合近端串扰测试结果,13.1,双绞线链路测试,13.1.1,双绞线电缆测试相关知识,5,测试技术参数,7,）回波损耗,回波损耗是由于缆线阻抗不连续,/,不匹配所造成的反射，产生原因是特性阻抗之间的偏离，体现在缆线的生产过程中发生的变化、连接器件和缆线的安装过程。,在,TIA,和,ISO,标准中，回波损耗遵循,3dB,原则。图,13-28,描述了回波损耗的产生过程。图,13-29,描述了回波损耗的影响。,图,13-28,回波损耗产生过程 图,13-29,回波损耗的影响,13.1,双绞线链路测试,13.1.1,双绞线电缆测试相关知识,5,测试技术参数,8,）衰减串扰比,衰减串扰比（,ACR,），类似信号噪声比，用来表征经过衰减的信号和噪声的比值，,ACR=NEXT,值衰减，数值越大越好。图,13-30,描述了,ACR,的产生过程。,图,13-30 ACR,产生过程,13.1,双绞线链路测试,13.1.2,项目测试,根据项目分析的内容，确定项目实施内容。,1,确定测试标准,使用目前国内普遍使用的,ANSI-TIA-EIA-568-B,标准测试。,2,确定测试链路标准,为了保证缆线的测试精度，采用永久链路测试。,3,确定测试设备,项目全部使用,6,类线进行敷设，所以测试时必选用,FLUKE-DTX,的,6,类双绞线模块进行。,13.1,双绞线链路测试,13.1.2,项目测试,4,测试信息点,（,1,）将,FLUKE-DTX,设备的主机和远端机都接好,6,类双绞线永久链路测试模块。,（,2,）主机放置在中央控制室配线架，远端机接入各楼层的信息点。,（,3,）设置,FLUKE-DTX,主机的测试标准，旋钮至“,SETUP”,，选择测试标准为“,TIA Cat6 Perm.link”,，如图,13-31,所示。,（,4,）接入测试缆线接口。,（,5,）缆线测试。,（,6,）保存测试结果。直接按“,SAVE”,即可对结果进行保存。,图,13-31,测试标准选择,图,13-32,主机端端接状态,图,13-33,远端端接状态,图,13-34,开始测试 图,13-35,保存结果,13.1,双绞线链路测试,13.1.2,项目测试,5,分析测试数据,通过专用线将结果导入到计算机中，通过“,LinkWare”,软件即可查看相关结果。,（,1,）所有信息点测试结果如图,13-36,所示。,（,2,）单个信息点测试结果如图,13-37,所示。,（,3,）通过预览方式查看各个信息点测试结果如图,13-38,所示。,图,13-36,所有信息点测试结果图,13-37,单个信息点测试结果 图,13-38,预览方式查看测试结果,13.1,双绞线链路测试,13.2.1,光纤测试相关知识,1,测试设备,OptiFiber,多功能光缆测试仪，可以实现专业测试光纤链路的链路,OTDR,状态。,OptiFiber,多功能光缆测试仪界面介绍,13-39,所示。,FiberInspector,光缆端截面检查器（见图,13-40,）可直接检查配线架或设备光口的端截面，比传统的放大镜快,10,倍，同时也可避免眼睛直视激光所造成的眼睛伤害。,图,13-39,多功能光缆测试仪界面 图,13-40,光缆端截面检查器,13.2,光纤链路测试,13.2.1,光纤测试相关知识,2,光纤测试标准,1,）通用标准,，一般为基于电缆长度、适配器以及接合的可变标准。,2,）,LAN,应用标准,3,）特定应用标准,（,1,）,TIA/EIA-568-B.3,标准。,定义了光缆、连接器和链路长度。,光缆每公里最大衰减：,850nm,为,3.75dB,，,1300nm,为,1.5dB,，,1310nm,或,1550nm,为,1.0dB,。,连接器中，适配器最大衰减,0.75dB,，熔接最大衰减,0.3dB,。,链路长度（主干）标准如表,13-1,所示。,表,13-1,链路长度标准,（,2,）,TIA TSB140,标准。,主要对光缆定义了两个级别的测试。,级别,1,：测试长度与衰减，使用光损耗测试仪或,VFL,验证极性。,级别,2,：级别,1,加上,OTDR,曲线，证明光缆的安装没有造成性能下降的问题。,13.2,光纤链路测试,分 段,HC-IC,IC-MC,62.5/125,多模,300m,1700m,50/125,多模,300m,1700m,8/125,单模,300m,2700m,13.2.1,光纤测试相关知识,3,测试技术参数,1,）衰减,光纤损耗（,LOSS,）是指光纤输出端的功率（,power out,）与发射到光纤时的功率（,power in,）的